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      納米非晶金剛石膜鍍覆對(duì)氧化鋯全瓷冠抗折強(qiáng)度的影響*

      2021-01-04 13:11:04盧云余銀英魏肖林
      關(guān)鍵詞:全瓷氧化鋯鍍膜

      盧云余 銀英魏 肖林

      目前,氧化鋯全瓷修復(fù)體因具有較高的強(qiáng)度,可滿足絕大多數(shù)臨床修復(fù)的要求,其在美學(xué)、理化、生物相容性上比金屬烤瓷修復(fù)體有更大的優(yōu)勢(shì),所以其適應(yīng)證越來(lái)越廣,在很多情況下替代金屬烤瓷修復(fù)體逐漸成為臨床上的首選。由于氧化鋯缺乏玻璃相,所以在其表面使用了飾面瓷組成復(fù)合材料,從而使修復(fù)體與天然牙同樣逼真。但是從大量的臨床應(yīng)用結(jié)果來(lái)看,氧化鋯全瓷冠飾面瓷的崩瓷影響了該修復(fù)體的臨床應(yīng)用成功率。與金屬烤瓷修復(fù)體及其它全瓷修復(fù)體相比較,氧化鋯全瓷冠的崩瓷發(fā)生率更高[1,2]。納米非晶金剛石膜具有高透明度、高硬度、耐磨損、耐腐蝕等優(yōu)良特點(diǎn),它能在常溫下快速成膜,可以沉積在陶瓷、玻璃、樹(shù)脂及金屬的表面,其應(yīng)用范圍非常廣泛[3-5]。本實(shí)驗(yàn)將此膜鍍覆于氧化鋯全瓷冠的飾瓷表面,希望以此來(lái)提高氧化鋯全瓷冠疊層復(fù)合結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度,從而減少氧化鋯全瓷冠飾瓷的崩瓷率。

      1.材料及方法

      1.1 實(shí)驗(yàn)材料及設(shè)備JM-2型金剛石鍍膜機(jī)(陜西百納科技公司);氧化鋯及配套瓷粉(Cercon全瓷系統(tǒng),德國(guó));MTS陶瓷系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)機(jī)(MTS Systems Co.,USA);CX玻璃離子粘結(jié)劑(松風(fēng)公司,日本)

      1.2 試件的制作 納米非晶金剛石膜鍍覆氧化鋯飾瓷冠抗折強(qiáng)度試件的制備[6]:選取直徑10mm、長(zhǎng)15mm的鈷鉻合金圓柱體36個(gè),擇其一端在精密加工車(chē)床上制作冠高5mm、底寬8mm、面直徑為6.5mm、軸面向聚合度為8.5°、頸緣為90°肩臺(tái)寬1.0mm的金屬基牙代型面與底座平行,所有線角都精修圓鈍(見(jiàn)圖1);然后在金屬基牙代型上利用CAD/CAM義齒加工系統(tǒng)制作氧化鋯基底冠,冠厚度為0.5mm,共36個(gè),按照生產(chǎn)廠家的方法和要求在氧化鋯基底冠表面筑瓷,從而制得氧化鋯烤瓷冠,冠的直徑10mm、高7mm面厚度為2mm且制成平面(見(jiàn)圖2)。隨機(jī)分成6組,每組6個(gè)試件。其中五組試件在金剛石鍍膜機(jī)中先采用3000V高壓電極化,極化時(shí)間3min,后在真空爐內(nèi)用Ar離子在最佳能量(1000V-1500V)下轟擊清潔表面3min,達(dá)到徹底清除試件表面氧化膜以提高鍍膜膜/基結(jié)合強(qiáng)度。經(jīng)鍍膜前極化預(yù)處理后,將試件置于真空沉積室(真空度5×10-5Pa,溫度60℃),采用過(guò)濾陰極真空電弧技術(shù)進(jìn)行非晶金剛石膜鍍覆,將整個(gè)試件的飾瓷鍍膜,通過(guò)精準(zhǔn)控制離子鍍膜的時(shí)間來(lái)控制鍍膜的厚度,膜厚度分別為100nm、80nm、60nm、40nm、20nm,對(duì)照組不鍍膜。

