微波消解電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定地球化學(xué)樣品中釩鉻鎳鍺砷

沈 宇， 張 尼， 高小紅， 李 皓， 馬怡飛

(1.西北有色地質(zhì)研究院， 陜西 西安 710054;2.西北大學(xué)分析科學(xué)研究所， 陜西省電分析化學(xué)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室， 陜西 西安 710069)

微波消解電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定地球化學(xué)樣品中釩鉻鎳鍺砷

沈 宇1,2， 張 尼1， 高小紅1， 李 皓1， 馬怡飛1

(1.西北有色地質(zhì)研究院， 陜西 西安 710054;2.西北大學(xué)分析科學(xué)研究所， 陜西省電分析化學(xué)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室， 陜西 西安 710069)

地質(zhì)樣品中多種元素的分析，通常采用高壓密封消解電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)，而應(yīng)用于測(cè)定地球化學(xué)樣品中的V、Cr、Ni、Ge、As等元素，影響分析準(zhǔn)確度的主要原因有：樣品前處理方面，高壓密封罐會(huì)釋放Cr和Ni污染樣品，同時(shí)Ge和As屬于易揮發(fā)元素容易造成損失；質(zhì)譜測(cè)定方面，多原子分子離子會(huì)產(chǎn)生干擾。本文針對(duì)兩方面的干擾因素，對(duì)比了微波消解硝酸提取、微波消解王水提取、高壓密封硝酸復(fù)溶、高壓密封王水復(fù)溶四種前處理方法中待測(cè)元素的溶出效果以及污染或損失情況。結(jié)果表明，采用微波消解替代高壓密封罐消解可消除引入的Cr、Ni污染，避免了Ge、As揮發(fā)損失，同時(shí)微波消解的時(shí)間短。而采用硝酸提取，由于避免了氯的引入，分析效果優(yōu)于王水提取。且使用八極桿ICP-MS氦氣碰撞模式消除了樣品基體中的氯多原子分子離子干擾(如37Cl14N對(duì)51V干擾，35Cl16OH對(duì)52Cr干擾，35Cl37Cl對(duì)72Ge干擾以及40Ar35Cl對(duì)75As干擾等)。應(yīng)用微波消解硝酸提取、ICP-MS測(cè)定巖石、水系沉積物和土壤國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，V、Cr、Ni、Ge、As的檢出限分別為1.09、0.19、0.55、0.02、0.50 μg/g，精密度(RSD)<4%，而采用高壓密封消解、ICP-MS測(cè)定V、Cr、Ni的檢出限為3.48、13.09、21.67 μg/g(Ge和As由于揮發(fā)無法用此法檢測(cè))。運(yùn)用微波消解硝酸提取-ICP-MS氦氣碰撞模式測(cè)定地球化學(xué)樣品中V、Cr、Ni、Ge、As，簡(jiǎn)化了分析流程，樣品消解時(shí)間僅2 h，相比于高壓密封方法(消解時(shí)間48 h)具有消解快速、多元素同時(shí)測(cè)定、檢出限低的特點(diǎn)。

地球化學(xué)樣品； 釩； 鉻； 鎳； 鍺； 砷； 微波消解； 電感耦合等離子體質(zhì)譜法； 多原子分子離子干擾

電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)分析技術(shù)具有靈敏度高、背景低、動(dòng)態(tài)線性范圍寬、多元素同時(shí)測(cè)定以及樣品引入和更換方便的優(yōu)點(diǎn)，非常適合于地球化學(xué)樣品中痕量以及超痕量元素的多目標(biāo)分析需求[1]。但是在實(shí)際樣品分析中也存在一定的局限性[2]。一方面，ICP-MS是以溶液進(jìn)樣為主的分析技術(shù)，樣品前處理過程對(duì)于測(cè)定結(jié)果會(huì)產(chǎn)生一定的影響。目前使用最多的是高壓密封消解樣品的前處理方式[3]。但是，使用高壓密封罐消解樣品時(shí)，外加鋼套在高溫高壓以及酸性環(huán)境下會(huì)釋放出Cr、Ni，對(duì)待測(cè)樣品產(chǎn)生污染。同時(shí)，As和Ge是易揮發(fā)元素，通常的高壓密封溶解樣品時(shí)需要使用高氯酸或者硝酸在開放體系下趕盡氫氟酸，這個(gè)過程很容易造成As和Ge的損失，特別是Ge在Cl存在下，86℃以上就會(huì)揮發(fā)，從而對(duì)測(cè)定的準(zhǔn)確性造成影響。這些都是制約ICP-MS分析技術(shù)用于同時(shí)測(cè)定地球化學(xué)樣品中V、Cr、Ni、Ge、As的因素。

