劉怡,張淼,嚴(yán)宗輝
1.暨南大學(xué)第二臨床醫(yī)學(xué)院眼科,廣東深圳 518040;2.暨南大學(xué)附屬深圳眼科醫(yī)院,廣東深圳 518040
眼內(nèi)屈光手術(shù)典型術(shù)式為有晶狀體眼后房型人工晶狀體(posterior chamber phakic implantable collamer lens,ICL)植入術(shù),因其具備安全性、可逆性、穩(wěn)定性、高度可預(yù)測(cè)性、良好的視覺(jué)質(zhì)量等優(yōu)勢(shì)廣泛應(yīng)用于臨床。拱高是指ICL 晶體光學(xué)區(qū)后表面中央至自然晶狀體前表面的垂直距離,是評(píng)價(jià)ICL植入術(shù)后安全性的重要指標(biāo)之一。理想的拱高范圍是250~750μm,研究表明,拱高過(guò)低會(huì)導(dǎo)致ICL 晶體與自然晶狀體機(jī)械接觸,ICL 晶體與自然晶狀體之間房水流通受阻,引起晶狀體前囊下渾濁導(dǎo)致白內(nèi)障[1];而拱高過(guò)高可能會(huì)導(dǎo)致ICL 晶體與虹膜機(jī)械摩擦,引起虹膜色素播散、瞳孔阻滯、房角狹窄或關(guān)閉,導(dǎo)致繼發(fā)性青光眼[2]。臨床上大部分患者術(shù)后可以獲得理想的拱高,然而仍有少部分患者因術(shù)后拱高異常需行二次手術(shù)。本文將對(duì)ICL 植入術(shù)后拱高的變化及影響因素進(jìn)行系統(tǒng)分析。
Gonvers 等[3]進(jìn)行一項(xiàng)長(zhǎng)達(dá)平均為21.8 個(gè)月的前瞻性研究,共納入植入型號(hào)為ICL V3 或V4 的中高度近視患者75 眼,其中20 眼出現(xiàn)前囊下白內(nèi)障(anterior subcapsular cataract,ASCC),其中央拱高均≤90μm,研究者提出當(dāng)中央拱高>90μm 時(shí)可以保護(hù)自然晶狀體發(fā)生ASCC,且建議安全的中央拱高下限為150μm,以避免ICL 晶體與自然晶狀體接觸。Schmidinger 等[4]對(duì)植入V4 晶體及更早型晶體的患者128 眼進(jìn)行長(zhǎng)期隨訪,發(fā)現(xiàn)22 眼出現(xiàn)ASCC,其平均拱高為(216±104)μm。該研究指出拱高每年平均下降約28μm,晶狀體平均每年增厚約20μm,與拱高下降幅度相似,因此建議中央拱高應(yīng)>230μm。另一項(xiàng)研究認(rèn)為安全的拱高范圍為100~1000μm[5]。Rayner 等[6]建議拱高下限為50μm(僅有可見(jiàn)的間隙),而拱高無(wú)特定的上限,只要前房角的結(jié)構(gòu)和功能保持正常即可。Guber 等[1]對(duì)行ICL V4 植入術(shù)的患者133 只眼進(jìn)行長(zhǎng)達(dá)10 年的隨訪研究,認(rèn)為中央拱高隨著時(shí)間的推移逐漸下降,為保持足夠的中央拱高至10 年以上,術(shù)后初始中央拱高應(yīng)大于550μm。由此可見(jiàn),既往研究對(duì)拱高的安全范圍存在較大差異,但大部分研究認(rèn)為理想的拱高范圍為250~750μm,為避免術(shù)后出現(xiàn)相應(yīng)并發(fā)癥,在ICL晶體與自然晶狀體不接觸的前提下,拱高的下限應(yīng)為50μm;在前房角的結(jié)構(gòu)和功能均正常的前提下,無(wú)特定的上限。在臨床工作中,對(duì)于術(shù)后拱高過(guò)高或過(guò)低的患者,僅有少部分因拱高異常出現(xiàn)相應(yīng)并發(fā)癥,說(shuō)明拱高異常只是術(shù)后并發(fā)癥的危險(xiǎn)因素。當(dāng)術(shù)后拱高超出安全范圍時(shí),可持續(xù)性觀察拱高的動(dòng)態(tài)變化,結(jié)合患者自身眼部結(jié)構(gòu)及功能是否改變來(lái)評(píng)估發(fā)生術(shù)后并發(fā)癥的風(fēng)險(xiǎn),盡量避免二次手術(shù)對(duì)患者造成進(jìn)一步損傷。