      圖1 .金屬基牙代型及尺寸

      圖2 .氧化鋯全瓷冠粘固于金屬基牙代型試樣

      1.3 測(cè)試方法 將鍍膜后的氧化鋯全瓷冠試件粘固于金屬代型上,去除多余的玻璃離子粘固劑,試件在室溫下放置24h后,應(yīng)用MTS陶瓷系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)機(jī)測(cè)試試件的抗折強(qiáng)度。加載頭的曲面半徑為5mm,加載速度為0.5mm/min,加力于面正中央直至瓷折裂,記錄試件的抗折強(qiáng)度值并觀測(cè)試件的破裂情況。

      1.4 統(tǒng)計(jì)學(xué)分析 先對(duì)6組測(cè)試結(jié)果的樣本均數(shù)進(jìn)行單因素方差分析,若方差齊,則6組間樣本均數(shù)的兩兩比較用t檢驗(yàn)。

      2.結(jié)果

      2.1 6組薄膜鍍覆氧化鋯全瓷冠試件的抗折強(qiáng)度值見(jiàn)表1。

      表1 薄膜鍍覆氧化鋯全瓷冠試件抗折強(qiáng)度值(-x±s)

      表2 薄膜鍍覆氧化鋯全瓷冠試件抗折強(qiáng)度兩兩比較的t檢驗(yàn)

      統(tǒng)計(jì)分析表明,6組測(cè)試結(jié)果的樣本均數(shù)進(jìn)行單因素方差分析后,可知方差齊,然后6組樣本均數(shù)間的兩兩比較用t檢驗(yàn)(見(jiàn)表2),結(jié)果:納米非晶金剛石薄膜鍍覆氧化鋯全瓷冠試件中,所有鍍膜組的抗折強(qiáng)度值均高于未鍍膜組(P<0.01);在鍍膜組中,鍍膜厚度分別為80nm、60nm、40nm時(shí),各組試件的抗折強(qiáng)度值無(wú)顯著性差異(P>0.05),但其值高于膜厚100nm、20nm組;在膜厚100nm、20nm組試件的抗折強(qiáng)度值無(wú)顯著性差異(P>0.05)。

      2.2 觀察測(cè)試后試件表面形態(tài) 通過(guò)體視顯微鏡觀察所有試件經(jīng)抗折強(qiáng)度測(cè)試后的斷裂面發(fā)現(xiàn)(見(jiàn)圖3、4、5、6):5個(gè)鍍膜組試件斷裂面的破壞方式多為氧化鋯全瓷冠的飾瓷內(nèi)聚性破壞,裂紋多從面加載點(diǎn)開(kāi)始折裂并向側(cè)方延伸至軸面,部分為飾瓷的內(nèi)聚性破壞加飾瓷與氧化鋯基底間界面破壞的混合型破壞(見(jiàn)圖5);未鍍膜組試件的飾瓷破壞多為飾瓷與氧化鋯基底間的界面破壞(見(jiàn)圖6),瓷層崩脫面積大小不一;所有試驗(yàn)組的氧化鋯基底冠和金屬代型均完好。

      圖3 .鍍膜組氧化鋯全瓷冠試件加載破壞后試樣圖5.鍍膜組試件加載破壞后頜面觀(箭頭所示為飾瓷內(nèi)聚性破壞)

      圖4 .未鍍膜組氧化鋯全瓷冠試件加載破壞后試樣圖6.未鍍膜組加載破壞后甲紫染色斷面觀(箭頭所示為飾瓷與氧化鋯基底間的界面破壞)

      3.討論

      一些研究資料表明,氧化鋯全瓷冠修復(fù)體5年失敗率為8%,其中失敗的主要原因?yàn)轱椕娲闪眩òl(fā)生率為7%),與金屬烤瓷修復(fù)體及其他全瓷修復(fù)體相比較,氧化鋯全瓷冠的崩瓷發(fā)生率更高[1,2]。

