裴志軍
(天津職業(yè)技術(shù)師范大學(xué)電子工程學(xué)院,天津300222)
隨著CMOS工藝技術(shù)的持續(xù)進(jìn)步,器件結(jié)構(gòu)從傳統(tǒng)平面MOSFET(metal oxide semicon-ductor field effect transistor)轉(zhuǎn)向三維FinFET(Fin field effect transistor),電源電壓也逐漸降低到1 V以下,數(shù)字集成電路的速度、功耗等性能得到有效改善,但是模擬集成電路的性能卻面臨著嚴(yán)峻挑戰(zhàn)[1-2]。平面MOSFET晶體管的固有增益通常隨工藝技術(shù)節(jié)點的微縮而下降,而FinFET晶體管雖然可有效改善溝道控制,但仍難于獲得模擬電路期望的理想高增益。在亞1 V電源電壓情況下,若晶體管工作在亞閾值區(qū),則能夠獲得較高的跨導(dǎo),但是信號擺幅的降低使信噪比受到限制,跨導(dǎo)線性也將變差[3]。不同于傳統(tǒng)的模擬電路拓?fù)浞椒?,基于CMOS反相器的模擬電路設(shè)計能夠充分受益于CMOS技術(shù)節(jié)點微縮帶來的高速、低功耗等性能優(yōu)勢,從而受到研究者的廣泛關(guān)注[4-6]。近年來,便攜式設(shè)備的需求快速增長,因采用電池或者能量收集方式電源供電,故對相關(guān)電路的能效有著苛刻要求[7]。而基于CMOS反相器的模擬電路在適應(yīng)于低電源電壓的同時,能夠獲得較高的能效[8]。為此,本文基于CMOS反相器跨導(dǎo)特性分析,對CMOS反相器在低壓、高能效模擬單元電路中的應(yīng)用進(jìn)行研究,并探討基于CMOS反相器的模擬電路的潛在應(yīng)用前景。
圖1為CMOS反相器。在低壓模擬電路設(shè)計中,常采用基于CMOS反相器的技術(shù),CMOS反相器的基本電路如圖1(a)所示。應(yīng)用中有時也將CMOS反相器的輸入輸出短接,構(gòu)成分壓器,如圖1(b)所示。
圖1 CMOS反相器
基于CMOS反相器電路的主要優(yōu)點,即具有寬的輸出擺幅,在給定電流下可獲得較高的跨導(dǎo),使得允許在速度、功耗和噪聲之間優(yōu)化,以及結(jié)構(gòu)簡單且不存在影響電路頻響特性的內(nèi)部節(jié)點等。但是,作為模擬電路,其也存在一些缺點,如單端輸入而缺少正相輸入端,直流增益相對較低,且電路特性對工藝、電壓、溫度變化的波動敏感[9]。CMOS反相器等效如圖2所示。
圖2 CMOS反相器等效
實際應(yīng)用中,CMOS反相器可以等效為一個正相輸入端固定在參考電壓的差分放大器,如圖2(a)所示。其中,參考電壓等效于反相器的轉(zhuǎn)換閾值電壓,如圖2(b)所示,即輸入和輸出相等時的輸入電壓。反相器轉(zhuǎn)換閾值電壓可近似表示為
式中:Kn=(W/L)nμnCox,Kp=(W/L)pμpCox分別為NMOS和PMOS晶體管的導(dǎo)電因子;Vtn、Vtp分別為相應(yīng)的閾值電壓。
當(dāng)NMOS和PMOS晶體管特性完全匹配時,轉(zhuǎn)換閾值電壓近似為VDD/2。作為比較器應(yīng)用時,轉(zhuǎn)換閾值電壓也即比較參考電平。
當(dāng)CMOS反相器作為跨導(dǎo)單元偏置在轉(zhuǎn)換閾值電壓附近時,電路中的晶體管通常都工作于飽和區(qū),假設(shè)工作在飽和區(qū)的NMOS和PMOS晶體管特性完全匹配,則輸出電流可近似表示為