不同儀器測(cè)量拱高的數(shù)值將產(chǎn)生一定差異,臨床上測(cè)量術(shù)后中央拱高常用的方法主要有超聲生物顯微鏡(ultrasound biomicroscopy,UBM)、三維眼前節(jié)全景分析儀(Pentacam 角膜地形圖)和眼前節(jié)光學(xué)相干斷層成像技術(shù)(anterior segment optical coherence tomography,AS-OCT)。UBM 利用超高頻超聲獲得高分辨率的圖像,可清晰顯示眼前節(jié)結(jié)構(gòu)的解剖關(guān)系,充分顯示人工晶體與自然晶狀體之間的距離,但UBM 是接觸性檢查,存在損傷角膜上皮、感染等風(fēng)險(xiǎn),不適用于術(shù)后早期檢查。Pentacam和 AS-OCT 均為非接觸式檢查。Pentacam 采用Scheimpflug 技術(shù)進(jìn)行斷層掃描和三維分析,可測(cè)量眼前節(jié)組織及術(shù)后拱高的相關(guān)數(shù)值;AS-OCT 主要運(yùn)用840nm 低相干光學(xué)斷層掃描技術(shù)獲取橫斷面圖像,其分辨率高達(dá)5μm,可以清晰顯示眼前節(jié)結(jié)構(gòu),精準(zhǔn)測(cè)量術(shù)后拱高,具有操作簡(jiǎn)便、成像速度快等顯著特點(diǎn)。Wan 等[7]認(rèn)為,上述3 種測(cè)量方法可重復(fù)性強(qiáng),AS-OCT 的測(cè)量的拱高值顯著高于UBM,而Pentacam 測(cè)量拱高的值顯著低于UBM。董晶等[8]提出術(shù)后拱高是一個(gè)動(dòng)態(tài)變化的范圍,證實(shí)使用Pentacam 測(cè)量出的拱高偏低,相當(dāng)于強(qiáng)光下的拱高,使用前節(jié)OCT 測(cè)量出的拱高與自然狀態(tài)下的拱高接近。因此,當(dāng)術(shù)后拱高偏低時(shí),應(yīng)選擇Pentacam 測(cè)量的結(jié)果,以保證ICL 晶體在強(qiáng)光下不與自然晶狀體接觸,避免形成ASCC;對(duì)于術(shù)后拱高偏高的患者,應(yīng)參考前節(jié)OCT 測(cè)量的拱高值,以確保在較高的拱高下房角保持開(kāi)放,避免導(dǎo)致繼發(fā)性青光眼。
關(guān)于拱高的早期變化,Chen等[9]對(duì)38眼植入ICL V4 和39 眼植入ICL V4c 人工晶體的患者進(jìn)行前瞻性研究,發(fā)現(xiàn)與術(shù)后1d 比較,術(shù)后1 周和術(shù)后1 個(gè)月的拱高均上升,植入ICL V4 和ICL V4c 兩組不同型號(hào)在相同時(shí)間點(diǎn)之間拱高無(wú)明顯差異。關(guān)于拱高的中期變化,徐婧等[10]認(rèn)為,拱高在1 年內(nèi)隨時(shí)間推移呈逐漸下降趨勢(shì)。關(guān)于拱高的長(zhǎng)期變化,Alfonso等[11]對(duì)于植入ICL V4 患者964 眼進(jìn)行73 個(gè)月的隨訪顯示,拱高隨著時(shí)間推移持續(xù)性下降,在前6 個(gè)月內(nèi)下降幅度最大,其下降幅度隨時(shí)間推移逐漸減緩,36 個(gè)月之后拱高趨于平穩(wěn),每月平均下降約2μm,且認(rèn)為術(shù)后初始拱高越大,隨時(shí)間下降幅度越明顯。Chen 等[12]對(duì)植入ICL V4c 患者83 眼進(jìn)行長(zhǎng)達(dá)5 年隨訪發(fā)現(xiàn),拱高在術(shù)后5 年內(nèi)呈現(xiàn)下降趨勢(shì),平均速率約20μm/年。Moya 等[13]對(duì)植入ICL V3 或ICL V4 的患者144 眼進(jìn)行12 年的隨訪研究發(fā)現(xiàn),ICL術(shù)后中央拱高從術(shù)后第1 天(444±20)μm 下降至12年后的(272±157)μm,差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。