竇懷智,王紅衛(wèi),洪華,江濤,侯晉
(南通出入境檢驗(yàn)檢疫局,江蘇南通 226004)
紡織面料由各種纖維組成,在染色過(guò)程中可能會(huì)引入各種重金屬元素。紡織面料中重金屬含量現(xiàn)有的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)[1–3]是通過(guò)萃取、浸出處理后由光譜法檢測(cè)。通常這些方法樣品處理過(guò)程較復(fù)雜,重現(xiàn)性不好,平行測(cè)定結(jié)果之間的偏差可能達(dá)到10%以上。其中X射線熒光光譜法測(cè)定金屬含量時(shí),測(cè)得的是該金屬元素在樣品中的總含量,與該金屬的可遷移量有所區(qū)別。目前部分標(biāo)準(zhǔn)[4]允許重金屬總含量低于可遷移的限值時(shí),可以直接判定合格,當(dāng)重金屬總含量高于可遷移限值時(shí),再進(jìn)行可遷移重金屬的測(cè)試。
采用X射線光譜法對(duì)紡織品進(jìn)行檢測(cè)需要解決以下問(wèn)題:(1)紡織品屬于有機(jī)物,含大量C,H,O元素,基體較輕,無(wú)標(biāo)樣時(shí)分析結(jié)果的準(zhǔn)確度無(wú)法滿足樣品合格判定要求;(2)紡織面料規(guī)格、型號(hào)眾多,缺乏具有普適性定量分析所需標(biāo)準(zhǔn)樣品;(3)要取得最佳檢測(cè)效果應(yīng)當(dāng)選擇真空檢測(cè)條件,避免聚酯膜和氦氣引起熒光強(qiáng)度的損耗[5]。
為解決上述問(wèn)題,筆者綜合液體樣品檢測(cè)中使用的點(diǎn)滴法[6]、能量色散X射線熒光光譜較常應(yīng)用的濾紙片法[7–9],設(shè)計(jì)了一種織物樣片,采用X射線熒光光譜法測(cè)定紡織面料中鉻、鎳、銅的含量。該法測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確度高,檢測(cè)成本低。
波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀:S8 TIGER型,德國(guó)Bruker–AXS公司;
無(wú)水四硼酸鋰/偏硼酸鋰混合熔劑(質(zhì)量比為12∶22):優(yōu)級(jí)純,洛陽(yáng)特耐實(shí)驗(yàn)設(shè)備有限公司;
鉻、鎳、銅標(biāo)準(zhǔn)溶液:1 000 μg/mL,國(guó)家鋼鐵材料測(cè)試中心;
標(biāo)準(zhǔn)貼襯織物(棉):上海市紡織工業(yè)技術(shù)監(jiān)督所。
光管最大功率:4 kW;最大激發(fā)電流:170 mA;最大激發(fā)電壓:60 kV;分光晶體:PET,LiF(200),Ge;準(zhǔn)直器:0.23°,0.46°;氣體模式:真空氦氣(樣品室壓力25 kPa)、常壓氦氣(樣品室壓力為0.1 MPa);面罩規(guī)格:34,28,18,8 mm。
織物樣片由標(biāo)準(zhǔn)貼襯織物和基層組成,見(jiàn)圖1。標(biāo)準(zhǔn)貼襯織物用于滴加待測(cè)元素,因?yàn)閱螌涌椢镙^薄,基層可以屏蔽樣品背后由樣品杯和儀器部件等產(chǎn)生的散射X射線。一定厚度的基層還可以起到稀釋織物基體效應(yīng)同時(shí)保證樣片在真空檢測(cè)條件下結(jié)構(gòu)強(qiáng)度的作用。
圖1 織物樣片的結(jié)構(gòu)示意圖
標(biāo)準(zhǔn)貼襯織物通過(guò)樹(shù)脂層復(fù)合在玻璃熔片表面,玻璃熔片可以采用常見(jiàn)的熔劑如無(wú)水四硼酸鋰/偏硼酸鋰混合熔劑(質(zhì)量比12∶22)制備。樹(shù)脂層可以是聚丙烯酸樹(shù)脂、環(huán)氧樹(shù)脂等易于涂覆并固化成型的樹(shù)脂。樣片一般為圓形,其大小根據(jù)X射線熒光光譜儀內(nèi)面罩孔徑確定,典型直徑有8,18,28,32 mm。使用時(shí)將待測(cè)元素溶液均勻滴加于表面,涼干后檢測(cè)。
以直徑28 mm的棉織物樣片為例,裁剪出直徑26 mm的圓形標(biāo)準(zhǔn)貼襯織物(棉),用電子天平稱其質(zhì)量(m),精確至0.000 1 g。將丙烯酸樹(shù)脂均勻涂覆在偏硼酸鋰空白熔片(直徑28 mm,質(zhì)量6.0 g)上,將標(biāo)準(zhǔn)貼襯織物復(fù)合上,保證表面平整均勻,待樹(shù)脂固化后,便制得空白織物樣片(見(jiàn)圖2)。使用時(shí)將待測(cè)液體或標(biāo)準(zhǔn)溶液滴加在織物表面,若標(biāo)準(zhǔn)溶液濃度為c,滴加體積為V,則樣片分析層待測(cè)元素的含量為w=Vc/m。
圖2 織物樣片的實(shí)例
