姚元鑫,尹興月,張啟明,于 輝
(中國電子科技集團(tuán)公司第十八研究所,天津 300384)
深空探測衛(wèi)星由于工作在相對(duì)地球距離太陽更遠(yuǎn)的太空中,其特點(diǎn)就是能接收到的太陽光強(qiáng)度更低,溫度也相對(duì)更低,如圖1 所示,太陽電池陣的輸出功率必然相應(yīng)地減小,合理地設(shè)計(jì)太陽電池陣才能在離太陽較遠(yuǎn)的太空中產(chǎn)生足夠的能量,滿足航天器的載荷。深空各行星環(huán)境參數(shù)[1]如表1所示。
圖1 溫度與距離的關(guān)系
表1 深空各行星環(huán)境參數(shù)
在衛(wèi)星上可持續(xù)發(fā)電的太陽電池翼,在低溫低光強(qiáng)(low intensity low temperature,LILT)條件下的工作狀態(tài)尤其重要。三結(jié)太陽電池每個(gè)子電池都會(huì)遵循隨溫度與光強(qiáng)度變化而變化,每個(gè)子電池都有不同的帶隙和光吸收波段。對(duì)于串聯(lián)后的整電池,電壓是相加的,而總電流受子電池中最小電流的限制。三結(jié)太陽電池由三個(gè)子電池串聯(lián)而成,溫度和強(qiáng)度的影響變得更加復(fù)雜。各子電池都會(huì)隨著溫度的變化而變化。為預(yù)測在軌性能,開展地面的低溫低光強(qiáng)測試很重要。
本文介紹的LILT 太陽電池用于彗星探測軌道上,探測器與太陽最遠(yuǎn)距離為3.0 A.U.,最低溫度為-107 ℃,太陽電池陣處于低溫低光強(qiáng)條件下,與近地軌道的光照和溫度條件有很大差異。為獲得該環(huán)境下太陽電池I-V 曲線特性以及電性能數(shù)據(jù),需在地面模擬該環(huán)境并測試得到數(shù)據(jù)。
為獲得低溫低光強(qiáng)的測試環(huán)境,需要完成太陽模擬器光強(qiáng)及溫控平臺(tái)改造,并控制測試誤差,使數(shù)據(jù)準(zhǔn)確有效。
穩(wěn)態(tài)太陽模擬器,可以提供穩(wěn)定的光源輸出。太陽模擬器應(yīng)滿足三個(gè)指標(biāo):AM0光譜,不均勻性≤±2%,不穩(wěn)定性≤±1%。
由于氙燈光譜特點(diǎn),在700~1 100 nm 波長范圍內(nèi)存在很多尖峰,這些尖峰的能量很大,影響太陽模擬器光譜不匹配度,如圖2 所示。太陽電池材料的禁帶寬度隨溫度的變化而變化,此時(shí)存在尖峰的光譜可能會(huì)在測試中對(duì)電池的電性能產(chǎn)生影響。為消除這些尖峰對(duì)太陽電池測試帶來的影響,提高測試準(zhǔn)確性,需對(duì)太陽模擬器進(jìn)行改造。
圖2 AM0光譜與單燈太陽模擬器光譜對(duì)比
將單燈太陽模擬器改造成雙燈太陽模擬器,由氙燈和鹵素?zé)裟MAM0 光譜。增加光學(xué)器件,分別獲取氙燈750 nm以前的光譜和鹵素?zé)?50 nm 以后的光譜,如此完成太陽模擬器光譜的改造,如圖3 所示,改造后的太陽模擬器與AM0 光譜更接近。
圖3 AM0光譜與改造后的太陽模擬器光譜對(duì)比
穩(wěn)態(tài)模擬器低光強(qiáng)獲取方式有兩種。
一種方式是直接降低光源兩端電流,使光源輸出光強(qiáng)減弱;氙燈在低功率輸出的情況下光強(qiáng)不穩(wěn),如圖4 所示,用采集器采集電池的電流值,1 s 采集1 次,共采集30 s,測試光強(qiáng)的不穩(wěn)定性。數(shù)據(jù)顯示電流最高7.05 mA,最低6.41 mA。
通過公式(1)計(jì)算得到不穩(wěn)定度為4.76%,光強(qiáng)不穩(wěn)直接導(dǎo)致無法準(zhǔn)確測得太陽電池的電性能參數(shù)。
另一種方式是增加工裝,以遮擋的方式降低光強(qiáng)。增加工裝是為了在盡量小幅度改變模擬器光源輸出功率的情況下,通過遮擋減少光的輸出面積,從而達(dá)到量化降低光強(qiáng)的目的。在光源的照射下,溫度高于500 ℃,必須選擇耐高溫的材料;遮擋光源后必然對(duì)模擬器的光輸出產(chǎn)生影響,表現(xiàn)在光譜的變化和光均勻性的變化:任何材料都會(huì)對(duì)光進(jìn)行吸收和反射,這就容易導(dǎo)致光譜在遮擋后發(fā)生變化。
為滿足上述要求,設(shè)計(jì)了光強(qiáng)衰減器,經(jīng)多次實(shí)驗(yàn),實(shí)現(xiàn)了在小幅度調(diào)整太陽模擬器光強(qiáng)的前提下,完成太陽模擬器大幅度光強(qiáng)的衰減。實(shí)測增加光強(qiáng)衰減器后不同光強(qiáng)下的光譜曲線如圖4 所示。
