姚學(xué)忠,王鐵民,郭行義,趙曉丹,楊寧,崔承剛,楊家哲
(1.大唐環(huán)境產(chǎn)業(yè)集團(tuán)股份有限公司特許經(jīng)營分公司,江蘇 南京 211100; 2.上海電力大學(xué),上海 200000)
煙氣排放連續(xù)監(jiān)測系統(tǒng)(CEMS)是火電廠監(jiān)測煙氣污染物濃度和排放總量的重要組成部分。傳統(tǒng)的除濕系統(tǒng)為冷干直抽法,冷卻時(shí)會(huì)產(chǎn)生冷凝水,煙氣中部分SO2被溶解吸收,導(dǎo)致CEMS監(jiān)測準(zhǔn)確性降低[1]。近年來,Nafion膜干燥管在超低排放CEMS系統(tǒng)中的應(yīng)用得到了廣泛關(guān)注[2-3]。Nafion膜具有優(yōu)異的選擇吸收性,除了NH3、胺和一些極性有機(jī)物如乙醇、有機(jī)酸外,對(duì)其它氣體SO2、NO等沒有任何損失[4],因此適用于高精度的氣體監(jiān)測系統(tǒng)。本文以Nafion膜作為聚合物基質(zhì),通過實(shí)驗(yàn)提高了Nafion膜的除濕性能,從而為解決超低排放CEMS檢測中存在的氣體損失問題提供實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)支撐。
正硅酸乙酯、氫氧化鈉、無水乙醇、濃硫酸、過氧化氫均為分析純;皂土,工業(yè)品;Nafion 膜。
D8 Advance X射線衍射儀;UATR Two傅里葉變換紅外光譜儀;JSM-7800F場發(fā)射掃描電子顯微鏡;DZF-6020真空干燥箱;FA1104電子分析天平;馳久85-2恒溫磁力攪拌器;HH·S21-L數(shù)顯恒溫水浴鍋;SB-5200DT超聲波清洗機(jī)。
1.2.1 膜的預(yù)處理 將Nafion膜置于3%的雙氧水中,在 80 ℃的恒溫水浴中加熱1 h。用去離子水充分沖洗,將膜置于1 mol/L的氫氧化鈉溶液中,在80 ℃的恒溫水浴中加熱6 h使其轉(zhuǎn)換為 Na+型。用去離子水沖洗,保存于去離子水中,以備用。
1.2.2 Nafion/皂土復(fù)合膜的制備 將不同含量的皂土加入到水和乙醇的混合溶液(質(zhì)量比3∶2)中,制成含量分別為 1%,3%,5%,7%,10%的混合液。將預(yù)處理后的 Nafion膜置于混合液中,在60 ℃下攪拌 6 h。用乙醇水溶液(體積比1∶1) 沖洗掉表面黏附的物質(zhì),在80 ℃下真空干燥12 h,得到 Nafion/皂土復(fù)合膜。
1.2.3 Nafion/SiO2復(fù)合膜的制備 將一定量的SiO2置于不同含量的正硅酸乙酯和乙醇的混合溶液(質(zhì)量比3∶2) 中,用超聲波分散均勻,制成含量分別為1%,3%,5%,7%,10%的混合液。將預(yù)處理后的Nafion膜置于混合液中,在60 ℃下攪拌6 h。用乙醇水溶液(體積比1∶1) 沖洗至溶液中無白色絮狀物,在80 ℃下真空干燥12 h,得到 Nafion/SiO2復(fù)合膜。
1.3.1 含水率的測定 用干濕稱重法測定。將膜在100 ℃下干燥24 h至恒重,用分析天平稱得干重為Gd。將膜放在去離子水中,在60 ℃下浸泡24 h。取出,快速用濾紙除去膜表面殘留的水,稱得其濕重為GW。測得3次,取平均數(shù),膜的含水率見式(1)。
(1)
1.3.2 溶脹率的測定 將大小2 cm×2 cm的膜樣品,在100 ℃下干燥24 h至恒重,測量干膜的長度(Ld)和寬度(Wd),然后將膜浸泡在60 ℃的去離子水中溶脹24 h。取出,立即測定濕膜的長度(LW)和寬度(WW)。溶脹度的計(jì)算公式見式(2)。
(2)
1.4.1 X射線衍射分析 采用X射線衍射儀測試,分析聚合物膜的結(jié)晶情況。
1.4.2 紅外光譜分析 將膜真空干燥24 h。采用傅里葉變換衰減全反射紅外光譜表征復(fù)合膜的表層成分結(jié)構(gòu)。
1.4.3 掃描電鏡分析 樣品烘干至無水分,噴金30 s,改善樣品導(dǎo)電性。在場發(fā)射掃描電子顯微鏡上分析改性前后膜的形貌。
濕氣體經(jīng)過Nafion膜后,水分會(huì)在Nafion膜表面聚集并形成一張水膜,這張水膜會(huì)阻止其他物質(zhì)通過,表面吸附的水分子會(huì)逐漸轉(zhuǎn)移到膜外[5]。因此,Nafion膜的吸水量決定了它的除濕作用,本實(shí)驗(yàn)通過含水率和溶脹率來評(píng)估Nafion膜的吸水量。圖1為改性后Nafion膜含水率及溶脹率圖。
