歐陽可勛+錢衛(wèi)添+胡朝暉+胡建軍
【摘要】目的 磁敏感加權成像(SWI)在顱腦損傷中的傷情及預后判斷應用分析。方法 選擇2015年8月~2017年7月我院收治的120例顱腦損傷患者作為研究對象,依據(jù)臨床格拉斯哥昏迷評分(GCS)區(qū)分患者為輕度腦外傷以及中重度腦外傷。借助CT平掃、常規(guī)MRI以及SWI對所有患者進行全面檢查,借助統(tǒng)計學分析對比各個方法下患者腦內病灶的數(shù)量以及部位。結果 SWI的GCS評分在第3天遠高于CT以及MRI檢驗,組間差異具有統(tǒng)計學意義(P<0.05)。SWI在檢測顱腦損傷病灶數(shù)量上明顯高于CT以及MRI檢驗方法,組間差異存在統(tǒng)計學意義(P<0.05),患者在入院第0、1或7、14天的頭顱CT或MRI檢查與SWI檢查對比,且傷后半年SWI檢驗GOS評分明顯優(yōu)于CT以及MRI檢驗方法,組間差異有統(tǒng)計學意義(P<0.05)。結論 磁敏感加權成像(SWI)在顱腦損傷后更能更早、更準確和客觀地評估腦損傷,并提供更好的與預后有關的昏迷期限以及結果,對提高本地區(qū)甚至周邊地區(qū)顱腦損傷診斷、救治水平有重要
意義。
【關鍵詞】顱腦損傷;頭顱CT;頭顱MRI;頭顱SWI;傷情及預后
【中圖分類號】R651.1+5 【文獻標識碼】B 【文章編號】ISSN.2095-6681.2017.24..02
顱腦損傷疾?。═BI)是指患者因頭部位置遭受到嚴重的外傷后出現(xiàn)的一種損傷,在全身各部位損傷中,占比約為9%~21%[1]。當患者病情屬于輕度時,就很容易治愈,二患者病情較為嚴重時,就會出現(xiàn)較高的誤診率以及致殘率。例如彌漫性軸索損傷與其他顱腦外傷并發(fā)。顱腦外傷病情變化快,要求檢測者準確判斷病情,抓住時機,及時進行檢測[2]。最近幾年,高分辨率磁敏感加權成像技術應用較為廣泛,在檢查小出血病灶時準確性較高,在臨床中,對腦腫瘤、腦血管病以及神經(jīng)變性類疾病的檢測中應用較多,但是很少在腦外傷檢查中應用。本文對在我院治療的120例顱腦損傷患者進行了分析研究,現(xiàn)將結果報道
如下。
1 資料與方法
1.1 一般資料
選擇上述時期我院收治的120例顱腦損傷患者作為研究對象,其中男性67例,女性53例,患者年齡為15-84歲,平均(39.15±11.32)歲,按照致傷原因進行劃分:包括42例交通傷,27例摔傷,39例墜落傷,12例其他傷,在入院后,分別對每位患者進行格拉斯哥昏迷評分,其中28例為5~8分,47例為9~12分,45例13~15分,所有患者患病時間均為3~7天之間,給予患者CT以及MRI進行檢查。輕度TBI組(GCS13-15分)為45例,中重度TBI組為75例(5~12分),其中有36例出現(xiàn)彌漫性軸索損傷(DAI),以患者病灶位置為分組依據(jù),可分為淺表組(包括顳葉、頂葉皮髓質以及額葉、枕葉)以及深部組(丘腦、基底核、胼胝體)、后顱窩組(腦干、小腦),在這9個部位中,如果一個出血灶累及超過2個部位,那個損傷部位就是面積較大的區(qū)域,將生命征不平穩(wěn),腦疝患者排除。
1.2 方法
1.2.1 常規(guī)MRI序列檢查
采用1.5T磁共振影像系統(tǒng)(MRI)進行檢查。
1.2.2 SWI
選擇上述機型自帶掃描序列,同時進行優(yōu)化,在掃描定位過程中,TR49 ms,TE40 ms,F(xiàn)OV為230 mm×
