董 鍵,崔秀芝
(曲阜師范大學(xué) 物理工程學(xué)院,山東 曲阜273165)
菲涅爾雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)是演示分波面干涉原理的基本實(shí)驗(yàn)之一,是傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目[1-6].該實(shí)驗(yàn)測量光波波長的精度不高[7],其原因主要是對(duì)該實(shí)驗(yàn)理論上認(rèn)識(shí)不完善,對(duì)于光線如何在光路內(nèi)傳播,沒有完整的理論公式表達(dá).因?yàn)樵搶?shí)驗(yàn)主要的關(guān)注對(duì)象是干涉現(xiàn)象并用該現(xiàn)象測量波長,因此,基本的關(guān)注點(diǎn)應(yīng)該是光程和波振幅,本文在研究過程中發(fā)現(xiàn),尋求光程和波振幅的答案,都可以用光線追跡的方法來解決,在此基礎(chǔ)上筆者提出了一種測量光波波長的方法,用來提高該實(shí)驗(yàn)的精度.
菲涅爾雙棱鏡實(shí)驗(yàn)的基本裝置見圖1,激光器發(fā)出平行光,經(jīng)過擴(kuò)束鏡變成從坐標(biāo)系原點(diǎn)O發(fā)出的發(fā)散光束,透過光闌進(jìn)入菲涅爾雙棱鏡(以下簡稱“棱鏡”,它被x軸平分為上下兩對(duì)稱部分,這兩部分分別簡稱為“上棱鏡”和“下棱鏡”),光線經(jīng)棱鏡折射,到達(dá)測微目鏡的分劃板(光屏),來自上下棱鏡的折射光線在分劃板上疊加,形成干涉條紋,可以在目鏡中觀察,并能測量干涉平面上的有關(guān)長度.圖1為裝置俯視圖,棱鏡的棱脊垂直于紙面,棱鏡底面垂直于x軸,棱脊可以迎著入射光,也可以背著入射光(圖中顯示后者).在目鏡分劃板上,干涉條紋垂直于紙面,并沿著y方向周期性擴(kuò)展.做好該實(shí)驗(yàn)需要調(diào)節(jié)各個(gè)光學(xué)器件在光具座上共軸、中心等高.
圖1 菲涅爾雙棱鏡實(shí)驗(yàn)裝置示意圖
根據(jù)實(shí)驗(yàn)原理[8],點(diǎn)光源O經(jīng)過棱鏡之后將形成2個(gè)虛像O1和O2(又稱為虛光源),相距為d,虛像面到目鏡分劃板的距離為L,若光波長為λ,干涉條紋的間距為δ,則
式(1)是討論該實(shí)驗(yàn)的基本依據(jù).
對(duì)于由若干界面分割的光學(xué)介質(zhì)系統(tǒng),2個(gè)界面之間充滿了均勻介質(zhì),對(duì)這樣的系統(tǒng),光線追跡的基本依據(jù)是光的折射定律:
根據(jù)該定律,可以由入射光線的方向求出折射光線的方向,方法是將該定律矢量化[9].令q是光線方向的單位矢量,n是光線所在均勻介質(zhì)的折射率,定義矢量k=nq,再令相鄰2種介質(zhì)界面的單位法矢量為Ω,則可以證明:
這是光線從介質(zhì)1進(jìn)入介質(zhì)2時(shí)兩者傳播方向之間的關(guān)系.至于界面的法矢量Ω,則可以根據(jù)界面方程f(x,y,z)=0用下式計(jì)算:
其中,▽f是函數(shù)f的梯度,|▽f|是梯度的模.
根據(jù)式(3)和(4),可以計(jì)算任何光線的傳播路徑,并計(jì)算它們?cè)诠馄辽系穆潼c(diǎn),進(jìn)而依據(jù)下式求出光線的光程φ:
其中l(wèi)j是在介質(zhì)j內(nèi)光線路徑的長度.
