10?9 量級(jí)高靈敏度點(diǎn)源透射比測(cè)試設(shè)備研究

王 維，陸 琳，張?zhí)煲?，王瑋鷺，劉奕辰，孟慶宇，徐抒巖

（中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所，吉林 長(zhǎng)春 130033）

1 引言

隨著對(duì)空間光學(xué)系統(tǒng)探測(cè)精度要求的提高，雜光分析與抑制技術(shù)已成為空間光學(xué)遙感成像的關(guān)鍵之一[1-3]。對(duì)于可見光波段的光學(xué)系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，雜散光主要由外部輻射經(jīng)由結(jié)構(gòu)件、光學(xué)元件表面的散射和衍射產(chǎn)生。點(diǎn)源透射比(Point Source Transmittance,PST)是評(píng)價(jià)光學(xué)系統(tǒng)視場(chǎng)外雜光抑制水平的重要指標(biāo)，其定義為光學(xué)系統(tǒng)有效視場(chǎng)外某一視場(chǎng)角的平行光入射，經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)后，在像面產(chǎn)生的輻照度與其在光學(xué)系統(tǒng)入瞳處的輻照度的比值[4]。該指標(biāo)與雜光輻射的入射角和系統(tǒng)的工作譜段有關(guān)，而與雜光光源的輻射強(qiáng)度無(wú)關(guān)，只體現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)對(duì)于視場(chǎng)外某一角度入射的雜光的抑制能力，在弱目標(biāo)探測(cè)的空間光學(xué)系統(tǒng)中應(yīng)用較為廣泛[5]。

國(guó)外對(duì)光學(xué)系統(tǒng)雜光的分析與研究起步較早，在公開發(fā)表的文獻(xiàn)中介紹了不少關(guān)于PST測(cè)試設(shè)備的研制以及成功應(yīng)用于光學(xué)系統(tǒng)雜光測(cè)試的例子。2008 年，Ball Aerospace&Technologies Corp 建立了一臺(tái)新型雜散光測(cè)試設(shè)備SLTF，該設(shè)備首次引入鏡面雙柱筒結(jié)構(gòu)，通過(guò)對(duì)被測(cè)設(shè)備表面的散射光線多次反射以達(dá)到測(cè)試環(huán)境雜散光抑制效果。文獻(xiàn)中指出，在潔凈度為ISO 5 級(jí)環(huán)境下PST 的測(cè)試能力優(yōu)于10?9量級(jí)[6-7]。國(guó)內(nèi)對(duì)于點(diǎn)源透過(guò)率的研究起步較晚，2011 年，哈爾濱工業(yè)大學(xué)空間光學(xué)工程研究中心在實(shí)驗(yàn)室里搭建了一套無(wú)中心遮攔的離軸拋物面反射式雜光測(cè)量裝置，該系統(tǒng)的光源采用高壓短弧氙燈，模擬光源準(zhǔn)直系統(tǒng)采用離軸拋物面鏡，其對(duì)于口徑為300 mm、全視場(chǎng)為1.5°的卡塞格林式望遠(yuǎn)系統(tǒng)的測(cè)量結(jié)果顯示，PST 的測(cè)試能力可達(dá)到10?7量級(jí)[8]。2015 年，中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所建立了一套1 m 口徑的三波段PST 測(cè)試設(shè)備，其實(shí)際測(cè)試結(jié)果可達(dá)到10?7量級(jí)[9]。2017 年，中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所建立了一套多波段點(diǎn)源透過(guò)率測(cè)試系統(tǒng)用于航天遙感相機(jī)的雜散光測(cè)試[10]，系統(tǒng)可測(cè)量口徑小于1 000 mm 的光學(xué)系統(tǒng)，測(cè)試波段覆蓋可見及紅外波段，測(cè)試極限可見光為10?7，短波紅外為10?6，長(zhǎng)波紅外為10?8。2018年，長(zhǎng)春理工大學(xué)建立了一套1 m 口徑的多波段PST 測(cè)試設(shè)備[11]，經(jīng)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證其在可見光波段的測(cè)試極限可達(dá)到10?8量級(jí)（紅外波段的測(cè)試極限預(yù)計(jì)可達(dá)到10?10量級(jí)，但是未報(bào)導(dǎo)相應(yīng)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證結(jié)果）。

