馬宏忠,侯鵬飛,嚴(yán) 巖,吳金利,陳 軒,朱 超
(1. 河海大學(xué) 能源與電氣學(xué)院,江蘇 南京 211100;2. 國(guó)網(wǎng)江蘇省電力有限公司檢修分公司,江蘇 南京 211102)
高壓并聯(lián)電抗器(下文簡(jiǎn)稱(chēng)高抗)作為電網(wǎng)中的重要電力設(shè)備,主要用于補(bǔ)償無(wú)功和穩(wěn)定電壓,其安全性和穩(wěn)定性對(duì)電網(wǎng)的安全穩(wěn)定運(yùn)行具有重要意義[1]。在機(jī)械力或電磁力的作用下,高抗繞組和鐵芯的結(jié)構(gòu)易發(fā)生變化,如繞組松動(dòng)、繞組變形、繞組鼓包、鐵芯松動(dòng)、硅鋼片間磨損等[2-3],對(duì)高抗的安全穩(wěn)定運(yùn)行造成極大隱患,并且這些內(nèi)部構(gòu)件的機(jī)械變化無(wú)法通過(guò)常規(guī)的油色譜和局部放電等診斷方法進(jìn)行檢測(cè)。因此,有必要針對(duì)高抗繞組和鐵芯的機(jī)械狀態(tài)檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行深入研究,及時(shí)掌握和發(fā)現(xiàn)高抗內(nèi)部機(jī)械狀態(tài)的變化,這對(duì)保障高抗的安全穩(wěn)定運(yùn)行至關(guān)重要。
基于振動(dòng)信號(hào)的檢測(cè)方法對(duì)電抗器內(nèi)部機(jī)械結(jié)構(gòu)的改變具有極好的靈敏性,近年來(lái)得到了越來(lái)越多的關(guān)注。運(yùn)行狀態(tài)下,高抗的振動(dòng)信號(hào)呈現(xiàn)出顯著的非線(xiàn)性特性,蘊(yùn)含了重要且全面的狀態(tài)信息。高抗箱體的振動(dòng)信號(hào)能夠有效體現(xiàn)高抗繞組和鐵芯的機(jī)械狀態(tài)的變化[4]。但是,在高抗繞組和鐵芯發(fā)生潛伏性機(jī)械故障的早期階段,受變電站現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境的影響,能夠反映高抗內(nèi)部機(jī)械狀態(tài)變化的微弱故障特征易被強(qiáng)大的背景噪聲覆蓋,且當(dāng)高抗內(nèi)部發(fā)生多處機(jī)械故障或混合故障時(shí),可能存在故障特征耦合或削弱的情況,所以從高抗的振動(dòng)信號(hào)中準(zhǔn)確有效地提取故障特征量是診斷高抗繞組和鐵芯機(jī)械故障的關(guān)鍵。
目前,振動(dòng)信號(hào)特征的提取方法有時(shí)域分析法、經(jīng)驗(yàn)小波變換、小波分析、希爾伯特-黃變換、經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解等[5-7],這些方法大多基于線(xiàn)性理論,在處理非線(xiàn)性信號(hào)時(shí)易出現(xiàn)端點(diǎn)效應(yīng)、能量泄漏、模態(tài)混疊等問(wèn)題,嚴(yán)重影響特征提取的準(zhǔn)確性。因此,對(duì)于非線(xiàn)性振動(dòng)信號(hào),上述線(xiàn)性分析方法不能充分、準(zhǔn)確地捕捉振動(dòng)信號(hào)的特征。相對(duì)而言,非線(xiàn)性時(shí)域分析方法,如分形技術(shù)、混沌理論和相空間重構(gòu)技術(shù)等,能夠很好地描述非線(xiàn)性振動(dòng)信號(hào)的本質(zhì)特征和內(nèi)在規(guī)律。目前,相空間重構(gòu)技術(shù)已應(yīng)用于火箭發(fā)動(dòng)機(jī)、航空電弧識(shí)別、光伏發(fā)電及電力負(fù)荷預(yù)測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域[8-10],但在振動(dòng)信號(hào)分析的相關(guān)領(lǐng)域應(yīng)用有限。文獻(xiàn)[11]利用核可能性聚類(lèi)分析相軌跡特征量,識(shí)別了變壓器繞組松動(dòng)故障,不足之處在于核可能性聚類(lèi)分析對(duì)相軌跡特征量的識(shí)別能力有限,聚類(lèi)數(shù)目的選取直接影響分類(lèi)識(shí)別的效果。文獻(xiàn)[12]通過(guò)振動(dòng)信號(hào)的相平面軌線(xiàn)定性分析和形態(tài)變化識(shí)別變壓器繞組松動(dòng)故障,但其對(duì)嵌入維數(shù)的取值缺少理論依據(jù),可能誘發(fā)誤判,且其忽略了多維相空間的其他關(guān)鍵特征,缺乏定量計(jì)算識(shí)別。文獻(xiàn)[13]將相軌跡的分布系數(shù)作為故障特征對(duì)振動(dòng)信號(hào)進(jìn)行分析,但忽略了相軌跡的其他重要信息,特征量提取能力有限。