另外,根據(jù)光源的性質(zhì),可以計(jì)算光經(jīng)過介質(zhì)之后在光屏上振幅A(y)的分布(見后),然后根據(jù)相干疊加的公式計(jì)算2束光干涉強(qiáng)度分布I(y):I(y)=+2A1A2cos[2π(φ1-φ2)/λ],(6)其中光程φ1和φ2也是y的函數(shù).
首先計(jì)算從點(diǎn)光源O發(fā)出的光經(jīng)棱鏡折射后的分布,以便為后續(xù)討論奠定基礎(chǔ).
模擬計(jì)算使用軟件Mathematica,計(jì)算中的棱鏡參量如下:折射率n=1.52,楔角α=1°,棱鏡厚度L2=3mm.其他參量是:原點(diǎn)O到棱鏡底面的距離L1=50mm,棱脊到分劃板的距離L3=300mm.
圖2是用光線追跡方法計(jì)算出的不同發(fā)散角的光線到達(dá)分劃板的光路情況,從O點(diǎn)以發(fā)散角φ=0(極限意義)出射的光線經(jīng)折射后在分劃板上被照亮的位置,經(jīng)過上下棱鏡后分別向?qū)Ψ絽^(qū)域偏折(偏折都是從棱鏡的棱脊開始的),因而合成區(qū)域有交疊,形成干涉區(qū),這個(gè)區(qū)域是可以計(jì)算的;在交疊區(qū)之外,是未交疊區(qū),不形成干涉.計(jì)算該圖所對(duì)應(yīng)的發(fā)散角φ=-2°~2°,可見,形成干涉只需要很小的發(fā)散角.
圖2 棱鏡對(duì)光的折射仿真圖
在光線追跡的基礎(chǔ)上,很容易計(jì)算來自上下棱鏡的光線在分劃板上的光程分布,見圖3(a),其中曲線φ1表示來自上棱鏡的光程分布,曲線φ2表示來自下棱鏡的光程分布.可見,無論來自棱鏡哪一部分的光線,其光程都不是常量,除了在y=0處2條光線的光程相等,其他處的光程都不相等,因而有了光程差Δφ=φ1-φ2,光程差的分布見圖3(b),該圖顯示,光程差是線性分布的.光程差的存在,是形成干涉的必要條件.
圖3 來自棱鏡上下部分的光線在分劃板上的光程分布及光程差
“虛光源”是菲涅爾雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)的重要概念,其含義是:從光源O發(fā)出的光線被上棱鏡折射之后,光線的反向延長線將交于點(diǎn)O1,形成上虛像;光線被下棱鏡折射后形成下虛像O2.這樣從O點(diǎn)發(fā)出的所有光線,就等效于從這2個(gè)虛像發(fā)出,好像棱鏡并不存在[10].基于該認(rèn)識(shí),菲涅爾雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)被等效于2個(gè)相干點(diǎn)光源O1和O2所發(fā)出光的干涉,就可以套用楊氏雙光源干涉實(shí)驗(yàn)的計(jì)算公式[式(1)].
用光線追跡方法計(jì)算被棱鏡所折射光線的反向延長線,見圖4(a),來自上下棱鏡的反向延長線分別匯聚于位置O1和O2,這2個(gè)位置在點(diǎn)光源O的右側(cè),與y軸相距δL.粗略看,延長線似乎分別相交于一點(diǎn),但如果把O1附近區(qū)域放大,則如圖4(b)所示,延長線并不相交于一點(diǎn),而是形成有一定寬度的“細(xì)腰”.因此,嚴(yán)格來講,虛光源O1和O2并非點(diǎn)光源,使用點(diǎn)光源概念來進(jìn)行干涉計(jì)算會(huì)對(duì)式(1)造成一定的誤差.對(duì)“細(xì)腰”的寬度進(jìn)行考察,以判斷其具體粗細(xì).方法是尋找“細(xì)腰”最細(xì)的位置界面,計(jì)算每條延長線與該界面交點(diǎn)的y值并乘以2,作為兩虛光源的間距d,這樣可以得到d的分布曲線,見圖5(a),從該曲線上可大致得出d=0.943 2~0.943 9mm,“細(xì)腰”的寬度為0.7μm,遠(yuǎn)小于人眼的分辨能力,對(duì)于該實(shí)驗(yàn)的測量精度,可以將O1和O2當(dāng)做點(diǎn)光源來看待.
