后驅(qū)動(dòng)技術(shù)在電子測(cè)試維修中的應(yīng)用

摘 要：電子測(cè)試技術(shù)，能測(cè)得各時(shí)段的電量、電路內(nèi)的非電量。這類測(cè)試及關(guān)聯(lián)的維修，可以辨識(shí)電子產(chǎn)品表現(xiàn)出來的多樣特性，是不可缺失的。電子測(cè)試領(lǐng)域、電子維修領(lǐng)域，采納便捷的、有著成效特性的后驅(qū)動(dòng)技術(shù)，可以縮減耗費(fèi)掉的測(cè)試總時(shí)間，減小修護(hù)成本。本文探析了后驅(qū)動(dòng)特有的技術(shù)運(yùn)用，摸索運(yùn)用思路。

關(guān)鍵詞：后驅(qū)動(dòng)技術(shù)；電子測(cè)試維修；具體應(yīng)用

常規(guī)運(yùn)用之中，電子器件常常顯出故障。傳統(tǒng)路徑的測(cè)試之中，辨識(shí)故障耗費(fèi)的時(shí)段偏長(zhǎng)，同時(shí)很難辨別。本文采納了新穎的后驅(qū)動(dòng)技術(shù)，解析了在線測(cè)試范疇內(nèi)的隔離難題。后驅(qū)動(dòng)關(guān)聯(lián)著的技術(shù)應(yīng)被推廣采納，對(duì)于細(xì)分出來的各類器件，都要明晰安全容限。對(duì)于未來時(shí)段的運(yùn)用狀態(tài)予以展望，以便推廣這一優(yōu)良技術(shù)。

1 慣用測(cè)試途徑的弊病

1.1 常用測(cè)試流程

電子設(shè)備維修，包含電路板架構(gòu)內(nèi)的偏多故障。統(tǒng)計(jì)數(shù)值表示：總體故障之中，配件故障占到了超出95%；時(shí)序故障常常超出4%[1]。此外，故障還含有虛焊狀態(tài)、其他狀態(tài)等。在最短時(shí)段內(nèi)辨別出故障根源，選用化解途徑，是電子維修范疇內(nèi)的側(cè)重點(diǎn)。

通常狀態(tài)下，電子故障可分成參數(shù)故障、各類性能故障。在這之中，性能故障指代某一配件沒能擁有設(shè)定好的完備性能，例如放大性能、反向性能等。電子參數(shù)故障，是配件擁有某一性能，但沒能完全凸顯出來。例如：放大器應(yīng)有的精準(zhǔn)程度被縮減，或者反相器應(yīng)有的扇出特性被縮減。

電子故障會(huì)被折射在平日之中的輸出輸入、其他性能之上。若某一端口凸顯了故障，則要著手查驗(yàn)成套的這種線路板。一旦發(fā)覺故障點(diǎn)，則可以修復(fù)。慣用流程中，采納萬用表及搭配著的示波器予以手動(dòng)測(cè)定。這種步驟耗費(fèi)的時(shí)段偏長(zhǎng)，后續(xù)修復(fù)繁瑣。同時(shí)，測(cè)試者應(yīng)能熟識(shí)概要的測(cè)試機(jī)理，擁有足量經(jīng)驗(yàn)。測(cè)試水準(zhǔn)都會(huì)帶有差異，測(cè)得數(shù)值也含有偏大的差值，常常出現(xiàn)誤判。

1.2 測(cè)試中的缺陷

最近幾年，電路板固有的架構(gòu)漸漸變得復(fù)雜；電子配件凸顯了更高層級(jí)的集成特性。若沿用慣用的思路，則會(huì)面對(duì)疑難。例如：初始出廠時(shí)，電子配件搭配著說明書，但沒能配有根本機(jī)理的圖例，或者成套的PCB圖例。缺失可參照的圖例，增添后續(xù)困難。配件集成水準(zhǔn)很高，分立電路采納的測(cè)試步驟偏單一，測(cè)試成效不佳，實(shí)效不夠凸顯[2]。