圖4 不同光強(qiáng)下的光譜曲線
對(duì)測得的光譜積分后計(jì)算單位波長光強(qiáng)能量的占比,得到不同光強(qiáng)下的光譜分布情況,如表2 所示,通過表中的光譜分布可得到,在300~1 800 nm,三種光強(qiáng)下單位波長能量占比存在細(xì)微差異,添加器具后光譜分布變化幅度較小。
表2 不同光強(qiáng)下光譜分布對(duì)比
為了進(jìn)一步驗(yàn)證添加衰減器后光譜細(xì)微的差異是否對(duì)電池的測試產(chǎn)生影響,通過測試子電池和整電池電性能,對(duì)比不同光強(qiáng)條件下短路電流的變化,驗(yàn)證模擬器光強(qiáng)及光譜準(zhǔn)確性。如表3 所示,以3 A.U.的測試結(jié)果為例,測試結(jié)果表明,各子電池的短路電流均降低至1/9,添加光強(qiáng)衰減器實(shí)現(xiàn)了光強(qiáng)的降低,且光譜分布保持較好。
表3 1 A.U.與3 A.U.下短路電流對(duì)比
分別對(duì)添加光強(qiáng)衰減器后的穩(wěn)定性和不均勻性進(jìn)行測試,結(jié)果為:不穩(wěn)定性為0.71%,不均勻性為0.98%。結(jié)果表明,經(jīng)過改造后太陽模擬器的光譜匹配、光強(qiáng)不穩(wěn)定性、不均勻性均滿足測試要求。
單體太陽電池測試設(shè)備實(shí)現(xiàn)低溫測試功能需要克服以下兩個(gè)問題:一是進(jìn)行低溫工況測試時(shí),工作臺(tái)低溫使被測電池片表面形成水霧,影響光透射,產(chǎn)生測試誤差;二是測試時(shí)光照會(huì)使電池片溫度升高,被測電池溫度控制難度較大。通過新增高真空腔體,將被測電池放置在真空腔體內(nèi)進(jìn)行測試,以避免水霧影響光源透射,通過升級(jí)溫控平臺(tái)控制軟件,使測溫、控溫更加精準(zhǔn)。
在低溫低光強(qiáng)環(huán)境下對(duì)太陽電池進(jìn)行電性能測試,溫控系統(tǒng)需放置在有效光斑內(nèi),由數(shù)字源表完成太陽電池在當(dāng)前環(huán)境的電性能測試,所有電池均用四線制測試,如圖5 所示。熱電偶分別放置在測試臺(tái)上,為被測電池提供準(zhǔn)確的溫度數(shù)據(jù)。
圖5 測試平臺(tái)搭建
使用標(biāo)準(zhǔn)電池校準(zhǔn)太陽模擬器,保持溫度為25 ℃,完成光強(qiáng)校準(zhǔn)后便不再調(diào)整太陽模擬器光強(qiáng)。按需求設(shè)置測試溫度并完成當(dāng)前溫度下的電性能測試。每個(gè)測試點(diǎn)同時(shí)測量溫度、電流、電壓。在測試期間,溫度保持在1 ℃以內(nèi)變化。
被測樣品為40 mm×60 mm 三結(jié)砷化鎵太陽電池,樣品在25 ℃條件下進(jìn)行測試,圖6所示為太陽電池分別在1、2、3 A.U.三種光強(qiáng)下的I-V 曲線。
圖6 25 ℃三種光強(qiáng)下的I-V曲線
開展了1、2、3 A.U.三種光強(qiáng)下從25 ℃到-120 ℃下的電性能測試,并繪制出不同光強(qiáng)下電流、電壓、效率隨溫度變化的曲線,如圖7 所示。數(shù)據(jù)顯示,電流隨溫度的降低而降低,電壓隨溫度的降低而升高,電流和電壓隨溫度變化的趨勢并沒有因?yàn)楣鈴?qiáng)的變化而發(fā)生大幅度的變化。最大功率隨著溫度的降低一直呈上升趨勢,在-100 ℃以后上升趨勢逐漸平緩,結(jié)果表明,光強(qiáng)對(duì)電池各項(xiàng)參數(shù)的溫度系數(shù)影響較小。
圖7 不同光強(qiáng)下電流、電壓、效率隨溫度變化的曲線
最終獲得了各典型環(huán)境條件下的I-V 曲線以及參數(shù),如圖8 所示,其中最終目標(biāo)軌道環(huán)境條件為3 A.U.,-110 ℃下效率最高可達(dá)34.5%。
圖8 不同光強(qiáng)和不同溫度下的I-V 曲線
本文通過改造太陽模擬器和溫度控制,使其滿足低光強(qiáng)的測試條件,經(jīng)過驗(yàn)證測試表明,改造后的太陽模擬器其光譜與AM0 光譜非常接近,不穩(wěn)定性和不均勻性分別為0.71%和0.98%;增加高真空裝置,升級(jí)溫控平臺(tái),減小了外界因素帶來的測試誤差。最終搭建的測試平臺(tái)滿足低溫低光強(qiáng)的測試要求并完成了低溫低光強(qiáng)測試,結(jié)果表明,測試平臺(tái)滿足LILT 電池對(duì)于光強(qiáng)、光譜及溫度的測試需求。本文的測試數(shù)據(jù)可以為LILT 電池的優(yōu)化以及深空探測提供有效的數(shù)據(jù)支撐。