基于SMT生產(chǎn)的無(wú)鉛焊點(diǎn)技術(shù)應(yīng)用

展亞鴿

摘 ?要：基于現(xiàn)有的SMT生產(chǎn)線(xiàn)，制作樣件，然后借助合作單位設(shè)備進(jìn)行熱循環(huán)實(shí)驗(yàn)和隨機(jī)振動(dòng)實(shí)驗(yàn)，通過(guò)X射線(xiàn)檢查和金相切片來(lái)驗(yàn)證焊點(diǎn)可靠性，分析無(wú)鉛焊點(diǎn)失效機(jī)理。

關(guān)鍵詞：SMT;無(wú)鉛焊點(diǎn);應(yīng)用

元器件與印制電路板之間主要是通過(guò)焊點(diǎn)來(lái)實(shí)現(xiàn)互聯(lián)的，焊點(diǎn)的可靠性直接關(guān)系到SMT產(chǎn)品的使用壽命。目前在失效的微電子產(chǎn)品中，焊點(diǎn)失效是主要原因。無(wú)鉛焊點(diǎn)的失效一方面來(lái)源于生產(chǎn)裝配工序中的焊接故障。隨著無(wú)鉛要求焊接溫度的增加，對(duì)生產(chǎn)工藝控制要求越來(lái)越嚴(yán)格，少有疏忽焊接缺陷就會(huì)增加。

在電子產(chǎn)品裝配過(guò)程中，焊點(diǎn)的開(kāi)路、短路、橋接、未焊以及元件丟失等缺陷可以通過(guò)電氣測(cè)試的方法進(jìn)行檢測(cè)，而少錫、未對(duì)準(zhǔn)、空洞等缺陷雖然可通過(guò)自動(dòng)光學(xué)檢查（AOI）、自動(dòng) X 射線(xiàn)測(cè)試（AXI）這些覆蓋率比較高的方法來(lái)監(jiān)測(cè)，但由于目前對(duì)裝配在印制電路板上的元器件（如 BGA）還沒(méi)有統(tǒng)一的接收標(biāo)準(zhǔn)，再加上大批量生產(chǎn)中對(duì)所有焊點(diǎn)都進(jìn)行 AXI 檢查還存在瓶頸問(wèn)題（無(wú)法檢測(cè)虛焊），因而這些隱蔽性比較強(qiáng)的缺陷，成為威脅電子產(chǎn)品可靠性的主要原因。比如當(dāng)焊點(diǎn)內(nèi)出現(xiàn)空洞時(shí)，空洞會(huì)引起應(yīng)力集中，并改變焊點(diǎn)內(nèi)部的應(yīng)力分布，從而改變使用過(guò)程中焊點(diǎn)內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變的大小和分布狀態(tài)，最終影響焊點(diǎn)的熱疲勞壽命。

另一方面失效原因是在元件服役過(guò)程中通斷電或環(huán)境溫度變化時(shí)，由于焊點(diǎn)和印制電路板、器件基底材料之間的熱膨脹系數(shù)不匹配而導(dǎo)致的交變熱應(yīng)力，產(chǎn)生了焊點(diǎn)的塑性應(yīng)變，另外器件各組成部分膨脹系數(shù)不匹配導(dǎo)致結(jié)構(gòu)變形而施加給焊點(diǎn)變化的應(yīng)力，應(yīng)力逐漸累積，導(dǎo)致結(jié)合面裂紋產(chǎn)生、擴(kuò)展，焊點(diǎn)失效。還有是在使用過(guò)程中，由于不可避免的沖擊、振動(dòng)等造成焊點(diǎn)的機(jī)械損傷。另外在熱循環(huán)、振動(dòng)和沖擊等外界環(huán)境綜合工況作用下，連接器件與PCB的焊點(diǎn)內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生周期性變化的彈性應(yīng)變、塑性應(yīng)變或蠕變，這些應(yīng)力應(yīng)變的逐漸積累使得焊點(diǎn)慢慢失效。焊點(diǎn)在實(shí)際工作過(guò)程中的失效過(guò)程一般為：應(yīng)力應(yīng)變導(dǎo)致變形→在薄弱區(qū)域裂紋萌生→沿著界面裂紋擴(kuò)展→整體開(kāi)裂失效。在熱循環(huán)、振動(dòng)和沖擊等外界環(huán)境因素的影響下，焊點(diǎn)內(nèi)會(huì)產(chǎn)生近似周期性的應(yīng)力應(yīng)變，從而誘發(fā)裂紋的形成與擴(kuò)大，最終使得焊點(diǎn)的失效。一般情況下，焊點(diǎn)失效均在焊點(diǎn)與 IC 芯片的金屬化焊盤(pán)接合面，或與 PCB 焊盤(pán)結(jié)合面區(qū)域產(chǎn)生。研究表明，焊點(diǎn)與IC 芯片的金屬化焊盤(pán)接合面產(chǎn)生失效的情況占更大比例。

人們對(duì)電子產(chǎn)品追求微型化、薄型化、更高性能等要求永無(wú)止境，現(xiàn)有裝聯(lián)工藝技術(shù)終極發(fā)展對(duì)此有些無(wú)能為力，未來(lái) 電子元?dú)饧?、封裝、安裝等產(chǎn)業(yè)將發(fā)生重大變革，將由芯片封裝安裝→再到整機(jī)的由前決定后的垂直生產(chǎn)鏈體系，轉(zhuǎn) 變?yōu)榍昂蟊舜酥萍s的平行生產(chǎn)鏈體系，工藝技術(shù)路線(xiàn)也必將 作出重大調(diào)整，以適應(yīng)生產(chǎn)鏈的變革;PCB、封裝和器件將融 合成一體，傳統(tǒng)的使用機(jī)械鑿刻（通過(guò)化學(xué)反應(yīng)）最終達(dá)到非 常小尺度的工具不再有優(yōu)勢(shì)。電子裝聯(lián)工藝技術(shù)逐漸放棄以 往的工具、技術(shù)和模型，最終將沿著分子生物學(xué)的線(xiàn)索走向分子水平。