目前對(duì)于拱高變化的機(jī)制尚無(wú)明確定論,早期拱高增加可能與黏彈劑清除不徹底和散瞳藥物影響相關(guān)。術(shù)后中長(zhǎng)期拱高呈下降趨勢(shì)可能是因?yàn)镮CL 晶體相對(duì)位置的改變,術(shù)后早期ICL 晶體的襻可能由睫狀體支撐而不在睫狀溝內(nèi),隨著時(shí)間增加瞳孔不斷發(fā)生調(diào)節(jié),使ICL 晶體逐漸固定于睫狀溝之間,引起拱高下降;另一種原因可能是前房深度隨年齡的增長(zhǎng)而降低,自然晶狀體厚度隨年齡增加逐漸增厚,使ICL 晶體推向前房,造成拱高下降。拱高的變化機(jī)制可能是多種因素綜合作用的結(jié)果,其具體變化機(jī)制有待進(jìn)一步研究驗(yàn)證??傮w而言,ICL 術(shù)后拱高隨著時(shí)間的延長(zhǎng)呈現(xiàn)下降的趨勢(shì),術(shù)后時(shí)間越長(zhǎng),拱高變化幅度越小,并逐漸趨于平穩(wěn)。各研究者術(shù)后隨訪中未發(fā)生相關(guān)并發(fā)癥,仍需更長(zhǎng)期的隨訪來(lái)驗(yàn)證術(shù)后拱高變化的安全性和穩(wěn)定性。
ICL 直徑是評(píng)價(jià)ICL 術(shù)后拱高大小的關(guān)鍵因素。當(dāng)選擇的ICL 直徑越大,術(shù)后拱高越高,反之選擇的ICL 直徑越小,術(shù)后拱高越低。目前新型帶中央孔型的ICL 直徑大小為12.1、12.6、13.2 和13.7mm。傳統(tǒng)方法選擇ICL 尺寸是通過(guò)按照STAAR 公司推薦使用的白到白距離(white-to-white,WTW)和前房深度(anterior chamber depth,ACD)共同決定。Nakamura 等[14]在ICL 植入術(shù)前使用AS-OCT 測(cè)量晶狀體矢高(crystalline lens rise,CLR)、前方寬度(anterior chamber width,ACW)等眼前節(jié)參數(shù)。ACW 定義為鼻側(cè)和顳側(cè)鞏膜突之間的距離;CLR 定義為晶狀體前表面與角隱窩線連線的垂直距離。此項(xiàng)研究以最佳ICL 尺寸為因變量進(jìn)行逐步多元回歸分析得到NK 公式,并對(duì)植入ICL 的35 眼進(jìn)行NK公式驗(yàn)證,認(rèn)為NK 公式預(yù)測(cè)拱高的精確度高于STAAR 推薦的傳統(tǒng)公式。Igarashi 等[15]使用AS-OCT測(cè)量角到角距離(angle-to-angle,ATA)和白到白距離(white-to-white,WTW)等眼前節(jié)參數(shù),提出KS公式,認(rèn)為KS 公式可以預(yù)測(cè)大部分ICL 術(shù)后拱高。厲斌等[16]發(fā)現(xiàn)CASIA OCT 的NK 公式可以相對(duì)準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)術(shù)后拱高實(shí)際值。同樣的測(cè)量方法,不同的計(jì)算公式推薦選擇的ICL 尺寸不同,導(dǎo)致術(shù)后拱高存在差異,綜合各研究發(fā)現(xiàn)由NK 公式選擇的ICL尺寸得到的術(shù)后拱高精確性更高。
前房深度是ICL 術(shù)后拱高的獨(dú)立影響因素,與術(shù)后拱高呈正相關(guān)。郭慧青等[17]對(duì)ICL 植入術(shù)后患者進(jìn)行6 個(gè)月的隨訪研究,發(fā)現(xiàn)術(shù)前測(cè)量的前房深度每變化1mm,可使拱高發(fā)生16μm 的變化;術(shù)前測(cè)量的WTW 每改變1mm,可使拱高產(chǎn)生0.238mm的變化。鄒泉等[18]發(fā)現(xiàn)術(shù)后患眼的拱高與前房深度呈正相關(guān)。Qi 等[19]研究發(fā)現(xiàn)前房深度<3.1mm 且晶狀體矢高<5.1mm 的患者術(shù)后拱高顯著減少(P<0.001)。