圖1 改性后Nafion膜含水率(a)及溶脹率(b)圖Fig.1 The moisture content(a) and swelling rate(b) of modified Nafion membrane
由圖1可知,隨著皂土含量的增大,Nafion/皂土復(fù)合膜的含水率和溶脹率增大,在皂土含量為3%時(shí)達(dá)到最大值,含水率和溶脹率依次為27.1%和23.3%,這是由于皂土大量的Al—OH和Si—OH可以和H2O形成氫鍵,促使水分與膜緊密結(jié)合。此外由于皂土獨(dú)特的層狀結(jié)構(gòu)和較大的比表面積,因此提高了Nafion/皂土復(fù)合膜的含水率[6],使其具有優(yōu)異的保水能力。當(dāng)改性溶液量增加至3%后,Nafion/皂土復(fù)合膜的含水率及溶脹率幾乎保持不變,說明濃度為3%皂土改性Nafion最佳。
此外,使用加硅酸乙酯改性Nafion膜,改性后Nafion膜的含水率和溶脹率均有進(jìn)一步的提升。這是由于硅酸乙酯水解后的二氧化硅浸入到膜的空洞中,二氧化硅比表面積大,增強(qiáng)了Nafion膜的親水性,從而進(jìn)一步提高了膜的保水能力。由圖1可知,當(dāng)改性溶液量增加至5%后,Nafion/SiO2復(fù)合膜的含水率及溶脹率幾乎保持不變,表明使用5% SiO2改性Nafion膜除濕性能最佳。
研究表明,磺酸基有極強(qiáng)的親水性能[7],除濕過程中,Nafion膜中磺酸基吸附水分子,磺酸基強(qiáng)度越大吸附的水分子越多,因此磺酸基的強(qiáng)度對(duì)Nafion膜除濕性有顯著影響。Nafion膜及復(fù)合膜的ATR-FTIR結(jié)果見圖2。
圖2 改性前后Nafion膜的紅外光譜圖Fig.2 The infrared spectra of original and modified Nafion membrane
由圖2可知,皂土、二氧化硅的添加改變了Nafion膜特征峰強(qiáng)度,并無鍵之間的相互作用。1 205,1 056 cm-1處為—HSO3—的吸收峰[8]。結(jié)果表明,與原Nafion膜相比,添加皂土及二氧化硅均增加了磺酸基吸收峰的強(qiáng)度,有利于提高膜的除濕性能。
Nafion膜和改性后膜的樣品的測試結(jié)果見圖3。
圖3 Nafion膜改性前后的XRD表征圖Fig.3 The XRD characterization of original and modified Nafion membrane
3個(gè)樣品的衍射峰中都沒有出現(xiàn)尖銳的結(jié)晶峰,而是在和2θ=15~20°,20~25°和40°處出現(xiàn)漫射峰,這是由于聚四氟乙烯骨架的部分結(jié)晶產(chǎn)生的[9]。因?yàn)镹afion原膜、皂土改性Nafion膜和二氧化硅改性Nafion膜都在17°左右處有強(qiáng)的衍射峰和39°左右有弱的衍射峰。結(jié)果表明,皂土改性Nafion膜和二氧化硅改性Nafion膜的聚四氟乙烯骨架仍然保持與Nafion原膜相同的結(jié)構(gòu)。與Nafion原膜相比,改性復(fù)合膜在17°的峰變寬,強(qiáng)度下降這是因?yàn)樘砑釉硗梁投趸枋筃afion結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,從而導(dǎo)致結(jié)晶度降低[10]。使用二氧化硅改性后的Nafion膜在22°附近出現(xiàn)了二氧化硅非晶態(tài)二氧化硅的特征峰,表明改性物質(zhì)(非晶態(tài)納米SiO2)成功添加到Nafion中。
圖4為改性后Nafion膜的掃描電鏡圖。
圖4 Nafion膜改性后掃描電鏡圖Fig.4 The scanning electron microscope of modified Nafion membrane(a)皂土;(b)二氧化硅
由圖4(a)可知,使用皂土改性后,Nafion膜表面有一層覆蓋物存在,覆蓋物成片狀,且均勻光滑,表明所使用的改性劑(皂土)已經(jīng)良好地添加Nafion膜表面。由圖4(b)可知,使用二氧化硅改性后,膜的表面凹凸不平。這是由于二氧化硅為聚合態(tài)物質(zhì),改性后沒有均勻的分布至Nafion膜表面。
使用皂土及二氧化硅改性均提高了Nafion膜的吸水能力,使用皂土改性使得Nafion膜最高提升了27.8%的吸水量,二氧化硅改性提高了34.5%的吸水量。其中,皂土及二氧化硅的最佳劑量分別為3%和5%。因此改性后的膜可以用于CEMS中,可有效去除煙氣中的水分,保留其他氣體污染物,提升檢測的精度。