隨著我國(guó)光學(xué)技術(shù)以及探測(cè)器件的發(fā)展，大部分空間光學(xué)系統(tǒng)都具有高分辨率、低閾值的特點(diǎn)，對(duì)雜光抑制水平和評(píng)價(jià)指標(biāo)的要求也越來(lái)越高，迫切需要更高測(cè)試能力的PST 實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備，以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)雜光抑制水平的定量評(píng)定。以我國(guó)正在建造的某空間天文望遠(yuǎn)鏡為例，其雜光抑制指標(biāo)是40°以外的PST 優(yōu)于1×10?8，這就要求PST 測(cè)試設(shè)備的測(cè)試能力至少要達(dá)到10?9量級(jí)。鑒于此，本文開展了10?9量級(jí)PST 測(cè)試技術(shù)研究，研制了一套最大測(cè)試口徑為600 mm、測(cè)試波長(zhǎng)為527 nm 的測(cè)試設(shè)備，并利用該設(shè)備測(cè)量了一臺(tái)250 mm 口徑的空間光學(xué)相機(jī)在弧矢方向的PST。這是國(guó)內(nèi)首次報(bào)道的測(cè)量靈敏度達(dá)到10?9量級(jí)的PST 測(cè)試設(shè)備。

高靈敏度PST 測(cè)試的主要難點(diǎn)在于如何準(zhǔn)確測(cè)量像面處極其微弱的雜光信號(hào)。國(guó)內(nèi)以往的高精度測(cè)試設(shè)備[9-12]均采用鎖相放大技術(shù)作為提升微弱信號(hào)探測(cè)信噪比的主要手段，即通過(guò)斬波器將光源調(diào)制為固定頻率的周期信號(hào)，在探測(cè)端將接收到的光電信號(hào)與同頻率的參考信號(hào)進(jìn)行外差處理，從而實(shí)現(xiàn)特定頻率微弱信號(hào)的放大。本文提出了采用脈沖光源、脈沖探測(cè)的新測(cè)量方法，無(wú)需采用鎖相放大等一系列復(fù)雜的信噪比提升手段，簡(jiǎn)化了微弱信號(hào)光電探測(cè)組件結(jié)構(gòu)，可以為天文望遠(yuǎn)鏡、星敏感器、空間目標(biāo)監(jiān)視載荷等多種類型的光學(xué)儀器提供雜光抑制性能評(píng)估。該項(xiàng)工作將對(duì)現(xiàn)階段研制的光電成像系統(tǒng)產(chǎn)品定型以及未來(lái)新型光電成像系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)優(yōu)化、性能提升等具有指導(dǎo)意義。

2 測(cè)試設(shè)備的構(gòu)成及其工作原理

PST 測(cè)試需要分別測(cè)量待測(cè)系統(tǒng)像面處和入光口處的光信號(hào)強(qiáng)度。PST 測(cè)試設(shè)備的組成及工作原理如圖1 所示，主要包括測(cè)試光源、雙圓柱型消光殼體、可旋轉(zhuǎn)光學(xué)平臺(tái)、探測(cè)器及數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等幾個(gè)部分。測(cè)試設(shè)備實(shí)物圖如圖2 所示。待測(cè)系統(tǒng)放置在可旋轉(zhuǎn)的光學(xué)平臺(tái)上，通過(guò)光學(xué)平臺(tái)的水平旋轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)不同角度平行光入射時(shí)的測(cè)量，最大旋轉(zhuǎn)角度達(dá)±90°。垂直方向受到空間以及支撐結(jié)構(gòu)的限制不能實(shí)現(xiàn)大角度的旋轉(zhuǎn)，實(shí)際測(cè)試中可通過(guò)改變待測(cè)系統(tǒng)放置的姿態(tài)實(shí)現(xiàn)不同方位的PST 測(cè)試。轉(zhuǎn)臺(tái)位于封閉的雙圓柱型消光殼體的內(nèi)部中心位置附近，雙圓柱型消光殼體可以有效抑制光線從待測(cè)系統(tǒng)散射、經(jīng)由殼體表面再次進(jìn)入待測(cè)系統(tǒng)內(nèi)部的傳遞[9,13]。在測(cè)試角度接近±90°時(shí)，雙圓柱殼體與待測(cè)相機(jī)接近共心，雜散光抑制效果會(huì)有所下降[13]，實(shí)際使用時(shí)，最大測(cè)試角度為±70°。雙圓柱殼體內(nèi)部通過(guò)空氣凈化系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)優(yōu)于ISO 6 級(jí)的超潔凈環(huán)境，以將空氣、灰塵的散射抑制到10?10量級(jí)，避免其對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響[14]。

