短潛伏期體感誘發(fā)電位在急性額顳葉缺血性腦卒中后抑郁早期預(yù)警中的應(yīng)用效果

何世雄

腦卒中又稱為腦血管意外，是由血栓、栓塞或出血性事件造成的腦組織永久性損傷，也會造成不同程度的神經(jīng)功能損傷，患者康復(fù)過程中易出現(xiàn)抑郁心理。由于抑郁發(fā)生較隱蔽，不易察覺，加上部分患者存在語言障礙，抑郁癥狀往往不能及時檢出，增加意外事件發(fā)生率[1]。目前，腦卒中后抑郁無明確的診斷標準，病情程度評價標準也各不相同，診斷中具有較高的漏診率，因此，尋找一種簡單、有效的篩查手段，對預(yù)防和控制抑郁發(fā)生至關(guān)重要[2]。短潛伏期體感誘發(fā)電位(SLSEP)是檢測神經(jīng)功能較好的工具，能夠在一定程度上反應(yīng)腦功能損傷程度，有效判斷病情，預(yù)測預(yù)后[3]。本研究探討SLSEP在急性額顳葉缺血性腦卒中后抑郁早期預(yù)警中的應(yīng)用效果，現(xiàn)報道如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料 選取2018年6月至2019年6月我院收治的單側(cè)急性額顳葉缺血性腦卒中患者75例為研究對象，納入標準：均經(jīng)CT或MRI確診為腦出血或腦梗死；患者及家屬均知情同意，并簽訂知情同意書。排除標準：腦卒中后有嚴重失語、視力、聽力障礙，無法配合調(diào)查；在卒中前已經(jīng)患有精神疾病或抑郁癥；正在服用抗抑郁藥物；既往患有帕金森、癡呆。采用漢密爾頓抑郁量表(HAMD)將其分為抑郁組40例和對照組35例(非抑郁患者)。抑郁組中男24例，女16例；年齡44～86歲，平均(62.78±6.94)歲。對照組中男23例，女12例；年齡45～84歲，平均(60.36±7.08)歲。兩組患者性別、年齡比較差異無統(tǒng)計學(xué)意義(P>0.05)，具有可比性。

1.2 方法 應(yīng)用同樣的儀器對兩組患者進行患側(cè)SLSEP檢測，檢測前指導(dǎo)患者全身肌肉放松，粘貼表面電極，應(yīng)用適當?shù)碾姶碳?，對腕部正中神?jīng)進行刺激[4-5]。按照腦電圖國際1020系統(tǒng)電極安放法安放電極正確位置。在手腕正中神經(jīng)處安放刺激電極，為誘發(fā)上肢正中神經(jīng)體感誘發(fā)電位，記錄電極刺激在對側(cè)頂部頭皮(C’3/C’4)及C7處，并將參考電極放置在頭部(Fz或Fpz)或?qū)?cè)鎖骨上窩(CLc)[6-7]。然后應(yīng)用方波脈沖電刺激，共0.1～0.2 ms刺激時程，根據(jù)患者耐受程度逐漸增加刺激量，刺激頻率3～5 Hz，疊加次數(shù)1000次。分別記錄臂叢神經(jīng)電位N9、皮層下電位N13、皮層電位N20[8]。

1.3 體感誘發(fā)電位參數(shù)設(shè)置和檢測指標 參數(shù)設(shè)置：應(yīng)用4～20 mA恒流方波脈沖電流，放大器頂放大10～20萬倍，刺激持續(xù)時間0.1～0.5 ms，頻率1～5 Hz，電壓50 mV[9]。檢測指標：對兩組患者進行SLSEP檢查，記錄N9,N13,N20潛伏期的變化。

2 結(jié) 果(表1)

表1 兩組患者SLSEP檢查時N9,N13,N20的變化情況比較

3 討 論

腦卒中抑郁為臨床常見病，對患者肢體康復(fù)和生活質(zhì)量均造成嚴重影響。導(dǎo)致腦卒中抑郁發(fā)病機制較多，其中除受卒中位置的影響外，腦干去甲腎上腺素和五羥色胺經(jīng)過丘腦下部、基底核、放射冠到達皮質(zhì)的傳導(dǎo)路徑被破壞，導(dǎo)致有關(guān)去甲腎上腺素和五羥色胺含量不足也可導(dǎo)致抑郁癥狀出現(xiàn)[10]。目前，卒中后抑郁尚無統(tǒng)一的診斷標準，其在臨床表現(xiàn)上與重度抑郁癥類似，如，卒中后抑郁常表現(xiàn)遲鈍、情緒波動、易怒或冷漠，而重度抑郁常表現(xiàn)為悲觀主義、自殺意念及興趣缺乏等，但其也存在某些特定的不同癥狀，很難判斷冷漠和遲鈍為卒中后抑郁還是重度抑郁，所以，臨床診斷卒中后抑郁缺乏專一性，尤其與重度抑郁相同的癥狀，如早醒、內(nèi)疚、體質(zhì)量減輕及自殺意念等[2]。卒中后抑郁顯著降低患者生活質(zhì)量，增加自殺風(fēng)險發(fā)生率，因此，對卒中后抑郁進行早期診斷具有重要意義[11]。

SLSEP為一種無痛苦、無創(chuàng)傷、簡單、易行、安全可靠及靈敏度高的神經(jīng)電生理監(jiān)測方式，其能夠?qū)Υ竽X和腦干功能進行量化評價，可較好地反應(yīng)腦功能損傷的輕重程度，在病情判斷和預(yù)后預(yù)測中有重要意義。其中N13為頭部遠場電位，其神經(jīng)發(fā)生源與內(nèi)側(cè)丘系密切相關(guān)。N20為第一個近場電位，主要起源于中央后回的感覺皮層[12]。本研究中抑郁組和對照組患者患側(cè)SLSEP檢測中N9,N13潛伏期及潛伏期異常率比較差異無統(tǒng)計學(xué)意義(P>0.05);與對照組比較,抑郁組患者患側(cè)SLSEP檢測中N20潛伏期更長，潛伏期異常率更高(P<0.05)。由此可見，腦卒中能夠通過損害腦干至皮層的纖維通路，導(dǎo)致神經(jīng)遞質(zhì)發(fā)生改變，由此引發(fā)卒中后抑郁的發(fā)生[13]。

綜上所述，SLSEP作為電生理檢查手段，有效、簡便且無創(chuàng)傷性，能夠作為急性額顳葉缺血性腦卒中后抑郁早期預(yù)警的有效監(jiān)測指標，對腦卒中伴有失語無法進行量表評估的患者具有重要意義。