科技論文中X射線衍射譜圖的規(guī)范標(biāo)注與編輯加工

李明月

（中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所《半導(dǎo)體技術(shù)》編輯部，河北石家莊050051）

科技論文中X射線衍射譜圖的規(guī)范標(biāo)注與編輯加工

李明月

（中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所《半導(dǎo)體技術(shù)》編輯部，河北石家莊050051）

科技論文來稿中經(jīng)常出現(xiàn)X射線衍射（XRD）譜圖表達(dá)混亂的現(xiàn)象，依據(jù)國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，結(jié)合XRD譜圖坐標(biāo)量的物理意義，XRD譜圖坐標(biāo)標(biāo)目與標(biāo)值的正確、規(guī)范的標(biāo)注應(yīng)為：XRD譜圖中縱坐標(biāo)量名稱為衍射強(qiáng)度，標(biāo)目可表示為I/s-1；橫坐標(biāo)的量名稱為衍射角，標(biāo)目為2θ/（°）。

科技期刊；科技論文；X射線衍射譜圖；衍射強(qiáng)度；衍射角；標(biāo)注；標(biāo)目；量符號

X射線衍射（X-ray diffraction，XRD）分析常用于對晶體的物相分析、晶體結(jié)構(gòu)與點陣常數(shù)的精確測定、宏觀殘余應(yīng)力和微觀應(yīng)力的測定、晶粒尺寸的測定以及多晶織構(gòu)測量和單晶定向等。由于具有采樣少、對樣品的非破壞性、對結(jié)構(gòu)和缺陷的靈敏性、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點，已廣泛應(yīng)用于物理學(xué)、材料學(xué)、地質(zhì)學(xué)、礦學(xué)等領(lǐng)域[1]。X射線衍射儀配有自動化和智能化的衍射圖處理分析軟件的計算機(jī)系統(tǒng)，可直接輸出XRD譜圖，但因各儀器所采用的軟件不盡相同，因此其XRD譜圖（衍射強(qiáng)度與入射角的關(guān)系曲線）的坐標(biāo)標(biāo)注的量符號和單位均是不正確或不規(guī)范的，而論文作者通常只關(guān)注譜圖中的數(shù)值，忽略其坐標(biāo)的標(biāo)目與標(biāo)值的規(guī)范性，而編輯或由于沒有專業(yè)知識或疏忽，譜圖分析中常出現(xiàn)譜圖坐標(biāo)標(biāo)注不規(guī)范的現(xiàn)象。筆者查閱了中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所圖書館館藏的近兩年國內(nèi)外出版的幾十種學(xué)術(shù)期刊，并從中國知網(wǎng)上下載了涉及XRD譜圖的文章近百篇，對XRD譜圖中存在的問題進(jìn)行了歸納，并用文獻(xiàn)中出現(xiàn)的幾類錯誤XRD譜圖實例進(jìn)行了闡述，以期引起編輯同仁的重視，主動擴(kuò)寬專業(yè)知識的學(xué)習(xí)和技術(shù)交流，提高科技期刊編輯出版質(zhì)量。

一、XRD譜圖標(biāo)目中的量符號和單位

X射線衍射（XRD）譜圖的橫坐標(biāo)標(biāo)目的量符號為2θ，單位為（°），縱坐標(biāo)衍射強(qiáng)度的量符號為I，是衡量晶體對X射線衍射強(qiáng)弱的物理量，其用脈沖計數(shù)率表示X射線衍射強(qiáng)度，單位為每秒脈沖數(shù)，通常情況下，檢測器在單位時間接收的光子數(shù)即為檢測器單位時間輸出的平均脈沖數(shù)，若檢測器的量子效率為100%，且儀器無計數(shù)損失，因此每秒脈沖數(shù)即是每秒光子數(shù)[2]，其單位符號是1[3]，故衍射強(qiáng)度的單位是s-1。圖1給出了XRD譜圖坐標(biāo)的規(guī)范標(biāo)注。

圖1 XRD譜圖坐標(biāo)的規(guī)范標(biāo)注[4]

二、來稿及文獻(xiàn)中XRD譜圖存在的問題

隨機(jī)抽取筆者所在單位的圖書館內(nèi)的國內(nèi)外核心學(xué)術(shù)期刊，并從中國知網(wǎng)上下載了近期出版的涉及XRD譜圖的文章近百篇，XRD譜圖的橫坐標(biāo)標(biāo)目基本都是規(guī)范標(biāo)注，個別不規(guī)范，縱坐標(biāo)問題比較多，主要表現(xiàn)為：標(biāo)目中量符號使用不規(guī)范、單位標(biāo)注不當(dāng)、標(biāo)目與標(biāo)值不對應(yīng)等。筆者將近年編輯部來稿中和統(tǒng)計的文獻(xiàn)中存在的XRD譜圖錯誤進(jìn)行了歸納總結(jié)，主要問題如下。