顯然,CMOS反相器的跨導(dǎo)可近似表示2個晶體管的跨導(dǎo)之和,即gm=gmn+gmp。因此,對于給定偏置電流,CMOS反相器的跨導(dǎo)要大于相應(yīng)的NMOS共源放大器。因此,如果NMOS和PMOS晶體管特性匹配,則CMOS反相器跨導(dǎo)具有良好線性,且當(dāng)偏置在轉(zhuǎn)換閾值時可以獲得最大線性增益。此外,與電阻負(fù)載NMOS共源電路相比較,NMOS和PMOS晶體管推挽驅(qū)動有效改善了跨導(dǎo)線性,提供了更寬輸出擺幅,并且可偏置在AB類工作模式,從而獲得更大的功率效率,實現(xiàn)高能效電路。應(yīng)用中也僅有輸入和輸出節(jié)點,因而不會產(chǎn)生寄生極點。
上述分析表明,模擬電路應(yīng)用中一般需要將CMOS反相器偏置在轉(zhuǎn)換閾值附近,特別在差分結(jié)構(gòu)應(yīng)用中,反相器轉(zhuǎn)換閾值電壓也作為信號共模電壓,而圖1中的分壓器可用作所需要的偏置電壓或共模電壓。該分壓器一方面提供電路偏置,同時也可作為分流負(fù)載阻抗,即電流電壓轉(zhuǎn)換器。
模擬電路中,運算跨導(dǎo)放大器(operational transconductance amplifier,OTA)作為最基本的功能模塊,可應(yīng)用于采樣保持、比較器、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器、有源濾波器等電路。通常OTA應(yīng)具有應(yīng)用所要求的增益、帶寬和線性性能,特別是在低電源電壓情況下,為了能夠獲得所需要的性能,相關(guān)研究提出了各種技術(shù)[3]。一種方法是將晶體管襯底作為輸入信號端,調(diào)節(jié)晶體管的閾值電壓,從而降低偏壓要求?;谝r底端輸入的OTA能夠在亞閾值電壓下工作,但與柵輸入OTA相比較,給定電流的襯底跨導(dǎo)較低,功率效率較低。并且由于襯底作為控制端,與傳統(tǒng)接固定電位(地或電源)不同,這種方法要求3阱CMOS工藝,很難適用于采用FinFET的先進(jìn)CMOS技術(shù)節(jié)點。另外,由于晶體管工作偏置電壓的限制,在低電源電壓下獲得高直流增益,難于采用傳統(tǒng)的晶體管級聯(lián)結(jié)構(gòu),而應(yīng)用負(fù)阻抗負(fù)載或者通過交叉耦合來增加輸出阻抗,可以補(bǔ)償由于低壓工作導(dǎo)致的直流增益衰減,從而使低壓OTA獲得高直流增益。應(yīng)用中也常采用差分OTA結(jié)構(gòu),包括全差分FD(fully differential)和偽差分PD(pseudo differential)2種結(jié)構(gòu)。與全差分結(jié)構(gòu)相比較,偽差分對結(jié)構(gòu)基于2個獨立CMOS反相器,無尾電流源上壓降,且可通過級聯(lián)獲得高直流增益,更適合于低電源電壓應(yīng)用。
基于CMOS反相器構(gòu)建的低壓OTA與CMOS反相邏輯門具有同樣拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),但需要偏壓使NMOS和PMOS晶體管工作于飽和區(qū)或者亞閾值區(qū)??梢圆捎瞄_關(guān)電容電壓偏置方法,使OTA工作于AB類作為結(jié)構(gòu)簡單而能量有效的增益級,而相對較低的增益難于滿足高線性系統(tǒng)應(yīng)用要求,雖然采用多級可改善直流增益,但是仍受離散時間工作特征限制。為了有效改善增益,可考慮基于連續(xù)時間的偽差分OTA拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。低壓自偏壓OTA如圖3所示。
圖3 低壓自偏壓OTA
