NB窄邊框機(jī)種BLU遮光膠帶偏移不良改善研究

杜彤

摘 要：目前膠帶一次貼附偏移、BLU ASSY（背光組裝）前離型膜撕除產(chǎn)生的二次偏移是限制BLU工廠和顯示屏模組工廠（Module）良率的主要因素。經(jīng)過初步核算，因BLU遮光膠帶偏移造成模組工廠間接損失約949.4W/year?；诖耍菊撐膶?duì)影響遮光膠帶貼附的因素通過DOE實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)方法進(jìn)行綜合分析，我們發(fā)現(xiàn)遮光膠帶寬度、背板U折的開口尺寸、膠框與背板間隙、膠帶與離型膜在寬度方向的偏移均為影響遮光膠帶貼附不良的主要因素，研究結(jié)果表明，這四種因素全部向下限管控可有效改善膠帶貼附不良。遮光膠帶離型紙撕離時(shí)帶起膠帶，隨后覆壓過程中偏離正常位置導(dǎo)致膠帶二次偏移，組成Module成品后出現(xiàn)線缺失不良。研究表明，通過提高膠帶粘性、增加膠帶與膠框貼附面積和貼膠壓力、管控膠帶離型膜來(lái)料對(duì)位偏移可有效改善離型紙撕離時(shí)帶起膠帶引起膠帶類不良。

關(guān)鍵詞：窄邊框；偏移；貼附精度；離型膜

中圖分類號(hào)：T-19 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1671-2064（2019）05-0105-02

0 引言

LCD顯示器件由于功耗低、體積小、產(chǎn)品輕薄、良率高等優(yōu)勢(shì)，是物聯(lián)網(wǎng)時(shí)代目前最具活力的電子產(chǎn)品之一。隨著LCD窄邊框、薄形化的發(fā)展趨勢(shì)，以筆記本電腦產(chǎn)品而言，設(shè)計(jì)上BLU中遮光膠帶邊緣到有效顯示區(qū)域（AA）區(qū)距離越來(lái)越小，筆記本電腦背光源上遮光膠帶貼附的難度越來(lái)越大，對(duì)BLU生產(chǎn)組裝工藝的精度提出了更高的要求[1]。不可否認(rèn)，BLU遮光膠帶貼附異常比例的高低，反應(yīng)了一個(gè)BLU工廠的管理水平和工藝水平，BLU廠內(nèi)膠帶貼附相關(guān)不良持續(xù)降低可有效減小失敗成本，有助于提升工廠盈利水平?，F(xiàn)階段，在其他BLU不良率穩(wěn)定在1.5%～2%的情況下，降低因BLU膠帶貼附問題引起的不良，能較有效地改善不良、提高良率，達(dá)成良率目標(biāo)[2]。因此，盡快的找到影響B(tài)LU膠帶貼附不良的改善方案是現(xiàn)階段的當(dāng)務(wù)之急。

1 BLU遮光膠帶貼附偏移的影響因素及管控方案

BLU制程中遮光膠帶的貼附目前人工貼附，貼附精度無(wú)法滿足設(shè)計(jì)需求。為此，筆者基于6sigma精益管理的思路和邏輯，采用了MSA（Measurement System Analysis）、DOE（Design of Experiment）等工具，對(duì)BLU組裝制程中遮光膠帶貼附偏移的影響因素展開分析，提出優(yōu)化管控方案。

1.1 量測(cè)系統(tǒng)分析

為了驗(yàn)證量測(cè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性，我們對(duì)膠帶貼附后的檢查人員進(jìn)行了MSA分析，由分析可知，人員之間的一致性、人員與標(biāo)準(zhǔn)的一致性均滿足Kappa>0.9，滿足要求。

1.2 C&E Matrix分析及假設(shè)檢定

C&E Matrix分析的主要目的是把要因與結(jié)果矩陣同工程圖聯(lián)系起來(lái)，用工程圖作為第一位的信息源把關(guān)鍵輸入和關(guān)鍵輸出相聯(lián)系，關(guān)鍵輸出按照對(duì)顧客的重要程度記分，關(guān)鍵輸入按照與關(guān)鍵輸出的關(guān)系記分[3]。

從工程圖中確定關(guān)鍵的顧客需求（輸出）排序并給每個(gè)輸出賦予一個(gè)優(yōu)先因子，確定所有的工序和材料（輸入）并評(píng)價(jià)每個(gè)輸入對(duì)輸出的關(guān)聯(lián)性。低分代表輸入變量的變化（數(shù)量，質(zhì)量，等 ）對(duì)輸出的影響很小，高分代表輸入變量的變化對(duì)輸出的影響很大。把關(guān)聯(lián)值和優(yōu)先因子交叉相乘，然后對(duì)每個(gè)輸入求和。為了提升效率，明確分值的標(biāo)準(zhǔn)：

