腦干聽(tīng)覺(jué)誘發(fā)電位和閃光視覺(jué)誘發(fā)電位檢測(cè)在新生兒缺氧缺血性腦病中的應(yīng)用價(jià)值

方 紅，史 玫，郭燕燕

(新鄉(xiāng)市中心醫(yī)院功能檢查科肌電圖室，河南 新鄉(xiāng) 453000)

新生兒缺氧缺血性腦病(hypoxic-ischemic encephalopathy，HIE)是圍生期窒息后引起的缺氧缺血性腦損傷，多見(jiàn)于足月兒，是圍生期足月兒腦損傷最常見(jiàn)的原因[1-2]，可引起不同程度的神經(jīng)系統(tǒng)損害，遺留程度不等的神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥，如智力落后、視聽(tīng)功能障礙、癲癇、腦性癱瘓等，已成為小兒致殘的主要疾病之一，給患兒家庭及社會(huì)帶來(lái)嚴(yán)重的危害[3-5]。新生兒腦干聽(tīng)覺(jué)誘發(fā)電位(brainstem auditory evoked potential，BAEP)和閃光視覺(jué)誘發(fā)電位(flash visual evoked potential，F(xiàn)VEP)聯(lián)合檢測(cè)能早期客觀地反映嬰幼兒腦干聽(tīng)覺(jué)神經(jīng)通路、視覺(jué)神經(jīng)通路的整體功能和發(fā)育程度，是一種操作簡(jiǎn)便、無(wú)創(chuàng)、客觀性強(qiáng)、易重復(fù)的檢查方法，且不受睡眠、意識(shí)狀態(tài)、藥物等的影響，特別適用于嬰幼兒[2]。本研究旨在通過(guò)對(duì)HIE患兒進(jìn)行BAEP和FVEP聯(lián)合檢測(cè)，明確HIE患兒腦損傷程度、聽(tīng)力損傷程度及大致?lián)p傷部位，為HIE患兒腦損傷診斷、預(yù)后評(píng)估、療效評(píng)判、指導(dǎo)治療提供幫助。

1 資料與方法

1.1一般資料選擇2016年5月至2017年6月新鄉(xiāng)市中心醫(yī)院兒科收治的HIE患兒40例(HIE組)，男28例，女12例，胎齡≥37周，出生體質(zhì)量≥2 500 g；發(fā)病原因：宮內(nèi)窘迫18例，出生窒息12例，羊水渾濁6例，臍帶繞頸4例；發(fā)病時(shí)間：生后1～12 h者25例，12～24 h者10例，24～72 h者5例；HIE臨床分度[6]：輕度21例，中度12例，重度7例。選擇同期于新鄉(xiāng)市中心醫(yī)院誘發(fā)電位室進(jìn)行BAEP和FVEP檢測(cè)的健康足月新生兒20例作為對(duì)照組，其中男12例，女8例，胎齡≥37周，出生體質(zhì)量≥2 500 g。2組新生兒的性別、胎齡、出生體質(zhì)量比較差異均無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P>0.05)，具有可比性。本研究通過(guò)醫(yī)院倫理委員會(huì)批準(zhǔn)，所有新生兒監(jiān)護(hù)人簽訂知情同意書(shū)。

