小兒高熱驚厥的臨床因素與腦電圖分析

高小艷

【摘要】目的 探討小兒高熱驚厥的臨床因素與腦電圖特征的關(guān)系。方法 回顧性分析我院2010年1月～2015年12月期間250熱性驚厥患兒的臨床資料，觀察熱性驚厥發(fā)病患兒腦電圖異常變化與患兒年齡、性別、發(fā)病時間等因素之間的相關(guān)性。結(jié)果 250例患兒發(fā)病10天后腦電圖分析186例（74.40%）正常；64例（25.60%）出現(xiàn)異常。其中患兒各因素分析與腦電圖檢查異常的相關(guān)性分析中，性別和疾病發(fā)作時間2因素結(jié)果比較無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，P>0.05。在患兒的年齡、發(fā)病次數(shù)、體溫及遺傳史等因素比較均有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，P<0.05。結(jié)論 高熱驚厥患兒臨床腦電圖異常率與患兒的年齡、發(fā)病次數(shù)、體溫及家族遺傳有相

關(guān)性。

【關(guān)鍵詞】高熱驚厥；腦電圖；臨床分析

【中圖分類號】R742.1 【文獻(xiàn)標(biāo)識碼】B 【文章編號】ISSN.2095-6681.2016.34..02

小兒高熱驚厥是兒科常見疾病，其臨床發(fā)病率占到小兒驚厥的30%以上[1]，若反復(fù)發(fā)作可導(dǎo)致患兒癲癇、影響腦部正常發(fā)育以及導(dǎo)致患兒智力障礙等嚴(yán)重后果。由于小兒高熱驚厥的發(fā)病過程會引發(fā)患兒腦電異常，臨床可通過觀察患兒腦電圖檢查情況來對疾病進(jìn)行輔助診斷。我院兒科將250例小兒高熱驚厥的臨床病例特征及腦電圖變化情況進(jìn)行分析，現(xiàn)報(bào)道如下。

1 研究資料與方法

1.1 研究資料

選擇我院兒科于2010年1月～2015年12月期間收治的250熱性驚厥患兒作為研究對象，男嬰131例，女嬰119例，年齡5個月～6歲，其中0～3歲187例，3歲以上26例，體溫37.8℃～40.6℃。大部分患兒存在消化道或者呼吸道感染，所有患兒均符合小兒神經(jīng)系統(tǒng)疾病中關(guān)于小兒熱性驚厥的診斷標(biāo)準(zhǔn)，且排除由中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染及其他疾病導(dǎo)致小兒發(fā)熱的情況。

1.2 方法

1.2.1 診斷依據(jù)

熱性驚厥診斷符合小兒神經(jīng)系統(tǒng)疾病中關(guān)于小兒熱性驚厥的診斷標(biāo)準(zhǔn)，腦電圖診斷依據(jù)臨床腦電圖學(xué)進(jìn)行分析。

1.2.2 方法

本次腦電圖檢測儀器采用BM-1118型腦電綜合分析儀（北京安貝兒科技有限責(zé)任公司生產(chǎn)），電源為：交流220×（1±10%）V，（50±1）Hz，輸入功率：260 VA，電擊防護(hù)類型：Ⅰ類BF型。采用單、雙極聯(lián)合導(dǎo)聯(lián)法進(jìn)行記錄。對首次發(fā)病的患兒，應(yīng)在發(fā)病10天左右進(jìn)行腦電圖檢查，檢查異常者，需定期復(fù)查。對不能配合的患兒應(yīng)在睡眠或者藥物催眠下進(jìn)行檢查，檢查時需安靜配合，患兒取臥位或坐立位。

1.2.3 評價方法

記錄所有患兒的首次發(fā)病時年齡、發(fā)病次數(shù)、發(fā)病持續(xù)時間、體溫、是否有家族遺產(chǎn)史、出生史等，分析腦電圖異常結(jié)果與各個因素的相關(guān)性。

1.3 統(tǒng)計(jì)學(xué)方法

本次所有數(shù)據(jù)采用SPSS 17.0統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件分析，各計(jì)數(shù)資料采用率（%）表示，行x2檢驗(yàn)，比較均以P<0.05為差異具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

2 結(jié) 果

2.1 腦電圖分析結(jié)果

所有250例患兒驚厥發(fā)生后在10天左右進(jìn)行腦電圖檢查，結(jié)果顯示：186例（74.40%）正常；64例（25.60%）出現(xiàn)異常。64例異?；純褐?，廣泛性慢波異常51例（79.69%，51/64），癲癇樣放電異常13例（20.31%，13/64）。對64例異?；純?天后進(jìn)行復(fù)查結(jié)果顯示：39例（60.94%）正常；25例（39.06%）異常，其中16例（64.00%，16/25）為廣泛性慢波異常，與前一次檢查時比較，其程度均有所減弱，其余9例（36.00%，9/25）為不規(guī)則放電。