230 mm,320×320矩陣,保持20度偏轉角,80 kHz寬帶,設置相位編碼方向為左右,并行采集因子2.0,2.0 mm層后,0層間距,56層掃描。在采集完畢后,會獲得兩組圖像,也就是相位圖像以及強度圖像。而后在工作站位置對數(shù)據(jù)做進一步處理,借助高通濾波以及數(shù)據(jù)疊加、最小信號強度投影燈對數(shù)據(jù)進行處理,最終形成融合SWI圖像。
1.2.3 CT檢查
采用亞洲最先進型號的寶石能譜CT以及16排CT進行檢查。保持患者頭顱處于橫斷位狀態(tài)進行掃描,6毫米層厚,層間距為0,512×512矩陣,借助軟組織算法重建。
1.3 觀察指標
選擇2位經(jīng)驗較為豐富的醫(yī)生分析本組研究中所有圖像,借助雙盲法比較CT、常規(guī)MRI以及SWI序列顯現(xiàn)出的血灶數(shù)量、分布。
(1)患者在入院第0、1、3、7、14天的GCS評分;
(2)患者在入院第0、1或7、14天的頭顱CT或MRI檢查;
(3)患者在入院第1或第7天的頭顱SWI檢查;
(4)患者在傷后半年的GOS評分。
1.4 統(tǒng)計學方法
本組研究數(shù)據(jù)選擇SPSS 17.0統(tǒng)計學軟件進行處理,計數(shù)資料以例(n),百分數(shù)(%)表示,采用t檢驗;計量資料以“x±s”表示,采用x2檢驗,以P<0.05為差異有統(tǒng)計意義。
2 結 果
SWI的GCS評分在第3天遠高于CT以及MRI檢驗,組間差異具有統(tǒng)計學意義(P<0.05),見表1。SWI在檢測顱腦損傷病灶數(shù)量上明顯高于CT以及MRI檢驗方法,組間差異存在統(tǒng)計學意義(P<0.05),患者在入院第0、1或7、14天的頭顱CT或MRI檢查與SWI檢查對比,且傷后半年SWI檢驗GOS評分明顯優(yōu)于CT以及MRI檢驗方法,組間比較,差異有統(tǒng)計學意義(P<0.05)。
3 討 論
TBI疾病在臨床中較為常見,患者一般會伴有多發(fā)小出血灶,患者病死率較高,且治療后患者會有較多后遺癥存在,基于此,早期發(fā)現(xiàn)出血灶位置以及數(shù)目,對損傷嚴重程度進行判斷,能夠為臨床治療提供一定幫助,對于病死率的降低有一定幫助[3-5]。在檢測顱腦損傷疾病中,最常應用CT方式進行檢查,但是CT檢查無法有效檢測小病灶,且敏感度較低,特異性不高,出現(xiàn)誤診以及漏診率較高。MRI診斷的應用,是神經(jīng)系統(tǒng)的診斷得到了突飛猛進的發(fā)展,但是腦內出血灶的顯示仍存在一定歧義[6-8]。SWI是由MRI技術發(fā)展而來,具有較高的安全性以及無創(chuàng)性,在對病灶數(shù)量的顯示上較其他兩種檢測方式更具優(yōu)勢。在本組研究中,SWI的GCS評分在第3天遠高于CT以及MRI檢驗,組間差異具有統(tǒng)計學意義(P<0.05)。SWI在檢測顱腦損傷病灶數(shù)量上明顯高于CT以及MRI檢驗方法,組間差異存在統(tǒng)計學意義(P<0.05),患者在入院第0、1或7、14天的頭顱CT或MRI檢查與SWI檢查對比,且傷后半年SWI檢驗GOS評分明顯優(yōu)于CT以及MRI檢驗方法,組間差異有統(tǒng)計學意義(P<0.05)。
綜上所述,磁敏感加權成像(SWI)在顱腦損傷后更能更早、更準確和客觀地評估腦損傷,并提供更好的與預后有關的昏迷期限以及結果,對提高本地區(qū)甚至周邊地區(qū)顱腦損傷診斷、救治水平有重要意義。
參考文獻
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本文編輯:李 豆endprint