在模擬電路設(shè)計中廣泛應(yīng)用的二極管負(fù)載共源級結(jié)構(gòu),由于不存在尾晶體管,也適合低壓應(yīng)用,如圖3(a)左半部分所示。如果將圖中左半部分中互補(bǔ)的2種結(jié)構(gòu)相結(jié)合,則可得到基于CMOS反相器的互補(bǔ)結(jié)構(gòu),如圖3(a)右半部分所示。晶體管M1、M4構(gòu)成輸入級反相器,具有增強(qiáng)跨導(dǎo)和高能效性能。晶體管M2、M5構(gòu)成的二極管負(fù)載反相器能夠以連續(xù)時間模式穩(wěn)定輸入級反相器的輸出電壓。晶體管M3、M6構(gòu)成輸出級反相器,但缺少偏壓控制。因而,應(yīng)用中往往構(gòu)成偽差分對結(jié)構(gòu),如圖3(b)所示,并且通過將二極管反相器交叉耦合到對邊輸出級反相器,提供偏壓控制,同時交叉耦合偏置控制也使偽差分OTA的增益性能得到改善。這種低壓自偏壓偽差分OTA工作于連續(xù)時間模式,從而通過級聯(lián)獲得更高的增益。
離散時間積分器(discrete time integrat or,DTI)可廣泛應(yīng)用于各種開關(guān)電容SC(switched capacitor)電路中,包括濾波器、Δ-ΣADC(analog to digital converters)等?;贑MOS反相器的離散時間積分器存在的主要限制是放大器有限的直流增益,在應(yīng)用中將導(dǎo)致增益相關(guān)的誤差。另外,CMOS反相器等效為運算放大器但缺少正相輸入端,使得其難于通過簡單級聯(lián)獲得更大增益。為了獲得高增益,可采用相關(guān)雙采樣(correlated double sampling,CDS)技術(shù),能夠在抑制失調(diào)和低頻噪聲的同時,有效改善直流增益,采用CDS技術(shù)的兩級SC積分器結(jié)構(gòu)如圖4所示。
圖4 兩級SC積分器
電路采用了簡單的CMOS反相器構(gòu)成的兩級放大器A1和A2,放大器的正相輸入端等效為與反相器轉(zhuǎn)換閾值電壓相同的參考電壓節(jié)點。在相關(guān)雙采樣時,第1次采樣階段,將與輸入電壓差(V2-V1)成正比的電荷存儲到第一級的電容CT;第2次采樣階段,再將所存儲的電荷轉(zhuǎn)移到第二級的電容CF,從而產(chǎn)生期望的輸出電壓。
為了方便分析,將考慮輸入為直流電壓情況,并且假設(shè)輸出電壓達(dá)到了最終漸近值,也即在采樣時鐘周期內(nèi)電壓保持不變。如果不考慮放大器的輸入失調(diào)電壓,則通過分析可得到直流輸出電壓近似表達(dá)式[10]
假設(shè)構(gòu)成兩級放大器的CMOS反相器的增益均為A0,則可獲得大于(A0)3量級的高增益。
連續(xù)時間集成濾波器常采用由跨導(dǎo)和電容構(gòu)成的gm-C積分器結(jié)構(gòu)的方法。若跨導(dǎo)單元采用基于CMOS反相器電路,由于沒有內(nèi)部節(jié)點,不會導(dǎo)致相應(yīng)的寄生極點而影響濾波器的傳輸函數(shù),因此有望獲得近似理想的帶寬。另外,該積分器結(jié)構(gòu)的直流增益近似為跨導(dǎo)gm與輸出阻抗的乘積。如果通過一個與輸出阻抗并聯(lián)的負(fù)阻抗負(fù)載進(jìn)行補(bǔ)償,則可以增加直流增益,并且理論上可獲得近似無窮大的直流增益。因此,如果CMOS反相器跨導(dǎo)單元與輸出阻抗補(bǔ)償技術(shù)相結(jié)合,則理論上能夠獲得近似理想直流增益和帶寬的積分器。
基于CMOS反相器的gm-C濾波器中的跨導(dǎo)單元如圖5所示[11]。
圖5 基于CMOS反相器的gm-C濾波器的跨導(dǎo)單元
圖中,反相器Inv1和Inv2構(gòu)成偽差分輸入對,則差分輸出電流可表示為
顯然,只要晶體管工作在飽和區(qū),具有理想平方律特性,則可獲得線性差分跨導(dǎo)單元。為了抑制共模輸出電流,應(yīng)當(dāng)使所有CMOS反相器都完全匹配。
