線條狀痕跡檢驗方法探究

宋 健

（遼寧警察學院 刑事技術(shù)系， 遼寧 大連 116033）

線條狀痕跡檢驗方法探究

宋 健

（遼寧警察學院 刑事技術(shù)系， 遼寧 大連 116033）

線條狀痕跡是刑事案件現(xiàn)場中常見的痕跡之一，對于線條狀痕跡的檢驗往往應用比對顯微鏡來進行。比對顯微鏡是光學顯微鏡，受放大倍數(shù)、分辨率、景深和光照影響，觀察粗大明顯線條痕跡效果較好，對于更微區(qū)的線條狀痕跡以及少量的線條狀痕跡就沒有能力檢測，掃描電鏡具有高放大率，高分辨率，而且不受光照影響。檢驗線條狀痕跡效果好，方法簡便。

掃描電鏡；少量線條狀痕跡；微區(qū)線條狀痕跡

一、前 言

隨著我國新刑事訴訟法的實施，物證檢驗鑒定工作愈來愈重要。光學檢驗技術(shù)因其操作簡便、科學直觀、不破壞檢驗材料，在物證檢驗鑒定工作中的應用極為廣泛，掃描電子顯微鏡簡稱“SEM”，是采用電子束做光源，利用高能量電子束轟擊樣品表面激發(fā)出樣品表面的各種物理信號，再利用不同的信號探測器接收物理信號轉(zhuǎn)換成圖像信息,其分辨率能達到十幾個納米，因此電子顯微鏡的組織觀察屬于納米級分析。從國內(nèi)外刑事技術(shù)領域研究來看，掃描電鏡絕大多數(shù)都應用在刑事化驗領域，主要是油漆，射擊殘留物的檢驗等，在樣品成分的分析上應用很多。而對樣品形貌的分析應用很少，尤其在痕跡檢驗上還沒有應用。本文既是掃描電鏡應用領域的又一個開發(fā)，又是有效解決數(shù)量少的微小線條狀痕跡的檢驗方法，在實際應用中有著極其重要的意義。

二、理論部分

（一）線條狀痕跡的檢驗

線條狀痕跡是刑事案件現(xiàn)場中常見的痕跡之一，對于線條狀痕跡的檢驗往往應用比對顯微鏡來進行。比對顯微鏡是光學顯微鏡，放大倍數(shù)通常在50-500之間，由于光學顯微鏡采用可見光作光源，利用幾何光學成像原理進行成像，由于光的干涉和衍射作用，分辨率只能局限于0.2-0.5微米之間，景深在2-3微米之間。所以，光學顯微鏡觀察粗大明顯線條狀痕跡效果較好，對于更微區(qū)的線條狀痕跡就沒有能力檢測，因為觀察微小的線條狀痕跡要求顯微鏡有最大限度的景深，盡可能寬的放大倍率范圍和高的分辨率，而且不受光照影響。

而在案件現(xiàn)場中，線條狀痕跡的產(chǎn)生除了受作用力的大小、方向、角度影響，還與承痕客體表面的性質(zhì)有關(guān)?？衫玫拇执竺黠@的線條較少，對于微小的線條痕跡，光學顯微鏡就失去了作用，使這類痕跡失去了檢驗的價值，往往影響案件的偵破。

經(jīng)過研究我們發(fā)現(xiàn)掃描電鏡可以解決這個問題。掃描電鏡的特點是高放大率，高分辨率，不受光照影響，檢驗速度快。掃描電鏡的實用放大倍數(shù)在30-300,000倍之間。掃描電鏡的景深可達到幾個毫米，對樣品的光滑程度沒有任何要求，樣品幾乎無需制樣。所以，對于線條數(shù)量少的物證，掃描電鏡能夠檢驗，能夠把一個微小的線條放大到幾千倍，看到里面更微區(qū)的線條，我們可以把微小線條逐級分為次微小線條，小線痕，次小線痕等。然后用專用軟件進行線條對接。

（二）具體研究內(nèi)容

1.利用掃描電鏡檢驗彈殼微小線條狀痕跡，再利用專用軟件進行拼接。

2.利用掃描電鏡檢驗剪切微小線條狀痕跡，再利用專用軟件進行拼接。

3.利用掃描電鏡檢驗其它工具產(chǎn)生的微小線條狀痕跡，再利用專用軟件進行拼接。

4.對微小線條狀痕跡數(shù)量和形態(tài)進行觀察。

5.對微小線條狀痕跡重復概率進行研究。

三、實驗部分

（一）實驗方法

1.槍彈痕跡的檢驗。選取十支性能可靠、發(fā)射狀態(tài)穩(wěn)定的九二式9mm手槍,每支槍分別射擊20顆子彈后，分別將同一槍支射擊的20枚彈殼收集起來。