圖4 虛光源及局部放大圖
因?yàn)椤凹?xì)腰”可以當(dāng)做點(diǎn)光源,所以,通過“細(xì)腰”O(jiān)1和O2的任何2條光線反向延長線之間的距離都可以作為2個(gè)虛光源的間距d.選擇2條水平延長線之間的距離作為d,確定d的具體做法見圖5(b),該圖是經(jīng)過上棱鏡折射光線的斜率k與光線在分劃板上位置y的關(guān)系曲線,是直線,該直線與y軸的交點(diǎn)對(duì)應(yīng)k=0,相應(yīng)的y值乘以2作為d.
圖5 虛光源間距d隨著發(fā)散角φ的分布和確定虛光源間距的方法
關(guān)于虛光源的性質(zhì),還可以考察其間距d和虛像所在平面的位置δL隨棱鏡位置L1的變化關(guān)系,見圖6,可見兩者的關(guān)系都是線性的.要注意的是,δL隨L1變化很小,可以近似認(rèn)為虛像面的位置是不變的.
圖6 虛光源間距d和虛像面的位置δL隨棱鏡位置L1的變化
有了圖3光程差的結(jié)果,可以計(jì)算分劃板上干涉光的強(qiáng)度分布,因?yàn)楣獬滩钍蔷€性的,所以光強(qiáng)隨y的分布是周期性的(見后),其周期就是干涉條紋的間距δ.根據(jù)式(1),在光的波長λ已知和虛像面到分劃板的距離L固定的情況下,δ與d成反比,二者的乘積等于λL.模擬計(jì)算λ=0.6μm和L+δL=300mm情況下δ與d的關(guān)系,見圖7,經(jīng)過擬合,證明二者符合反比關(guān)系,比例系數(shù)為0.179 373,容易驗(yàn)證,該數(shù)值非常接近λL,證明式(1)的近似程度很好,也證明虛光源概念的引入是合理的.
圖7 虛光源間距與條紋間距的模擬關(guān)系
二次成像法要在棱鏡與分劃板之間加1個(gè)凸透鏡,使2個(gè)虛光源成像于分劃板.圖8模擬了該過程,所使用的凸透鏡焦距為64.5mm,左極點(diǎn)與棱鏡的棱脊相距30mm.圖8(a)表明,上下棱鏡的折射光經(jīng)過凸透鏡后匯聚的位置是顛倒的,其位置用箭頭指示;將該位置附近區(qū)域放大,即為圖8(b),它表明光線也并非匯聚成一個(gè)點(diǎn),而是匯聚成“細(xì)腰”,這在透鏡有球差的情況下是可以預(yù)料的.不過,該圖真正的含義在于:“細(xì)腰”在x方向擴(kuò)展范圍很大,在此范圍內(nèi),像寬都差不多,因而很難準(zhǔn)確判定像的位置,這正是二次成像法測量光波波長誤差大的原因所在.
圖8 加凸透鏡所成虛光源的像及其局部放大圖
通過光線追跡清楚該實(shí)驗(yàn)的細(xì)節(jié)后,作者提出了測量光波波長的方法,該方法可以提高波長測量的精度,而且不需要知道棱鏡的具體參量.下面是該方法的原理.