晶狀體矢高是指水平虹膜角膜夾角連線與晶狀體前頂點(diǎn)間的垂直距離。王靜等[20]對(duì)植入ICL V4c患者80 眼研究發(fā)現(xiàn),晶狀體矢高和術(shù)后拱高呈明顯的負(fù)相關(guān),結(jié)合晶狀體矢高選擇晶狀體矢高尺寸有助于獲得合適的拱高。Cerpa 等[21]對(duì)260 例患者進(jìn)行研究,提出較高的晶狀體矢高是發(fā)生低拱高的主要危險(xiǎn)因素。基于AS-OCT 成像的兩個(gè)拱高預(yù)測(cè)公式預(yù)測(cè)晶狀體矢高每增加 100μm,拱高將減少37~40μm[14-22]。綜上,晶狀體矢高與術(shù)后拱高呈負(fù)相關(guān)關(guān)系。
睫狀溝直徑(sulcus to sulcus,STS)是指兩側(cè)睫狀溝之間的水平間距,通常使用UBM 測(cè)量2 次以上取其平均值,植入的ICL 晶體位于虹膜與自然晶狀體之間,其兩端的襻固定于睫狀溝內(nèi),以維持ICL晶體在眼內(nèi)的穩(wěn)定性。Lim 等[23]對(duì)植入ICL 晶體的患者129 眼進(jìn)行逐步多元回歸分析,并預(yù)測(cè)術(shù)后拱高(mm)=497.63×(ICL 直徑-STS)+202.66×ICL直徑-10.03×年齡(歲)+30.14×K(D)-2997.73,其中K 值為平均角膜曲率。相關(guān)學(xué)者認(rèn)為睫狀溝為豎橢圓結(jié)構(gòu),垂直睫狀溝直徑明顯大于水平睫狀溝直徑[18]。睫狀溝的特殊結(jié)構(gòu)有助于指導(dǎo)行ICL 植入術(shù)時(shí)調(diào)整ICL 晶體,放置于睫狀溝之間,當(dāng)術(shù)后拱高過(guò)高或過(guò)低時(shí),可根據(jù)睫狀溝直徑的不同對(duì)ICL 晶體進(jìn)行位置的調(diào)整,避免二期行ICL 晶體置換術(shù)。
角到角距離是指水平位前房角間的距離,王曉瑛等[24]研究發(fā)現(xiàn),使用 Visante OCT 測(cè)量的角到角距離比IOL Master 測(cè)量的WTW 大(0.21±0.19)mm,在測(cè)量眼前段結(jié)構(gòu)時(shí),應(yīng)用Visante OCT 相比IOL Master 更安全、更簡(jiǎn)單、可靠性更好。Igarashi 等[15]認(rèn)為,相對(duì)于傳統(tǒng)的白到白距離而言,AS-OCT 測(cè)量的ATA是計(jì)算ICL尺寸的一個(gè)更好的參數(shù),認(rèn)為ATA是術(shù)后拱高的更重要預(yù)測(cè)因子。
綜上所述,ICL 術(shù)后拱高隨著時(shí)間的延長(zhǎng)呈現(xiàn)下降的趨勢(shì),早期拱高先升高后下降;中期拱高呈下降趨勢(shì);長(zhǎng)期拱高呈現(xiàn)輕微下降趨勢(shì),逐漸趨于平穩(wěn)。但是目前拱高變化的具體機(jī)制仍不明確,有待進(jìn)一步研究。同一患者選擇不同的儀器測(cè)量出的拱高大小存在差別,3 種常用測(cè)量方式得出的術(shù)后拱高值比較:AS-OCT>UBM>Pentacam,應(yīng)根據(jù)患者實(shí)際拱高情況選擇合適的測(cè)量?jī)x器,拱高偏低者應(yīng)選擇Pentacam 測(cè)量,拱高偏高者應(yīng)參考前節(jié)OCT 測(cè)量。多種因素共同影響ICL 術(shù)后拱高的大小,其中決定性因素是ICL 直徑和前房深度。ICL 直徑的選擇除了依據(jù)WTW 和前房深度之外,還有必要參考STS、CLR 和ATA 等參數(shù),術(shù)前精準(zhǔn)測(cè)量各項(xiàng)眼前節(jié)參數(shù)至關(guān)重要,應(yīng)當(dāng)綜合參考多因素選擇合適的ICL 直徑,以獲得理想的拱高,避免術(shù)后相關(guān)并發(fā)癥。