鑒于上述問(wèn)題,本文從高抗振動(dòng)信號(hào)的混沌動(dòng)力學(xué)特性著手,首先通過(guò)Kolmogorov 熵(下文簡(jiǎn)稱(chēng)K熵)值證明高抗振動(dòng)信號(hào)的混沌特性,進(jìn)而計(jì)算延遲時(shí)間和嵌入維數(shù),在此基礎(chǔ)上重構(gòu)高抗繞組和鐵芯在不同機(jī)械故障下的振動(dòng)信號(hào),研究不同機(jī)械故障下高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡的變化規(guī)律;然后計(jì)算用于表征振動(dòng)信號(hào)相軌跡恒定測(cè)度與遍歷量的多混沌指標(biāo),即關(guān)聯(lián)維數(shù)、最大Lyapunov 指數(shù)、K 熵值,提出具有工程應(yīng)用價(jià)值的多混沌特征空間識(shí)別法,以期為現(xiàn)場(chǎng)高抗繞組和鐵芯機(jī)械故障特征的提取和識(shí)別提供理論依據(jù)。
為了充分揭示高抗振動(dòng)信號(hào)所包含的狀態(tài)信息,本文利用相空間重構(gòu)對(duì)其進(jìn)行分析。相空間重構(gòu)能夠?qū)⒄駝?dòng)信號(hào)的1 維時(shí)間序列擴(kuò)展至3 維或更高維的空間中,從其時(shí)間序列中提取和恢復(fù)出高抗動(dòng)力系統(tǒng)的所有狀態(tài)信息和規(guī)律[8],具體原理如下。
設(shè)采集到的高抗振動(dòng)信號(hào)時(shí)間序列為:
式中:m為嵌入維數(shù);τ為延遲時(shí)間。
由于τ和m的值直接影響相軌跡的空間分布,因此在重構(gòu)振動(dòng)信號(hào)時(shí)必須慎重選取τ和m。根據(jù)Takens定理[14]可知,在無(wú)限長(zhǎng)、零噪聲的理想時(shí)間序列中,τ和m可隨意取值,但實(shí)際測(cè)得的高抗振動(dòng)信號(hào)時(shí)間序列長(zhǎng)度為一定值,且通常存在環(huán)境噪聲干擾,所以為了保證相軌跡的質(zhì)量,本文對(duì)τ和m的取值進(jìn)行準(zhǔn)確計(jì)算。
延遲時(shí)間τ的取值決定了振動(dòng)信號(hào)不同分量之間的相關(guān)性,因此必須合理地選取τ值。如果τ值過(guò)大,則會(huì)導(dǎo)致電抗器動(dòng)力系統(tǒng)中各時(shí)刻的狀態(tài)相關(guān)性減弱或變得不相關(guān),相鄰軌跡出現(xiàn)分叉,從而導(dǎo)致高抗?fàn)顟B(tài)信息的嚴(yán)重缺失;如果τ值過(guò)小,則會(huì)導(dǎo)致坐標(biāo)關(guān)聯(lián)性過(guò)強(qiáng),相軌跡易出現(xiàn)收縮變形的現(xiàn)象,無(wú)法完全呈現(xiàn)振動(dòng)信號(hào)蘊(yùn)含的信息。目前,用于確定τ的方法有自相關(guān)函數(shù)法、填充因子法、平均位移法和互信息法等??紤]到互信息法所提取的時(shí)間序列既有非線(xiàn)性特征也有線(xiàn)性特征,其計(jì)算結(jié)果的準(zhǔn)確性更高,所以本文選用互信息法求解高抗振動(dòng)信號(hào)的最佳延遲時(shí)間。
將高抗振動(dòng)信號(hào)時(shí)間序列x={x(i),i=1,2,…,N}經(jīng)延遲時(shí)間τ后改寫(xiě)為xτ={x(i+τ),i=1,2,…,N},根據(jù)Shannon 信息熵和概率分布[15]得到x和xτ的互信息I(τ)為:
式中:H(x)和H(xτ)分別為x和xτ的信息熵;H(x,xτ)為x和xτ的聯(lián)合信息熵;P(x(i))和P(x(i+τ))分別為x(i)和x(i+τ)的發(fā)生概率;P(x(i),x(j+τ))為x(i)和x(j+τ)的聯(lián)合發(fā)生概率。由式(3)繪制延遲時(shí)間與互信息值的變化曲線(xiàn),根據(jù)互信息法準(zhǔn)則,本文選取互信息值曲線(xiàn)上第1 個(gè)極小值對(duì)應(yīng)的時(shí)間為最佳延遲時(shí)間τopt。額定電壓下,處于正常狀態(tài)(狀態(tài)1)、高抗繞組和鐵芯軸向完全松動(dòng)狀態(tài)(狀態(tài)2)、高抗繞組和鐵芯徑向完全松動(dòng)狀態(tài)(狀態(tài)3)的高抗的側(cè)面某測(cè)點(diǎn)的振動(dòng)信號(hào)如圖1 所示,圖2 為對(duì)應(yīng)的互信息值-延遲時(shí)間曲線(xiàn)。
