韓 琪,王旭亮,吳 巧,羅文瑤,林 彌
(杭州電子科技大學(xué)電子信息學(xué)院,浙江 杭州 310018)
二值信號(hào)結(jié)構(gòu)簡單,容易辨別和實(shí)現(xiàn),存儲(chǔ)方便,抗干擾強(qiáng),廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路。但是,二值信號(hào)攜帶的信息量較少,在實(shí)現(xiàn)復(fù)雜邏輯功能時(shí),其電路中器件多,復(fù)雜度高,功耗較大。而多值信號(hào)能攜帶更多的信號(hào)量,電路中的節(jié)點(diǎn)和布線較少,減少了集成電路芯片面積和引線數(shù)目,提高了數(shù)字電路的信息密度。
當(dāng)前最熱門的新型器件憶阻器由Chua于1971年提出[1],廣泛應(yīng)用于存儲(chǔ)器[2]、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)[3]、混沌系統(tǒng)[4-6]和數(shù)字邏輯電路[7-8]。在數(shù)字電路中,憶阻器與互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(Complementary Metal Oxide Semiconductor,CMOS)電路的結(jié)合構(gòu)成了各種二值憶阻混合型邏輯運(yùn)算單元[9-11]和功能電路[12]。多值憶阻邏輯電路的相關(guān)研究也逐漸豐富,如三值憶阻全加器[13]、三值憶阻比較器[14]等,與二值邏輯相比,多值邏輯可以減少M(fèi)OS管數(shù)量,提高空間利用率,應(yīng)用于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、圖像處理等方面。本文以三值邏輯為例,采用三值CMOS-R-HBT憶阻混合型邏輯運(yùn)算單元,該單元以CMOS和電阻-異質(zhì)結(jié)雙極性晶體管(Resistor-Heterojunction Bipolar Transistor,R-HBT)負(fù)阻型憶阻器等效模型[15]為核心,設(shè)計(jì)了三值CMOS憶阻混合型D鎖存器和D觸發(fā)器。
文獻(xiàn)[15]設(shè)計(jì)了R-HBT負(fù)阻型憶阻器等效模型,該模型為閾值電壓和阻值均可調(diào)的閾值型憶阻等效電路。若憶阻器的初始狀態(tài)為低阻,當(dāng)外加電壓高于閾值電壓時(shí),憶阻器則轉(zhuǎn)換為高阻狀態(tài),反之亦然。在數(shù)字電路中,信號(hào)大多是正向的矩形脈沖信號(hào),因此可以采用單向的R-HBT負(fù)阻型憶阻器等效模型,其電路結(jié)構(gòu)、符號(hào)以及在正向正弦信號(hào)激勵(lì)下的伏安特性曲線分別如圖1所示。由圖1可知,R-HBT負(fù)阻型憶阻器等效模型在高阻態(tài)和低阻態(tài)之間的相互轉(zhuǎn)變可近似看作開關(guān),因此非常適合于數(shù)字邏輯電路的應(yīng)用。
圖1 R-HBT負(fù)阻型憶阻器等效模型結(jié)構(gòu)、電路符號(hào)及正向伏安特性曲線
R-HBT負(fù)阻型憶阻器等效模型結(jié)合第二類帶電阻的CMOS門電路結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)的三值CMOS-R-HBT憶阻混合型邏輯運(yùn)算單元(反相、與非、或非)如圖2所示,該結(jié)構(gòu)解決了傳統(tǒng)電阻三值CMOS邏輯門電路高低電平區(qū)輸出短小且傾斜的問題[15]。因此,本文使用該三值CMOS-R-HBT憶阻混合型邏輯運(yùn)算單元來設(shè)計(jì)三值CMOS憶阻混合型D鎖存器和D觸發(fā)器。
