張東虞
( 銅仁學(xué)院 大數(shù)據(jù)學(xué)院,貴州 銅仁 554300)
測量放大器是一種可實現(xiàn)對微弱電信號放大的高精度放大器,具有較高的輸入阻抗、高共模抑制比、高電壓增益等優(yōu)點(diǎn),在測控領(lǐng)域中應(yīng)用廣泛。LabVIEW是目前較為成功、應(yīng)用最為廣泛的虛擬儀器軟件開發(fā)環(huán)境。同時,數(shù)據(jù)采集卡USB-6221對測量信號的采集也是測試測量的重要工作[1]。
目前,美國國家儀器公司(NI)開發(fā)的LabVIEW在數(shù)據(jù)采集技術(shù)領(lǐng)域中因其高速采集數(shù)據(jù)的性能、豐富的圖像化編程語言等特點(diǎn)在業(yè)界處于遙遙領(lǐng)先的地位。虛擬儀器技術(shù)在國外已經(jīng)得到了長足的發(fā)展。在國內(nèi),LabVIEW也廣泛地被工業(yè)界、學(xué)術(shù)界和實驗室所接受,用于研究等領(lǐng)域。DAQ數(shù)據(jù)采集是LabVIEW最具競爭力的核心技術(shù)之一,LabVIEW被公認(rèn)為是標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)采集軟件[2]。本測量放大器參數(shù)測試系統(tǒng)設(shè)計就是采用LabVIEW與USB-6221 DAQ采集設(shè)備相結(jié)合的方式,有效地實現(xiàn)了測量放大器參數(shù)的測試與驗證。
放大器系統(tǒng)如圖1所示,主要性能指標(biāo)為:高電壓增益,電壓增益;高輸入阻抗,輸入阻抗。
測量電路采用雙端差動輸入,單端輸出的方式[2],第一級為兩個運(yùn)放并聯(lián)組成的同相放大器,可獲得高的輸入阻抗,實現(xiàn)差模信號的放大;第二級由高共模抑制比運(yùn)放組成差動放大器,主要用來抑制共模信號[3-4]。
在起始頻率f1=10 HZ和終止頻率f2=10 000 HZ之間連續(xù)掃描,產(chǎn)生頻率由低到高連續(xù)變化的正弦波信號[5],當(dāng)前正在掃描的頻率以數(shù)值形式輸出。掃頻信號波形如圖2所示。
其頻率變化規(guī)律表達(dá)式如(1)所示:
其中掃描循環(huán)次數(shù),表示正在進(jìn)行的是第幾次循環(huán),表示當(dāng)前正在掃描的頻率[6]。
測量電路輸入端連接輸出通道AO0,另一輸入端接地,組成回路。輸出端連接輸入通道AI0,通過LabVIEW設(shè)計相應(yīng)的信號生成與信號采集程序,產(chǎn)生的掃頻信號通過輸出通道加到測量放大電路的輸入端,給電路一個輸入電壓信號,經(jīng)過測量電路對信號進(jìn)行放大,將放大后的輸出電壓信號經(jīng)過輸入通道采集回來,以正弦波的形式在屏幕上顯示出來[7]。
表1 電壓增益測量值Tab.1 Voltage gain measurement
由式(2)得,電壓增益的測量可以通過測量輸入端電壓與輸出端電壓實現(xiàn)[2],測量結(jié)果見表1。測量值與理論值相符,由于運(yùn)放的輸入電壓為毫伏級,輸出電壓最大值、最小值的限制及外界干擾等因素的影響,導(dǎo)致測量結(jié)果會有小的誤差。
其中,
運(yùn)放A3的共模抑制比為90 dB,在理想情況下,共模輸入信號可完全被抑制,放大器輸入信號只反映差模輸入,所以有(5)式:
因此有(6)式,
用串聯(lián)電阻法測輸入阻抗,
圖1 測量放大器電路Fig.1 Crcuit of measuring amplifier
采用Proteus仿真軟件對電路進(jìn)行仿真,仿真結(jié)果與分析見表2,實際測量結(jié)果見表3。
根據(jù)仿真結(jié)果,輸入阻抗的值在兆歐級,而實際測量的值相對來說卻很小,是因為運(yùn)放的輸入電壓在毫伏級的值很小,輸入電流也很小,幾乎為零,使得干擾電流大于輸入電流,因此有較大的誤差。
圖2 掃頻信號波形Fig.2 Waveform of sweep signal
表2 仿真結(jié)果Tab.2 Results of the simulation
表3 輸入阻抗測量結(jié)果Tab.3 Results of measurement for impedance input
(1)合理布線 連接導(dǎo)線應(yīng)盡量采用短線連接,對于多級放大器合理布線十分重要。由于輸入信號較小,極易受外界干擾,所以放大器的各電路元件應(yīng)盡可能緊湊在一起,連接導(dǎo)線應(yīng)盡量短,線與線之間不能交叉絞合在一起,否則極易產(chǎn)生干擾。
(2)盡量減少地線電阻,合理安排接地點(diǎn)。由于電路地線是由電路中多個參考電位相同的元件連接在一起而成,在連接中所采用的導(dǎo)線本身存在著一定的電阻,當(dāng)電流通過地線時就會在地線的某段線間產(chǎn)生電壓降,若這個電流是交流電,則產(chǎn)生的交流壓降會疊加在正常信號之上被放大器一起放大,形成干擾。
(3)采用性能良好的穩(wěn)壓電源,解決電源電壓不穩(wěn)定引起的干擾。輸入端引入線采用屏蔽線,或者將整個輸入級電路利用金屬屏蔽罩進(jìn)行隔離,屏蔽線和屏蔽罩的外殼必須可靠接地,從而減小外界電磁場的干擾。
利用LabVIEW與DAQ數(shù)據(jù)采集技術(shù)相結(jié)合,在已有的技術(shù)條件下,通過制定比較合理的測試方案,設(shè)計出較為完整的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),將掃頻信號源加到電路兩輸入端,通過USB-6221,能更有效地實現(xiàn)測量放大電路的參數(shù)測量與驗證。高共模抑制比可抑制各種共模信號引入的誤差,高電壓增益可實現(xiàn)對差模信號的放大,進(jìn)而實現(xiàn)對微弱信號的放大。在整個設(shè)計過程中,由于干擾因素的存在,導(dǎo)致測量值與理論值會有一定的誤差,還需進(jìn)一步優(yōu)化設(shè)計方案,制定出更為合理的測試方法,以減少誤差。
參考文獻(xiàn):
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[5]侯國屏,葉齊鑫. LabVIEW7.1編程與虛擬儀器設(shè)計[M].北京.清華大學(xué)出版社,2005:21-33.
[6]龍華偉,顧永剛.LabVIEW8.2.1與DAQ數(shù)據(jù)采集[M].北京:清華大學(xué)出版社,2008:43-46.
[7]侯國屏,葉齊鑫.LabVIEW7.1編程與虛擬儀器設(shè)計[M].北京.清華大學(xué)出版社,2005:67.