視頻腦電圖在新生兒癲癇發(fā)作中的應用效果研究

呂曉敏

廣東省鶴山市人民醫(yī)院，廣東鶴山 529700

新生兒癲癇是指新生兒在出生28d內(nèi)出現(xiàn)癲癇發(fā)作癥狀，其主要是由于遺傳、產(chǎn)傷、顱內(nèi)感染等因素影響，導致患兒顱內(nèi)神經(jīng)元過度興奮，誘發(fā)突發(fā)性異常放電，進而引起大腦功能障礙。目前在臨床上，主要依據(jù)患兒病史以及腦電圖結果綜合診斷該病。然而，部分家屬由于對患兒病情過度緊張或焦慮，無法客觀地提供臨床病史，因此，科學、準確的腦電圖結果對于癲癇的診斷具有至關重要的作用[1]。常規(guī)腦電圖（EEG）雖然能夠提供較為準確的有關癲癇診斷的電生理依據(jù)，但是該技術記錄時間較短，且受檢查場地的限制，導致其檢測陽性率不高。視頻腦電圖（VEEG）是近年興起的一項臨床檢測方法，能夠實時同步地記錄患者癲癇發(fā)作時的腦電圖變化，提高癲癇陽性的檢出率[2]。現(xiàn)為探究VEEG在新生兒癲癇發(fā)作中的應用價值，我院于2016年7月～2017年11月選擇50例新生兒驚厥發(fā)作患兒進行VEEG監(jiān)測并予以探討分析。

1 資料與方法

1.1 一般資料

選擇2016年7月～2017年11月我院小兒內(nèi)科50例胎齡31～43周新生兒驚厥發(fā)作患兒。其中，男女比例為34∶16；11例早產(chǎn)兒，39例足月兒；首次驚厥發(fā)作時日齡≤3d有27例、4～7日齡的14例、8～14日齡的4例、日齡≥14d的5例；驚厥病因：5例代謝異常，18例缺氧缺血性腦病，3例腦梗塞，10例顱內(nèi)出血，5例顱內(nèi)感染，3例感染性疾病，6例其他。所有患兒均因發(fā)作疾病首次就診，且診斷不明確，患兒家屬愿意參加研究，簽訂同意書。排除曾服用抗癲癇藥物或已接受常規(guī)腦電圖檢查且診斷已明確的患兒。

1.2 檢查方法

50例患兒均應用美國Nicolet視頻腦電圖儀來實施監(jiān)測。根據(jù)國際10～20系統(tǒng)放置16導記錄電極，并以兩側乳突、耳廓為參考電極。選用鍍銀盤狀電極，并在其上面涂抹導電膏，放置并固定在雙層彈力帽中。監(jiān)測時間通?？刂圃?h以上，至少需要記錄到新生兒發(fā)作或者出現(xiàn)癲癇樣波再停止，且睡眠時間至少涵蓋一個完整的清醒-睡眠周期。監(jiān)測過程中針對各類事件與狀態(tài)實施標記，回放過程中針對這些事件與狀態(tài)進行同步、同屏、逐秒研究。最后，打印標記異常的腦電圖以及臨床發(fā)作期的腦電圖予以分析和判斷。于患兒經(jīng)臨床治療后再次給予VEEG檢查，若患兒VEEG異常者，則于7d、14d、28d后繼續(xù)進行復查并記錄其預后情況。

1.3 觀察指標

（1）記錄并分析50例患兒臨床發(fā)作與癇樣放電的檢出情況；（2）根據(jù)腦電圖異常波形以及發(fā)作期的臨床表現(xiàn)以確定癲癇發(fā)作類型；（3）比較癇樣放電在睡眠期、清醒期中的檢查情況；（4）分析患兒發(fā)病原因與癇樣放電及其起源部位的關系；（5）治療后3個月，追蹤分析各類型新生兒驚厥發(fā)作的預后情況。

1.4 判斷標準

癲癇診斷標準[3]：參照《臨床腦電圖學》，存在臨床發(fā)作性癥狀，且伴有同步尖波、棘波、尖慢波、棘慢波、多尖慢波、多棘慢波。若患兒VEEG可記錄到發(fā)作癥狀，但無癲癇樣則診為非癲癇樣發(fā)作。

