柴立元,尤翔宇,舒余德,楊杰,王云燕
(中南大學(xué) 冶金科學(xué)與工程學(xué)院,湖南 長沙,410083)
隨著電子工業(yè)的發(fā)展,印刷電路板的需求量大大增加,電路板生產(chǎn)中使用的電鍍添加劑種類和數(shù)量越來越多,成分也越來越復(fù)雜。由于在這些添加劑中有與重金屬離子配位作用較強(qiáng)的成分,如 EDTA、酒石酸、焦磷酸鹽、檸檬酸和氨等[1],因此,印刷電路板行業(yè)一般產(chǎn)生含銅配離子的復(fù)雜廢水。用堿液處理含有銅氨配合物的酞菁藍(lán)生產(chǎn)廢水,處理后的銅還有15 mg/L[2],因此,含銅配離子復(fù)雜廢水在采用傳統(tǒng)中和水解沉淀法處理時,重金屬離子不能完全形成氫氧化物沉淀,處理后的凈化水難以達(dá)到國家廢水排放標(biāo)準(zhǔn)[3]。如何經(jīng)濟(jì)有效地控制印刷電路板廢水的污染是電子行業(yè)的一項(xiàng)重要課題。本文作者在研究 Cu2+-EDTA-S2--H2O系廢水脫銅的熱力學(xué)基礎(chǔ)上,提出強(qiáng)堿性硫化處理印刷電路板含銅配離子復(fù)雜廢水的新工藝,并考察其有關(guān)工藝影響因素,以便為印刷電路板復(fù)雜廢水的處理提供可行技術(shù)和理論基礎(chǔ)。
含銅水溶液中,Cu2+主要以 CuOH+,Cu(OH)2(液),和4種配離子形式存在。在溫度為 298.15 K時,有關(guān)配位反應(yīng)和逐級累積穩(wěn)定常數(shù)β1~β4分別為[4-6]:
因此,在水溶液體系中,總銅含量可表示為:
其中:0α表示Cu2+在溶液中的離子分率;c為濃度。將式(1)~(6)聯(lián)立,得:
將式(7)代入式(6)可得溶液中游離的Cu2+濃度為:
Cu(OH)2在水溶液中會發(fā)生溶解平衡,即:
對式(9)兩邊同時取對數(shù),得:
即:
式中:Ksp為Cu(OH)2的溶度積。
在Cu-EDTA-H2O溶液中,Cu主要與EDTA(以下用Y代表EDTA配體)形成CuY2-配離子,在一定條件下還會形成CuHY-和Cu(OH)Y3-。Cu與EDTA的相關(guān)配位反應(yīng)及穩(wěn)定常數(shù)[7-9]分別為:
因此,在Cu-EDTA溶液中,總銅含量可表示為:
將式(12)~(14)代入式(15),得:
式中:K為穩(wěn)定常數(shù)。
在溶液中,EDTA會發(fā)生加合質(zhì)子的副反應(yīng),即EDTA的酸效應(yīng),EDTA的酸效應(yīng)系數(shù)為:
其中,β1,β2,β3,β4,β5和β6為 EDTA 的逐級累積常數(shù)[8],由式(18)可得不同pH值所對應(yīng)的αY(H)。由式(17)可得:
Y′為沒有與銅形成配合物的各種形態(tài)的EDTA含量的總和,在溶液中 Cu2+主要與 Y4-形成 CuY2-配離子,由 EDTA的存在形式分布圖[6]可知,在 pH<8.5時,溶液中 Y4-的離子分率小于 1%,此時,溶液中CuY2-配離子的含量很少,可以忽略不計(jì),即c(Y′)=c(Y)tol;在pH>8.5時,溶液中Y4-的離子分率大于1%,且隨著pH值的增大,Y4-的離子分率迅速增大,Cu2+全部或部分與Y4-形成CuY2-配離子。根據(jù)不同pH值時 Y4-的濃度可以計(jì)算出相應(yīng)的c(CuY2-),c(Y′)=c(Y)tol-c(CuY2-)。
將所求得的c(Y4-)代入式(16),可得溶液中游離的Cu2+濃度。
當(dāng)pH<8.5時,
當(dāng)pH>8.5時,
在含硫水溶液中,含有的組分為H+,OH-,H2S,HS-和S2-。此體系的總濃度方程為:
H2S在水溶液中的逐級電離反應(yīng)及穩(wěn)定常數(shù)K1和K2[9-11]分別為:
聯(lián)立(21)~(23),解得:
在有硫離子存在的情況下,會形成CuS沉淀[12],其溶解平衡為:
在c(S)tol=0.8×10-3mol/L時,聯(lián)立式(24)和式(25),可得此時溶液中游離的銅離子濃度為:
根據(jù)式(8)繪出 Cu2+-H2O系銅羥合配離子平衡時的lgc(Cu2+)與pH值關(guān)系(見圖1中曲線1);根據(jù)式(11)繪出Cu2+-H2O系的Cu(OH)2(固)溶解平衡時lgc(Cu2+)與pH值關(guān)系(見圖1中曲線2);根據(jù)式(19)和(20)繪出無Cu(OH)2固體時 Cu2+-EDTA-H2O 系lgc(Cu2+)與pH值關(guān)系(見圖1中曲線3);根據(jù)式(26)繪出Cu2+-S2--H2O系lgc(Cu2+)與pH值關(guān)系(見圖1中曲線4)。從圖1可以看出:在pH值為7~14時,Cu2+-S2--H2O系中游離的Cu2+濃度遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于Cu2+-EDTA-H2O系中Cu2+濃度,表明在實(shí)驗(yàn)給定的總銅濃度下用硫化沉淀法可以脫除Cu2+-EDTA-H2O系中的銅。比較圖1中曲線1和2可以看出:在實(shí)驗(yàn)給定的總銅濃度條件下,沒有 EDTA時,7.0<pH<12.5時會出現(xiàn)Cu(OH)2沉淀;但當(dāng)EDTA存在時,由曲線2和3看出,Cu(OH)2沉淀會轉(zhuǎn)化為EDTA配合離子,表明用中和水解法不能將Cu2+-EDTA-H2O系溶液中的銅脫除。
圖1 Cu2+-EDTA-S2--H2O系lgc(Cu2+) 與pH值關(guān)系Fig.1 Relationship between lgc(Cu2+) and pH value in Cu2+-EDTA-S2--H2O system
所用廢水采用實(shí)驗(yàn)室配制模擬廢水,按照CuSO4與 EDTA·二鈉物質(zhì)的量比n(CuSO4)∶n(EDTA·二鈉)為1∶2配制而成。其中,Cu2+的質(zhì)量濃度為50 mg/L,EDTA濃度為1.6×10-3mol/L,pH值調(diào)整到10.5~11.0。
取200 mL配制好的模擬廢水置于500 mL燒杯中,在 300 r/min的攪拌速度下用 10%石灰乳液和10 mol/L NaOH溶液調(diào)節(jié)廢水pH值到一定值,穩(wěn)定一段時間(水解時間)后加入不同體積的 1 g/L的硫化鈉溶液,反應(yīng)一定時間后,加入不同量的 1%聚丙烯酰胺(PAM)絮凝沉淀,取上清液分析溶液中殘余銅離子濃度。
采用WFX-120型原子吸收分光光度計(jì)[13]測定原水及凈化水中銅的含量,采用島津UV-1800型紫外分光光度儀在波長200~400 nm范圍內(nèi)對處理前后的水樣進(jìn)行掃描,觀察紫外光譜的變化情況。
將溶液pH值調(diào)節(jié)到12.5,控制不同的時間,水解時間對Cu2+的脫除率的影響如圖2所示。可見:當(dāng)水解時間由10 min增加到30 min時,Cu2+的脫除率由99.22%增加到 99.56%,Cu2+的殘余濃度脫除到0.2 mg/L以下;繼續(xù)延長時間,脫除率變化不大。因此,選擇30 min為最佳水解時間。
從硫化鈉全部投到廢水中開始計(jì)時到反應(yīng)結(jié)束終止,硫化沉淀時間對Cu2+脫除率的影響如圖3所示。從圖3可以看出:隨著時間的延長,Cu2+的脫除率呈上升趨勢;當(dāng)50 min時效果最好,Cu2+的殘余濃度為0.176 mg/L,脫除率達(dá)到99.56%。
圖2 水解時間對Cu2+殘余量的影響Fig.2 Effect of hydrolyzed time on residual concentration of Cu2+
圖3 Cu2+殘余量與硫化沉淀時間的關(guān)系Fig.3 Effect of sulfide precipitation time on residual concentration of Cu2+
pH值是影響處理效果的一個重要因素,它直接影響到溶液中離子的存在狀態(tài),pH值對 Cu2+脫除率的影響如圖4所示??梢姡涸趐H<12.0時,Cu2+的殘余質(zhì)量濃度較高,脫除率低于 20%;在 pH≥12.5時,殘余Cu2+質(zhì)量濃度脫除到0.2 mg/L以下。其原因與S在水中的存在形式有關(guān)[10],由式(21)可以看出:當(dāng)pH<12.5時,硫在溶液中主要以HS-和H2S存在,游離S2-的含量小,約為10-9~10-13mol/L,故活化離子濃度小,這導(dǎo)致了脫銅反應(yīng)困難;當(dāng)pH≥12.5時,硫在溶液中以S2-形式存在,S2-分率達(dá)99%以上[10],有利于Cu2+以CuS的形式沉淀下來。
Na2S的添加量是脫銅的關(guān)鍵,因此,其合適用量是必須要考慮的因素。硫化鈉加入量對Cu2+脫除率的影響如圖5所示。從圖5可以看出,當(dāng)n(Na2S)∶n(Cu)=1∶1時即能達(dá)到很好的處理效果,繼續(xù)增加Na2S加入量,Cu2+的脫除率并沒有顯著變化,而且過量的硫會導(dǎo)致出水變黃,引起第2次污染。