另一方面，在于ICP-MS測(cè)定時(shí)存在的多原子分子離子干擾。常見的干擾主要可分為兩組：其一，來源于等離子體本身和水的干擾(基于等離子體)，如40Ar對(duì)80Se的干擾，以及40Ar38Ar對(duì)78Se的干擾等[4]；其二，來源于樣品基體組分的干擾(基于樣品基體)，如40Ar35Cl對(duì)75As的干擾，35Cl16O1H對(duì)52Cr的干擾，72Cl2對(duì)72Ge的干擾，35Cl16O對(duì)51V的干擾等[5]。對(duì)于多原子分子離子干擾的消除，可以通過改變等離子體工作參數(shù)以減少多原子分子離子形成的冷等離子體及高載氣流量等方法，也可以以減少干擾離子引入為目的采用流動(dòng)注射[6]、氫化物發(fā)生[7]等方法。這些方法在特定條件下能夠達(dá)到減少干擾的效果，但是存在各自的局限性。例如，冷等離子體會(huì)造成難電離元素靈敏度降低以及增加部分元素氧化物的基體效應(yīng)，而混合等離子氣體的引入會(huì)帶來新的多原子分子離子干擾。八級(jí)桿碰撞反應(yīng)系統(tǒng)(ORS)是基于氣相離子-分子反應(yīng)消除多原子分子離子干擾，在食品、環(huán)境、地質(zhì)等領(lǐng)域獲得了廣泛的應(yīng)用[8-11]。碰撞反應(yīng)技術(shù)不會(huì)引入新的干擾物，也不會(huì)造成待測(cè)組分的損失，具有一定的選擇性和穩(wěn)定性。

本文針對(duì)地球化學(xué)樣品ICP-MS分析中存在的兩個(gè)方面問題，對(duì)巖石、水系沉積物、土壤樣品分別采用微波消解硝酸提取、微波消解王水提取、高壓密封硝酸復(fù)溶、高壓密封王水復(fù)溶，對(duì)比了四種前處理方法中待測(cè)元素的溶出效果以及污染或損失情況，基于避免待測(cè)元素的污染或損失，確定合適的樣品前處理方法。同時(shí)，采用八極桿碰撞反應(yīng)池(ORS)的He碰撞模式消除質(zhì)譜干擾，實(shí)現(xiàn)了地球化學(xué)樣品中V、Cr、Ni、Ge、As的同時(shí)測(cè)定。

1 實(shí)驗(yàn)部分

1.1 儀器與主要試劑

7700x電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(美國Agilent公司)，儀器工作條件見表1。

表 1 ICP-MS儀器工作條件

Table 1 Working parameters of the ICP-MS instrument

工作參數(shù)設(shè)定條件工作參數(shù)設(shè)定條件功率1550WCeO+/CeO+0．78%載氣(Ar)流量1．05L/minCeO++/CeO+1．93%霧化氣(Ar)流量0．75L/min采樣深度7mm稀釋氣(Ar)流量0．25L/min霧室溫度2℃

Ethos touch control 640型微波消解儀(意大利Milestone公司)。

MOS級(jí)硝酸(北京化學(xué)試劑研究所)；優(yōu)級(jí)純氫氟酸、鹽酸(德國Merck公司)；去離子水(電阻率18.2 MΩ·cm)。

1.2 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

根據(jù)含量范圍、消解難易程度選取有代表性的巖石、水系沉積物、土壤國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。包括：花崗巖GBW 07103(GSR-1)，玄武巖GBW 07105(GSR-3)，斜長角閃巖GBW 07122(GSR-15)；長江沉積物GBW 07309 (GSD-9)，湖南多金屬礦區(qū)水系沉積物GBW 07311(GSD-11)；黃紅壤GBW 07405(GSS-5)，磚紅壤GBW 07407(GSS-7)。

