周舒
1概述
微波技術(shù)的飛速發(fā)展,對(duì)天線、微波元器件的要求在航空、航天、通訊技術(shù)與信息技術(shù)等高科技領(lǐng)域隨之提高,從而也催生了微波材料在這些領(lǐng)域中的廣泛應(yīng)用,研究微波材料也有越來(lái)越重要的意義和實(shí)用價(jià)值;
目前市場(chǎng)上絕大部分微波材料生產(chǎn)商都無(wú)法提供準(zhǔn)確的微波材料的介電常數(shù),并且工作環(huán)境溫度會(huì)隨著微波器件上工作功率的提高而上升,這時(shí)候就需要得到隨溫度變化的微波材料介電常數(shù),另外介電常數(shù)和磁導(dǎo)率通常會(huì)隨著溫度和頻率的變化而發(fā)生改變;在微波元器件中,功率升高,也會(huì)使其溫度升高,用于微波元器件中的微波材料工作溫度發(fā)生變化,影響了微波元器件正常工作,因此提出了微波材料介電常數(shù)變溫測(cè)試技術(shù),本文將主要介紹微波材料寬頻段內(nèi)介電常數(shù)的變溫測(cè)量問題。
2 測(cè)量方法
Nicolson、Ross和Weir等科學(xué)家在上世紀(jì)七十年代提出了一種電磁參數(shù)測(cè)試的方法,即NRW[1,2]法,也就是我們熟悉的傳輸/反射法。
傳輸/反射法是將被測(cè)樣品放置于傳輸線(矩形波導(dǎo)或同軸線)中,利用二端口網(wǎng)絡(luò)特性將測(cè)試夾具等效為一個(gè)雙端口網(wǎng)絡(luò),通過(guò)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量這個(gè)二端口網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)絡(luò)參數(shù),利用電磁參數(shù)與散射參數(shù)之間的關(guān)系反演得到被測(cè)材料的復(fù)介電常數(shù),從而達(dá)到了將電磁參數(shù)測(cè)試問題歸結(jié)為互易雙端口網(wǎng)絡(luò)散射參數(shù)的測(cè)試問題。
圖2-1所示為同軸傳輸線待測(cè)件測(cè)量示意圖,同軸傳輸線中放入相對(duì)復(fù)介電常數(shù)為,長(zhǎng)度為的待測(cè)材料樣品,沒填充被測(cè)材料部分的介質(zhì)介電常數(shù)為。
其中,待測(cè)材料兩端到測(cè)量端口一、二的距離分別為d1、d2,介電常數(shù)為的傳輸線段的特性阻抗為,長(zhǎng)為l的待測(cè)材料段的特性阻抗為,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)得待測(cè)材料樣品兩端的S參數(shù),利用反射系數(shù)和傳輸系數(shù)與S參數(shù)、介電常數(shù)的關(guān)系,最終反演出待測(cè)材料的復(fù)介電常數(shù)[3,4]。
3 測(cè)試系統(tǒng)
變溫測(cè)試系統(tǒng)的溫度控制系統(tǒng)選用了成熟的溫度控制儀RKC-CH102,配合熱電偶溫度傳感器和加熱棒使用,共同實(shí)現(xiàn)對(duì)溫度的加熱和控制,因?yàn)閷?duì)介質(zhì)材料進(jìn)行高溫測(cè)量(最高達(dá)200℃),所以隔熱部分和散熱部分[5]目的是將待測(cè)件的溫度降至矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀端口的使用溫度(-20℃~50℃),如圖3-1所示,其中待測(cè)件DUT包括了溫度加熱和控制部分。
4 測(cè)試結(jié)果
利用該測(cè)試系統(tǒng)首先對(duì)已知介電常數(shù)的材料空氣(介電常數(shù)實(shí)部為1)進(jìn)行了復(fù)介電常數(shù)常溫測(cè)試,然后再對(duì)粉末材料進(jìn)行了室溫~200℃,頻率1~18GHz的變溫復(fù)介電常數(shù)測(cè)試。
4.1 常溫測(cè)試
本文先對(duì)空氣進(jìn)行了室溫測(cè)試,測(cè)試結(jié)果如圖4-1所示
由圖4-1可以看出,在常溫條件下,對(duì)空氣進(jìn)行了五次測(cè)量,其相對(duì)介電常數(shù)偏差不大,重復(fù)性很好。
4.2 粉末材料變溫測(cè)試結(jié)果
測(cè)量范圍:室溫~200℃,頻率1~18GHz,每隔50℃取一個(gè)點(diǎn),將得到的數(shù)據(jù)繪成溫度特性曲線如圖4-2所示。
如圖4-2所示,某粉末材料模擬在室溫~200℃范圍內(nèi)一般隨著溫度的升高而升高。
5 總結(jié)
本文主要以同軸傳輸線理論為基礎(chǔ),主要研究在頻段(1~18GHz)、室溫~200℃內(nèi)粉末材料的介電常數(shù)測(cè)量,確定了使用同軸傳輸線作為測(cè)試夾具,通過(guò)MATLAB軟件編程反演幾種常見材料的介電常數(shù),證明了本文所使用反演算法的可行性,最終完成了粉末材料的變溫介電常數(shù)測(cè)試?!?/p>
參考文獻(xiàn)
[1]Nicolson A. M, Ross G. F. Measurement of the Intrinsic Properties of Materials by Ti-me Domain Techniques. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,1970,4(19):377-382.
[2]Weir WB. Automatic measurement of complex dielectric constant and permeability at microwave frequencies. Proceedings of the IEEE 1974, 1(62):33-36.
[3]田步寧,劉其中,楊德順,等.傳輸/反射法測(cè)量復(fù)介電常數(shù)的三個(gè)方程研究[N].宇航學(xué)報(bào),2002.9.
[4]趙才軍,蔣全興,景莘慧.改進(jìn)的同軸傳輸/反射法測(cè)量復(fù)介電常數(shù)[N].儀器儀表學(xué)報(bào),2011,3.
[5]李恩.吸波材料電磁參數(shù)在X波段的變溫測(cè)試[D]. 成都:電子科技大學(xué),2003.