1.2新生兒BAEP、Ⅴ波閾值及FVEP檢測(cè)2組新生兒于出生后20 d使用英國(guó)牛津公司生產(chǎn)的二通道型肌電、誘發(fā)電位儀進(jìn)行BAEP、Ⅴ波閾值、FVEP聯(lián)合檢測(cè)。于剝奪睡眠后給予肌注苯巴比妥鈉進(jìn)入深睡眠后檢測(cè)。(1)BAEP檢測(cè)：記錄電極置于頭頂中央，參考電極置于同側(cè)耳后乳突，通過(guò)聽(tīng)力學(xué)耳機(jī)給予短聲刺激，刺激頻率10 Hz，脈沖寬 100 ms，刺激強(qiáng)度90 dB，帶通范圍100～2 000 Hz，分析時(shí)間為 10 ms，對(duì)側(cè)耳以-40 dB白噪聲掩蔽，每耳最少測(cè)試2次。(2)Ⅴ波閾值檢測(cè)：記錄電極置于頭頂中央，參考電極置于同側(cè)耳后乳突，通過(guò)聽(tīng)力學(xué)耳機(jī)給予短聲刺激，刺激頻率10 Hz，脈沖寬 100 ms，帶通范圍100～2 000 Hz，分析時(shí)間為 10 ms，對(duì)側(cè)耳以-30 dB白噪聲掩蔽，從90 dB依次遞減 10 dB，降至最小可分辨Ⅴ波時(shí)的分貝數(shù)為Ⅴ波閾值。若90 dB未引出波形，依次遞升10 dB至 120 dB，如仍未引出波形提示完全性耳聾；每耳最少測(cè)試2次。(3)FVEP檢測(cè)：記錄電極置于頭枕部中央，參考電極置于對(duì)側(cè)耳后乳突，在黑暗中進(jìn)行，雙眼通過(guò)發(fā)光二極管眼罩分別給予1 Hz刺激，每眼最少測(cè)試2次。

2 結(jié)果

2組新生兒出生20 d時(shí)BAEP、Ⅴ波閾值及FVEP檢測(cè)結(jié)果見(jiàn)表1。HIE組新生兒BAEP中Ⅰ、Ⅲ、Ⅴ波的潛伏期及Ⅰ～Ⅲ、Ⅲ～Ⅴ、Ⅰ～Ⅴ峰間期顯著長(zhǎng)于對(duì)照組，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)；HIE組新生兒BAEP中Ⅰ、Ⅲ、Ⅴ波的波幅顯著低于對(duì)照組，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)；HIE組新生兒BAEP中Ⅴ波閾值顯著高于對(duì)照組，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)；HIE組新生兒FVEP主波潛伏期顯著長(zhǎng)于對(duì)照組，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)。

表12組新生兒出生20d時(shí)BAEP、Ⅴ波閾值及FVEP比較

組別nBAEP潛伏期/msⅠ波Ⅲ波Ⅴ波BAEP波幅/μVⅠ波Ⅲ波Ⅴ波BAEP峰間期/msⅠ～ⅢⅢ～ⅤⅠ～ⅤⅤ波閾值/dBFVEP主波潛伏期/ms對(duì)照組201.60±0.144.35±0.126.80±0.080.48±0.120.43±0.110.45±0.112.70±0.062.25±0.124.72±0.1240.03±10.00200.14±20.34HIE組402.05±0.164.80±0.157.10±0.160.22±0.080.21±0.070.23±0.072.95±0.262.50±0.065.20±0.1580.26±30.00260.35±40.25t4.0814.5204.8434.5924.3204.6734.2154.3514.1255.6225.237P<0.05<0.05<0.05<0.05<0.05<0.05<0.05<0.05<0.05<0.05<0.05

3 討論

新生兒HIE是小兒神經(jīng)系統(tǒng)常見(jiàn)的疾病，由圍生期窒息引起的缺氧、腦血流減少導(dǎo)致胎兒或新生兒腦損傷[7-8]，近年來(lái)，圍產(chǎn)醫(yī)學(xué)迅速發(fā)展，在分娩中發(fā)生窒息的患兒多數(shù)被及時(shí)搶救，存活率逐漸上升，而神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥有增高趨勢(shì)[1]。因此，早期診斷、早期治療對(duì)降低HIE新生兒致殘率至關(guān)重要。HIE新生兒的大腦病理改變是選擇性神經(jīng)元壞死，矢狀旁區(qū)腦組織損傷及基底節(jié)和丘腦的大理石紋樣改變，這些結(jié)構(gòu)變化對(duì)患兒腦髓質(zhì)化和髓鞘形成造成影響，從而引起新生兒中樞神經(jīng)系統(tǒng)損害[9]。腦組織不同程度的缺氧缺血引起腦細(xì)胞受損，各種神經(jīng)核團(tuán)、神經(jīng)纖維發(fā)生一系列病理生理變化，從而發(fā)生腦電活動(dòng)改變和神經(jīng)傳導(dǎo)變化[2]，引起聽(tīng)覺(jué)誘發(fā)電位、Ⅴ波閾值、視覺(jué)誘發(fā)電位異常。