1.5 統(tǒng)計學方法

采用SPSS20.0軟件包統(tǒng)計分析，本研究數(shù)據(jù)均通過正態(tài)分布檢驗，符合正態(tài)分布，計量資料以表示，組間比較用獨立樣本t檢驗，組內(nèi)比較用配對樣本t檢驗；計數(shù)數(shù)據(jù)以百分數(shù)表示，采用χ2檢驗。P＜0.05為差異有統(tǒng)計學意義。

2 結果

2.1 VEEG監(jiān)測結果分析

50例新生兒中，VEEG可監(jiān)測到22例（44.0%）臨床發(fā)作，其中15例患兒臨床發(fā)作與癇樣放電同步出現(xiàn)，確診為癲癇發(fā)作；另有7例患兒雖可記錄到臨床發(fā)作癥狀，但未能同步監(jiān)測到癇樣放電，診斷為非癲癇發(fā)作。有28例（56.0%）患兒未能夠監(jiān)測到臨床發(fā)作，但其中有18例存在發(fā)作間期癇樣放電，這可為臨床診斷癲癇提供依據(jù)，見表1。

表1 VEEG監(jiān)測結果分析[n（%）]

2.2 癲癇臨床分型診斷

15例已診斷為癲癇發(fā)作的患兒，通過結合病史、臨床癥狀以及VEGG表現(xiàn)可明確其癲癇發(fā)作類型，分別為2例（13.33%）局部強直性發(fā)作，2例（13.33%）肌陣攣性發(fā)作，11例（73.33%）局部陣攣性發(fā)作。

2.3 VEEG監(jiān)測癇樣放電主要出現(xiàn)的時相

50例患兒中，33例患兒通過VEEG監(jiān)測到癇樣放電，其中癲癇波出現(xiàn)在清醒期有9例（27.27%），在睡眠期的有21例（63.64%），另有3例（9.09%）在睡眠期、清醒期都出現(xiàn)。由此可知，睡眠期癇樣放電頻率要高于清醒期（χ2=7.834，P＜0.05）。見表2。

表2 VEEG監(jiān)測癇樣放電主要出現(xiàn)的時相[n（%）]

2.4 發(fā)病原因與癇樣放電及其起源部位監(jiān)測情況

VEEG可監(jiān)測到33例癇樣放電，其起源部位分別為單側顳區(qū)11例，單側額顳區(qū)3例，單側顳枕區(qū)3例，單側顳枕后區(qū)3例，頂中顳區(qū)及右側中央?yún)^(qū)3例，雙側顳區(qū)2例，單側中央?yún)^(qū)2例，單側枕區(qū)2例，雙側大腦半球皮層區(qū)4例，其中起源部位為局灶放電的有29例（87.88%），且主要以顳區(qū)為主75.76%（25/33）。另外，通過探討VEEG異常表現(xiàn)與病因關系發(fā)現(xiàn)，腦器質性病變癇樣放電異常率最高為75.76%，見表3。

表3 發(fā)病原因與腦電形態(tài)及癇樣放電起源部位監(jiān)測情況

表4 新生兒驚厥發(fā)作預后以及VEEG監(jiān)測情況[n（%）]

2.5 新生兒驚厥發(fā)作預后以及VEEG監(jiān)測情況

本研究50例患兒中，4例（8.0%）強直性發(fā)作，3例（6.0%）肌陣攣性發(fā)作，32例（64.0%）微小型發(fā)作，5例（10.0%）多灶陣攣性發(fā)作，6例（12.50%）單灶陣攣性發(fā)作。治療后3個月，微小型、單灶陣攣發(fā)作患兒其預后（90.63%）要好于強直、肌陣攣以及多灶陣攣性發(fā)作患兒（χ2=10.424，P=0.001）。另外，驚厥性發(fā)作持續(xù)時間在48h以上、發(fā)作次數(shù)≥3次的患兒其后遺癥發(fā)生幾率更高，見表4。