圖1 雜光測(cè)試系統(tǒng)組成與工作原理Fig.1 Composition and principal of the PST test facility

圖2 測(cè)試設(shè)備實(shí)物圖Fig.2 Photograph of the PST test facility

測(cè)試光源為一臺(tái)工作波長(zhǎng)為527 nm 的脈沖激光器，通過(guò)680 mm 口徑平行光管擴(kuò)束為大口徑平行光并入射到光學(xué)系統(tǒng)入光口處。利用光電倍增管的光輻射測(cè)量探頭在待測(cè)系統(tǒng)入光口和像面處進(jìn)行照度測(cè)量，測(cè)量探頭安置在高精度電控二維位移臺(tái)上，通過(guò)二維位移臺(tái)的水平與垂直運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)照度采集。測(cè)試過(guò)程中像面處照度和入光口處照度采用同一個(gè)光電倍增管進(jìn)行分時(shí)測(cè)量，兩者比值即為測(cè)得的點(diǎn)源透過(guò)率。為使光電倍增管實(shí)現(xiàn)109范圍內(nèi)的線性測(cè)量，在其探頭前加上不同倍率的已標(biāo)定過(guò)的中性衰減片，（包括空擋、OD2～OD5、OD8），在測(cè)量過(guò)程中可根據(jù)信號(hào)的強(qiáng)度自動(dòng)調(diào)整到合適的衰減倍率。

高靈敏度PST 測(cè)試的主要難點(diǎn)在于如何準(zhǔn)確測(cè)量像面處極其微弱的雜光信號(hào)?？紤]到微弱信號(hào)檢測(cè)不可避免地要引入復(fù)雜的放大、降噪等技術(shù)環(huán)節(jié)，為了降低光電探測(cè)系統(tǒng)的復(fù)雜度，探測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)采用了其他思路，即盡可能提升像面處雜光信號(hào)的強(qiáng)度至可以直接探測(cè)的量級(jí)。這就意味著必須提高測(cè)試光源的功率，然而大功率激光體積龐大、損傷能力強(qiáng)，在實(shí)驗(yàn)室使用中存在著諸多風(fēng)險(xiǎn)和不便。因此，本文采用了具有低平均功率、高峰值功率特點(diǎn)的脈沖激光作為測(cè)試光源。以TECH-527A 型激光器為例，其平均功率最高僅有0.6 W，但是在重復(fù)頻率為4 kHz、脈沖寬度為5 ns 的條件下，其峰值功率可達(dá)到30 kW，可以實(shí)現(xiàn)極高的瞬時(shí)光照度。衰減109倍以后，仍然處于光電探測(cè)器的可探測(cè)范圍之內(nèi)。這樣一來(lái)便可以采用光電倍增管直接探測(cè)雜光的峰值信號(hào)，而不需要采用斬波器和鎖相放大提升信噪比。本設(shè)備的探測(cè)器與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)僅包含光電倍增管、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)采集模塊以及各組件相應(yīng)的電源模塊。相比于采用斬波器和鎖相放大器的探測(cè)系統(tǒng)，探測(cè)器與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的復(fù)雜程度得到簡(jiǎn)化。