圖1 額定電壓下,處于不同機(jī)械狀態(tài)的高抗的振動(dòng)信號(hào)Fig.1 Vibration signal of high-voltage shunt reactor with rated voltage in different mechanical states
圖2 額定電壓下,處于不同機(jī)械狀態(tài)的高抗的振動(dòng)信號(hào)的互信息值-延遲時(shí)間曲線(xiàn)Fig.2 I(τ)-τ curve of vibration signal of high-voltage shunt reactor with rated voltage in different mechanical states
合理地選取嵌入維數(shù)有利于充分揭示高抗動(dòng)力系統(tǒng)的動(dòng)力學(xué)特性,當(dāng)重構(gòu)相空間的維數(shù)達(dá)到或超過(guò)嵌入維數(shù)時(shí),重構(gòu)信號(hào)可以完全打開(kāi),避免出現(xiàn)自交叉現(xiàn)象。目前,計(jì)算嵌入維數(shù)的方法有C-C 法、偽鄰近點(diǎn)法、G-P 算法等。為了縮短運(yùn)算時(shí)間,本文運(yùn)用優(yōu)化的G-P算法[16]計(jì)算m值,具體如下。
為降低計(jì)算量,本文利用式(4)所示的遞推公式求解高抗振動(dòng)信號(hào)重構(gòu)空間內(nèi)任何兩點(diǎn)間的歐氏距離rij。
式中:r為相空間中兩點(diǎn)間的距離;C(m,r)為第m維相軌跡關(guān)聯(lián)積分函數(shù),代表相空間中任意兩點(diǎn)間距離小于r的概率。在r的一定范圍內(nèi),關(guān)聯(lián)維數(shù)D(m)與C(m,r)存在線(xiàn)性關(guān)系,滿(mǎn)足D(m)=lnC(m,r)/lnr,增加m的取值,直到D(m)保持相對(duì)穩(wěn)定且不發(fā)生顯著變化,此時(shí)對(duì)應(yīng)的m即為最佳嵌入維數(shù)mopt。對(duì)圖1 中高抗在正常狀態(tài)下的振動(dòng)信號(hào)進(jìn)行計(jì)算,相應(yīng)的m取值范圍為[1,9],得到lnC(m,r)隨lnr的變化曲線(xiàn)如圖3所示。
圖3 ln C(m,r)隨ln r的變化曲線(xiàn)Fig.3 Change curve of ln C(m,r)vs. ln r
由圖3 可知,當(dāng)m=3 時(shí),曲線(xiàn)的線(xiàn)性部分基本保持穩(wěn)定且隨著m的增加其不再發(fā)生變化,所以取mopt=3,對(duì)應(yīng)的D(mopt)=1.0852。
為了更加準(zhǔn)確地描述高抗動(dòng)力系統(tǒng)混沌特性的變化,本文在定性分析高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡幾何特性的基礎(chǔ)上,采用多混沌指標(biāo)對(duì)高抗振動(dòng)信號(hào)的混沌特征進(jìn)行定量計(jì)算。關(guān)聯(lián)維數(shù)作為分形維數(shù)的一種,可有效反映相軌跡的動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)和不均勻度。最大Lyapunov指數(shù)是判斷系統(tǒng)混沌程度的一個(gè)重要指標(biāo),體現(xiàn)了系統(tǒng)混沌特性的強(qiáng)弱。K 熵作為混沌特性的另一個(gè)度量指標(biāo),能夠很好地描繪非線(xiàn)性系統(tǒng)的狀態(tài)演化。本文利用關(guān)聯(lián)維數(shù)、最大Lyapunov 指數(shù)和K 熵分別對(duì)高抗正常狀態(tài)和機(jī)械故障狀態(tài)下的振動(dòng)信號(hào)相軌跡進(jìn)行定量計(jì)算,分析故障前后高抗動(dòng)力抗系統(tǒng)混沌特性的變化規(guī)律。
相軌跡是軌跡在相空間中多次逼近、遠(yuǎn)離、折疊、延伸所構(gòu)成的不規(guī)則圖形,其形態(tài)特性可以通過(guò)分形維數(shù)進(jìn)行研究。關(guān)聯(lián)維數(shù)作為一種分形維數(shù),對(duì)電抗器動(dòng)力系統(tǒng)的時(shí)間序列非常敏感,能夠準(zhǔn)確有效地量化系統(tǒng)相軌跡性質(zhì)。在1.2節(jié)中,關(guān)聯(lián)維數(shù)D(m)的求解已介紹,其運(yùn)算公式為:
混沌運(yùn)動(dòng)對(duì)初值前提非常敏感,Lyapunov 指數(shù)是用于定量描繪2 個(gè)相近初值隨著時(shí)間變化以指數(shù)形式分開(kāi)生成軌跡的量。Lyapunov指數(shù)量化了附近軌跡的發(fā)散率。在一維動(dòng)力系統(tǒng)中,Lyapunov 指數(shù)λ的求解表達(dá)式為[16]:
式中:n為時(shí)間序列長(zhǎng)度。通常情況下,無(wú)須求解所有Lyapunov 指數(shù),只需計(jì)算決定軌跡發(fā)散率的最大Lyapunov 指數(shù)λmax即可。用于求解最大Lyapunov指數(shù)的方法有定義法、小數(shù)據(jù)量法、Wolf法等。考慮計(jì)算結(jié)果的準(zhǔn)確性,本文采用小數(shù)據(jù)量法計(jì)算最大Lyapunov指數(shù),具體計(jì)算過(guò)程參見(jiàn)文獻(xiàn)[17],本文不再贅述。
K 熵作為判斷系統(tǒng)混沌特性的重要指標(biāo)之一,用于度量非線(xiàn)性系統(tǒng)運(yùn)動(dòng)狀態(tài)的變化。相關(guān)積分法與最大似然估計(jì)法常被用于求解K 熵值。考慮到相關(guān)積分法運(yùn)算速率高的特點(diǎn),本文采用相關(guān)積分法求解K熵,K熵的計(jì)算表達(dá)式為[8]:
式中:C(m+1,r)為第m+1維關(guān)聯(lián)積分函數(shù)。一般選擇不再隨著m的變化而變化的穩(wěn)定K值作為K 熵的估計(jì)值。根據(jù)K 熵值的范圍判斷系統(tǒng)的無(wú)序程度:當(dāng)K=0 時(shí),系統(tǒng)做規(guī)則運(yùn)動(dòng);當(dāng)K→∞時(shí),系統(tǒng)做隨機(jī)運(yùn)動(dòng);當(dāng)K>0且為常數(shù)時(shí),系統(tǒng)做混沌運(yùn)動(dòng)[8]。
本文以一臺(tái)型號(hào)為JSRT-ACL11H 的10 kV 單相油浸式高抗為研究對(duì)象,進(jìn)行故障模擬和振動(dòng)信號(hào)采集。實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)如附錄A 圖A1所示,該系統(tǒng)主要由交流電源、調(diào)壓器、限流電阻、變壓器、高抗、電容器、振動(dòng)加速度傳感器、DH5922D 振動(dòng)信號(hào)采集儀等組成。振動(dòng)信號(hào)采樣頻率設(shè)定為20 kHz,每組信號(hào)采樣時(shí)間為5~10 s,對(duì)每種狀態(tài)采集6—10 組數(shù)據(jù)。加速度傳感器型號(hào)為1A212E,靈敏度為500 mV/g(g=9.8 m/s2)。加速度傳感器在高抗箱體表面采用陣列的方式布局,高抗側(cè)面設(shè)置3 行16 列共計(jì)48 個(gè)測(cè)點(diǎn),頂面設(shè)置5 個(gè)測(cè)點(diǎn),詳細(xì)的測(cè)點(diǎn)布局如附錄A圖A2所示。
為了研究不同電壓等級(jí)、不同機(jī)械故障類(lèi)型及故障程度下高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡的變化特性,本文分別在85%UN、90%UN、…、105%UN(UN為額定電壓)這5 種電壓等級(jí)下,對(duì)高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)以及高抗繞組和鐵芯徑向松動(dòng)兩大類(lèi)機(jī)械故障進(jìn)行模擬實(shí)驗(yàn)。其中,高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)故障程度分別設(shè)置為軸向松動(dòng)50%(軸向預(yù)緊力為50%的軸向標(biāo)準(zhǔn)預(yù)緊力)、軸向松動(dòng)100%(軸向預(yù)緊力為0);高抗繞組鐵芯徑向松動(dòng)故障程度分別設(shè)置為徑向松動(dòng)30%(徑向預(yù)緊力為70%的徑向標(biāo)準(zhǔn)預(yù)緊力)、徑向松動(dòng)60%(徑向預(yù)緊力為40%的徑向標(biāo)準(zhǔn)預(yù)緊力)、徑向松動(dòng)100%(徑向預(yù)緊力為0)。
高抗繞組和鐵芯軸向和徑向松動(dòng)的具體位置如附錄A 圖A3所示。額定電壓下,正常狀態(tài)的高抗箱體側(cè)面的振動(dòng)強(qiáng)度分布情況如附錄A 圖A4 所示??紤]到高抗箱體表面振動(dòng)強(qiáng)度越大的位置越有利于發(fā)現(xiàn)機(jī)械故障,本文采用高抗箱體側(cè)面振動(dòng)強(qiáng)度較高的18號(hào)測(cè)點(diǎn)進(jìn)行分析,18號(hào)測(cè)點(diǎn)在不同機(jī)械狀態(tài)下的振動(dòng)信號(hào)如附錄A圖A5所示。
