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      基于NI ELVIS的光纖位移傳感實(shí)驗(yàn)平臺(tái)設(shè)計(jì)

      2014-10-20 08:26:30莫文琴
      實(shí)驗(yàn)室研究與探索 2014年6期
      關(guān)鍵詞:傳感光纖電路

      莫文琴, 任 迎

      (中國地質(zhì)大學(xué)(武漢)機(jī)械與電子信息學(xué)院,湖北 武漢 430074)

      0 引言

      隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)快速發(fā)展,虛擬儀器逐漸改變了傳統(tǒng)儀器的設(shè)計(jì)模式,采用標(biāo)準(zhǔn)化的硬件設(shè)備完成信號(hào)采集,利用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的運(yùn)算功能實(shí)現(xiàn)信號(hào)的處理和分析,從而使得用戶可以根據(jù)自身需求靈活的定義測試儀器的各項(xiàng)功能,滿足不同的應(yīng)用場合,這是傳統(tǒng)儀器不可比擬的,因此在實(shí)驗(yàn)教學(xué)中得到了廣泛的應(yīng)用[1-5]。

      實(shí)驗(yàn)是課程教學(xué)中一項(xiàng)重要的環(huán)節(jié),目前,傳統(tǒng)的光電檢測技術(shù)專業(yè)課實(shí)驗(yàn)教學(xué)中,基本上采用的是硬件封裝好的實(shí)驗(yàn)箱,并且不同的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容配備不同的實(shí)驗(yàn)箱。實(shí)驗(yàn)箱不僅體積笨重、占用空間大,維護(hù)困難[6-7];而且提供的硬件電路是固定的,學(xué)生只能通過簡單插線操作來完成,無法深入理解和掌握課程基本理論和概念,從而限制了學(xué)生的創(chuàng)新和實(shí)踐能力的鍛煉。

      基于現(xiàn)代光電檢測實(shí)驗(yàn)教學(xué)中的現(xiàn)狀和需求,本文設(shè)計(jì)了基于NI ELVIS教學(xué)平臺(tái)的光纖位移傳感實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),通過NI ELVIS高效、便捷電路搭建和軟件開發(fā)平臺(tái),實(shí)現(xiàn)了光纖位移傳感實(shí)驗(yàn)中電壓信號(hào)自動(dòng)采集、記錄以及位移-電壓曲線的繪制。

      1 NI ELVIS系列Ⅱ平臺(tái)簡介

      NI教學(xué)實(shí)驗(yàn)室虛擬儀器套件NI ELVISⅡ是NI公司結(jié)合NI數(shù)據(jù)采集卡和圖形化開發(fā)環(huán)境LabVIEW的設(shè)計(jì)與原型開發(fā)平臺(tái),它本身集成了包括有:示波器、函數(shù)發(fā)生器、數(shù)字萬用表、阻抗分析儀等12種儀器[8];此外,該平臺(tái)采用高速USB即插即用連接方式,并且?guī)в小?5 V、+5 V電源以及0~±12 V可編程電源,使得用戶可以方便地在原型設(shè)計(jì)面板上搭建電路,并通過NI LabVIEW圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件,快速實(shí)現(xiàn)信號(hào)的測量采集和顯示,非常適合在儀器儀表開發(fā)以及實(shí)驗(yàn)教學(xué)中應(yīng)用。

      利用NI ELVIS教學(xué)平臺(tái)來實(shí)現(xiàn)具體測量電路的設(shè)計(jì),可以通過圖1所示的流程進(jìn)行開發(fā):

      (1)根據(jù)具體應(yīng)用相關(guān)的理論知識(shí)確定檢測方案;

      (2)在Multisim環(huán)境中調(diào)用NI ELVIS儀器完成電路的仿真;

      (3)在NI ELVIS原型開發(fā)板上搭建模擬電路;

      (4)通過NI LabVIEW實(shí)現(xiàn)測量、顯示、存儲(chǔ)和分析。

      圖1 NI ELVISⅡ平臺(tái)開發(fā)流程

      2 光纖位移傳感系統(tǒng)設(shè)計(jì)

      光纖位移傳感器具有抗電磁干擾、電絕緣性好、耐腐蝕、體積小、重量輕、易于傳輸?shù)葍?yōu)點(diǎn),引起了人們的廣泛研究,在位移、加速度、振動(dòng)以及壓力測量中得到了應(yīng)用?;贜I ELVIS光纖位移傳感系統(tǒng)的設(shè)計(jì),可以幫助學(xué)生理解強(qiáng)度調(diào)制型光纖傳感檢測技術(shù),并通過電路搭建,掌握光調(diào)制、光電轉(zhuǎn)換、信號(hào)調(diào)理等重要概念。