0=沒有關(guān)聯(lián)；1=工程輸入僅輕微地影響顧客要求；3=工程輸入中等地影響顧客的要求；9=工程輸入對(duì)顧客的要求有直接的和強(qiáng)烈的影響。

根據(jù)C&E矩陣分析的排名，對(duì)影響膠帶貼附精度的x因子進(jìn)行假設(shè)檢定，如表1所示。

以x1-膠帶來(lái)料尺寸偏差大為例，選取膠帶寬度為上限和下限的樣品進(jìn)行驗(yàn)證，使用minitab軟件進(jìn)行假設(shè)檢定計(jì)算，計(jì)算得P=0.000，<0.05，說明膠帶尺寸偏上限與下限對(duì)貼附精度有顯著影響，因此應(yīng)控制膠帶尺寸波動(dòng)范圍。同理，證明膠帶來(lái)料尺寸偏大、膠帶來(lái)料尺寸大小頭、膠帶離型膜來(lái)料對(duì)位偏差、膠框貼附后變形等因素也是影響膠帶貼附偏移的顯著因子。

1.3 DOE實(shí)驗(yàn)及改善效果

（1）實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)。針對(duì)影響膠帶偏移的4個(gè)顯著因子進(jìn)行了DOE實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)，試驗(yàn)方案：分辨度IV、共計(jì)16組實(shí)驗(yàn)，以篩選出影響膠帶貼附偏移的主要因素，具體方案如表2所示。

對(duì)DOE實(shí)驗(yàn)組的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，發(fā)現(xiàn)R-Sq大于80%，再次確認(rèn)為顯著因子。此外，通過主效應(yīng)圖及殘差圖分析，發(fā)現(xiàn)四個(gè)顯著因子之間無(wú)交互作用。

（2）改善效果。尺寸改善后膠帶貼附偏移不良均低于0.6%以下，改善率為67%，改善有效。

2 離型紙撕離帶起膠帶的影響因素及管控方案

2.1 C&E Matrix分析及假設(shè)檢定

基于&2.2節(jié)同理分析，對(duì)C&E矩陣分析的排名，對(duì)影響撕除離型紙時(shí)膠帶帶起的x因子進(jìn)行假設(shè)檢定，如表3所示。

以x7-膠帶來(lái)料粘性為例，選取膠帶粘性1800gf/25mm和2200gf/25mm樣品進(jìn)行驗(yàn)證，得到P=0.000，<0.05，說明膠帶粘性對(duì)撕離型紙膠帶帶起有顯著影響，應(yīng)提高膠帶粘性。同理，膠帶粘性、膠帶與膠框貼附面積、指頭壓力、壓棒壓力為影響撕離型紙膠帶帶起的顯著因子。

2.2 改善效果

尺寸改善后膠帶貼附偏移不良均低于0.6%以下，改善率為67%，改善有效。本階段對(duì)策導(dǎo)入后不良率整體值處于0.5%，改善有效。

2.3 總結(jié)

總結(jié)分析該方案改善實(shí)際生產(chǎn)膠帶貼付不良率，從5.1%降低至0.5%；預(yù)估年節(jié)省949440元，取得了良好的經(jīng)濟(jì)效益。

3 結(jié)語(yǔ)

本文引出了遮光膠帶貼附不良的來(lái)源主要有BLU制程中本身貼偏和OBA段遮光膠帶離型紙撕離時(shí)帶起膠帶。經(jīng)過分析，遮光膠帶寬度、背板U折開口尺寸、膠框與背板間隙、膠帶與離型膜在寬度方向的偏移均為遮光膠帶在貼附時(shí)偏移的主要因素，這四種因素全部向下限管控可改善膠帶貼附不良。通過提高膠帶粘性、增加膠帶與膠框貼附面積和貼膠壓力、管控膠帶離型膜來(lái)料對(duì)位偏移可有效改善離型紙撕離時(shí)帶起膠帶引起膠帶類不良。所有對(duì)策導(dǎo)入后，遮光膠帶貼附不良率由改善前的5.1%改善為0.5%。

參考文獻(xiàn)

[1] 黃立.LCD偏光片貼附工藝技術(shù)的分析[J].電子技術(shù)與軟件工程，2018（17）：94.

[2] 陳帥，陳卓，李乃升，高小霞.對(duì)液晶顯示窄邊框?qū)＠夹g(shù)的研究[J].中國(guó)新技術(shù)新產(chǎn)品，2018（17）：5-6.

[3] 張朋，王金鳳，王瑞.PET離型膜的應(yīng)用及發(fā)展[J].信息記錄材料，2015，16（3）：40-43.