基于現(xiàn)有的 SMT 生產(chǎn)線(xiàn)，制作含有 BGA 器件的無(wú)鉛軍用電子模塊樣件，并通過(guò) 5DX-RayX 射線(xiàn)檢查儀，檢測(cè)出 BGA 無(wú)鉛焊點(diǎn)質(zhì)量符合檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。借助合作單位設(shè)備對(duì)電子模塊進(jìn)行熱循環(huán)實(shí)驗(yàn)和隨機(jī)振動(dòng)實(shí)驗(yàn)，通過(guò)金相切片來(lái)驗(yàn)證了在可靠性實(shí)驗(yàn)后焊點(diǎn)情況依然良好，并未出現(xiàn)失效，為軍用電子產(chǎn)品中無(wú)鉛制程的使用提供了相關(guān)可 SMT 工藝和可靠性證據(jù)。

基于三維對(duì)角切條 BGA 無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性分析模型，對(duì)熱循環(huán)加載條件下的力學(xué)行為進(jìn)行了有限元分析與熱疲勞壽命預(yù)測(cè)。結(jié)果表明：不同釬料合金、不同焊盤(pán)尺寸及不同網(wǎng)板尺寸下焊點(diǎn)內(nèi)的應(yīng)力應(yīng)變分布情況基本一致，高應(yīng)力應(yīng)變區(qū)域分布相同。對(duì)于 BGA 封裝焊點(diǎn)，處于離 BGA 器件中心最遠(yuǎn)的焊球與器件金屬化端接合面外邊緣處的應(yīng)力應(yīng)變最大，焊點(diǎn)的疲勞裂紋將首先在這一區(qū)域產(chǎn)生和擴(kuò)展，然后沿著焊點(diǎn)與器件金屬化端接合面發(fā)展，最終擴(kuò)展到整個(gè)接合面，導(dǎo)致焊點(diǎn)失效。不同的釬料有不同的適用場(chǎng)合，在不同場(chǎng)合選擇合適的無(wú)鉛釬料，可以使焊點(diǎn)的可靠性得到提高。焊盤(pán)尺寸設(shè)計(jì)對(duì)無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性有著顯著影響，在設(shè)計(jì)尺寸范圍內(nèi)，焊盤(pán)尺寸設(shè)計(jì)越大，焊點(diǎn)承受應(yīng)力越小，塑性形變?cè)叫?，疲勞壽命越長(zhǎng)，焊點(diǎn)越可靠。網(wǎng)板開(kāi)口尺寸設(shè)計(jì)對(duì)無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性影響較小，但隨著網(wǎng)板尺寸加大，焊球體積增加，疲勞壽命有上升趨勢(shì)。

隨機(jī)振動(dòng)加載條件下 BGA 陣列焊點(diǎn)內(nèi)應(yīng)力應(yīng)變分布是不均勻的，不同釬料合金、不同焊盤(pán)尺寸及網(wǎng)板開(kāi)口大小下焊點(diǎn)內(nèi)的應(yīng)力應(yīng)變分布情況相同，高應(yīng)力應(yīng)變區(qū)域分布完全一致。BGA 陣列離中心最遠(yuǎn)的兩端焊點(diǎn)為應(yīng)力應(yīng)變最大焊點(diǎn)，即最容易失效的焊點(diǎn)，焊點(diǎn)與 IC 器件焊盤(pán)接合面的外端邊緣部分為應(yīng)力應(yīng)變最大區(qū)域，是最容易產(chǎn)生疲勞失效的薄弱環(huán)節(jié)，也是焊點(diǎn)內(nèi)部裂紋最容易萌生的位置。焊盤(pán)半徑變化對(duì)無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性有著顯著的影響，焊點(diǎn)疲勞壽命隨著焊盤(pán)半徑增加而增加。網(wǎng)板開(kāi)口尺寸變化對(duì)無(wú)鉛焊點(diǎn)疲勞有一定影響，隨著網(wǎng)板開(kāi)口尺寸增大，釬料體積增大，焊點(diǎn)疲勞壽命增加，但影響遠(yuǎn)小于焊盤(pán)尺寸改變對(duì)焊點(diǎn)疲勞壽命的影響。所以，在可保證焊接質(zhì)量情況下，適當(dāng)增大焊盤(pán)和網(wǎng)板開(kāi)口尺寸，可提高焊點(diǎn)的疲勞壽命。

單純地利用線(xiàn)性迭加規(guī)則并不能真實(shí)估計(jì)焊點(diǎn)的疲勞失效，通過(guò)獨(dú)立的分析，再利用Miner ′s 規(guī)則計(jì)算累積損傷，會(huì)相當(dāng)程度地低估總累積操作。如何建立一種真實(shí)反映電子設(shè)備服役條件下疲勞壽命預(yù)測(cè)模型是后續(xù)研究的重點(diǎn);對(duì)無(wú)鉛焊點(diǎn)有限元預(yù)測(cè)模型需進(jìn)一步完善，對(duì)每種不同的軍用電子模塊、不同材料、及不同封裝類(lèi)型焊點(diǎn)，建立符合實(shí)際產(chǎn)品的整體有限元模型，可以進(jìn)一補(bǔ)提高提高可靠性預(yù)測(cè)精度。

參考文獻(xiàn)

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