腦電圖與頭顱CT相結(jié)合對新生兒缺氧缺血性腦病預(yù)后評估的研究*

李德峰 胡小強(qiáng) 施彩嫦 武才勝

臨床研究結(jié)果顯示，新生兒圍產(chǎn)期由于缺氧引發(fā)腦組織缺氧缺血性損傷，臨床稱之為缺氧缺血性腦病（Hypoxic-ischemic encephalopathy，HIE），該病為新生兒常見病，病死率高，可達(dá)60%~80%，存活患兒預(yù)后效果差，出現(xiàn)神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥[1]。本院從2013年7月開始研究應(yīng)用腦電圖聯(lián)合頭顱CT對新生兒缺氧缺血性腦病進(jìn)行預(yù)后評估，現(xiàn)報道如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料 選取本院從2013年7月-2014年7月新生兒科住院的55例新生兒缺氧缺血性腦病患兒做為研究對象。所有患兒均符合缺氧缺血性腦病的臨床診斷標(biāo)準(zhǔn)：（1）有明確的可導(dǎo)致胎兒宮內(nèi)窘迫的異常產(chǎn)科病史，以及嚴(yán)重的胎兒宮內(nèi)窘迫表現(xiàn)（胎心<100次/min，持續(xù)5 min以上，和/或羊水Ⅲ度污染），或者在分娩過程中有明顯窒息史；（2）出生時有重度窒息，指Apgar評分1 min≤3分，并延續(xù)至5 min時仍≤5分，或者出生時臍動脈血?dú)鈖H≤7.00；（3）出生后不久出現(xiàn)神經(jīng)系統(tǒng)癥狀、并持續(xù)至24 h以上[2]。上述患兒排除電解質(zhì)紊亂、顱內(nèi)出血和產(chǎn)傷等原因引起的抽搐以及宮內(nèi)感染、遺傳代謝性疾病和其他先天性疾病所引起的腦損傷。55例患兒中男28例，女27例；日齡1 h~7 d，平均（45.5±28.5）h；應(yīng)用全國HIE臨床診斷與分度標(biāo)準(zhǔn)對患兒實(shí)施分度，其中重度窒息8例，中度窒息23例，輕度窒息24例[3]。

1.2 方法 所有患兒出生3~5 d后實(shí)施檢測，采用日本原裝進(jìn)口東芝Activion16層CT機(jī)行頭顱CT掃描。頭顱連續(xù)平掃以0M為基線，掃描層厚6~8 mm，層數(shù)為10~16層，層距6~8 mm，管電壓I20 kV、電流IO0 mA，窗寬86~90 HU，窗位32~35 HU[4]。美國尼高利公司生產(chǎn)的NicoletOne vEEG腦電圖儀行腦電圖的檢查。參照國標(biāo)10/20系統(tǒng)放置電極，放置Fp1、Fp2、C3、C4、T3、T4、O1、O2電極，以雙耳 A1、A2為對照電極記錄患兒腦電圖，記錄周期1 h以上[5]。分析兩種檢測頭顱CT結(jié)果、腦電圖結(jié)果，隨訪12個月對所有患兒進(jìn)行預(yù)后評估。

1.3 評價標(biāo)準(zhǔn) （1）EEG診斷標(biāo)準(zhǔn)為：①正常；②輕度異常：腦電圖顯示背景活動紊亂，腦組織出現(xiàn)變異性缺損或推遲成熟；局灶性放電，腦電圖中產(chǎn)生連續(xù)或重復(fù)棘波、尖波；③重度異常：腦電圖顯示背景活動抑制，出現(xiàn)電靜息、爆發(fā)性抑制、低電壓，腦組織明顯無對稱性，驚厥性放電[6]。（2）CT診斷標(biāo)準(zhǔn)為：①輕度：低密度區(qū)范圍在兩個腦葉的腦白質(zhì)之間，分散局限性邊界清晰，極少合并顱內(nèi)出血；②中度：低密度區(qū)范圍大于兩個腦葉的腦白質(zhì)，未覆蓋全部大腦半球，少數(shù)合并顱內(nèi)出血；③重度：低密度區(qū)范圍覆蓋大部分大腦半球，合并顱內(nèi)出血及腦白質(zhì)低密度影[7]。

2 結(jié)果

2.1 腦電圖（EEG）檢測結(jié)果 55例患兒經(jīng)腦電圖檢測，正常12例，占21.82%；輕度異常37例，占67.27%；重度異常6例，占10.91%。腦電圖背景活動異常43例，占78.18%，其中背景活動紊亂29例，電靜息8例，低電壓6例，變異性缺損2例，推遲成熟3例，左右腦組織明顯無對稱性2例。注：患兒異常表現(xiàn)并非單一，少數(shù)存在兩種以上異常表現(xiàn)[8]。

