謝一凡,胡雪瑩
(北京師范大學(xué) 物理學(xué)系,北京 100875)
一束光經(jīng)過(guò)全反射后的偏振狀態(tài)會(huì)發(fā)生改變,運(yùn)用菲涅耳公式可以推導(dǎo)出入射角、折射率等對(duì)偏振狀態(tài)影響的理論公式. 已有文獻(xiàn)從純數(shù)學(xué)、矩陣等等角度出發(fā)推導(dǎo)出公式,但少有實(shí)驗(yàn)方法直觀地驗(yàn)證此規(guī)律. 本文將光矢量轉(zhuǎn)化為光強(qiáng),以最簡(jiǎn)單的線偏振光、45°夾角為例,設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證.
全反射光路如圖1所示,A代表入射光,A′代表反射光,n1為入射光所在介質(zhì)的折射率,n2為折射光所在介質(zhì)的折射率,研究全反射過(guò)程,故有n1>n2.
圖1 全反射光路
由菲涅耳公式再結(jié)合反射定律可以得到[1]:
(1)
(2)
其中,E為光的復(fù)振幅形式,n12=n1/n2.
對(duì)(1)式取模得:
|Es1|.
同理對(duì)(2)式取模得:
|Ep1′|=|Ep1|.
因此,全反射不改變振幅.
將振幅寫(xiě)成復(fù)振幅形式(記入射光初相位為0,即入射光s光和p光相位差為0),經(jīng)推導(dǎo)可得反射光的相位滿足以[1]
(3)
(4)
因此可得到:
1)相位變化只與相對(duì)折射率n12和入射角i1有關(guān);
2)反射光s′光和p′光均較入射光變“快”(即
s′光和p′光較于s光和p光相位差為正值),其中s′光和p′光較入射光的相位差變化范圍是:0~π(對(duì)應(yīng)的入射角是全反射的臨界角到π/2).
3)反射光s′光和p′光的相位差為
即線偏振光經(jīng)過(guò)全反射之后,變成橢圓偏振光.
φs′和φp′隨入射角i的變化如圖2所示,s′光和p′光之間的相位差(φp′-φs′)隨入射角i的變化如圖3所示.
圖2 φs′和φp′隨入射角i的變化
圖3 相位差φp-φs隨入射角i的變化
實(shí)驗(yàn)無(wú)法直接測(cè)量光矢量,因此,需將光矢量轉(zhuǎn)化為光強(qiáng). 本文采取起偏器起偏得線偏振光,檢偏器檢測(cè)光強(qiáng)的方法.
經(jīng)過(guò)起偏器起偏,如圖4所示得到:
As=Asina,Ap=Acosa,
為方便實(shí)驗(yàn)探究,取a=45°,即:
反射光是2束相干光的疊加,為便于測(cè)量,取檢偏器與起偏器平行和垂直方向,測(cè)量其光強(qiáng). 如圖5所示,其中虛線代表檢偏器的方向.
圖4 起檢器起偏
圖5 檢偏器檢編
根據(jù)光強(qiáng)疊加
當(dāng)檢偏器與起偏器平行時(shí)
(As′sin 45°)2+(Ap′cos 45°)2+
2As′sin 45°Ap′cos 45°cos Δφ=
(5)
當(dāng)檢偏器與起偏器垂直時(shí)
(6)
其中:
Δφ=φp-φs=
由(5)和(6)式得:
由此通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)得Δφ.
采用半導(dǎo)體激光器產(chǎn)生部分偏振光,經(jīng)起偏器起偏后得到與水平方向成45°的線偏振光,之后入射到45°的等腰直角棱鏡中實(shí)現(xiàn)全反射,最后通過(guò)檢偏器測(cè)量光強(qiáng). 實(shí)驗(yàn)裝置如圖6所示.
圖6 實(shí)驗(yàn)裝置圖
如圖7所示,全反射發(fā)生在棱鏡的斜邊上,此時(shí)的入射光已經(jīng)經(jīng)過(guò)了1次折射(從空氣到棱鏡),而根據(jù)菲涅耳公式:
圖7 棱鏡內(nèi)部的傳播光路
式中,n1為空氣的折射率,n2為棱鏡的折射率. 因此,折射光不改變相位,只改變振幅,可得
As(折射)=Asin 45°·ts,
Ap(折射)=Acos 45°·tp,
加上折射調(diào)制因子后(光從起偏器出射到檢偏器經(jīng)過(guò)2次折射),檢偏器與起偏器平行時(shí),
檢偏器與起偏器垂直時(shí),
由此得:
對(duì)于全反射的入射角,可通過(guò)測(cè)量經(jīng)檢偏器起偏的光線與棱鏡直角邊的夾角,再通過(guò)折射定律轉(zhuǎn)化為全反射的入射角,具體關(guān)系為
取空氣折射率為1,棱鏡折射率為1.52(棱鏡折射率通過(guò)測(cè)最小偏向角的方法測(cè)得),得實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)如圖8所示,與理論值對(duì)比如圖9所示.
圖8 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)圖
圖9 實(shí)驗(yàn)與理論對(duì)比
實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的趨勢(shì)和理論值基本一致,但是實(shí)驗(yàn)測(cè)量值卻比理論值偏大(2組實(shí)驗(yàn)均發(fā)現(xiàn)趨勢(shì)一致而光程差的數(shù)值偏大). 對(duì)此還未能很好地解釋?zhuān)钱?dāng)統(tǒng)一調(diào)整了光強(qiáng)的測(cè)量值后(光強(qiáng)值統(tǒng)一減去某常數(shù)),2條曲線較好地重合了,因此推測(cè)原因可能是光強(qiáng)探測(cè)器的初值未能很好地調(diào)零,從而導(dǎo)致光強(qiáng)的測(cè)量值偏大.
1)全反射并不會(huì)改變光的振幅,但是會(huì)對(duì)垂直于入射面的光和平行于入射面的光產(chǎn)生相位變化(相位較于入射光變“大”). 由于對(duì)兩者產(chǎn)生的相位變化程度不同,而導(dǎo)致反射光的偏振態(tài)與入射光不同.
2)當(dāng)入射光是線偏振光時(shí),其反射光將變成橢圓偏振光,且通常情況下(相對(duì)折射率n12不大時(shí))由于對(duì)垂直于入射面的光和平行于入射面的光之間產(chǎn)生的相位差小于 π/2,因此不會(huì)產(chǎn)生圓偏振光.
3)當(dāng)入射光是橢圓偏振光時(shí)可以進(jìn)行類(lèi)似的分析.