從圖5可知,共模輸出電壓由4個反相器Inv3、Inv4、Inv5和Inv6構(gòu)成的電路控制。對于共模信號,Vout-節(jié)點的等效負(fù)載電阻為1/(gm5+gm6),Vout+節(jié)點等效負(fù)載電阻為1/(gm4+gm3)。而對于差分信號,Vout-節(jié)點的等效負(fù)載電阻為1/(gm5-gm6),Vout+節(jié)點的等效負(fù)載電阻為1/(gm4-gm3)。假設(shè)4個反相器的電源電壓相同且完美匹配,則具有相同的線性跨導(dǎo)。因此,該電路對于差分信號構(gòu)成高阻抗負(fù)載,而對于共模信號構(gòu)成低阻抗負(fù)載,從而使輸出共模電壓受到抑制。如果設(shè)計中選擇gm3>gm4,gm5=gm4,gm6=gm3,則可通過具有負(fù)值的負(fù)載阻抗補(bǔ)償,有效改善積分器的差分信號直流增益。另外,由于基于CMOS反相器不存在內(nèi)部節(jié)點,使得基于gm-C積分器的濾波器具有近似理想帶寬,同時也具有AB類工作模式,易獲得高能效。在調(diào)諧濾波器應(yīng)用中,為了獲得調(diào)制跨導(dǎo),這種基于CMOS反相器的gm-C濾波器結(jié)構(gòu)的低電源電壓受到一定的限制[12]。
對于基于CMOS反相器的低壓高能效模擬電路,研究者在眾多應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行了廣泛且深入探索。全flash型A/D轉(zhuǎn)換器結(jié)構(gòu)是高速轉(zhuǎn)換器設(shè)計中最常采用的方法,從功耗和面積方面考慮,比較器的結(jié)構(gòu)尤為重要。通常采用的比較器結(jié)構(gòu)包括差分放大器型、動態(tài)鎖存器型等,這些傳統(tǒng)比較器結(jié)構(gòu)往往存在一些缺點,如要求電阻或電容陣列、直流偏壓、較高功耗、電荷注入誤差、亞穩(wěn)態(tài)誤差等。CMOS反相器也可考慮作為比較器,采用反相器閾值量化(threshold inverter quantizer,TIQ)方法,即TIQ比較器[13]。TIQ比較器由兩級CMOS反相器級聯(lián)構(gòu)成,如圖6所示。
圖6 TIQ比較器
輸入模擬信號量化近似無靜態(tài)功耗,量化電平通過調(diào)節(jié)晶體管尺寸來設(shè)置,兩級反相器應(yīng)保持同樣的轉(zhuǎn)換閾值電平,以確保輸入信號上升和下降期間的線性均衡。
考慮特殊應(yīng)用情況,當(dāng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的精度只需要1位時,TIQ比較器的設(shè)計將變得直接而簡單。一種完全基于CMOS反相器的離散時間一階Δ-Σ調(diào)制器如圖7所示,該調(diào)制器主要由積分器INT(integrator)、1位ADC和1位DAC構(gòu)成[14]。
圖7 一階Δ-Σ調(diào)制器
積分器采用上述基于CMOS反相器的高增益兩級結(jié)構(gòu),其中參考節(jié)點由單位增益連接的反相器I8提供,即反相器轉(zhuǎn)換閾值電壓,且通過CDS機(jī)理抑制噪聲和失調(diào)。1位ADC的比較器采用了鐘控結(jié)構(gòu),在第1階段,反相器I3將輸入采樣放大,并偏置反相器I4的柵極;在第2階段,反相器I4和I5構(gòu)成雙穩(wěn)態(tài)環(huán),依賴于第1階段的偏壓逐漸穩(wěn)定到全邏輯1或0邏輯狀態(tài)。位于反饋環(huán)路中的DAC將ADC的輸出電流反饋給積分器輸入端2。1位DAC由2個反相器級聯(lián)實現(xiàn),高電平邏輯和低電平邏輯的參考電壓分別與電源電壓和地相一致。