1.3 樣品前處理

1.3.1 微波消解硝酸提取

稱取0.1000 g樣品于聚四氟乙烯微波消解罐中，加入8 mL硝酸-氫氟酸混合酸(體積比1∶1)，按照表2設(shè)定程序進(jìn)行微波消解。待溫度降到80℃以下后，取出消解罐，在恒溫電熱板上蒸到濕鹽狀，加入適量硝酸，繼續(xù)蒸到濕鹽狀。加入10mL50%的硝酸，低溫蒸至5mL，于100mL容量瓶中定容。待測(cè)。

1.3.2 微波消解王水提取

按照1.3.1節(jié)微波消解步驟進(jìn)行消解后，用10mL50%的王水提取。

1.3.3 高壓密封硝酸復(fù)溶

稱取0.02500g樣品于聚四氟乙烯消解罐(內(nèi)膽)中，加入2mL硝酸-氫氟酸混合酸(體積比1∶1)。蓋上蓋后，放入鋼套中擰緊。將鋼套放入烘箱中在185℃消解16h。待鋼套冷卻至室溫，取出聚四氟乙烯消解罐置于電熱板上，待消解罐中溶液蒸至濕鹽狀時(shí)，加入適量硝酸。重復(fù)三次加入適量硝酸并蒸至濕鹽狀。待消解罐冷卻至室溫，加入2mL硝酸，放入烘箱在135℃復(fù)溶。冷卻后，將溶液倒入一次性聚丙烯塑料瓶中，稱重稀釋至25g，搖勻，待測(cè)。

1.3.4 高壓密封王水復(fù)溶

按1.3.3節(jié)高壓密封步驟進(jìn)行消解后，加入王水復(fù)溶。

表 2 微波輔助消解溶樣程序

Table2Procedureofmicrowavedigestion

消解步驟功率(W)升溫時(shí)間(min)工作溫度(℃)時(shí)間(min)16003805290031201039003160104900320010

2 結(jié)果與討論

2.1 樣品前處理方法的確定

由于質(zhì)譜干擾的強(qiáng)度和引入基體的干擾離子息息相關(guān)，而減少氯離子的引入可以降低Cr、V、Ge、As等易受含氯多原子分子離子干擾的檢出限。本文考察了微波消解硝酸提取、微波消解王水提取、高壓密封罐硝酸復(fù)溶、高壓密封罐王水復(fù)溶四種前處理方式的檢出限。

微波消解方式中，采用硝酸提取V、Cr、Ni、Ge、As的檢出限分別為1.09、0.19、0.55、0.02、0.50μg/g，而采用王水提取這幾種元素的檢出限分別為1.59、0.26、1.28、0.74、1.08μg/g，比硝酸提取略高，主要是因?yàn)槁入x子的存在會(huì)對(duì)易受干擾元素的檢出限產(chǎn)生一定影響，可以通過碰撞反應(yīng)池技術(shù)進(jìn)一步消除。因此，硝酸提取方法要優(yōu)于王水提取。

高壓密封罐方式中，采用硝酸提取V、Cr、Ni、Ge的檢出限分別為2.97、7.20、3.20、0.79μg/g，而采用王水提取V、Cr、Ni的檢出限分別為3.48、13.09、21.67μg/g?？梢?，高壓密封消解的檢出限均高于微波消解。其中，As和有大量Cl存在時(shí)的Ge由于揮發(fā)損失不適合使用高壓密封消解。同時(shí)，由于高壓密封罐外加鋼套中含有Cr和Ni，在高溫高壓的溶解過程中容易對(duì)樣品造成污染，導(dǎo)致Cr和Ni檢出限很高，因此高壓密封無法實(shí)現(xiàn)V、Cr、Ni、Ge、As的同時(shí)消解。

另外，使用高壓密封罐消解樣品，通常需要兩天的時(shí)間才能完成，而微波消解可以在2h之內(nèi)完成，操作簡(jiǎn)單快捷。綜合考慮，采取微波消解，以硝酸作為提取溶劑，不僅可以滿足《地質(zhì)礦產(chǎn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試質(zhì)量管理規(guī)范》(DZ/T0130.4—2006)的規(guī)定，還能避免高壓密封溶樣帶來的污染和損失。