3 討論

VEEG是目前臨床上癲癇診斷最常用的輔助檢查手段[4]，其定位較精確，能夠長時間地把臨床發(fā)作時所記錄的圖像與同步相關的腦電信號顯示在同一屏幕上，有助于臨床人員直觀地分析驚厥性發(fā)作的性質和類型，提高癲癇發(fā)作與非癲癇發(fā)作的鑒別診斷水平，利于明確癲癇發(fā)作類型[5-6]。研究結果也顯示，50例驚厥發(fā)作新生兒中，15例患兒經(jīng)VEEG可監(jiān)測到臨床發(fā)作與癇樣放電同步出現(xiàn)，診斷為癲癇發(fā)作，另有7例患兒由于只能記錄到臨床發(fā)作，而未監(jiān)測到癇樣放電，診斷為非癲癇發(fā)作。此研究結果與王璐[7]的研究報道基本符合，提示VEEG可作為新生兒癲癇與非癲癇發(fā)作鑒別診斷的一項重要指標。

3.1 VEEG監(jiān)測癇樣放電主要出現(xiàn)的時相

有學者認為[8-9]，癲癇發(fā)作的臨床癥狀與癇樣放電的檢出率極易受檢查者睡眠-覺醒周期的影響。本研究33例驚厥發(fā)作患兒可檢測到癇樣放電，其中睡眠期癇樣放電頻率78.79%要明顯高于清醒期12.12%，提示新生兒癇樣放電無論是發(fā)作期還是發(fā)作間期，均以睡眠期為主。其原因可能是睡眠期腦干網(wǎng)狀結構上行激活系統(tǒng)活性降低，使大腦邊緣或皮層神經(jīng)元興奮性異常升高，進而導致大腦皮層的抑制作用降低，出現(xiàn)更多的異常放電[10]。因此，在癲癇診斷過程中，應適當延長腦電圖的監(jiān)測時間，至少涵蓋一個完整的清醒-睡眠周期，以提高癇樣放電的檢出率[11]。

3.2 發(fā)作原因與癇樣放電起源部位的關系

吳靜等[12]選擇48例驚厥患兒探討新生兒驚厥發(fā)作的原因與VEEG影像特點的關系，發(fā)現(xiàn)患兒多以圍產(chǎn)期腦損傷為主要病因。本研究結果也顯示，以顱內(nèi)感染、顱內(nèi)出血等腦器質性病變的癇樣放電檢出率最高，顯著高于其他代謝異常、感染性疾病。因此，在臨床診斷中若發(fā)現(xiàn)患者有明顯癇樣放電且持續(xù)存在的，應先考慮腦器質性病變的可能。另外，本研究還發(fā)現(xiàn)癇樣放電的起源部位主要以局灶放電為主，提示新生兒癲癇發(fā)作的形式主要為部分性發(fā)作。然而，需要注意的是，由于一次性局灶發(fā)作缺乏準確的定位，因此在VEEG檢測過程中只出現(xiàn)1次部分性發(fā)作無法說明患兒存在局部顱內(nèi)異常，只有當多次癇樣放電存在同一部位時，才可考慮其驚厥發(fā)作原因是否為局部顱腦損傷。

3.3 新生兒驚厥發(fā)作形式與其預后的關系

近年來，隨著癲癇相關學科研究的日益成熟，大量研究表明，新生兒驚厥發(fā)作預后與其發(fā)作形式有密切的關系[13]。本研究微小型、局限性陣攣發(fā)作患兒其預后（90.63%）也明顯好于強直、肌陣攣以及多灶陣攣性發(fā)作患兒，與路燕等[14]研究結果相吻合。以此同時，驚厥性發(fā)作持續(xù)時間在48h以上、發(fā)作次數(shù)≥3次的患兒其后遺癥發(fā)生幾率也明顯高于發(fā)作持續(xù)時間48h內(nèi)，次數(shù)＜3次的患兒。其原因多為長期驚厥發(fā)作或反復發(fā)作使患兒體內(nèi)腦能量消耗增加，減少了顱內(nèi)磷酸肌酸或三磷酸腺苷濃度，進而導致不可逆性神經(jīng)損傷發(fā)生[15]，因此，VEEG監(jiān)測可用于新生兒驚厥發(fā)作早期預后判斷的一種有效檢查方法。

綜上，VEEG應用于新生兒驚厥發(fā)作診斷中不僅能夠提高癲癇診斷及定位致癇灶的準確率，有效鑒別非癲癇發(fā)作性疾病，還可用于疾病預后判斷的一種有效檢查手段。

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