在分析高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡前,需要判斷信號(hào)是否具備混沌特性,本文利用2.3節(jié)中度量系統(tǒng)無(wú)序程度的K 熵值對(duì)高抗振動(dòng)信號(hào)的混沌特性進(jìn)行判斷。18號(hào)測(cè)點(diǎn)額定電壓不同狀態(tài)下的K熵計(jì)算結(jié)果如表1所示。由表可知,在不同機(jī)械狀態(tài)下,18號(hào)測(cè)點(diǎn)的K 熵值均大于0 且為常數(shù),證明高抗的振動(dòng)信號(hào)具有混沌特性,可以采用相空間重構(gòu)理論進(jìn)行分析。
表1 K熵計(jì)算結(jié)果Table 1 Calculation results of Kolmogorov entropy
考慮到實(shí)際應(yīng)用問(wèn)題,本文采用額定電壓下不同機(jī)械狀態(tài)對(duì)應(yīng)的最佳延遲時(shí)間和最佳嵌入維數(shù)對(duì)圖A5 所示的高抗振動(dòng)信號(hào)進(jìn)行相軌跡分析,其中,正常狀態(tài)、高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)50%以及高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)100%狀態(tài)下的最佳延遲時(shí)間分別為13、15 以及15,高抗繞組和鐵芯徑向松動(dòng)30%、徑向松動(dòng)60%和徑向松動(dòng)100%狀態(tài)下的最佳延遲時(shí)間分別為11、13和11,按照1.2節(jié)求解得到高抗在不同機(jī)械狀態(tài)下的最佳嵌入維數(shù)均為3。進(jìn)一步地,利用計(jì)算得到的τopt和mopt對(duì)18 號(hào)測(cè)點(diǎn)振動(dòng)信號(hào)進(jìn)行重構(gòu),深入分析不同電壓等級(jí)和不同狀態(tài)下相軌跡形態(tài)變化規(guī)律。
1)電壓等級(jí)和機(jī)械故障類(lèi)型對(duì)高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡的影響。
分別在電壓等級(jí)為85%UN、90%UN、…、105%UN時(shí),分析正常、高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)100%以及高抗繞組和鐵芯徑向松動(dòng)100%這3 種機(jī)械狀態(tài)下18號(hào)測(cè)點(diǎn)的振動(dòng)信號(hào)相軌跡,結(jié)果如附錄A圖A6所示。由圖可見(jiàn),不同機(jī)械狀態(tài)和電壓等級(jí)下,振動(dòng)信號(hào)相軌跡均呈不規(guī)則的閉合環(huán)狀。對(duì)比同一機(jī)械狀態(tài)、不同電壓等級(jí)下的振動(dòng)信號(hào)相軌跡可知,隨著電壓等級(jí)的升高,相軌跡會(huì)發(fā)生不同程度的變化,不規(guī)則環(huán)狀相軌跡環(huán)繞的體積逐漸增大,特別是當(dāng)電壓等級(jí)超過(guò)額定電壓后,不規(guī)則環(huán)狀相軌跡環(huán)繞的體積明顯增加,其形態(tài)結(jié)構(gòu)也發(fā)生了顯著變化。需要說(shuō)明的是,當(dāng)電壓等級(jí)低于額定電壓時(shí),同一機(jī)械狀態(tài)、不同電壓等級(jí)下的振動(dòng)信號(hào)相軌跡形態(tài)結(jié)構(gòu)具有一定的相似性。然而,同一電壓等級(jí)、不同機(jī)械狀態(tài)下的振動(dòng)信號(hào)相軌跡的形態(tài)結(jié)構(gòu)明顯不同,存在較大差異。
通過(guò)上述分析可知,高抗電壓等級(jí)的變化、高抗繞組和鐵芯機(jī)械狀態(tài)的改變均會(huì)影響高抗系統(tǒng)的動(dòng)力學(xué)特性。高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡的路徑和形態(tài)能夠有效反映不同電壓等級(jí)下高抗繞組和鐵芯的機(jī)械狀態(tài)變化。由高抗繞組和鐵芯的機(jī)械狀態(tài)變化和電壓等級(jí)變化造成的動(dòng)力學(xué)特性變化程度不同,所導(dǎo)致的相軌跡形態(tài)特征變化也不同。不難發(fā)現(xiàn),在本文中由高抗繞組和鐵芯機(jī)械狀態(tài)變化導(dǎo)致的相軌跡路徑和形態(tài)改變程度比電壓等級(jí)改變所導(dǎo)致的變化程度更加明顯。
2)額定電壓下,機(jī)械故障類(lèi)型和故障程度對(duì)高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡的影響。