      2.1 檢測原理

      光纖位移傳感器檢測方法主要分為兩種,一種是基于相位調(diào)制的激光干涉測量;另一種是基于強(qiáng)度調(diào)制的反射式光纖位移檢測[9-11];前者采用激光作為相干光源,利用干涉儀(邁克爾遜干涉等)實(shí)現(xiàn)微小位移檢測,精度較高,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜,價(jià)格較高;后者主要由LED光源、發(fā)射光纖和接收、光電探測器組成,LED光源發(fā)出的光信號(hào)經(jīng)過發(fā)射光纖傳至反射面,光信號(hào)經(jīng)反射面反射后再由接收光纖接收并傳回光電探測器,當(dāng)反射面和接收光纖形成相對(duì)移動(dòng)時(shí),光電探測器上的光信號(hào)將隨之改變,所以通過檢測探測器上的光信號(hào)便可得知反射面產(chǎn)生的機(jī)械位移。從檢測原理上,我們可知該方法雖然結(jié)構(gòu)簡單,成本低廉,但是由于采用的是光強(qiáng)度調(diào)制的方法,光信號(hào)容易受到LED光源波動(dòng)、背景光噪聲、電子干擾以及電子器件1/f噪聲的影響,此外,光信號(hào)經(jīng)過反射面反射后,會(huì)產(chǎn)生較大的損失,光電探測器上的信號(hào)會(huì)非常微弱,因此該系統(tǒng)光電檢測電路的設(shè)計(jì)主要以降低噪聲為原則來考慮。

      2.2 NI ELVIS平臺(tái)上檢測電路搭建

      系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)圖如圖2所示,主要分為光發(fā)射模塊和光電信號(hào)檢測模塊。

      圖2 系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)圖

      2.2.1 光發(fā)射模塊

      在光發(fā)射模塊中,考慮到強(qiáng)度調(diào)制的光電檢測系統(tǒng)中,光信號(hào)的強(qiáng)度隨外界量的變化而改變,所以強(qiáng)度的穩(wěn)定性直接影響檢測的精度[12],但是外界干擾光通常產(chǎn)生緩慢變化的準(zhǔn)直流隨機(jī)信號(hào),而且探測器的噪聲和放大電路的零漂也會(huì)引起直流誤差,所以我們選用NE555產(chǎn)生950 Hz的脈沖信號(hào)驅(qū)動(dòng)LED發(fā)光,一方面消除以上信號(hào)干擾;另一方面使得二極管工作在間歇狀態(tài),可以降低功耗,提高其使用壽命。

      2.2.2 光電信號(hào)檢測模塊

      光電信號(hào)檢測模塊中,PIN管將反射的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成光電流,其工作模式有零偏置和反向偏置兩種。零偏置下,PIN管不存在暗電流,主要是分路電阻的熱噪聲,而在光電精密測量中,暗電流對(duì)微弱信號(hào)的影響較明顯,所以本設(shè)計(jì)采用零偏置模式,可以獲得較好的線性測量(見圖3)。此外,對(duì)光電二極管產(chǎn)生的光電流采用運(yùn)算放大器電流-電壓轉(zhuǎn)換的方式來消除直接電壓監(jiān)測遇到的嚴(yán)重非線性以及高的直流偏置問題[13]。

      圖3 光纖位移傳感信號(hào)檢測電路

      (1)濾波。由于本系統(tǒng)光源采用脈沖光調(diào)制方式,所以待測信號(hào)為950 Hz的光強(qiáng)度調(diào)制信號(hào),除此之外的信號(hào)均為噪聲信號(hào)。在設(shè)計(jì)濾波器時(shí),選用有源二階窄帶帶通濾波器來濾除疊加在待測信號(hào)上的噪聲,設(shè)置中心頻率為950 Hz,帶寬為100 Hz,使得光電二極管的熱噪聲和散粒噪聲信號(hào)大幅度衰減,有用信號(hào)通過,從而提高系統(tǒng)的信噪比,增強(qiáng)檢測微弱信號(hào)的能力。

      (2)真有效值轉(zhuǎn)換。從濾波電路輸出波形來看,相對(duì)于光源驅(qū)動(dòng)的標(biāo)準(zhǔn)脈沖信號(hào),光電探測器輸出的光電流信號(hào)產(chǎn)生了一定變形,所以為了獲得波形真實(shí)的有效值,我們選取了AD公司的真有效值轉(zhuǎn)換器AD737來實(shí)現(xiàn)。它不同于以往的整流加平均的測量技術(shù),而是采用信號(hào)平方后積分的平均技術(shù),使其可以能夠精確測量各種波形的真實(shí)有效值,具有輸入阻抗高、輸出阻抗低、測量速率快以及準(zhǔn)確度高等優(yōu)點(diǎn),其靜態(tài)功耗電流小于200 uA,輸入信號(hào)有效值范圍0~200 mV[14]。采用雙電源供電的方式,使得輸入信號(hào)有效值為零時(shí),能得到正確的輸出[15]。R14為限流電阻,兩個(gè)二極管做雙向限幅,起過壓保護(hù)作用。引腳1和8短接,選擇AC+DC方式;腳3和6之間接濾波電容與轉(zhuǎn)換器內(nèi)部電阻并聯(lián),構(gòu)成低通濾波器。