把同一槍支射擊的子彈分在同一組內(nèi),對每顆子彈分別進行編號，并貼上標簽；以確保實驗結(jié)果的真實準確性。

將同一支槍所發(fā)射的彈殼上的線條狀痕跡在掃描電子顯微鏡下進行觀察、比較，拍照并保存。利用專用軟件進行拼接比對。觀察結(jié)果。

2．剪切痕跡的檢驗。分別選取十把鉗子，家用剪刀，斷線鉗，每把分別剪20個金屬斷頭，分別將同一把剪刀或鉗子剪的的斷頭收集起來。

把同一把剪刀或鉗子剪的斷頭分在同一組內(nèi),對每個斷頭分別進行編號，并貼上標簽；以確保實驗結(jié)果的真實準確性。

將同把剪刀或鉗子所剪的斷頭在掃描電子顯微鏡下進行觀察、比較，拍照并保存。利用專用軟件進行拼接比對，觀察結(jié)果。

利用掃描電鏡檢驗各種客體上的線條狀痕跡，利用專用軟件進行線條狀對接，分析結(jié)果，

（二）實驗結(jié)果

圖1 92式9mm手槍彈匣口線條狀痕跡

圖2 92式9mm手槍拋殼口線條狀痕跡（少量線條）

圖3 剪切線條狀痕跡（工具：剪子）

圖4 剪切線條狀痕跡（單個粗大線條）

四、討 論

1.對各種曲面、光面的線條狀痕跡，可獲得直觀的檢驗結(jié)果。

2.只要客體上存在微小線條狀痕跡，掃描電鏡都可以檢測；

3.數(shù)量少的線條狀痕跡可以放大展開微區(qū)部分進行對接，如圖2。

4.若只有一條粗大明顯的線條，可以單獨放大這個粗大線條，比對微區(qū)的次級粗大線條，如圖4。

五、結(jié) 論

1.對線條狀痕跡的研究深入到更微區(qū)領域，提高了痕跡物證的利用率和準確度；

2.開拓了掃描電子顯微鏡在痕跡領域的應用，利用掃描電鏡檢驗線條狀痕跡，提高了線條狀痕跡的放大倍率和分辨率，同時克服了光照的影響，即可檢驗光亮面線條狀痕跡，也可檢驗曲面線條狀痕跡，增強了微小線條狀痕跡的檢驗靈敏度。建立方便，快捷，無損的檢驗方法。

研究成果可用于實際案件的檢驗，為證實犯罪提供科學的依據(jù)，真正服務于基層辦案。同時為痕跡檢驗發(fā)展方向及掃描電鏡的應用領域提供了新思路。

[1]張大同．掃描電鏡與能譜儀分析技術(shù)[M]．廣州：華南理工大學出版社，2009．

[2]焦匯勝，李香庭．掃描電鏡能譜儀及波譜儀分析技術(shù)[M]．長春：東北大學出版社，2011．

[3]鄒龍江．近代材料分析方法實驗教程[M]．大連：大連理工大學出版社，2013

[4]李洪武，呂云平．工具痕跡學[M]．北京：中國人民公安大學出版社，2014．

（責任編輯：李 剛）

Research on Testing Method of Line Trace

SONG Jian
(Department of criminal Technology, Liaoning Police College, Dalian Liaoning 116036, China)

The line shape is one of the common traces in the field of criminal cases, for the inspection of the traces of the line is often used to compare the microscope. Comparison microscope is an optical microscope, the magnification, resolution, depth of field and the effect of light, good observation thick lines for the more obvious effect, micro line traces and a small amount of line like traces have the ability to detect scanning electron microscopy with high resolution, high magnification, and is not affected by illumination. Check the effect of the line shape is good, the method is simple.

scanning electron microscope; a few lines trace; micro area line shape

DF794.1

A

2096-0727(2017)02 -0083-04

2016-11-28

宋 ?。?971-），女，遼寧朝陽人，高級實驗師，學士。研究方向：微量物證和痕跡檢驗。