MRI在新生兒低血糖腦病診斷中的應(yīng)用分析

劉鶯 周衛(wèi)萍

MRI在新生兒低血糖腦病診斷中的應(yīng)用分析

劉鶯 周衛(wèi)萍

目的探討磁共振(MRI)在新生兒低血糖腦病診斷中的應(yīng)用分析。方法采用回顧性分析方法,20例低血糖腦病新生兒患者的MRI資料, 對(duì)患兒進(jìn)行常規(guī)T1WI、T2WI、T2FLAIR、彌散加權(quán)系列(DWI)掃描檢查, 如果患兒有合并出血癥狀加掃磁敏感(SWI)序列。結(jié)果低血糖腦病具有高度的區(qū)域選擇性, 主要累及大腦皮質(zhì)、海馬、基底節(jié)區(qū)和胼胝體壓部。20例患兒中常規(guī)T1WI表現(xiàn)為受累部位稍低8例, 稍高4例；T2W2表現(xiàn)為受累部位稍高或灰白質(zhì)分界不清8例；T2FLAIR序列和DWI呈高信號(hào), ADC值減低。合并出血時(shí)SWI序列病變內(nèi)見片狀低信號(hào)。結(jié)論新生兒低血糖腦病一般呈對(duì)稱性分布, 具有一定的特征性, DWI對(duì)低血糖腦損傷的檢測(cè)比較敏感, SWI對(duì)合并出血敏感, 磁共振對(duì)此病的診斷中具有重要的應(yīng)用價(jià)值。

磁共振；新生兒；低血糖腦病

新生兒糖代謝容易產(chǎn)生低糖血癥, 從而引起腦損傷, 導(dǎo)致低血糖腦病, 損壞患兒的中樞神經(jīng)系統(tǒng)[1]。如果不及時(shí)治療可能會(huì)起因嚴(yán)重的認(rèn)知障礙、腦癱、癲癇等后遺癥, 嚴(yán)重影響患兒的生活質(zhì)量。新生兒低血糖腦病早期缺乏明顯癥狀,給臨床診斷帶來(lái)較大的困難。近幾年, 隨著影像技術(shù)的發(fā)展,磁共振檢查逐漸被應(yīng)用于新生兒低血糖腦病的診斷中, 對(duì)新生兒低糖腦損傷具有較好的敏感性, 為早期診斷提供依據(jù)[2]。為了研究新生兒低血糖腦病磁共振診斷價(jià)值, 作者選取20例患兒進(jìn)行研究、分析, 現(xiàn)報(bào)告如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料 隨機(jī)選取2011年6月～2013年10月以來(lái)本院收治的20例低血糖腦病新生兒患者的MRI資料進(jìn)行回顧性分析, 所有患兒均確診為低血糖腦損傷, 磁共振檢查時(shí)間為出生后38 h～7 d；20例患兒中男11例, 女9例；胎齡38～42周, 體重2000～4500 g, 平均體重(3170±1520)g；所有患兒均屬足月順產(chǎn)和剖宮產(chǎn)。入選患兒MRI檢查均支持腦損傷；伴有陣發(fā)性子?jì)埂Ⅲ@厥、嗜睡、拒乳以及反映低下等低血糖臨床癥狀；所有入選患兒均沒有缺氧性腦病、感染性疾病或者遺傳性疾病等, 所有患兒糖值在0.4～1.4 mmol/L范圍之內(nèi), 臨床表現(xiàn)為反應(yīng)差、尖叫拒乳等。患兒沒有宮內(nèi)窘迫史、顱內(nèi)感染及遺傳性代謝疾病等。

1.2 方法20例患兒首先進(jìn)行T1WI、T2WI、T2FLAIR、彌散加權(quán)系列(DWI)常規(guī)掃描, 掃描設(shè)備采用Philips1.5 T超聲型MR儀, 掃描序列及參數(shù)為：常規(guī)T1WI TR128 ms, TE2 ms,T2WI TR3 000 ms, DWI TR1923 ms, TE56 ms, 擴(kuò)散梯度因子指分貝為0和1000 s/mm2, SWI TR24.5 ms, TE34.5 ms?；純簰呙枨笆褂盟下热┕嗄c鎮(zhèn)靜。

2 結(jié)果

20例患兒中常規(guī)T1WI表現(xiàn)為受累部位稍低8例, 稍高4例；T2W2表現(xiàn)為受累部位稍高或灰白質(zhì)分界不清8例；T2FLAIR序列和DWI呈高信號(hào), ADC值減低。合并出血時(shí)SWI序列病變內(nèi)見片狀低信號(hào)。經(jīng)過(guò)診斷治療所有患兒均在2～3個(gè)月內(nèi)復(fù)查,12例患兒MRI表現(xiàn)為正常,8例患兒MRI影像表現(xiàn)為不同程度的對(duì)應(yīng)區(qū)域局限性腦溝增寬, 腦回變窄,腦室輕度擴(kuò)張。而且多發(fā)軟化灶。

