別紅玲+洪佳麟+劉偉+劉海平
摘 要:本文依照IEC61215的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)行DH測(cè)試及DH加嚴(yán)測(cè)試來(lái)評(píng)定組件的耐候能力,同時(shí)根據(jù)加速壽命推算組件的理論壽命周期。實(shí)驗(yàn)表明在層壓工藝及原輔材料相同的條件下改變使用不同型號(hào)封裝材料即EVA,組件功率衰減會(huì)出現(xiàn)差異性,同時(shí)根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果還表明材料間的搭配也是決定可靠性是否通過(guò)的主要原因。
關(guān)鍵詞:DH恒溫恒濕測(cè)試;功率衰減;EL電致發(fā)光檢測(cè);EVA封裝膠膜;原材料
中圖分類(lèi)號(hào): TM914.4 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A 文章編號(hào): 1673-1069(2016)14-166-2
0 引言
隨著太陽(yáng)能行業(yè)的發(fā)展及市場(chǎng)日漸成熟,光伏組件需要長(zhǎng)期暴露在戶(hù)外自然環(huán)境之下,紫外光、水汽、鹽霧、風(fēng)沙、高低溫、化學(xué)物質(zhì)等外部環(huán)境因素都會(huì)使組件的長(zhǎng)期可靠性受到影響,尤其在一些極端惡劣的自然環(huán)境下,需要在保證綜合性能良好的前提下,需使用具有部分性能更為優(yōu)越的特殊功能材料,才能更好的保障光伏組件的長(zhǎng)期可靠性。而電站運(yùn)營(yíng)中發(fā)現(xiàn)的越來(lái)越多的組件可靠性、衰降問(wèn)題給組件制造商、投資者等帶來(lái)了極大的潛在風(fēng)險(xiǎn),在組件壽命周期的二十多年中,如何更好的考量組件的可靠性、壽命行業(yè)最熱門(mén)研究話(huà)題。
本文經(jīng)過(guò) 3個(gè)方案的測(cè)試及理論推導(dǎo),來(lái)證明產(chǎn)品的可靠性、耐候性。
1 組件可靠性失效率統(tǒng)計(jì)
由圖中可以看出熱斑測(cè)試、濕凍測(cè)試、濕熱測(cè)試、高低溫測(cè)試這四種測(cè)試失效率最高的。 熱斑效應(yīng)就是當(dāng)一個(gè)組件的一個(gè)或一組電池被遮光或損壞,組件的工作電流超過(guò)了該電池減少了的短路電流時(shí),熱斑加熱就會(huì)發(fā)生。當(dāng)這種情況發(fā)生時(shí),該被影響和電池或電池組被迫處于反向偏置而且必定消耗功率,從而引起過(guò)熱發(fā)生。出現(xiàn)熱斑效應(yīng)主要表現(xiàn)在焊點(diǎn)熔化或封裝材料老化,電池裂紋或不匹配,內(nèi)部連接失效,局部被遮光或弄臟均會(huì)引起這種缺陷。而濕凍、濕熱、高低溫這些都是溫度和濕度變化,來(lái)考驗(yàn)組件的承受能力。濕熱 DH就是反應(yīng)問(wèn)題序列之一,下面根據(jù)公司設(shè)備能力情況,下面針對(duì)濕熱展開(kāi)測(cè)試。
2 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)
2.1 在層壓工藝及除EVA外其他原輔材料相同的情況下制備組件
在層壓工藝及除EVA外其他原輔材料相同的情況下,制備4件組件,EVA分別是是A、B、C、D四個(gè)型號(hào),每個(gè)型號(hào)1件,(交聯(lián)度均符合要求)。在經(jīng)過(guò)溫度:85℃;濕度 85%,測(cè)試分步進(jìn)行,現(xiàn)進(jìn)行1000小時(shí)的測(cè)試之后測(cè)試功率及EL,之后再進(jìn)行第二個(gè)1000小時(shí)測(cè)試,經(jīng)過(guò)3個(gè)月的測(cè)試得出如下數(shù)據(jù):
由圖2圖表信息來(lái)看DH2000后四塊組件分別出現(xiàn)了 1.84%、4.85%、0.64%、42.19%的衰減,出現(xiàn)衰減較大組件是“0004D”。
由圖3可以看出,“0004D”這塊組件 EL 主要表現(xiàn)在沿著電極上出現(xiàn)大面積失效。
2.2 制作多晶組件
針對(duì)2.1里面 DH2000 后出現(xiàn)功率衰減較多的“0004D”這塊組件使用的 EVA,用此款EVA 與2.1里面不同型號(hào)的背板,再次制作2塊多晶組件,進(jìn)行如2.1相同測(cè)試。再次經(jīng)過(guò)3個(gè)月后測(cè)試數(shù)據(jù)如下:
由圖4可以看出,“D-EVA”與背板Ⅱ匹配的組件DH2000 功率無(wú)下降,并出現(xiàn)功率小幅度上升,且相同情況下制作的 2 塊功率變化表現(xiàn)趨勢(shì)是一致的。抽取其中一塊組件進(jìn)行EL測(cè)試由圖5可以看出組件前后EL無(wú)明顯變化。