早期階段的高抗繞組和鐵芯松動(dòng)故障的故障特征微弱,易被現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境噪聲掩蓋而難以提取,因此本文對(duì)不同故障程度下,高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡的形態(tài)特征進(jìn)行分析,探究輕微機(jī)械故障下相軌跡的變化規(guī)律,提取相軌跡特征量。電壓等級(jí)為額定電壓時(shí),正常狀態(tài)以及不同程度的高抗繞組和鐵芯軸向和徑向松動(dòng)故障下,18 號(hào)測(cè)點(diǎn)的振動(dòng)信號(hào)相軌跡如圖4所示。
圖4 正常狀態(tài)和不同故障程度下,18號(hào)測(cè)點(diǎn)的振動(dòng)信號(hào)相軌跡Fig.4 Phase trajectory of vibration signal at Measuring Point No.18 under normal state and different fault levels
分析圖4 可知:發(fā)生高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)故障后,振動(dòng)信號(hào)相軌跡出現(xiàn)偏離正常狀態(tài)下相軌跡的現(xiàn)象,其不規(guī)則環(huán)狀結(jié)構(gòu)整體呈現(xiàn)橫向拉伸趨勢(shì),底部出現(xiàn)輕微纏繞,頂端呈扁平發(fā)展趨勢(shì),隨著軸向松動(dòng)故障程度的增加,相軌跡底部進(jìn)一步纏繞,頂部呈現(xiàn)扁平狀;發(fā)生高抗繞組和鐵芯徑向松動(dòng)故障后,不規(guī)則環(huán)狀相軌跡所環(huán)繞的體積增大且相軌跡中下部的凹陷程度增加;隨著徑向松動(dòng)故障程度的增加,相軌跡所環(huán)繞的體積和其中下部凹陷程度均呈遞增趨勢(shì),當(dāng)徑向完全松動(dòng)時(shí)凹陷部的相軌跡與對(duì)側(cè)軌跡出現(xiàn)輕微交叉折疊現(xiàn)象。
雖然不同故障程度下的高抗振動(dòng)信號(hào)的相軌跡存在規(guī)律性變化,然而在現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用時(shí)難以進(jìn)行準(zhǔn)確判斷和描述,因此,本文利用多混沌指標(biāo),即最大Lyapunov 指數(shù)、K 熵、關(guān)聯(lián)維數(shù)對(duì)高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡的變化進(jìn)行量化計(jì)算和閾值劃分。
為了準(zhǔn)確描述和識(shí)別高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡的變化程度,本文最大Lyapunov指數(shù)、K熵、關(guān)聯(lián)維數(shù)這3個(gè)混沌指標(biāo)定量計(jì)算和識(shí)別相軌跡的形態(tài)特征。在電壓等級(jí)為額定電壓時(shí),從各種機(jī)械狀態(tài)下的18 號(hào)測(cè)點(diǎn)振動(dòng)信號(hào)中隨機(jī)選取20 組數(shù)據(jù)(每組數(shù)據(jù)時(shí)長(zhǎng)為0.2 s)計(jì)算混沌指標(biāo),結(jié)果如圖5所示。
圖5 最大Lyapunov指數(shù)、K熵、關(guān)聯(lián)維數(shù)的計(jì)算結(jié)果Fig.5 Calculation results of maximum Lyapunov exponent,Kolmogorov entropy and correlation dimension
由圖5 可見(jiàn),高抗繞組和鐵芯機(jī)械狀態(tài)的改變會(huì)導(dǎo)致相軌跡的最大Lyapunov 指數(shù)、K 熵、關(guān)聯(lián)維數(shù)發(fā)生改變,具體分析如下。
1)由圖5中最大Lyapunov指數(shù)λmax的曲線(xiàn)可見(jiàn):正常狀態(tài)下,最大Lyapunov 指數(shù)在[0.006 9,0.011 0]范圍內(nèi)變化;高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)50%、100%與徑向松動(dòng)30%、60%、100%故障下,最大Lyapunov指數(shù)的波動(dòng)范圍分別為[0.003 3,0.007 9]、[0.000 3,0.002 0]與[0.001 3,0.002 9]、[0.001 6,0.003 9]、[0.000 7,0.002 2]。由此可知,最大Lyapunov 指數(shù)可以有效識(shí)別高抗內(nèi)部構(gòu)件的機(jī)械狀態(tài)變化,且在同一機(jī)械狀態(tài)下最大Lyapunov 指數(shù)能夠保持相對(duì)穩(wěn)定。雖然最大Lyapunov指數(shù)在故障程度識(shí)別方面能力有限,但其可作為識(shí)別機(jī)械故障類(lèi)型的敏感特征指標(biāo)之一。