2.2 質(zhì)譜儀器條件的選擇

2.2.1 氦氣流量的選擇

樣品本身、等離子體以及環(huán)境引入的氯、氧、氫、氬多原子分子離子干擾需要進(jìn)一步采用八極桿氦氣碰撞模式進(jìn)行消除。由于氦是惰性氣體，因此不與樣品基體反應(yīng)，在碰撞池中不形成新的干擾物，待測(cè)元素也不因副反應(yīng)而損失[11]，對(duì)于各種多原子分子離子干擾都能有效消除，適用于基體復(fù)雜多變的地球化學(xué)樣品中多目標(biāo)同時(shí)分析。

實(shí)驗(yàn)中選取氦氣流量為0、1、2、3、4mL/min進(jìn)行碰撞模式條件實(shí)驗(yàn)。隨著氦氣流量的增加，各元素檢出限逐漸降低，當(dāng)流量>3mL/min時(shí)，輕、中質(zhì)量段的計(jì)數(shù)過低，且穩(wěn)定性差。圖1分別為非碰撞模式(a)以及氦氣流量為3mL/min的碰撞模式(b)時(shí)對(duì)0、2%、5%、10%、20%的王水介質(zhì)里部分中質(zhì)量段元素檢出限的影響。由圖1(a)可見，在非碰撞模式下，隨著鹽酸濃度的增加，受干擾元素的檢出限明顯升高，有的甚至提高了幾個(gè)數(shù)量級(jí)。但是在氦氣流量為3.0mL/min的碰撞模式下，大部分元素在王水為濃度5%時(shí)的檢出限甚至與無氯干擾的情況類似。部分元素(如51V、52Cr、53Cr、70Ge、72Ge、73Ge)隨著氦氣流量的增加，檢出限逐漸降低，特別是對(duì)于20%王水介質(zhì)的容忍程度增加。也有個(gè)別元素隨著氦氣流量的增加，檢出限升高，這可能是由于氦氣在消除干擾的同時(shí)，也降低了該元素檢測(cè)的靈敏度。因此，選擇氦氣流量3.0mL/min作為最優(yōu)儀器條件。

圖 1He碰撞模式對(duì)于含Cl多原子分子離子干擾的消除

Fig.1EliminationofmassinterferencesutilizingHeORS

a—非碰撞模式；b—He氣流量為3.0mL/min。

2.2.2 稀釋氣(氬氣)流量的選擇

7700x型質(zhì)譜儀配備有耐高鹽進(jìn)樣系統(tǒng)(HMI)，通過氬稀釋氣(Dil)進(jìn)入等離子體的樣品，可以提高分析高基體樣品時(shí)的耐受性和長期穩(wěn)定性，同時(shí)降低基體產(chǎn)生的多原子分子離子干擾。

實(shí)驗(yàn)中用5g/LNaCl溶液進(jìn)行儀器耐鹽能力實(shí)驗(yàn)，氬稀釋氣的流量分別為0、0.10、0.15、0.20、0.25、0.30、0.40L/min。當(dāng)流量≥0.30L/min時(shí)，起始時(shí)刻靈敏度(t=0)下降比較嚴(yán)重；當(dāng)流量為0.25 L/min時(shí)，靈敏度下降比較小，且保持該靈敏度的時(shí)間最長，儀器的穩(wěn)定性最好。因此選擇氬氣的流量為0.25 L/min 為本實(shí)驗(yàn)的稀釋氣流量條件。

2.3 方法準(zhǔn)確度及精密度

選取巖石、水系沉積物和土壤國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(GBW 07103、GBW 07105、GBW 07122、GBW 07309、GBW 07311、GBW 07405、GBW 07407)采用微波消解硝酸提取進(jìn)行前處理，在上述選定的儀器條件下，標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的分析結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較。根據(jù)《地質(zhì)礦產(chǎn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試質(zhì)量管理規(guī)范》規(guī)定，檢出限三倍以內(nèi)的對(duì)數(shù)誤差應(yīng)不大于0.15，三倍以上應(yīng)不大于0.10，測(cè)定結(jié)果的合格率為91.6%，滿足大于90%的規(guī)定(見表3)。此方法的準(zhǔn)確性和精密度可以滿足絕大多數(shù)微量以及痕量元素的分析，包括平時(shí)比較難溶的GBW 07103(花崗巖)以及各種元素含量較高GBW 07405(黃紅壤)、GBW 07407(磚紅壤)。結(jié)合氦氣碰撞模式，同時(shí)避免氯離子的引入，原本易受多原子分子離子干擾的元素分析結(jié)果都比較理想；且在高壓密封罐溶樣過程中易受污染的Cr、Ni測(cè)定結(jié)果也令人滿意，實(shí)現(xiàn)了這些元素的同時(shí)測(cè)定。值得注意的是，個(gè)別樣品經(jīng)過第一次微波消解后，可能有不溶性殘?jiān)?，需要?jīng)過二次微波消解。