由于結(jié)構(gòu)簡潔,頻率易于調(diào)節(jié),基于CMOS反相器的環(huán)形振蕩器得到廣泛應(yīng)用[15]。對于由3級反相器構(gòu)成的環(huán)形振蕩器,在第1級反相器后,若將第2級反相器分為2條支路,并且嵌入不同的失調(diào)電壓,則可構(gòu)成應(yīng)用于開關(guān)電容電路的環(huán)形放大器(ring amplifiers,RAMP)結(jié)構(gòu)[16]。由于基于CMOS反相器,RAMP放大器能夠很好受益于CMOS工藝技術(shù)節(jié)點的微縮,適合于低壓高能效ADC應(yīng)用。
移動互聯(lián)、云計算以及5G通信的發(fā)展極大推動了帶寬需求增長。光互聯(lián)比傳統(tǒng)的電互聯(lián)提供更高帶寬,從而增加通信能力和降低功耗。高速光鏈中需要跨阻放大器(transimpedance amplifier,TIA)將光電二極管產(chǎn)生的幾mA范圍小電流轉(zhuǎn)換為幾百mV的電壓信號,而不附加噪聲?;贑MOS反相器電路可以實現(xiàn)TIA期望的各種功能,包括單端到差分轉(zhuǎn)換器、可編程增益放大器、輸出緩沖器等[9]。垂直腔面發(fā)射激光器(vertical-cavity surface-emitting laser,VCSEL)對于短距離和中距離數(shù)據(jù)中心互連非常關(guān)鍵,CMOS反相器也可以用作VCSEL的單端推挽驅(qū)動器,獲得高速低功耗[17]。
傳統(tǒng)射頻前端電路常采用GaAs和SiGe技術(shù),然而隨著CMOS技術(shù)的進(jìn)步,使得其也能夠適合于射頻應(yīng)用的低功耗高度集成。四象限模擬乘法器廣泛應(yīng)用于調(diào)制/解調(diào)、頻率轉(zhuǎn)換等無線通信領(lǐng)域的非線性應(yīng)用,采用基于CMOS反相器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)能夠適合于低電源電壓需求,并使得模擬和數(shù)字兼容,對于混合信號集成電路非常具有吸引力。射頻應(yīng)用中的信號合成器,即加法器和減法器,也能夠采用基于工作在跨導(dǎo)模式下的CMOS反相器電路中實現(xiàn)[18]。另外,無源電感在高頻應(yīng)用表現(xiàn)出較差性能,如較低品質(zhì)因素、較大面積等。而有源電感在電感值可調(diào)、高品質(zhì)因數(shù)、較小面積方面表現(xiàn)出良好性能,CMOS反相器在有源電感中應(yīng)用也受到關(guān)注[19]。
CMOS反相器受益于工藝技術(shù)節(jié)點的微縮,結(jié)構(gòu)簡單,不存在影響帶寬的寄生極點,具有給定電流下相對高的跨導(dǎo),可工作于AB類模式,適用于構(gòu)造低壓高能效模擬電路,包括OTA、高增益DTI、gm-C濾波器等單元電路?;贑MOS反相器的低壓高能效模擬電路在許多應(yīng)用領(lǐng)域受到關(guān)注,如TIQ比較器、Δ-Σ調(diào)制器、環(huán)形振蕩器與環(huán)形放大器、光鏈中的TIA與VCSEL驅(qū)動器、射頻電路中的乘法器、合成器、有源電感等。應(yīng)用中CMOS反相器要獲得最大線性跨導(dǎo)常需要偏置在VDD/2,當(dāng)PMOS和NMOS特性匹配時,可抑制跨導(dǎo)非線性,特別是采用FinFET技術(shù)的CMOS工藝中,F(xiàn)inFET晶體管增強(qiáng)了溝道控制,使得其能夠有效改善跨導(dǎo)線性。另外,反相器特性隨溫度和工藝變化的波動,還可以采用電路技術(shù)來調(diào)節(jié)。近年來,無線、有線以及光的應(yīng)用領(lǐng)域中更高通信吞吐的需求驅(qū)動著高速中等分辨率ADC的開發(fā),而基于CMOS反相器的高性能模擬前端有望能夠提供滿足數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換要求的帶寬、線性和功率效率。