脈沖光源、脈沖探測(cè)的測(cè)量方法需要探測(cè)器及其后續(xù)電路具有較高的工作帶寬，若工作帶寬不足，則會(huì)造成光電信號(hào)的展寬，進(jìn)而導(dǎo)致脈沖幅值的降低，最終使微弱信號(hào)探測(cè)的信噪比降低。但是，30 kW 的峰值功率對(duì)于10?9量級(jí)PST 測(cè)試來(lái)說(shuō)是非常充裕的，即使信號(hào)因?yàn)閹挷蛔愣鴵p失了一定的幅值，仍然能夠保證探測(cè)結(jié)果具有足夠的信噪比。

3 光源與光電探測(cè)系統(tǒng)

測(cè)試設(shè)備中的光電探測(cè)器選用濱松公司的H10425-01 型號(hào)的光電倍增管，其陽(yáng)極輻射響應(yīng)靈敏度在527 nm 波長(zhǎng)處的典型值約為3.2×104A/W。光電陰極直徑為22 mm，暗電流最大值約為20 nA，上升時(shí)間典型值約為1.5 ns，可以滿足5 ns 激光脈沖的測(cè)量需求。放大電路模塊選擇與之相配套的濱松公司C5594-44 放大器單元，CV 轉(zhuǎn)換因子為3.15 mV/μA，噪聲系數(shù)為5 dB，?3 dB 帶寬最高可至1.5 GHz，可以滿足5 ns 激光脈沖的測(cè)量需求。采用Pico 公司的5244A 型數(shù)據(jù)采集卡作為A/D 轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)采集裝置，最高采樣帶寬為200 MHz。

由于整形后激光器的發(fā)散角小于等于平行光管的孔徑角，故可認(rèn)為激光器能量全部進(jìn)入平行光管。激光脈沖峰值功率按300 W（考慮到入光口處信號(hào)可能過(guò)強(qiáng)，未用到激光器最大輸出功率）計(jì)算，根據(jù)平行光管口徑以及光束整形擴(kuò)束系統(tǒng)的總光學(xué)透過(guò)率，可得到平行光管出射光束峰值功率處的照度約為5.95×102W/m2。對(duì)應(yīng)的入瞳信號(hào)電流為峰值功率照度與光電倍增管光電陰極面積、陽(yáng)極輻射響應(yīng)靈敏度的乘積，為6 731.09 A。光電倍增管的飽和電流為100μA，因而，需在光電倍增管前加裝濾光片組以控制光電倍增管輸出電流，選取一款衰減倍率標(biāo)定值為3.65×10?9的OD8 衰減片，對(duì)應(yīng)輸出電流約為24μA，可以保證光電倍增管不出現(xiàn)飽和現(xiàn)象，且仍具有一定的測(cè)量信噪比。

在使用光電倍增管進(jìn)行像面照度探測(cè)時(shí)，系統(tǒng)噪聲主要來(lái)源于兩部分，一是光電倍增管自身的暗電流以及其經(jīng)過(guò)放大電路產(chǎn)生的噪聲，二是數(shù)據(jù)采集模塊的電壓噪聲。二者的均方和為系統(tǒng)總噪聲。假定微弱光信號(hào)產(chǎn)生的電流為I0=0.36 μA，由于光電倍增管的最大暗電流為20 nA，則探測(cè)的原始信噪比約為18。放大電路噪聲指數(shù)為5 dB，CV 轉(zhuǎn)換因子為3.15 mV/μA，則經(jīng)過(guò)放大后，輸出電壓值約為1.13 mV，信噪比降為10，噪聲電壓約為0.113 mV。數(shù)據(jù)采集模塊噪聲為0.12 mV，此時(shí)，可以計(jì)算出探測(cè)系統(tǒng)的總噪聲約為6.85，可以滿足最小信噪比為6 的要求。

通過(guò)上述分析，可以計(jì)算出PST 測(cè)試能力極限。若以0.36μA 作為光電流探測(cè)極限，則在入射角為θ時(shí)的PST 測(cè)試能力極限可表示為：在不同入射角度下的測(cè)試能力極限的理論計(jì)算結(jié)果見表1。分析該結(jié)果可知，探測(cè)與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)具備10-9高靈敏度PST 測(cè)試的能力。

表1 PST 測(cè)試能力極限理論計(jì)算結(jié)果Tab.1 Theoretical analysis results of the PST detection limit