圖2 三值CMOS-R-HBT憶阻混合型邏輯運(yùn)算單元[15]
D鎖存器是一種對電平敏感的存儲(chǔ)單元電路。當(dāng)控制信號(hào)為高電平時(shí),輸出信號(hào)隨輸入信號(hào)變化而變化;當(dāng)控制信號(hào)為低電平時(shí),輸出信號(hào)保持之前的狀態(tài)。三值D鎖存器的定義與二值類似,即Q=D,D為輸入信號(hào),Q為輸出信號(hào)。
本文首先設(shè)計(jì)了三值CMOS憶阻混合型D鎖存器,結(jié)構(gòu)如圖3(a)所示,由4個(gè)三值憶阻與非單元(圖中表示為NAND)和1個(gè)三值憶阻反相器構(gòu)成,可用圖3(b)的簡化模型來表示。其中C為信號(hào)控制端,D為輸入信號(hào),QNAND為三值憶阻與非單元的輸出。
圖3 三值CMOS憶阻混合型D鎖存器結(jié)構(gòu)及其簡化模型
三值CMOS憶阻混合型D鎖存器真值表如表1所示,其仿真波形如圖4所示。
表1 三值CMOS憶阻混合型D鎖存器真值表
圖4 三值CMOS憶阻混合型D鎖存器仿真波形
圖4中,三值憶阻反相器和三值憶阻與非單元均采用2 V工作電源VDD,輸入信號(hào)D為0 V,1 V,2 V的三值信號(hào)。當(dāng)控制信號(hào)C為高電平2 V時(shí),輸出Q與輸入D的變化一致,C為0 V時(shí),Q保持不變,符合D鎖存器的定義。
雖然,本文設(shè)計(jì)的三值CMOS憶阻混合型D鎖存器在C=2時(shí)實(shí)現(xiàn)了信號(hào)的存儲(chǔ),但是,在控制信號(hào)有效時(shí),D鎖存器相當(dāng)于通路,輸入信號(hào)的變化導(dǎo)致輸出產(chǎn)生多次狀態(tài)轉(zhuǎn)換。因此,本文采用主從型結(jié)構(gòu),設(shè)計(jì)了上邊沿觸發(fā)的三值CMOS憶阻混合型D觸發(fā)器,如圖5所示,由2個(gè)三值憶阻反相器和2個(gè)三值CMOS憶阻混合型D鎖存器構(gòu)成。
圖5 三值CMOS憶阻混合型D觸發(fā)器
DM1鎖存器為主鎖存器,DM2為從鎖存器,C為信號(hào)控制端,D為輸入信號(hào)。該電路結(jié)構(gòu)簡單,比傳統(tǒng)用CMOS構(gòu)成的主從型三值D觸發(fā)器[16]減少了2個(gè)整形電路。
當(dāng)C=0時(shí),主鎖存器處于輸入狀態(tài),M=D,從鎖存器處于存儲(chǔ)狀態(tài),即保持原Q輸出不變;當(dāng)C=2時(shí),從鎖存器為輸入狀態(tài),Q=M,而主鎖存器處于存儲(chǔ)狀態(tài),無論輸入D如何改變,最終輸出Q均保持不變。
三值CMOS憶阻混合型D觸發(fā)器真值表如表2所示,其仿真波形如圖6所示。
表2 三值CMOS憶阻混合型D觸發(fā)器真值表
圖6 三值CMOS憶阻混合型D觸發(fā)器仿真波形
圖6中,邏輯運(yùn)算單元工作電源VDD和輸入信號(hào)D的設(shè)置與圖4一致,控制信號(hào)C為幅值2 V,頻率500 Hz的脈沖信號(hào)。在C的上升沿,輸出Q的值等于輸入D的值,符合邊沿型D觸發(fā)器的定義。
本文運(yùn)用三值CMOS-R-HBT憶阻混合型邏輯運(yùn)算單元,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了三值CMOS憶阻混合型D鎖存器和三值CMOS憶阻混合型D觸發(fā)器。電路結(jié)構(gòu)簡單,與現(xiàn)有的工藝兼容,豐富了憶阻數(shù)字電路在多值邏輯領(lǐng)域的應(yīng)用,為憶阻器在多值邏輯電路中的設(shè)計(jì)和應(yīng)用提供了新思路。