2.2 頭顱CT檢測結(jié)果 55例患兒經(jīng)頭顱CT檢測，正常14例，占25.45%；輕度6例，占10.91%；中度20例，占36.36%；重度15例，占27.27%。CT影像低密度區(qū)面積大小不等的兩側(cè)分散，顱內(nèi)合并出血時，CT表現(xiàn)為出血位置影像低密度區(qū)域較大[9]。

2.3 隨訪患者預(yù)后情況 55例患兒隨訪12個月預(yù)后評估，8例（14.55%）患兒出現(xiàn)后遺癥，腦癱5例，癲癇3例。

3 討論

有學(xué)者研究發(fā)現(xiàn)，新生兒出現(xiàn)缺氧缺血性腦?。℉IE）后，可引發(fā)多種腦部異常表現(xiàn)，嚴(yán)重者可危及患兒生命，亦可對患兒中樞神經(jīng)系統(tǒng)造成損傷，臨床研究發(fā)現(xiàn)，輕度異?；純侯A(yù)后效果佳，而中重度異?；颊吣X組織出現(xiàn)非可逆損傷，可出現(xiàn)腦癱、癲癇等后遺癥，亦可導(dǎo)致患兒死亡[9-10]。為了及早發(fā)現(xiàn)并給予對癥治療，臨床上通常使用腦電圖或頭顱CT兩種檢測手段，在患兒發(fā)病初期對腦損傷情況進(jìn)行預(yù)后評估，兩種檢測手段各具特點(diǎn)。

有報道指出，HIE患兒頭顱CT檢測顯示腦室質(zhì)呈現(xiàn)低密度水平，但并非所有出現(xiàn)低密度灶新生兒已經(jīng)發(fā)生腦損傷，亦可是正常[11]。其評估腦損害具有時間性，對于胎齡要求必須達(dá)到40周才具評估價值。臨床研究發(fā)現(xiàn)，多數(shù)新生兒出現(xiàn)缺氧與酸中毒導(dǎo)致腦組織小血管滲透性增強(qiáng)，靜脈壓增大引發(fā)腦出血。如患兒出現(xiàn)少量蛛網(wǎng)膜下腔出血其預(yù)后情況良好，患兒若發(fā)生腦室內(nèi)或腦室質(zhì)出血則可嚴(yán)重影響其預(yù)后結(jié)果。有報道指出，腦電圖可較早發(fā)現(xiàn)窒息缺氧對腦功能的影響，可直觀展現(xiàn)腦組織的功能變化與受損情況，特別是HIE患兒未見顯著臨床癥狀及體征患兒，疑似圍產(chǎn)期出現(xiàn)窒息缺氧的患兒早期腦電圖檢測具較高HIE檢出率。

有學(xué)者研究結(jié)果顯示，EEG可作為評估腦功能情況重要臨床指標(biāo)，可直觀體現(xiàn)腦功能改變情況，對于新生兒HIE初期無明顯臨床癥狀時，可早期檢測到腦細(xì)胞病理異常變化情況，另作為無創(chuàng)檢測手段，可實(shí)時動態(tài)評估腦功能變化水平，有助于預(yù)后評估[12]。頭顱CT檢測方法可通過影像直觀體現(xiàn)腦部結(jié)構(gòu)變化情況，特別是對于中、重度HIE合并腦出血患兒的出血部位、范圍等的檢測診斷。另頭顱CT對新生兒具有輻射影響，故對于無顯著臨床癥狀時，盡量采用EEG來監(jiān)測腦功能異常；對于合并腦出血、腦水腫患兒，可應(yīng)用頭顱CT確診檢測結(jié)果。故對于HIE患兒同時實(shí)施EEG與頭顱CT聯(lián)合檢測可彌補(bǔ)兩種檢測手段的劣勢，綜合兩種檢測手段的臨床結(jié)果，提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)資料以確保預(yù)后評估結(jié)果正確。

綜上所述，臨床應(yīng)用腦電圖聯(lián)合頭顱CT對新生兒缺氧缺血性腦病進(jìn)行診斷、早期確診、評價腦損傷程度及預(yù)后，有助于提高患兒長期生存生活質(zhì)量，提高醫(yī)院聲譽(yù)，具有良好的科學(xué)價值、社會效益和經(jīng)濟(jì)效益。

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