1.標(biāo)目中的量符號不規(guī)范。GB3100~3102—93規(guī)定科技論文中的物理量符號需用斜體字母標(biāo)注，盡量避免使用中、外文的文字段（或縮寫字母）代替量符號[5]。圖2為XRD譜圖縱坐標(biāo)標(biāo)目中“量符號”標(biāo)注不規(guī)范的實例[6]-[9]，其中圖2（a）和圖2（b）存在的錯誤是：用英文“intensity”和英文字段“XRD INTENSITY”代替了衍射強(qiáng)度量符號“I”；圖2（c）用中文“強(qiáng)度”代替了衍射強(qiáng)度的量符號“Ⅰ”；圖2（d）用縮寫詞“cps”取代衍射強(qiáng)度的符號I，而“cps”是英文字段“counts per second”的縮寫，既不是量符號也不是單位。在X射線物相定性分析中，對單相樣品，用于幾個圖疊加對比時，單位就不是很重要了，當(dāng)無具體標(biāo)值時縱坐標(biāo)均可用相對強(qiáng)度Ir表示[2]。故圖2（a）可以將縱坐標(biāo)的英文字段刪除，將Ir標(biāo)注在縱坐標(biāo)的箭頭旁；圖2（d）可直接將英文縮寫詞“cps”和英文字段刪除，什么也不標(biāo)注。

2.標(biāo)目中的使用單位不規(guī)范。圖3為XRD譜圖標(biāo)目中單位使用不規(guī)范實例[10]-[15]。圖2（b）、（c）和圖3（d）中的“a.u.”是英文“arbitrary unit”的縮寫，即任意單位，不論是衍射強(qiáng)度還是相對強(qiáng)度都不是任意單位，因此認(rèn)為XRD譜圖中單位為“a.u.”是不正確的。圖2（b）和圖2（c）縱坐標(biāo)是有標(biāo)值的，衍射強(qiáng)度I的單位為“s-1”，故正確寫法是“Ⅰ/s-1”。

圖2 量符號不規(guī)范實例

圖3（a）在標(biāo)注單位時將“cps”視為衍射強(qiáng)度單位，不正確，應(yīng)改為“s-1”；圖3（b）衍射強(qiáng)度的單位用“counts”（計數(shù)）表示，也不規(guī)范，應(yīng)改為“s-1”。圖3（c）相對衍射強(qiáng)度的量綱為1，單位為1，故將“cps”視為相對衍射強(qiáng)度單位，不正確。此外圖3（c）的橫坐標(biāo)標(biāo)注也不規(guī)范，正確的標(biāo)注應(yīng)是在原來的基礎(chǔ)上將“衍射角”文字刪除即可。

3.概念不清，標(biāo)注不嚴(yán)謹(jǐn)。圖4中“強(qiáng)度”和圖2（d）的“cps”既不是量符號也不是單位，屬于概念不清，其標(biāo)目應(yīng)為“Ⅰ/s-1”。圖3（c）量符號用“相對強(qiáng)度”表示，而單位卻用“cps”，量名稱（符號）與單位不對應(yīng)，屬于概念不清。圖4（b）標(biāo)目用中英文同時表達(dá)，不規(guī)范，其正確的標(biāo)目為“Ⅰ/s-1”。

三、結(jié)語

隨著各種分析、測量儀器的自動化和智能化程度的不斷提高，各種測量結(jié)果可直接由分析儀器輸出得到，若作者對得到的結(jié)果疏于檢查、缺乏對測試儀器的基本原理及相關(guān)軟件分析的深入了解，而編輯有可能因?qū)I(yè)背景不夠，且缺乏和作者的有效溝通，使得稿件中譜圖坐標(biāo)的標(biāo)注存在不規(guī)范、不正確等問題?？萍计诳木庉嬕岣咦灾鲗W(xué)習(xí)的積極性，擴(kuò)寬專業(yè)知識，以提高科技期刊編輯出版質(zhì)量。

圖3 單位使用不規(guī)范實例

圖4 概念模糊和標(biāo)目不嚴(yán)謹(jǐn)實例

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責(zé)任編輯、校對：艾嵐

Standard Annotation and Editing and Processing of X-ray Diffraction Spectrum Diagrams in Science and Technology Papers

Li Mingyue
（Semiconductor Technology Editorial Department,The 13th Research Institute of CETC,Shijiazhuang 050051,China）

As confused expression of coordinate headings and values of X-ray diffraction（XRD）spectrum often appear in scientific papers,according to national relevant standards and specifications,combined with the physical significance of XRD spectrum coordinates,correct and standard diagrams and XRD spectrum should be that the volume description of ordinate is diffracted intensity in XRD spectrogram,expressed as I/s-1.The quantity designation of abscissa is diffraction angle,expressed as 2θ/（°）.

science and technology journals,article of science and technology,X-ray diffraction(XRD)spectrum,diffraction intensity,diffraction angle,diagram;heading,quantity symbol

G232

A

1673-1573（2015）01-0019-04

2014-05-06

李明月（1965-），女，河北欒城人，中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所《半導(dǎo)體技術(shù)》編輯部主編，高級工程師，研究方向為半導(dǎo)體技術(shù)。