圖4 pH值對Cu2+殘余量的影響Fig.4 Effect of pH on residual concentration of Cu2+
圖5 硫化鈉加入量對Cu2+殘余量的影響Fig.5 Effect of dosage of sodium sulfide on residual concentration of Cu2+
工業(yè)生產(chǎn)中廢水溫度會隨季節(jié)和地區(qū)的不同而變化,因此,在實(shí)驗(yàn)中必須考慮溫度對重金屬離子脫除的影響。溫度對Cu2+殘余量的影響見圖6。從圖6中可以看出:整個反應(yīng)過程在20~70 ℃范圍內(nèi),Cu2+的脫除率略有上升,但升幅很小,這說明溫度對Cu2+的脫除率影響不大,廢水在室溫下都能達(dá)到很好的處理效果。
圖6 溫度對Cu2+的殘余量的影響Fig.6 Effect of temperature on residual concentration of Cu2+
PAM 質(zhì)量濃度對 Cu2+的脫除率的影響如圖 7所示??梢姡涸黾覲AM質(zhì)量濃度,Cu2+殘余質(zhì)量濃度減少,脫除率增加;當(dāng)PAM質(zhì)量濃度大于6 mg/L時,再增加 PAM 質(zhì)量濃度不會對最終處理效果產(chǎn)生更加明顯的影響。PAM對脫銅的影響是因?yàn)镻AM使細(xì)小的CuS沉淀更容易絮凝,有利于沉降分離。
為了使處理后的水能夠迅速的固液分離,選用PAM 作為絮凝劑,PAM 質(zhì)量濃度對沉淀效果的影響如圖8所示。可見:不添加PAM讓生成的顆??孔陨碣|(zhì)量沉淀的速度只有0.32 mm/s,添加PAM可以使顆粒在短時間內(nèi)迅速長大快速沉淀到杯底,沉淀呈絮狀。隨著 PAM 質(zhì)量濃度的增加,顆粒沉降速度逐漸增加,顆粒長大也加快;當(dāng)PAM質(zhì)量濃度為6 mg/L時,顆粒的沉降速度達(dá)到 1.39 mm/s,再繼續(xù)加入PAM,顆粒沉降繼續(xù)略微增加,但增幅很小。從經(jīng)濟(jì)運(yùn)行和成本考慮,選取6 mg/L為最佳PAM質(zhì)量濃度。
圖7 PAM質(zhì)量濃度對Cu2+殘余量的影響Fig.7 Effect of PAM dosage on residual concentration of Cu2+
圖8 PAM質(zhì)量濃度對顆粒沉降速度的影響Fig.8 Effect of PAM dosage on precipitation velocity
根據(jù)實(shí)驗(yàn)確定的最佳條件進(jìn)行驗(yàn)證實(shí)驗(yàn),處理前Cu2+質(zhì)量濃度為 50 mg/L,處理后 3個平行樣品Cu2+質(zhì)量濃度分別為0.195 7,0.123 7,0.150 2 mg/L,均低于0.200 0 mg/L。
實(shí)驗(yàn)測得的模擬廢水處理前后的紫外吸收光譜如圖9所示??梢姡耗M廢水在210~240 nm處有強(qiáng)吸收帶,這主要是銅配合離子中的有機(jī)絡(luò)合配體的共軛體系 π→π*躍遷產(chǎn)生的,處理后,吸收峰明顯減弱,吸光度降低,表明配合離子被破壞,配位鍵斷裂,絡(luò)合銅離子絕大部分被去除。
圖9 廢水處理前后的紫外光譜Fig.9 UV spectral patterns of wastewater before and after treatment
(1) Cu2+-EDTA-S2--H2O系各獨(dú)立熱力學(xué)行為研究表明傳統(tǒng)的中和沉淀法難以脫除 Cu2+-EDTA-S2--H2O系中的銅,采用強(qiáng)堿性硫化沉淀法可以破壞銅與乙二胺四乙酸形成的配位鍵,從而使銅以硫化沉淀的形式脫除。
(2) 強(qiáng)堿性硫化沉淀法處理印刷電路板廢水的最佳實(shí)驗(yàn)條件如下:用Ca(OH)2調(diào)節(jié)pH值到12.5,水解反應(yīng)時間為 30 min,n(Na2S)∶n(Cu)=1∶1,硫化沉淀時間為50 min,PAM質(zhì)量濃度為6 mg/L,溶液中殘余Cu2+質(zhì)量濃度低于0.200 0 mg/L,低于《電鍍污染物排放標(biāo)準(zhǔn)》(GB 21900—2008)的限值。
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