      納米非晶金剛石膜是一種來(lái)源于太空技術(shù)的鍍膜技術(shù),該鍍膜最薄可以達(dá)到2nm。過(guò)濾陰極真空電弧離子鍍膜技術(shù)代表最新一代鍍膜技術(shù),本實(shí)驗(yàn)采用的過(guò)濾陰極真空電弧離子鍍膜機(jī)具有以下特點(diǎn):配備有高效的電磁過(guò)濾系統(tǒng),保證進(jìn)入真空室沉積的離子為一價(jià)碳離子(C+),使得鍍膜達(dá)到原子級(jí)光潔度,實(shí)現(xiàn)針孔率極低的納米級(jí)鍍膜;配備有氣體離子源清洗系統(tǒng),能有效清除工作表面吸附的氣體和污染物,活化表面,從而可有效提高膜/基結(jié)合力;配備有離子掃描裝置,能方便地實(shí)現(xiàn)大面積鍍膜,也適用于復(fù)雜構(gòu)件的鍍膜;真空電弧系統(tǒng)遠(yuǎn)離鍍膜室,使工藝溫度低于80℃;各種物理沉積參量可控制,有利于對(duì)非晶金剛石膜生長(zhǎng)過(guò)程的深入研究和精細(xì)調(diào)節(jié)鍍膜的性能。本文的非晶金剛石膜就是用這種設(shè)備制備的,通過(guò)精準(zhǔn)控制離子鍍膜的時(shí)間來(lái)控制鍍膜的厚度。其具有天然金剛石的許多優(yōu)異特性:高硬度、耐磨損、耐腐蝕、附著力強(qiáng)等特點(diǎn)和優(yōu)良的生物相容性,且此膜還具有無(wú)色透明,對(duì)材質(zhì)的光學(xué)特點(diǎn)基本不產(chǎn)生影響,該膜在常溫下能夠快速成膜,可以沉積在陶瓷、玻璃、樹(shù)脂及金屬材料的表面,其應(yīng)用范圍非常廣泛[3-5]。

      本試驗(yàn)的結(jié)果經(jīng)統(tǒng)計(jì)學(xué)分析得知:5種不同厚度的膜鍍覆在氧化鋯全瓷冠試件的表面,經(jīng)測(cè)試后可知試件的抗折強(qiáng)度均高于未經(jīng)鍍膜的對(duì)照組,具有顯著性差異(P<0.01),據(jù)此說(shuō)明納米非晶金剛石薄膜經(jīng)鍍覆后確實(shí)能夠提高氧化鋯飾瓷試件的抗折強(qiáng)度。通過(guò)體視顯微鏡觀察所有試件經(jīng)抗折強(qiáng)度測(cè)試后的斷裂面,結(jié)果發(fā)現(xiàn):5個(gè)鍍膜組試件斷裂面的破壞方式多為氧化鋯全瓷冠飾瓷的內(nèi)聚性破壞,裂紋多從面加載點(diǎn)開(kāi)始折裂并向側(cè)方延伸至軸面,部分為飾瓷的內(nèi)聚性破壞加飾瓷與氧化鋯基底間界面破壞的混合型破壞;而未鍍膜組試件的飾瓷多為飾瓷與氧化鋯基底間的界面破壞,飾瓷層崩脫面積大小不一。這就提示:底層氧化鋯與飾瓷界面是該復(fù)合材料強(qiáng)度最薄弱的部位,還有飾瓷材料本身的強(qiáng)度,疊層復(fù)合結(jié)構(gòu)的內(nèi)部殘余應(yīng)力等因素,共同構(gòu)成了氧化鋯全瓷冠臨床崩瓷發(fā)生率較高的主要原因[6-8]。據(jù)此也說(shuō)明鍍膜確實(shí)提高了氧化鋯全瓷冠復(fù)合體的抗折強(qiáng)度。

