孛麗娟
(新疆維吾爾自治區(qū)有色地質(zhì)勘查局706隊阿勒泰836500)
發(fā)射光譜法測定化探樣品中錫和鉬的含量
孛麗娟
(新疆維吾爾自治區(qū)有色地質(zhì)勘查局706隊阿勒泰836500)
試樣和緩沖劑按1∶1混合磨勻后裝入石墨電極,Ge為內(nèi)標,在交流電弧激發(fā)下,被測元素發(fā)射出原子光譜,通過測定發(fā)射光譜的光強度,從而測定被測元素的含量。由于地質(zhì)樣品巖性復(fù)雜,而且光譜定量分析流程較長,因此要想提高分析的準確度,必須嚴格要求每一步操作。
發(fā)射光譜法光譜激發(fā)源緩沖劑狹縫掃描
原子發(fā)射光譜是一種多元素分析技術(shù),以固體粉末進樣,可以一次攝譜并同時分析5個元素,可避免溶液制備試樣中的一些缺點,如難溶元素分解不完全(Sn);且可達到較低的檢出限,精密度好和準確度高的技術(shù)指標。運行成本低無需氬氣和氧氣等輔助氣體,主要消耗的是石墨電極。
1.1 儀器工作參數(shù)
1.1.1 電弧發(fā)生器
電流范圍:2A~20A;引燃方式:高壓脈沖;最高輸出峰值電壓:20kV;分析間隙最大起弧距離要求小于7mm。
1.1.2 分光系統(tǒng)
波段范圍:200nm~400nm;波長示值誤差:± 0.05nm;凹面光柵:曲率半徑750mm;色散率:0.55nm∕mm(一級);刻線密度:2400條∕mm。
1.1.3 測控系統(tǒng)
測量方式:分段積分。
1.2 緩沖劑的選擇
采用電弧粉末法進行光譜定量分析時,往往在試樣中加入某些物質(zhì)(如元素的氧化物、鹽類、炭粉、金屬粉末等),以穩(wěn)定弧燒,控制電弧溫度和元素的蒸發(fā)行為,降低被測元素的檢出限和提高測定的準確度和精密度。
緩沖劑是本試液中的重要試劑,其作用有:(1)穩(wěn)定電弧溫度;(2)控制被測元素和內(nèi)標元素的蒸發(fā)行為;(3)稀釋試樣;(4)提高弧燒的穩(wěn)定性;(5)提高元素的測定靈敏度。
(1)電流4A起弧5s后升至14A保持30s,共曝光35s。
(2)樣品激發(fā)時會產(chǎn)生熱,為避免高溫?zé)龎碾姌O夾,需要用冷卻循環(huán)水來冷卻。(冷卻循環(huán)水設(shè)定溫度為20℃±2℃)
(3)攝譜時電極距要調(diào)準,電極成像在2mm光欄,上下電極離光欄的上下邊緣各2mm,以畫線為準。
(1)本實驗采用國家硅酸鹽光譜分析標準物質(zhì)來繪制標準曲線,見表1。
表1 硅酸鹽國家標準物質(zhì)參考值μg/g
(2)常用土壤控樣含量參考值,見表2。
表2 控樣參考值μg/g
兩個部分樣品全部攝完譜后,統(tǒng)一處理數(shù)據(jù),根據(jù)管樣結(jié)果對標準曲線進行校正,其原則:在保證控樣符合誤差要求前提下,還需注意標準點的相關(guān)性,這是保證分析質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。
(1)在選定的儀器條件下,用控樣的測定值來討論方法的精密度,結(jié)果見表3。
由表3可知每個元素進行12個樣品平行測定,相對標準偏差均小于7%。
(2)標準樣品的測定結(jié)果,見表4。
從表4對系列國家一級標準物質(zhì)進行分析,本方法的測定結(jié)果與標準值基本一致,完全能夠滿足化探樣品分析要求。
表3 方法的精密度
表4 標準樣品的測定
5.1 狹縫掃描
在每次建立標準曲線之前,需要先做一次狹縫掃描,以補償晝夜溫差帶來的儀器溫漂。由于環(huán)境溫度較大變化導(dǎo)致金屬本身的自然形變等原因,會造成儀器譜線位置相對于出射狹縫的整體漂移。為了補償這種漂移,用筆形汞燈對入射狹縫進行掃描(進行掃描時關(guān)閉電弧發(fā)生器開關(guān))通過調(diào)整入射狹縫位置對譜線位置進行最優(yōu)調(diào)整。在實際操作中狹縫掃描對Sn的影響很大,溫度越高取峰值越高,反之越小。隨著測樣的增多條件也跟著變,可能峰值也在變,為此一天中會進行多次狹縫掃描。
5.2 內(nèi)標元素
在粉末發(fā)射光譜分析中,為了克服各種樣品基體的影響,采用內(nèi)標法是保證得到準確分析結(jié)果的必要手段,同時內(nèi)標元素的選擇和分析線對的選擇對于基體的補償作用至關(guān)重要。通過實驗,本方法選擇Ge作為內(nèi)標元素,以GeO2的形式加入緩沖劑中。
5.3 溫度的控制
環(huán)境溫度過高或過低都大大影響攝譜譜線的清晰度,所以將溫度控制在25℃左右攝譜效果最好。溫度變化太大,會使儀器焦距產(chǎn)生變化,從而使測試結(jié)果不準確。
[1]李連仲,朱玉倫,何振書,林玉南.巖石礦物光譜分析.地質(zhì)出版社,1975,4.
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[3]巖石礦物分析編寫組.巖石礦物分析(第二分冊)(M).3版.北京:地質(zhì)出版社,1991.
[4]朱明華.儀器分析.第三版.高等教育出版社,2000.7.
[5]發(fā)射光譜分析編寫組.發(fā)射光譜分析[M].北京:冶金工業(yè)出版社,1977.
收稿:2015-03-26
10.16206∕j.cnki.65-1136∕tg.2015.05.018