4 測(cè)量實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證

4.1 信號(hào)測(cè)量線性度驗(yàn)證

在測(cè)試之前，先標(biāo)定探測(cè)器及數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的測(cè)量線性度。將探測(cè)組件固定在入光口前的一個(gè)位置，光電倍增管前加裝OD8 衰減片，不斷增加激光器的輸出功率，即入光口的光強(qiáng)度，讀出此時(shí)探測(cè)器采集到的光信號(hào)強(qiáng)度，測(cè)試結(jié)果如圖3所示?？梢?，探測(cè)器呈現(xiàn)良好的線性，經(jīng)過(guò)擬合得到的線性度優(yōu)于6.0%。

圖3 信號(hào)測(cè)量的線性度驗(yàn)證Fig.3 Linearity verification of signal detection

4.2 PST 測(cè)試驗(yàn)證

利用該設(shè)備測(cè)試了一臺(tái)250 mm 口徑、3.5 m焦距的空間光學(xué)相機(jī)在弧矢方向分別為40°、50°、60°時(shí)的PST。相機(jī)的雜光抑制指標(biāo)要求為40°以外的PST 優(yōu)于1×10?8。在入光口處不同位置（均勻選擇6 個(gè)測(cè)試點(diǎn)）測(cè)量得到的電壓值見表2。測(cè)量信號(hào)平均值為1 818 mV，入光口不同位置的信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)差為std=259.57，照度均勻性約為14.28%?？梢哉J(rèn)為入光口照度是基本均勻的，滿足雜光抑制能力測(cè)試的需求。

表2 入光口信號(hào)測(cè)量值Tab.2 Signal voltages at different positions of the input plane

在像面位置處，通過(guò)二維掃描平移臺(tái)測(cè)量了像面上均勻劃分的不同視場(chǎng)位置的雜光信號(hào)，測(cè)量結(jié)果分別如表3、表4、表5 所示。

表3 距中心視場(chǎng)40°像面信號(hào)測(cè)量值Tab.3 Detected signal voltages at the image plane at the 40°off-axis angle(mV)

表4 距中心視場(chǎng)50°像面信號(hào)測(cè)量值Tab.4 Detected signal voltages at the image plane at the 50°off-axis angle(mV)

探測(cè)信號(hào)隨時(shí)間的變化情況如圖4 所示，可以看到，探測(cè)信號(hào)與激光器輸出光能量的分布一致，均為脈沖形式，相鄰探測(cè)信號(hào)的間隔約為0.25 ms，與激光器重復(fù)頻率（4 kHz）完全吻合，確認(rèn)探測(cè)到的信號(hào)是激光發(fā)出信號(hào)。此時(shí)輸出信號(hào)的噪聲背景仍約為15 mV，噪聲形式是較為均勻的白噪聲背景，沒(méi)有呈現(xiàn)出明顯的頻率特性。但各激光脈沖峰值的幅值有所差異，在測(cè)試期間監(jiān)視其時(shí)間穩(wěn)定性，最大變化約為±16.1%。

表5 距中心視場(chǎng)60°像面信號(hào)測(cè)量值Tab.5 Detected signal voltages at the image plane at the 60°off-axis angle(mV)

圖4 測(cè)試信號(hào)隨時(shí)間的變化關(guān)系Fig.4 Signal voltages varging with time

由入光口信號(hào)值和像面處信號(hào)的平均值可以計(jì)算得到各入射角度下待測(cè)系統(tǒng)的PST，結(jié)果見表6。各角度測(cè)試結(jié)果均在10?9量級(jí)。

表6 待測(cè)系統(tǒng)不同角度下的PST 值Tab.6 PSTs at different incident angles of the test subject