      本實(shí)驗(yàn)的氧化鋯飾瓷復(fù)合體試件鍍覆納米非晶金剛石膜,即瓷材料的表面經(jīng)過(guò)納米化處理后,這樣瓷材料的表面就制備出特定的納米結(jié)構(gòu)層,該層結(jié)構(gòu)性能均一、組織均勻,可有效地抑制疲勞裂紋的產(chǎn)生,而疲勞裂紋的產(chǎn)生可最終導(dǎo)致瓷材料的折裂。另外,通過(guò)材料表面組織的優(yōu)化,其表面的強(qiáng)度會(huì)有較大幅度的提高,那么復(fù)合材料整體的力學(xué)性能相應(yīng)提高,同時(shí)有效提高材料的性價(jià)比[4,5]。

      從本實(shí)驗(yàn)的結(jié)果得知,在納米非晶金剛石膜厚為100nm、80nm、60nm、40nm、20nm的5個(gè)鍍膜組中,鍍覆的薄膜厚度為80nm、60nm、40nm時(shí)氧化鋯全瓷試件的抗折強(qiáng)度較高,高于膜厚100nm、20nm組;說(shuō)明鍍膜厚度不同,相同的試件的抗折強(qiáng)度也不同。因?yàn)楸∧さ姆€(wěn)定性取決于其內(nèi)部應(yīng)力,如果薄膜過(guò)厚,其內(nèi)應(yīng)力也就相應(yīng)較大,那么它的穩(wěn)定性就下降,最終導(dǎo)致膜/基結(jié)合強(qiáng)度的下降[4],氧化鋯全瓷復(fù)合體的抗折強(qiáng)度降低;再者,如果氧化鋯全瓷冠的表面鍍膜太薄,那么其對(duì)試件的抗折強(qiáng)度提高的作用也有限,所以對(duì)氧化鋯全瓷冠鍍膜時(shí)應(yīng)選擇適宜的薄膜厚度。根據(jù)本試驗(yàn)的結(jié)果得知:當(dāng)氧化鋯全瓷修復(fù)體整體鍍膜時(shí),選擇40-80nm的膜厚可獲得較高的抗折強(qiáng)度。

      目前對(duì)氧化鋯飾面瓷復(fù)合材料的力學(xué)研究還缺乏統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)[6],全瓷修復(fù)體的抗折強(qiáng)度值與很多因素有關(guān),包括氧化鋯陶瓷材料自身因素、試樣的形態(tài)設(shè)計(jì)、制作工藝、表面處理方法、粘結(jié)材料及技術(shù),代型材料的彈性模量,以及測(cè)試時(shí)加載頭的設(shè)計(jì)、加載速率和加載環(huán)境等,各種設(shè)計(jì)不同所測(cè)結(jié)果亦有很大的差異[7-10]。本實(shí)驗(yàn)中測(cè)得試樣的抗折強(qiáng)度的樣本均數(shù)值較高,只能說(shuō)明在本實(shí)驗(yàn)特定條件下所測(cè)得結(jié)果,如果其中的某一實(shí)驗(yàn)因素改變,測(cè)得結(jié)果可能隨之改變。

      本實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,將納米非晶金剛石薄膜鍍覆于氧化鋯全瓷修復(fù)體的表面,可大幅度提高氧化鋯全瓷修復(fù)體的抗折強(qiáng)度,從而減少臨床上氧化鋯全瓷修復(fù)體飾瓷的崩瓷率,具有一定的臨床指導(dǎo)意義。關(guān)于納米非晶金剛石膜鍍覆對(duì)氧化鋯全瓷修復(fù)體長(zhǎng)期臨床應(yīng)用效果的影響,還需要收集更多臨床研究資料,予以長(zhǎng)期的觀察分析。

      4.結(jié)論

      (1)納米非晶金剛石膜鍍覆可使氧化鋯全瓷冠的抗折強(qiáng)度顯著增加。(2)納米非晶金剛石膜不同膜厚度組的氧化鋯全瓷冠抗折強(qiáng)度有差異,當(dāng)氧化鋯全瓷冠鍍膜時(shí),選擇40-80nm膜厚可以獲得較高的抗折強(qiáng)度。

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