表 3 方法準(zhǔn)確度及精密度

Table 3 Accuracy and precision tests of the method

標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)編號(hào)元素元素含量(μg/g)標(biāo)準(zhǔn)值測(cè)量值RSD(%)(n=3)對(duì)數(shù)誤差GBW07105(玄武巖)V1671621．50．01Cr1341271．10．02Ni1401381．20．01Ge0．981．031．10．02As0．70．923．50．12GBW07309(長江沉積物)V97861．70．05Cr85800．90．02Ni32351．40．04Ge1．31．11．00．08As8．410．01．50．08GBW07105(斜長角閃巖)V2962671．00．04Cr1371171．00．07Ni117971．10．08Ge1．461．161．00．10As26281．20．03GBW07311(多金屬礦)V47431．70．04Cr40421．50．02Ni14．315．41．50．03Ge1．812．001．10．04As1881951．00．02標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)編號(hào)元素元素含量(μg/g)標(biāo)準(zhǔn)值測(cè)量值RSD(%)(n=3)對(duì)數(shù)誤差GBW07405(黃紅壤)V1661461．50．06Cr1181121．00．02Ni40321．20．09Ge2．62．91．00．05As4124201．00．01GBW07407(磚紅壤)V2452251．00．04Cr4104010．60．01Ni2762410．90．06Ge1．61．71．10．03As4．86．03．80．10GBW07103(花崗巖)V24221．90．04Cr3．63．22．50．05Ni2．32．92．30．10Ge2．01．91．10．02As2．12．63．40．09

3 實(shí)際地質(zhì)樣品分析

選取巖石(S1～S3)、水系沉積物(S4～S6)以及土壤實(shí)際樣品(S7～S10)，采用微波消解硝酸提取-ORS的氦氣碰撞模式進(jìn)行測(cè)定，測(cè)定結(jié)果與其他常用方法進(jìn)行比對(duì)，結(jié)果見表4(表中測(cè)定結(jié)果均為3次測(cè)定的平均值)。其中，Cr、Ni、V采用電感耦合等離子體發(fā)射光譜(ICP-AES，美國Thermo公司)測(cè)定，As、Ge采用原子熒光光譜(AFS，北京海光儀器公司)測(cè)定。從表4可以看出，本研究建立的微波消解ICP-MS分析方法可以滿足實(shí)際樣品的測(cè)定要求。

4 結(jié)語

針對(duì)應(yīng)用ICP-MS同時(shí)測(cè)定地球化學(xué)樣品中V、Cr、Ni、Ge、As存在的污染以及多原子分子離子干擾問題，采用微波消解替代高壓密封罐消解，避免了Cr和Ni的污染，用硝酸取代王水提取避免了干擾元素Cl的引入。此外，通過ORS氦氣碰撞模式進(jìn)一步消除多原子分子離子干擾，本方法不僅可以避免Cr、Ni的污染以及Ge、As的損失，實(shí)現(xiàn)V、Cr、Ni、Ge、As的同時(shí)消解，并將兩天的消解過程縮短為兩個(gè)小時(shí)；還可以減少Cl、Ar、O、H多原子分子離子對(duì)于V、Cr、Ge、As測(cè)定的干擾，降低元素檢出限。本方法應(yīng)用于國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以及實(shí)際樣品的測(cè)定，分析結(jié)果均符合質(zhì)量要求。但微波消解設(shè)備價(jià)格昂貴，單臺(tái)設(shè)備的樣品處理數(shù)量有限，對(duì)于大批量地質(zhì)普查樣品的處理能力有待進(jìn)一步提高。

表 4 采用ICP-MS與ICP-AES/AFS分析實(shí)際地質(zhì)樣品結(jié)果對(duì)比

Table 4 Comparison of analytical results of the elements in actual samples by ICP-MS and ICP-AES/AFS methods