4.3 測(cè)試結(jié)果及誤差分析

PST 的測(cè)試誤差主要來(lái)源于光源穩(wěn)定性、探測(cè)系統(tǒng)線性度等隨機(jī)性誤差，濾光片倍率標(biāo)定誤差引起的系統(tǒng)誤差，以及空氣潔凈度、雙圓柱殼體結(jié)構(gòu)表面散射引起的系統(tǒng)誤差[15]。其中，濾光片倍率標(biāo)定誤差雖然在PST 測(cè)試過(guò)程中屬于系統(tǒng)誤差，但是其來(lái)源于濾光片倍率標(biāo)定時(shí)的多種系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差，也應(yīng)作為隨機(jī)誤差來(lái)考慮?？赏ㄟ^(guò)對(duì)獨(dú)立的隨機(jī)誤差進(jìn)行均方相加的方式得到總誤差，激光光源的穩(wěn)定性誤差約為16.1%，探測(cè)器線性度誤差約為6.0%，濾光片倍率標(biāo)定不確定度最大值約為13.6%（由同一濾光片在多個(gè)設(shè)備、多次測(cè)量的結(jié)果計(jì)算得出），總誤差約為21.9%，其對(duì)測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確性的影響在可接受范圍之內(nèi)。

系統(tǒng)誤差的影響則需要通過(guò)分析測(cè)試過(guò)程中的雜光傳遞路徑得出。待測(cè)相機(jī)自身的雜光傳遞路徑一般為光源—遮光罩—鏡面—像面，這部分雜光是真正的測(cè)量對(duì)象；雙圓柱殼體表面散射也會(huì)在待測(cè)相機(jī)像面產(chǎn)生雜光，傳遞路徑一般為光源—遮光罩—雙圓柱型殼體—鏡面—像面，這部分雜光是系統(tǒng)誤差之一；測(cè)試設(shè)備中空氣、灰塵經(jīng)光源照射后產(chǎn)生的散射光直接成為成像視場(chǎng)光線照射至像面后，也會(huì)出現(xiàn)雜光，在非真空條件下這部分雜光不可消除，也是測(cè)試系統(tǒng)誤差之一。

從路徑上看，兩種系統(tǒng)誤差的傳遞路徑與待測(cè)雜光的傳遞路徑是具有強(qiáng)耦合性的，僅以這一套測(cè)試設(shè)備無(wú)法區(qū)分像面上的雜光是來(lái)自于3 種路徑中的哪一種。因此，無(wú)法得出系統(tǒng)誤差與測(cè)量真值的相對(duì)比較值。但是可以確定的是，兩種誤差因素以及相機(jī)自身雜散光的PST 總和為1.68×10?9，3 條雜光傳遞路徑中的任意一種引起的PST 均不超過(guò)總值。這就可以證明待測(cè)相機(jī)滿足其自身的雜光抑制設(shè)計(jì)指標(biāo)要求，同時(shí)也可以證明，本測(cè)試設(shè)備的PST 測(cè)試誤差絕對(duì)值在10?9或更低的量級(jí)。

5 結(jié)論

本文研制了一套可見光波段高靈敏度的PST測(cè)試設(shè)備。該設(shè)備的最大測(cè)試口徑為600 mm，測(cè)試波長(zhǎng)為527 nm，測(cè)試靈敏度達(dá)到10?9量級(jí)。該設(shè)備采用了脈沖光源、脈沖探測(cè)的新測(cè)量方法，簡(jiǎn)化了微弱信號(hào)光電探測(cè)組件結(jié)構(gòu)。利用該設(shè)備測(cè)試了一臺(tái)250 mm 口徑空間光學(xué)相機(jī)的PST，測(cè)得的最小PST 值出現(xiàn)在60°入射時(shí)，此時(shí)PST測(cè)試結(jié)果為1.68×10?9。證明該設(shè)備的測(cè)試誤差在10?9或更低的量級(jí)。這是國(guó)內(nèi)首次報(bào)道的測(cè)量靈敏度達(dá)到10?9量級(jí)的PST 測(cè)試設(shè)備。該設(shè)備可以為天文望遠(yuǎn)鏡、星敏感器、空間目標(biāo)監(jiān)視載荷等多種類型的光學(xué)儀器提供雜光抑制性能的評(píng)估，將對(duì)現(xiàn)階段研制的光電成像系統(tǒng)產(chǎn)品定型以及未來(lái)新型光電成像系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)優(yōu)化、性能提升等具有重要指導(dǎo)意義，有利于推動(dòng)我國(guó)空間光學(xué)載荷向更高探測(cè)深度發(fā)展。