BAEP可準(zhǔn)確記錄聲波刺激后聽(tīng)覺(jué)傳導(dǎo)系統(tǒng)所產(chǎn)生的一系列電位反應(yīng)，BAEP的Ⅰ波起源于聽(tīng)神經(jīng)，其潛伏期反映外周傳導(dǎo)時(shí)間；Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ波分別源自耳蝸核、上橄欖核、外側(cè)丘系和中腦下丘，它們的潛伏期受外周傳導(dǎo)時(shí)間和中樞傳導(dǎo)時(shí)間的雙重影響；而峰間期則反映中樞傳導(dǎo)時(shí)間，可見(jiàn)HIE新生兒既有外周聽(tīng)覺(jué)障礙，又有腦干中樞損傷[10-11]。BAEP穩(wěn)定出現(xiàn)者為Ⅰ、Ⅲ、Ⅴ波。Ⅰ～Ⅲ對(duì)應(yīng)聽(tīng)神經(jīng)與橋延交界處的傳導(dǎo)，Ⅲ～Ⅴ對(duì)應(yīng)橋腦上方與中腦部分傳導(dǎo)[12]，依據(jù)其波形分化、缺如及潛伏期、峰間期可判斷聽(tīng)覺(jué)通路的周?chē)詡鲗?dǎo)功能和腦干中樞傳導(dǎo)功能，推測(cè)腦干聽(tīng)覺(jué)神經(jīng)通路是否有損傷及損傷程度。本研究結(jié)果顯示，與對(duì)照組比較，HIE組新生兒BAEP中Ⅰ、Ⅲ、Ⅴ波的潛伏期及Ⅰ～Ⅲ、Ⅲ～Ⅴ、Ⅰ～Ⅴ峰間期延長(zhǎng)；說(shuō)明HIE新生兒均有不同程度的聽(tīng)覺(jué)神經(jīng)通路傳導(dǎo)功能異常。V波閾值是指給予短聲刺激，從強(qiáng)度90 dB開(kāi)始，以10 dB遞減強(qiáng)度刺激，降至最小可分辨Ⅴ波時(shí)的分貝數(shù)。Ⅴ波閾值增高超過(guò)正常范圍提示中腦損傷和聽(tīng)力障礙，閾值越高，中腦損傷和聽(tīng)力障礙越嚴(yán)重。本研究結(jié)果顯示，HIE組新生兒BAEP中Ⅴ波閾值顯著高于對(duì)照組；說(shuō)明新生兒缺氧缺血時(shí)容易導(dǎo)致中腦下部損害，并造成患兒聽(tīng)力障礙。

視網(wǎng)膜受閃光刺激后分為2個(gè)通路傳導(dǎo)，其一為神經(jīng)節(jié)細(xì)胞的Y細(xì)胞軸突投射到外側(cè)膝狀體和中腦上丘、丘腦達(dá)頂葉皮層；另一通路為視網(wǎng)膜X細(xì)胞軸突投射到外側(cè)膝狀體、視放射達(dá)枕葉視中樞。FVEP是視網(wǎng)膜受閃光刺激后在頂葉及枕葉視皮層產(chǎn)生的電活動(dòng)，包括一系列陽(yáng)性波和陰性波[11，13-14]。P主波具有波幅較大、容易記錄等特點(diǎn)，能客觀反映視網(wǎng)膜至頂葉及枕葉視皮層視覺(jué)傳導(dǎo)通路的功能，根據(jù)其波形分化、波幅及潛伏期變化，可了解視網(wǎng)膜至視覺(jué)皮層中樞神經(jīng)通路是否完整，從而推斷視覺(jué)皮層中樞是否損害。本研究結(jié)果顯示，HIE組新生兒FVEP主波潛伏期顯著長(zhǎng)于對(duì)照組；提示HIE新生兒存在視覺(jué)神經(jīng)通路損傷。

綜上所述，BAEP和FVEP聯(lián)合檢測(cè)可以準(zhǔn)確評(píng)估HIE新生兒腦損傷及聽(tīng)力損傷程度，對(duì)新生兒HIE的早期診斷、病情評(píng)估及指導(dǎo)治療具有重要意義。

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