此外，若要測(cè)得某一電子配件的多樣性能，則應(yīng)在線測(cè)定。這種狀態(tài)下，對(duì)于體系架構(gòu)內(nèi)的其他配件予以隔離，但不可毀損配件，這也添加了技術(shù)范疇的疑難。為了縮減周期，減小必備耗費(fèi)，就要著手去摸索新穎的測(cè)試途徑，推廣并且采納。

2 新穎技術(shù)機(jī)理

后驅(qū)動(dòng)特有的根本內(nèi)涵，來自施倫伯格公司，這類技術(shù)常常用于平日內(nèi)的在線測(cè)定，用于數(shù)字電路。在這之后，后驅(qū)動(dòng)特有的技術(shù)被整合在配件修護(hù)之中，擬定嚴(yán)格規(guī)范。后驅(qū)動(dòng)緊密關(guān)系著節(jié)點(diǎn)特有的偏強(qiáng)驅(qū)動(dòng)。著手測(cè)試時(shí)，為篩選出來的待測(cè)配件設(shè)定某一輸入引腳，定義邏輯狀態(tài)。與之密切關(guān)聯(lián)的對(duì)應(yīng)引腳，可以被忽略掉。

后驅(qū)動(dòng)增設(shè)了半導(dǎo)體特有的構(gòu)件，準(zhǔn)許瞬時(shí)過載。被測(cè)配件對(duì)應(yīng)著的驅(qū)動(dòng)芯片，可以接納瞬時(shí)態(tài)勢(shì)下的偏強(qiáng)電流。依照測(cè)試規(guī)則，這類電流持續(xù)變更。邏輯隔離特有的思路之下，阻隔了被測(cè)配件彼此凸顯的影響[3]。后驅(qū)動(dòng)特有的運(yùn)用范疇，是在線架構(gòu)下的電隔離、物理隔離等。這種隔離并不帶有破壞的特性，可以依次來查驗(yàn)在線布設(shè)的IC配件，辨別電子配件特有的若干性能。

數(shù)字電路之內(nèi)，節(jié)點(diǎn)電位緊密關(guān)聯(lián)著前一層級(jí)內(nèi)的驅(qū)動(dòng)輸出，而非被驅(qū)動(dòng)范疇中的電子輸出。依照技術(shù)機(jī)理，若能變更輸出來的某一節(jié)點(diǎn)電流，即可調(diào)節(jié)電壓。高電平狀態(tài)下，電流顯示出來的傾向?yàn)檩敵?；低電平之下，這類趨勢(shì)為電流流入。

3 維修及測(cè)試之中的運(yùn)用

3.1 必備測(cè)試技術(shù)

TTL架構(gòu)下的電路被歸類為輸出級(jí)這樣的電路。深度飽和態(tài)勢(shì)下，它含有偏低數(shù)值的電平，這類電平可被看成飽和壓降，它應(yīng)被控制為0.3V。飽和狀態(tài)下，若從設(shè)定好的輸出端添加足量的電流，電子配件常會(huì)脫離飽和，增添輸出電平。也就是說，若送入了某一數(shù)值的足夠電流，強(qiáng)迫初始的低電平變更為偏高的電平。采用相反途徑，則可獲取低電平[4]。