通過(guò)對(duì)制備好的空白織物樣片進(jìn)行掃描,確認(rèn)樣片中不含有待測(cè)元素。使用移液槍向空白織物樣片上滴加試液,當(dāng)單次滴加體積小于50 μL時(shí),試液不能均勻分布到織物表面;當(dāng)單次滴加體積大于200 μL時(shí),試液有溢出。實(shí)驗(yàn)選擇試液?jiǎn)未蔚渭恿繛?00 μL。當(dāng)需要較高濃度的樣片時(shí),可以待樣片干燥后進(jìn)行多次滴加,但經(jīng)過(guò)10次點(diǎn)滴后,樣片的誤差可能會(huì)超過(guò)5%,為控制因點(diǎn)滴造成的誤差,點(diǎn)滴次數(shù)應(yīng)盡可能少。實(shí)驗(yàn)按表1制備待測(cè)元素含量不同的織物樣片。
表1 校準(zhǔn)樣片中被測(cè)元素含量 μg/g
對(duì)表1標(biāo)準(zhǔn)樣片進(jìn)行測(cè)定,3種元素均選用Kα線作為分析譜線,因成分單一,不存在譜線干擾的情況。Cr和Ni使用0.46°準(zhǔn)直器以提高檢測(cè)信號(hào)的靈敏度,Cu的信號(hào)強(qiáng)度較高,可使用0.23°準(zhǔn)直器以增強(qiáng)準(zhǔn)確性。分析條件見(jiàn)表2。
表2 校準(zhǔn)樣片分析條件
按照表2條件對(duì)表1中的校準(zhǔn)樣片進(jìn)行測(cè)定。完成檢測(cè)后,儀器自動(dòng)以被測(cè)元素的含量X為橫坐標(biāo),以熒光強(qiáng)度Y為縱坐標(biāo)進(jìn)行線性回歸,回歸方程、相關(guān)系數(shù)見(jiàn)表3。由表3可知,3種元素校準(zhǔn)曲線線性關(guān)系良好,實(shí)際檢測(cè)過(guò)程中,若減少點(diǎn)滴誤差,校準(zhǔn)曲線的線性可以得到進(jìn)一步優(yōu)化。在日常檢測(cè)工作中,可以用與樣品種類(lèi)一致的標(biāo)準(zhǔn)貼襯織物制備織物樣片建立標(biāo)準(zhǔn)曲線,再將樣品裁剪成熔片大小后貼覆在同樣的玻璃熔片上進(jìn)行測(cè)量,從而得到樣品中待測(cè)元素的含量。
表3 工作曲線方程、線性范圍及相關(guān)系數(shù)
采用標(biāo)準(zhǔn)貼襯織物制成的空白樣片進(jìn)行精密度和回收試驗(yàn)??瞻讟悠?jīng)掃描確認(rèn)不含待測(cè)元素后,將標(biāo)準(zhǔn)溶液按量滴加至空白樣列中,干燥后進(jìn)行定量檢測(cè),根據(jù)建立的校準(zhǔn)曲線得到檢測(cè)結(jié)果,精密度及回收試驗(yàn)結(jié)果見(jiàn)表4。由表4可知,測(cè)量結(jié)果的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差為3.2%~4.8%,加標(biāo)回收率為95.0%~98.8%。
表4 精密度及回收試驗(yàn)結(jié)果(n=6)
采用該方法對(duì)5家單位近1 000批樣品進(jìn)行了比對(duì)測(cè)試,結(jié)果證明,利用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜織物樣片法對(duì)織物面料進(jìn)行快速檢測(cè)可以篩除合格樣品,準(zhǔn)確率為100%。日常檢測(cè)工作中,合格樣品往往占80%,因此利用該方法先篩除大部分合格樣品,可以大大降低檢測(cè)成本。
(1)為解決波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜對(duì)液體樣品和紡織面料中重金屬含量的檢測(cè),提出織物樣片的設(shè)計(jì)方法,該法簡(jiǎn)便實(shí)用,測(cè)定結(jié)果準(zhǔn)確。(2)采用該方法測(cè)得的紡織面料中金屬元素總量不等同于金屬遷移量,使用該方法的目的是排除重金屬元素總量低于可遷移限值的樣品。若金屬元素含量測(cè)定結(jié)果在遷移限量附近,應(yīng)以標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)定結(jié)果為準(zhǔn)。
[1]EN 71–3 歐洲玩具安全標(biāo)準(zhǔn)第三部分:某些元素的轉(zhuǎn)移[S].
[2]EN 1122 塑膠–測(cè)試鉻–濕式消解法[S].
[3]GB 17593–2006 紡織品重金屬的測(cè)定[S].
[4]ASTM F963–11 美國(guó)消費(fèi)者安全規(guī)范:玩具安全[S].
[5]吉昂,陶光儀,卓尚軍,等. X射線熒光光譜分析[M].北京:科學(xué)出版社,2003.
[6]羅立強(qiáng),詹秀春,李國(guó)會(huì). X射線熒光光譜儀[M].北京:化學(xué)工業(yè)出版社,2008.
[7]毛振偉,彭駿,張巽,等.用X射線熒光光譜濾紙片法測(cè)定古代青銅器中的Cu,Pb,Sn,F(xiàn)e和Zn[J].光譜學(xué)與光譜分析,1997,17(6): 80–84.
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