2.3 結(jié)合2.1及2.2的實(shí)驗(yàn)再次設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)
選用“D-EVA”為封裝膠膜, 抽取市場(chǎng)常見(jiàn)的 9款背板,分別與“D-EVA”進(jìn)行搭配制成小樣,確保層壓工藝及交聯(lián)度均符合要求的情況下,分別測(cè)試EVA與背板剝離強(qiáng)度,之后將所有的小樣進(jìn)行DH1000 測(cè)試,待測(cè)試結(jié)束后再次進(jìn)行EVA與背板的剝離強(qiáng)度。數(shù)據(jù)如圖6:
由圖6中可以看出1號(hào)在DH測(cè)試前后數(shù)值都呈現(xiàn)最高,7號(hào)在DH測(cè)試前后數(shù)值都呈現(xiàn)最低3號(hào)、5號(hào)、9號(hào)三組數(shù)值表現(xiàn)相同趨勢(shì)。
由圖7中來(lái)看,數(shù)據(jù)可分3個(gè)類(lèi)型,衰減大于60%的2號(hào)、6號(hào)、7號(hào),衰減小于20%的3號(hào)、5號(hào)、8號(hào)、9號(hào),居于中間的1號(hào)、4號(hào)。
結(jié)合圖6及圖7,可以得出1號(hào)雖然DH測(cè)試前后的數(shù)值呈現(xiàn)最高水平,但是在衰減來(lái)看卻不是最優(yōu)的。2號(hào)、6號(hào)在DH測(cè)試前后數(shù)值呈現(xiàn)較高水平,但在衰減來(lái)看卻表現(xiàn)極差的。整體來(lái)看較穩(wěn)定的搭配組合是8號(hào)、3號(hào)、5號(hào)、9號(hào),最差的是7號(hào)。在選擇材料搭配的時(shí)候也是選擇穩(wěn)定的。
3 實(shí)驗(yàn)分析
在2.1的實(shí)驗(yàn)中針對(duì)出現(xiàn)嚴(yán)重衰減的“0004”這塊組件再次測(cè)試,沿著EL出現(xiàn)失效的部位進(jìn)行剝離測(cè)試,發(fā)現(xiàn)此處幾乎無(wú)強(qiáng)度,同時(shí)進(jìn)行交聯(lián)度測(cè)試,發(fā)現(xiàn)交聯(lián)度與初始相比也下降了較多。那么出現(xiàn)嚴(yán)重衰減的這塊組件可以理解為由于粘結(jié)力下降,導(dǎo)致大量水汽不斷進(jìn)入組件內(nèi)部,這時(shí)EVA本身抗水解差抵抗不了DH2000的測(cè)試,那么整個(gè)體系就失去平衡。沿著主柵(最高的位置)開(kāi)始蔓延破壞,破壞主柵焊接涂錫帶,增加了這塊的高度,那么,這部分EVA包裹的就會(huì)相比其他部位少,這部分也就會(huì)先呈現(xiàn)出來(lái)。
那么在2.2中通過(guò)DH2000測(cè)試后功率及EL仍表現(xiàn)較優(yōu)狀態(tài)的組件,功率反而有上升,經(jīng)分析可得出以下幾點(diǎn),組件內(nèi)部材料間的結(jié)合較好,完全抵抗水汽的侵蝕,同時(shí)玻璃及電池片表面存在很多毛細(xì)孔等,在層壓時(shí)與EVA不能充分接觸,在DH測(cè)試過(guò)程中逐漸達(dá)到完全接觸,有利于提高透光率;還有EVA在DH測(cè)試過(guò)程中抗紫外劑等添加劑分解,有利于透光率增高;鋼化玻璃在DH測(cè)試后表面脫鈉,形成類(lèi)增透膜層,使透光率提高。通過(guò)這個(gè)實(shí)驗(yàn)也可以看出組件可以接受長(zhǎng)時(shí)間的環(huán)境變化,就算極端惡劣的自然環(huán)境,也可以保障光伏組件的可靠性。
4 實(shí)驗(yàn)結(jié)論
實(shí)驗(yàn)表明在層壓工藝及原輔材料相同的條件下去改變其中一個(gè)材料如EVA,經(jīng)加嚴(yán)測(cè)試后組件功率衰減會(huì)出現(xiàn)明顯的差異性。
實(shí)驗(yàn)表明材料間的搭配是決定可靠性是否通過(guò)的主要原因。材料間搭配初始力學(xué)表現(xiàn)的最高也不可以單一的判斷它就是最好的,經(jīng)過(guò)老化測(cè)試后材料的穩(wěn)定才是最為重要的。
參 考 文 獻(xiàn)
[1] 鄭海興,舒碧芳,等.晶體硅組件長(zhǎng)期運(yùn)行后性能及衰退原因分析[J].太陽(yáng)能學(xué)報(bào),2012,33(4):614-617.
[2] 曹仁賢.光伏系統(tǒng)的可靠性分析[J].太陽(yáng)能學(xué)報(bào),2011,TK519;TB114.3.
[3] 劉桂雄,何建林,余榮斌.光伏組件可靠性評(píng)估的研究現(xiàn)狀與思考[J].現(xiàn)代制造工程,TM615;TB114.3-2014.