3 討論

葡萄糖是新生兒大腦發(fā)育的主要能量來(lái)源, 血糖不足容易使新生兒功能絮亂, 臨床上低糖是新生兒最常見的代謝絮亂之一, 嚴(yán)重的低血糖容易導(dǎo)致新生兒腦損傷疾病[3]。新生兒低血糖癥狀得不到很好的抑制容易發(fā)生一系列的病理變化, 如充血、腦細(xì)胞水腫、缺血性點(diǎn)狀壞死等, 進(jìn)而引起腦損傷, 引發(fā)智障、腦癱等功能腦部障礙。

目前, 臨床上使用常規(guī)MRI監(jiān)測(cè)對(duì)新生低血糖腦病進(jìn)行檢測(cè), 是一種比較敏感的檢測(cè)手段, 但是在檢測(cè)過(guò)程中它所能顯示的病變范圍和病變程度與臨床表現(xiàn)有一定的差異, 隨著醫(yī)療技術(shù)的發(fā)展, 臨床上開始應(yīng)用DWI技術(shù)與磁共振技術(shù)相結(jié)合的方法檢測(cè)新生兒低血糖腦病, 能夠比較準(zhǔn)確的反映病變的內(nèi)部及周圍異常[4]。DWI技術(shù)主要反映組織中水分子無(wú)序擴(kuò)散的能力, 當(dāng)細(xì)胞內(nèi)水分子增加時(shí), 水分子呈現(xiàn)彌漫擴(kuò)散, DWI表現(xiàn)為高信號(hào)影, ADC表現(xiàn)為低信號(hào)影。DWI能夠準(zhǔn)確的顯示出新生兒病變范圍和程度, 據(jù)有關(guān)文獻(xiàn)報(bào)道新生兒低血糖腦病48 h內(nèi)枕頂葉DWI表現(xiàn)為高信號(hào)影, 而這種情況在普通的T1WI、T2WI上表現(xiàn)不明顯。本次研究中,20例患兒首次DWI檢查有14例異常, 而T1WI檢查異常的只有10例、T2WI檢查異常表現(xiàn)的只有8例, 明顯低于DWI顯示。

新生兒低血糖病主要累及患兒頂枕葉皮層和皮下層下白質(zhì)區(qū)域, 這可能是因?yàn)檎砣~軸突生長(zhǎng)較其他區(qū)域旺盛, 再生長(zhǎng)的過(guò)程中對(duì)葡萄糖放入需求增加。同時(shí), 大腦后動(dòng)脈除了向枕葉供血以外, 還要向小腦、腦干或者部分丘腦供血,當(dāng)新生兒發(fā)生低血糖時(shí), 枕葉部位更容易受累, 本次研究中,20例患兒中常規(guī)T1WI表現(xiàn)為受累部位稍低4例, 稍高3例；T2W2表現(xiàn)為受累部位稍高或灰白質(zhì)分界不清10例；T2FLAIR序列和DWI呈高信號(hào), ADC值減低。對(duì)患兒進(jìn)行常規(guī)MRI監(jiān)測(cè), 往往表現(xiàn)為血糖低、病變分布區(qū)域與腦血管分布不匹配, 患兒以雙側(cè)頂枕葉后腦組織、內(nèi)囊后肢受累為主, 往往呈現(xiàn)對(duì)稱性, 特征性比較強(qiáng)。但是常規(guī)MRI不能充分顯示病變范圍, 臨床上一般應(yīng)用常規(guī)那日與DWI聯(lián)合檢測(cè),進(jìn)一步判斷新生兒腦損傷嚴(yán)重程度, 能較清晰、全面的表現(xiàn)出新生兒腦損傷的程度與范圍。

綜上所述, MRI在新生兒低血糖腦病診斷中具有較好的應(yīng)用價(jià)值, 常規(guī)能夠發(fā)現(xiàn)腦損傷異常信號(hào), 聯(lián)合使用DWI序列較常規(guī)T1WI、T2WI顯示具有更高的優(yōu)越性, 對(duì)新生兒腦血病的臨床指導(dǎo)與診斷具有重要的價(jià)值。

[1]王龍勝, 鄭穗生, 鄢龍, 等.新生兒低血糖腦損傷的MRI診斷.醫(yī)學(xué)影像雜志,2010,1(12):146-147.

[2]王來(lái)栓, 程國(guó)強(qiáng), 曹云, 等.新生兒癥狀性低血糖腦損傷相關(guān)因素分析. 復(fù)旦學(xué)報(bào)(醫(yī)學(xué)版),2010,32(14):163-165.

[3]劉芳, 郭志梅, 杜志方, 等.住院足月兒獲得性腦損傷相關(guān)問(wèn)題分析. 醫(yī)學(xué)研究雜志,2009,2(26):203-204.

[4]賈愛英.新生兒低血糖腦病的MRI診斷價(jià)值.中國(guó)實(shí)用神經(jīng)疾病雜志,2014,14(21):189-190.

10.14164/j.cnki.cn11-5581/r.2015.08.043

2015-01-04]

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