2)由圖5 中K 熵值K的曲線(xiàn)可知:K 熵值隨著高抗繞組和鐵芯松動(dòng)故障程度的增加而增加;正常狀態(tài)下K 熵值的波動(dòng)范圍為[0.93,3.90],高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)50%、100%故障下K熵值的波動(dòng)范圍分別為[12.31,15.42]、[18.37,20.53],高抗繞組和鐵芯徑向松動(dòng)30%、60%、100%故障下,K熵值的波動(dòng)范圍分別為[10.29,14.89]、[23.18,26.04]、[28.46,29.02]。由此可知,額定電壓下,不同機(jī)械故障類(lèi)型和同一機(jī)械故障類(lèi)型、不同故障程度下的K 熵值均具有良好的分離性和一致性。因此K 熵可用于識(shí)別不同故障程度,能夠作為高抗繞組鐵芯機(jī)械故障類(lèi)型和故障程度的敏感特征。
3)通過(guò)圖5 中關(guān)聯(lián)維數(shù)D(m)的曲線(xiàn)可知:正常狀態(tài)下K 熵值的波動(dòng)范圍為[1.082,1.084],高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)50%、100%故障下K 熵值的波動(dòng)范圍分別為[1.065,1.070]、[1.138,1.143],高抗繞組和鐵芯徑向松動(dòng)30%、60%、100%故障下,K熵值的波動(dòng)范圍分別為[1.184,1.195]、[1.069,1.072]、[1.110,1.120]。可以看出,同一機(jī)械故障類(lèi)型、不同故障程度下的關(guān)聯(lián)維數(shù)波動(dòng)范圍存在一定差異,利用關(guān)聯(lián)維數(shù)能夠識(shí)別不同故障程度,故關(guān)聯(lián)維數(shù)也可以作為高抗繞組鐵芯機(jī)械故障檢測(cè)和分類(lèi)的另一新敏感特征指標(biāo)。
綜上可知,通過(guò)最大Lyapunov 指數(shù)、K 熵、關(guān)聯(lián)維數(shù)能夠有效識(shí)別正常狀態(tài)和機(jī)械故障狀態(tài),并且可對(duì)同一機(jī)械故障類(lèi)型的不同故障程度進(jìn)行區(qū)分。但是單一的混沌指標(biāo)對(duì)高抗機(jī)械狀態(tài)的識(shí)別準(zhǔn)確性有待驗(yàn)證。為了更加準(zhǔn)確地識(shí)別高抗繞組和鐵芯的機(jī)械狀態(tài)變化,本文利用最大Lyapunov 指數(shù)、K 熵、關(guān)聯(lián)維數(shù)構(gòu)成混沌特征空間對(duì)高抗的機(jī)械狀態(tài)進(jìn)行識(shí)別,混沌特征空間如圖6所示。
圖6 混沌特征空間的高抗機(jī)械狀態(tài)識(shí)別結(jié)果Fig.6 Mechanical state identification results of highvoltage shunt reactor by chaotic feature space
由圖6 可見(jiàn),在混沌特征空間中,高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)和徑向松動(dòng)故障被有效地分開(kāi),不同的松動(dòng)程度也得到了清晰的顯示,且不同機(jī)械狀態(tài)的集群均未出現(xiàn)混疊交叉的現(xiàn)象。因此,本文構(gòu)造的混沌特征空間可精確、有效地識(shí)別不同的高抗繞組和鐵芯機(jī)械故障及故障程度。值得說(shuō)明的是,該混沌特征空間不需要大量的訓(xùn)練樣本和深度學(xué)習(xí)即可準(zhǔn)確完成高抗繞組和鐵芯機(jī)械故障分類(lèi)識(shí)別,有助于解決當(dāng)前智能學(xué)習(xí)算法存在的現(xiàn)場(chǎng)故障樣本不足的問(wèn)題。
在實(shí)際應(yīng)用中,需要考慮正常狀態(tài)下3 個(gè)混沌指標(biāo)的閾值范圍。圖6 中,高抗正常狀態(tài)下的最大Lyapunov 指數(shù)、K 熵、關(guān)聯(lián)維數(shù)的閾值范圍分別為[0.007,0.011]、[0.926,3.895]和[1.082,1.084],3 個(gè)混沌指標(biāo)同時(shí)滿(mǎn)足上述閾值范圍時(shí)才可識(shí)別為正常狀態(tài),如果有一指標(biāo)值不在相應(yīng)的范圍內(nèi)則識(shí)別為機(jī)械故障狀態(tài)。進(jìn)一步地,若混沌指標(biāo)在已知機(jī)械故障的簇集閾值范圍內(nèi),則識(shí)別為已知故障,反之,則識(shí)別為未知的新故障。