根據(jù)虛光源的性質(zhì),可以得到
根據(jù)經(jīng)驗(yàn),式(7)中右邊的長度量很難測定,直接測量會(huì)引起L較大的誤差,尤其是在使用激光光源的情況下,O點(diǎn)的位置難以確定.把式(1)和(7)結(jié)合起來,得到
虛光源的間距d只與L1有關(guān),在固定L1的情況下,改變L3,就可以測量出不同的δ,從而構(gòu)成δ-L3的線性關(guān)系,通過擬合得到系數(shù)b,
這樣得到的b具有L3的測量精度,因?yàn)楣饩咦系暮撩卓潭瘸呖梢詼y量出4位有效數(shù)字.雖然L3并不能代表分劃板的位置,但因?yàn)榭梢园堰@一固定的偏差歸于截距a中,所以測量精度得以保證.于是對(duì)應(yīng)某個(gè)L1的距離L就以較高的精度被計(jì)算出來,
為了測量2個(gè)虛光源的間距d,需要測量分劃板上干涉區(qū)的y向?qū)挾葁,這在使用激光光源的情況下可以得到較高的精度.因?yàn)榉抡嫜芯勘砻鳎缮鏃l紋的間距δ與L1有關(guān),L1越大,δ越小,二者是反比關(guān)系.因此,實(shí)驗(yàn)時(shí)取較大的L1,讓?duì)谋M可能地小,干涉條紋盡可能地細(xì),這樣,干涉區(qū)內(nèi)就容納了足夠多的條紋,其邊界比較容易確定.在此條件下,可以測量光線經(jīng)過棱鏡的最大偏折角tanβ,原理見圖9.圖中,保持光屏位置不變,棱脊的位置為x1,相應(yīng)干涉區(qū)寬度為w1;移動(dòng)棱鏡,使棱脊的位置變?yōu)閤2,干涉區(qū)寬度相應(yīng)變?yōu)閣2,則有如下關(guān)系:
雖然棱脊的絕對(duì)位置很難測定,但位置的差值x2-x1卻具有光具座刻度尺的測量精度,而w2-w1具有測微目鏡的測量精度,所以tanβ的測量精度得到提高,
圖9 測量光線最大偏折角tanβ
在測量了tanβ之后,根據(jù)如下關(guān)系計(jì)算虛光源的間距d,
于是,光波的波長為
為了充分利用分劃板的有效寬度(通常為8mm),適當(dāng)?shù)卣{(diào)整L3,使干涉區(qū)寬度接近有效寬度.
根據(jù)式(6),要計(jì)算干涉光強(qiáng),就需要知道來自2條光線的振幅A1(y)和A2(y),這在光源性質(zhì)已知的情況下是可以計(jì)算出來的.假定激光器輸出的光束橫截面上光強(qiáng)分布均勻,則通過光線追跡可以證明兩點(diǎn)(證明過程從略):
1)激光經(jīng)過球面擴(kuò)束鏡之后光能是各向同性發(fā)散的;
2)經(jīng)過棱鏡之后光線在分劃板上的位置y與光線的發(fā)散角φ成線性關(guān)系.
這2點(diǎn)結(jié)合起來,就得到如下結(jié)論:
在忽略光線與分劃板之間的夾角與直角有微小偏離的條件下,折射光的振幅和強(qiáng)度都是均勻分布的,即A1(y)=A2(y)=A0.于是,
相位差Δφ的分布見圖3(b),它是線性分布的,因而強(qiáng)度I(y)在分劃板上是周期性分布的,相鄰2條亮紋之間的間距δ相同.
菲涅爾雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)?zāi)軌蛴霉饩€追跡方法進(jìn)行全面仿真,由此可以深入全面地了解該實(shí)驗(yàn)的細(xì)節(jié),結(jié)論直觀可靠,并在此基礎(chǔ)上提出了光波波長測量的方法,提高了測量精度,而且不需要知道棱鏡的具體參量(例如折射率、楔角和厚度),對(duì)做好該實(shí)驗(yàn)很有啟發(fā)性.
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