      (3)反相比例調(diào)零電路。由于有效值轉(zhuǎn)換后得到是負(fù)電壓,需要通過反相比例放大器轉(zhuǎn)換為正電壓并進(jìn)行放大;同時(shí)考慮到當(dāng)反射面與光纖探頭距離為零時(shí),輸出也應(yīng)該為零,所以采用反相比例放大器的調(diào)零電路[16]來實(shí)現(xiàn)。通過電阻R15和 R16來實(shí)現(xiàn)2倍電壓放大,并根據(jù)±5 V的供電電壓以及留有裕量的失調(diào)電壓范圍來確定R18的阻值。

      2.3 LabVIEW完成系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)

      程序設(shè)計(jì)通過While循環(huán)等待用戶修改測量參數(shù),通過事件結(jié)構(gòu)響應(yīng)前面板“測量”鍵值改變,由此開始測量過程。啟動(dòng)測量后,①采用“拆分路徑”和“創(chuàng)建路徑”VI來創(chuàng)建測量記錄文件目錄和文件名;②在內(nèi)層While循環(huán)內(nèi)建立平鋪式順序結(jié)構(gòu)完成一次信號(hào)電壓測量,其中第一步由前面板設(shè)定測量時(shí)間間隔,等待實(shí)驗(yàn)硬件平臺(tái)上螺旋測微儀移動(dòng)0.1 mm位移量,第二步利用DAQ完成1 000個(gè)數(shù)采樣,平均后作為此次最終電壓測量值,并根據(jù)初始位移量和當(dāng)前測試次數(shù)確定實(shí)際位移;③將順序結(jié)構(gòu)輸出電壓測量值和當(dāng)前位移量分別創(chuàng)建數(shù)組,寫入文本文件,并通過“Build XY Graph”繪制位移變化曲線;④內(nèi)層While循環(huán)中將實(shí)驗(yàn)人員輸入的“采樣次數(shù)”遞減1與循環(huán)條件i進(jìn)行比較來控制循環(huán)次數(shù);一旦完成規(guī)定的次數(shù),則跳出內(nèi)層循環(huán),并同時(shí)結(jié)束外層循環(huán),程序結(jié)束。此外,由于目標(biāo)是電壓和位移信號(hào),在數(shù)據(jù)傳遞時(shí)需要用到“單位轉(zhuǎn)換”VI來實(shí)現(xiàn)數(shù)值和實(shí)際單位之間的轉(zhuǎn)換。

      如圖4所示:前面板主要分為3部分,①是檢測原理圖和檢測電路,在前面板界面顯示以幫助學(xué)生了解實(shí)驗(yàn)原理;②是參數(shù)設(shè)置部分,由于位移量是通過外部螺旋測微儀來調(diào)節(jié),上位機(jī)無法自動(dòng)獲悉外部調(diào)節(jié)何時(shí)完成,所以為了保證每次轉(zhuǎn)動(dòng)0.1 mm后系統(tǒng)能夠自動(dòng)記錄變化數(shù)據(jù),通過“采樣間隔”控制每次采樣的時(shí)間間隔,等待外部測微儀調(diào)節(jié)完畢后,系統(tǒng)穩(wěn)定后再進(jìn)行測量。此外,采樣間隔、采樣次數(shù)和初始位移可以自行設(shè)置,方便學(xué)生根據(jù)實(shí)際實(shí)驗(yàn)情況來確定相應(yīng)的參數(shù)值;③是輸出部分,包括位移輸出曲線、已測次數(shù)以及當(dāng)前電壓值。

      測量完成后,如圖所示,可以得到光纖位移傳感器完整的前坡曲線,位移量大于2 mm之后,電壓變化幅度變小,線性度變差,因此,基于反射式光纖位移傳感器主要用于微小位移檢測,并且適用于小量程的位移變化。

      圖4 光纖位移檢測系統(tǒng)前面板

      3 結(jié)語

      本文通過分析傳統(tǒng)儀器在光電檢測技術(shù)實(shí)驗(yàn)課中存在的缺陷和不足,結(jié)合虛擬儀器在高校實(shí)驗(yàn)教學(xué)中的應(yīng)用優(yōu)勢,按照NI ELVIS平臺(tái)上測試系統(tǒng)的開發(fā)流程,設(shè)計(jì)了基于NI ELVIS的反射式光纖位移傳感實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。實(shí)踐證明,相比于傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)箱,該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)通過提供自行搭建測試電路的機(jī)會(huì),幫助學(xué)生加深了理論知識(shí)的理解,并鍛煉了實(shí)驗(yàn)動(dòng)手能力;通過提供開放的前面板和后面板,方便學(xué)生根據(jù)自身興趣對(duì)測量界面和功能進(jìn)行修改,從而激發(fā)了學(xué)生創(chuàng)造性的思維。

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