2.2 腦電圖異常與患兒各個因素關(guān)系結(jié)果分析

通過對患兒的性別、發(fā)病年齡等因素及腦電圖檢查異常情況的結(jié)果分析顯示，131例男嬰中，腦電圖異常35例異常率26.72%；119例女嬰中，腦電圖異常29例異常率24.372%。187例3歲以下患兒中，腦電圖異常41例異常率21.92%；63例3歲以上患兒中腦電圖異常23例，異常率35.51%。195例首次發(fā)病患兒腦電圖異常41例，異常率21.03%；55例復(fù)發(fā)性患兒中腦電圖23例異常，異常率41.82%。72例38.5℃以下患兒中腦電圖異常31例，異常率43.05%；178例38.5℃以上患兒中腦電圖異常33例，異常率18.54%。181例持續(xù)時間在15 min以下的患兒中腦電圖異常47例，異常率25.97%；69例持續(xù)時間在15 min以上的患兒中腦電圖異常17例，異常率24.64%。47例有家族史的患兒中腦電圖20例異常，異常率42.55%；203例無家族史的患兒中腦電圖44例異常，異常率21.67%。其中各因素腦電圖異常中，男女性別和疾病發(fā)作時間2因素比較結(jié)果無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，P>0.05。其余各因素比較均有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，P<0.05。

3 討 論

小兒驚厥主要發(fā)生在嬰幼兒期（0～5）歲左右，并伴有發(fā)熱現(xiàn)象，故又稱作小兒高熱驚厥，其發(fā)病機(jī)理是由于患兒腦功能紊亂所誘發(fā)，病情反復(fù)時患兒腦組織會發(fā)生缺氧損傷，最終影響到中樞神經(jīng)系統(tǒng)。其臨床表現(xiàn)為高熱、抽搐及痙攣等。相關(guān)臨床報(bào)道稱[2]，小兒熱驚厥的臨床預(yù)后良好，在12歲以內(nèi)的發(fā)病率僅為4%。研究稱[3]，患兒在驚厥發(fā)作時可在腦電圖檢查時發(fā)現(xiàn)異常，腦電圖的變化與驚厥有一定的相關(guān)性，其異常率與患兒性別、年齡、發(fā)病次數(shù)等多因素有關(guān)。

本次分析結(jié)果表明，在所有250例樣本各相關(guān)因素腦電圖異常分析結(jié)果中，男女性別比中，男嬰異常率26.72%，女嬰異常率24.372%；發(fā)病持續(xù)時間在15 min以下的患兒中異常率25.97%，持續(xù)時間在15 min以上的患兒異常率24.64%。兩組異常率都比較接近，結(jié)果無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，P>0.05。3歲以下患兒中，異常率21.92%；3歲以上患兒中異常率35.51%。兩組比較有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，P<0.05。表明驚厥發(fā)生率與患者年齡有關(guān)，在3歲以上患兒中表現(xiàn)更明顯。首次發(fā)病患兒異常率21.03%；復(fù)發(fā)性患兒中異常率41.82%，復(fù)發(fā)性患兒明顯高于首發(fā)患兒，兩組比較有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，P<0.05。38.5℃以下患兒中異常率43.05%；38.5℃以上患兒中異常率18.54%。兩組比較有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，P<0.05。分析其原因可能由于低熱患兒大腦中存在可變的病灶，低熱即可引起驚厥，腦電圖即出現(xiàn)異常，而在高熱中反而表現(xiàn)的不夠明顯。有家族史的患兒異常率42.55%；無家族史的患兒異常率21.67%。兩組比較有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，P<0.05。表明家族遺傳史對患兒的發(fā)病有著重要的影響因素，這與李羚等[4-5]研究報(bào)道結(jié)果相符。

綜上，臨床腦電圖分析異常與患兒驚厥的臨床因素具有相關(guān)性，密切關(guān)注患兒臨床各個因素及腦電圖異常變化情況，對患兒驚厥的診斷和治療有重要的指導(dǎo)意義。

參考文獻(xiàn)

[1] 李 娜，徐向平.熱性驚厥發(fā)病機(jī)制的研究進(jìn)展[J].檢驗(yàn)醫(yī)學(xué)與臨床，2016，（11）：1584-1586.

[2] 伍紅健，譚志偉，伍立明，等.小兒熱性驚厥復(fù)發(fā)的相關(guān)因素分析[J].臨床合理用藥雜志，2014，（21）：76-77.

[3] 劉世玲.90例小兒熱性驚厥的動態(tài)腦電圖及相關(guān)因素分析[J].右江民族醫(yī)學(xué)院學(xué)報(bào)，2011，（06）：799-800.

[4] 李 羚，劉志華，郭 燕.高熱驚厥患兒的病情與其腦電圖檢查結(jié)果的關(guān)聯(lián)性分析[J].當(dāng)代醫(yī)藥論叢，2015，（18）：41-42.

[5] 王增成.小兒熱性驚厥臨床特點(diǎn)及腦電圖分析[J].中國現(xiàn)代藥物應(yīng)用，2015，（24）：41-42.

本文編輯：王 琦