3.2 辨識(shí)安全容限

后驅(qū)動(dòng)含有雙重的狀態(tài)：采用強(qiáng)制辦法，把邏輯路徑內(nèi)的高電平扭轉(zhuǎn)為對(duì)應(yīng)的偏低電平；與之相反，把初始的低電平轉(zhuǎn)變?yōu)楦叩碾娖?。雙重情況之下，后驅(qū)動(dòng)都帶來足量的電流，提升了輸出配件的初始溫度。這類偏高溫度，常常損毀了電子配件，帶來基線熔斷。受到構(gòu)造影響，輸出來的體系電流也被設(shè)定了明晰的限度。后一種情形下，電流并沒能設(shè)定這樣的限度，經(jīng)由的電流還是偏大的，威脅到了電子配件。然而應(yīng)當(dāng)注意，電流上升并非代表著后續(xù)的升溫，還應(yīng)考量耗費(fèi)的總時(shí)段，即后驅(qū)動(dòng)搭配著的脈沖周期。若設(shè)定了偏小的這類周期，那么后驅(qū)動(dòng)關(guān)聯(lián)著的電流并不會(huì)帶來偏大范疇的溫度升高，不會(huì)毀損配件。

電流測(cè)試設(shè)定了某一閾值，閾值關(guān)系著測(cè)試時(shí)段中的低電平、對(duì)應(yīng)的高電平，可分成松緊兩類。具體而言，偏緊的閾值關(guān)聯(lián)著擬定的測(cè)試指標(biāo)，偏松的這類閾值擬定了很低的測(cè)試要求。此外，后驅(qū)動(dòng)范疇的電流流經(jīng)時(shí)段也被限制?，F(xiàn)有規(guī)定之中，管腳特有的驅(qū)動(dòng)器可以接納750毫安這一電流，作用時(shí)段應(yīng)被控制為60毫秒。在線架構(gòu)下的電流測(cè)定儀器，都把擬定好的電流縮減為500毫安，搭配的測(cè)試時(shí)段常被設(shè)定了15毫秒[5]。這種設(shè)定數(shù)值，維持了測(cè)試時(shí)段中的電子配件安全。

3.3 篩選測(cè)試實(shí)例

考量安全特性，調(diào)整了固有的多重參數(shù)。對(duì)于體系電路，實(shí)現(xiàn)安全注入。測(cè)驗(yàn)電路之中，晶體管被設(shè)定了100倍特有的放大倍數(shù)，四個(gè)電阻特有的電阻數(shù)值被擬定為1千歐、2.8千歐、1.7千歐及1.4千歐。強(qiáng)制擬定了高電平時(shí)，電路端口初始的電壓快速升高至5V，滿足設(shè)定規(guī)格，超出了設(shè)定的3.5V。在這之后，把原有的電平再次變更為低電平。故障注入之時(shí)，電壓被快速縮減至0.06V；體系內(nèi)的拉出電流被測(cè)定為69mA[6]。

由此可以得到：對(duì)于選出來的電路可以設(shè)定特有的故障查驗(yàn)及測(cè)定。這類故障測(cè)定，含有上位機(jī)表現(xiàn)出來的處理結(jié)果、界面顯示結(jié)果。故障注入時(shí)段中，在電路內(nèi)添加某一BIT，即可辨別出精準(zhǔn)的故障點(diǎn)。除此以外，注入終結(jié)之后，電子構(gòu)件即可恢復(fù)平日內(nèi)的供電狀態(tài)。設(shè)定測(cè)試接口，常常帶來冗余范疇的電子硬件，對(duì)于某些體系并不適宜。為此，后驅(qū)動(dòng)路徑之下可以分辨出等電勢(shì)線，然后用來注入。這樣就省掉了插拔芯片，省去有關(guān)接口，只要銜接管腳即可。

4 智能特性的適配器

智能化狀態(tài)下的適配器，建構(gòu)在上位、下位運(yùn)算的根基上，它顯示了高層級(jí)的靈活特性。這類適配器設(shè)定了組態(tài)，在這之中，上位機(jī)被看成宿主機(jī)；下位機(jī)被看成故障注入依托的設(shè)備，它構(gòu)建了內(nèi)核。體系軟件帶有故障管理的特性，它被布設(shè)在宿主機(jī)之上，用來調(diào)配參數(shù)、控制平常加載、處理數(shù)值結(jié)果。適配體系之中，故障注入器被歸類為中心。它把調(diào)制好的某一模式添加至總體的電路以內(nèi)，以便凸顯未來時(shí)段的故障干擾，表現(xiàn)出這一故障的多重影響。對(duì)于電子測(cè)試，常常設(shè)定固有的成套模式。把模式帶入完備的性能體系，查驗(yàn)維修性能[7]。