為了驗(yàn)證本文方法的優(yōu)越性,選取支持向量機(jī)(SVM)[18]、K 最近鄰(KNN)[19]、決策樹(shù)(DT)[20]法與本文方法進(jìn)行對(duì)比。利用SVM、KNN 和DT 法分別對(duì)本文所研究的各種機(jī)械狀態(tài)下的高抗振動(dòng)信號(hào)的時(shí)、頻域特征進(jìn)行識(shí)別,其中,時(shí)域特征采用振動(dòng)信號(hào)的最大值和最小值,頻域特征采用100 Hz 及其倍頻(1 000 Hz 以?xún)?nèi))的幅值。隨機(jī)選取高抗箱體表面的53 個(gè)測(cè)點(diǎn)在6 種機(jī)械狀態(tài)下共計(jì)3 180 組數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)域和頻域特征提取,其中70%的數(shù)據(jù)用于訓(xùn)練,30%的數(shù)據(jù)用于測(cè)試,計(jì)算得到120×53 維的時(shí)域特征矩陣和3 180×10 維的頻域特征矩陣。不同方法的總體故障識(shí)別準(zhǔn)確率ra如表2所示,不同方法對(duì)不同程度的高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)、徑向松動(dòng)故障的總體識(shí)別準(zhǔn)確率分別如附錄A 表A1 和A2所示。
表2 不同方法的總體故障識(shí)別準(zhǔn)確率Table 2 Overall fault identification accuracy of different methods
由表2 可知,與利用頻域和時(shí)域特征的SVM、KNN、DT 方法相比,本文方法的總體故障識(shí)別準(zhǔn)確率分別提高了13.8%、13.3%、14.6%和8.83%、13.9%、19.4%。進(jìn)一步地,由表A1、A2 可知,對(duì)不同程度的高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)、徑向松動(dòng)故障進(jìn)行識(shí)別時(shí),本文方法的總體識(shí)別準(zhǔn)確率比SVM、KNN、DT方法至少高5%。由此可知,與SVM、KNN、DT 方法相比,本文方法具有一定的故障識(shí)別優(yōu)勢(shì)。同時(shí),本文方法不需要監(jiān)督學(xué)習(xí)和大量數(shù)據(jù)訓(xùn)練,對(duì)微弱故障特征敏感,有利于現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)際應(yīng)用。
本文采用相空間重構(gòu)理論對(duì)高抗振動(dòng)信號(hào)進(jìn)行分析,研究不同電壓等級(jí)、不同機(jī)械故障類(lèi)型及故障程度下高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡的變化規(guī)律,提出基于多混沌特征空間的高抗機(jī)械故障識(shí)別方法。本文得到的主要結(jié)論如下。
1)利用相關(guān)積分法求解得到不同機(jī)械狀態(tài)下高抗振動(dòng)信號(hào)的K 熵值均為正,表明高抗振動(dòng)信號(hào)具有混沌特性,重構(gòu)相軌跡能夠有效反映高抗故障前后振動(dòng)模式的變化。
2)高抗電壓等級(jí)和機(jī)械故障程度直接影響相軌跡形態(tài)結(jié)構(gòu)和大?。寒?dāng)電壓等級(jí)升高時(shí),高抗振動(dòng)信號(hào)相軌跡呈不規(guī)則環(huán)狀擴(kuò)張趨勢(shì),相軌跡環(huán)繞體積增大;高抗繞組和鐵芯軸向松動(dòng)和徑向松動(dòng)故障下的相軌跡存在較大差異,不同故障程度下的空間相軌跡分布明顯不同。
3)提出的多混沌特征空間識(shí)別方法對(duì)微弱機(jī)械故障敏感,無(wú)需監(jiān)督學(xué)習(xí)和大量訓(xùn)練數(shù)據(jù)即可完成在線(xiàn)故障識(shí)別和診斷,相比已有相關(guān)算法其故障識(shí)別準(zhǔn)確率高5%以上,具有較高的故障識(shí)別能力。本文方法可為高抗內(nèi)部機(jī)械故障的現(xiàn)場(chǎng)檢修提供參考。
附錄見(jiàn)本刊網(wǎng)絡(luò)版(http://www.epae.cn)。