樣品編號(hào)元素元素含量(μg/g)ICP-MSICP-AES/AFSICP-MS精密度RSD(%)(n=3)對(duì)數(shù)誤差S-1(巖石)V10．69．51．60．05Cr50．946．51．60．04Ni68681．20．00Ge0．91．23．00．12As0．70．71．50．02S-2(巖石)V30301．40．00Cr13．314．42．30．04Ni14181．20．10Ge0．810．873．00．03As14181．20．10S-3(巖石)V9．911．21．40．05Cr51521．90．01Ni2．12．71．50．11Ge0．840．973．20．11As2．12．71．50．11S-4(水系沉積物)V1241311．20．02Cr2．83．42．30．08Ni41401．20．01Ge1．811．653．00．04As41401．20．01S-5(水系沉積物)V69711．10．01Cr8．28．51．80．02Ni23251．20．03Ge0．961．133．00．07As23251．20．03樣品編號(hào)元素元素含量(μg/g)ICP-MSICP-AES/AFSICP-MS精密度RSD(%)(n=3)對(duì)數(shù)誤差S-6(水系沉積物)V51．4561．20．04Cr10121．80．09Ni19231．20．09Ge0．60．73．10．07As1001171．80．07S-7(土壤)V19．319．51．30．01Cr82971．30．07Ni62641．00．01Ge1．01．33．00．10As62641．00．01S-8(土壤)V47．0491．20．02Cr23．024．81．00．03Ni68681．20．00Ge0．70．71．50．02As19222．10．06S-9(土壤)V40321．20．09Cr12．514．01．00．05Ni14181．20．10Ge5．25．10．80．01As1．71．83．00．03S-10(土壤)V76841．00．04Cr15．517．20．90．05Ni2．12．71．50．11Ge2．31．81．20．10As38372．00．02

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Simultaneous Determination of V, Cr, Ni, Ge and As in Geochemical Samples by ICP-MS Combined with Microwave Digestion Sample Preparation

SHENYu1,2,ZHANGNi1,GAOXiao-hong1,LIHao1,MAYi-fei1

( 1.Northwest Geological Research Institute for Nonferrous Metals, Xi’an 710054, China; 2.Institute of Anlytical Science, Northwest University, Shannxi Provincal Key Laboratory of Electroanalytical Chemistry, Xi’an 710069, China)

A microwave digestion method to simultaneously determine V, Cr, Ni, Ge and As in geochemical samples by Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry (ICP-MS) is proposed. There are two main factors to influence the method accuracy: Cr and Ni released from stainless bomb could contaminate the samples by high press digestion and volatile elements, such as Ge and As, lost during pretreatment, and polyatomic molecular ions have mass influence on the determination by ICP-MS. In order to eliminate these two kinds of influences, four kinds of digestion methods were compared, including microwave digestion with nitric acid/aqua regia extraction and high pressure digestion with nitric acid/aqua regia extraction. The method by microwave digestion instead of high pressure digestion avoids the problem of contamination of Cr and Ni and loss of Ge and As with short digestion times. The nitric acid extraction, avoiding the addition of Cl-, has better analysis effect when compared with aqua regia extraction. A helium dilution technique based on the octopole reaction system ICP-MS was applied to decrease the interference of polyatomic molecular ions, such as37Cl14N interference on51V,35Cl16OH interference on52Cr,35Cl37Cl interference on72Ge and40Ar35Cl interference on75As. Based on the study of rock, stream sediments and soil national standard material by ICP-MS combined with nitric acid extraction, the results showed that the detection limits of V, Cr, Ni, Ge, and As by the proposed method were 1.09 μg/g, 0.19 μg/g, 0.55 μg/g, 0.02 μg/g and 0.50 μg/g, respectively. The RSDs were less than 4%. The detection limits of V, Cr and Ni by high pressure digestion were 3.48 μg/g, 13.09 μg/g and 21.67 μg/g, respectively. The proposed method was simple, time-saving (from 48 h to 2 h) and has the capability of simultaneous determination of multielements with low detection limits.

geochemical sample; V; Cr; Ni; Ge; As; microwave digestion; Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry; polyatomic molecular ion interferences

2013-12-13；

2014-02-08； 接受日期： 2014-05-29

沈宇，碩士，工程師，研究方向?yàn)闊o機(jī)元素光譜、質(zhì)譜分析。E-mail: shenyusherry@163.com。

0254-5357(2014)05-0649-06

P575.4； O657.63

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