故障注入細(xì)分的途徑含有兩類：第一類別是模擬軟件，在銜接好的電路之上建構(gòu)明晰的數(shù)學(xué)模型，采納軟件仿真來設(shè)定多重的激勵(lì)參數(shù)。調(diào)研仿真結(jié)果，以便查驗(yàn)電子配件的故障干擾。這類流程建構(gòu)在模型的根基上，實(shí)時(shí)性并不優(yōu)良，可信層級(jí)偏低。另一個(gè)類別，是物理情形下的電子模擬：對(duì)于電路添加激勵(lì)，包含物理注入、對(duì)應(yīng)的軟件注入。

在軟件注入中，模仿了寄存器范疇中的數(shù)據(jù)，以便注入故障，這種途徑帶有凸顯的實(shí)時(shí)傾向；可被模擬的范疇也是偏小的。物理注入整合了電源擾動(dòng)、管腳注入方式、重離子特有的擊穿方式。對(duì)于后面兩類，常常只適宜電路集成特有的廠商。為此實(shí)踐之中，常會(huì)采納管腳注入。這種狀態(tài)之下，電子體系之內(nèi)的配套故障模式，都等同管腳狀態(tài)。

5 未來進(jìn)展走向

后驅(qū)動(dòng)關(guān)聯(lián)的技術(shù)拓展，促進(jìn)儀器開發(fā)，它拓展了電子配件測(cè)試、配件維修必備的新路徑，變更慣用的流程。在線電子測(cè)定，也包含在這一技術(shù)范疇中。采用測(cè)試儀時(shí)，先要建構(gòu)完備的程序庫(kù)。瞬時(shí)狀態(tài)下，采納強(qiáng)制途徑以便輸出某一信號(hào)。這類信號(hào)被添加在體系內(nèi)的輸入端，測(cè)得數(shù)值為真實(shí)態(tài)勢(shì)下的輸出信號(hào)。通過代碼對(duì)比，若顯示數(shù)值是一致的，那么反映出這一電子器件固有的性能是正常的；若數(shù)值不一致，表示性能異常[8]。

后驅(qū)動(dòng)必備的測(cè)試儀整合了強(qiáng)大性能，它融匯了測(cè)試庫(kù)，可以辨識(shí)多樣的電子構(gòu)件。例如：可測(cè)定的配件含有多規(guī)格的驅(qū)動(dòng)器、電子集成運(yùn)放、穩(wěn)壓配件及成套的比較器、其他電子構(gòu)件。在線測(cè)試辨識(shí)了配件的根本性能，描畫出來的曲線含有VI曲線、型號(hào)辨識(shí)必備的曲線、存儲(chǔ)測(cè)試曲線。此外，還能供應(yīng)電路板搭配的網(wǎng)絡(luò)圖。

6 結(jié)語

電子測(cè)試特有的平日實(shí)踐表明：在線測(cè)試建構(gòu)在后驅(qū)動(dòng)這一技術(shù)根基上，擁有廣闊前景。這類測(cè)試步驟，縮減了常規(guī)路徑下的測(cè)試時(shí)間，恢復(fù)器件能力。與此同時(shí)，它也省掉了冗余的金額支出，提升測(cè)試成效。現(xiàn)存基礎(chǔ)之上，還應(yīng)延展原有的技術(shù)思路，提升原有精度。唯有如此，才能支撐多重的配件測(cè)試，有序完善技術(shù)。

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作者簡(jiǎn)介

韓亞輝（1983-），籍貫：河北，新疆庫(kù)爾勒市巴音郭楞職業(yè)技術(shù)學(xué)院 機(jī)械電氣工程學(xué)院；研究方向：電子信息科學(xué)與技術(shù)