嚴(yán)維鵬, 李斌康, 段寶軍, 宋 巖, 宋顧周, 馬繼明
(西北核技術(shù)研究所 強(qiáng)脈沖輻射環(huán)境模擬與效應(yīng)全國重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室, 陜西 西安 710024)
自從Rontgen 在1895 年發(fā)現(xiàn)了X 射線,正式揭開了閃爍材料研究的序幕,到1950 年,由于光電管的出現(xiàn)使閃爍材料的研究步入了一個(gè)新的階段[1-3]。閃爍材料可以將輻射源發(fā)出的X、γ 射線、中子、電子、α 粒子等輻射粒子轉(zhuǎn)換為紫外或者可見光[4-6],配合光電管或者互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(Complementary metal-oxide semiconductor,CMOS)相機(jī)等探測器件將光信號轉(zhuǎn)換為電信號或者圖像數(shù)據(jù)[5,7-9],對這些數(shù)據(jù)進(jìn)行相應(yīng)處理后可獲得輻射源的性能參數(shù)或被照射物的內(nèi)部信息。因此,閃爍材料常應(yīng)用于核醫(yī)學(xué)診斷、高能物理測量等領(lǐng)域,如X 射線斷層照相(X-ray CT)、正電子發(fā)射斷層掃描(PET)和閃光照相[7,10-12]??焖p時(shí)間、高熒光產(chǎn)額以及和探測器匹配的發(fā)射光譜是閃爍材料應(yīng)用于這些領(lǐng)域的必要條件。對于X 射線或者γ射線探測,一般采用原子序數(shù)相對較高(Zeff)的無機(jī)閃爍體提高對射線的吸收系數(shù)。目前,常用無機(jī)閃爍體均存在一些不足,如NaI(Tl)吸收系數(shù)小,且容易潮解[13-14];鍺酸鉍(BGO)衰減時(shí)間過長且熒光產(chǎn)額較低[15-16];雖然硅酸镥(LSO)被認(rèn)為是性能最完美的閃爍材料,但是對于十納秒或者幾十納秒特征尺度的輻射測量,其衰減時(shí)間(42 ns)仍然較慢,并且生產(chǎn)成本過高[17-18]。鹵化物鈣鈦礦材料具有制備簡單、響應(yīng)速率快和空間分辨好等優(yōu)勢,可作為一種新型射線探測材料。孫錫娟[19]、胡剛艦[20]、孟鋼[21]和馬闖[22]等綜述了這類材料在直接X 射線探測中的應(yīng)用;宗佳[23]、朱夢淇[24]和馬文博[25]等綜述了體單晶鹵化物鈣鈦礦材料作為閃爍體在間接X 射線探測中的應(yīng)用。
近年來,具有二維結(jié)構(gòu)的有機(jī)-無機(jī)雜化鈣鈦礦單晶材料因其優(yōu)良的閃爍發(fā)光性能被大量研究[26-28],如快衰減時(shí)間、高熒光產(chǎn)額及低生產(chǎn)成本;相比于零維材料,二維鈣鈦礦材料具有更好的光學(xué)透明性以及能夠生長為具有一定厚度的單晶材料。對該類型材料的研究有望推動(dòng)核醫(yī)學(xué)及高能物理測量的進(jìn)一步發(fā)展。
一般地,可將閃爍材料的發(fā)光機(jī)制分為三部分,如圖1 所示,分別為轉(zhuǎn)換、運(yùn)輸和發(fā)光階段[29-31]。在轉(zhuǎn)換階段,閃爍材料吸收射線并生成高能的電子或者空穴;對于X 射線和γ 射線,閃爍材料中發(fā)生的反應(yīng)主要是光電效應(yīng)、康普頓散射和電子對效應(yīng);隨后,高能電子或者空穴通過與聲子及其他電子相互作用釋放能量,形成低能電子或者空穴。在運(yùn)輸階段,由于材料中離子空位、晶界或者表面雜質(zhì)等缺陷的存在,部分低能電子或者空穴通過非輻射復(fù)合的方式損失能量,可通過改善晶體質(zhì)量或者表面鈍化的方式降低這些缺陷密度。剩余電子或者空穴可通過庫倫作用結(jié)合為電子-空穴對,或者是被發(fā)光中心俘獲。在最后的發(fā)光階段,電子-空穴對和發(fā)光中心退激發(fā),并通過輻射復(fù)合的方式釋放出紫外或者可見光。上述發(fā)光機(jī)制可適用于大多數(shù)的無機(jī)閃爍體,有機(jī)閃爍體發(fā)光機(jī)制相比無機(jī)閃爍體較為復(fù)雜,在此不再贅述。
圖1 閃爍體發(fā)光物理機(jī)制[29]Fig.1 Luminous mechanism of scintillator[29]
表1[32]中列出了常用無機(jī)閃爍體的基本性能。通常情況下,純的閃爍體基本為帶邊發(fā)光,即導(dǎo)帶底的電子和價(jià)帶頂?shù)目昭ㄖ苯訌?fù)合發(fā)光,而發(fā)出的光又重新被材料吸收,最終能量通過振動(dòng)的方式釋放,導(dǎo)致發(fā)光效率較低。通過摻雜的方式可在導(dǎo)帶與價(jià)帶中間重新建立一套能級躍遷機(jī)制,使釋放的光子能量小于導(dǎo)帶和價(jià)帶能量差,不會被材料重新吸收,提高了發(fā)光效率。當(dāng)前常用的摻雜元素有Ce、Tl、Yb、Eu 和Li[14,33-35]等,如NaI 和NaI(Tl)閃爍體,在摻雜Tl元素后光產(chǎn)額提升了約1個(gè)量級。
表1 常用無機(jī)閃爍體基本性能[32]Tab.1 Characteristics of general inorganic scintillator[32]
二維鈣鈦礦材料的晶體結(jié)構(gòu)包括Ruddlesden-Popper(R-P)和Dion-Jacobson(D-J)構(gòu) 型[36-38],整體由層狀結(jié)構(gòu)堆疊而成,如圖2(a)所示。R-P結(jié)構(gòu)材料的化學(xué)式為R2An-1BnX3n+1,單價(jià)有機(jī)陽離子R+僅在一端與八面體結(jié)構(gòu)通過氫鍵連接,層之間錯(cuò)位分布,并受范德華力的影響;R一般為長鏈有機(jī)分子團(tuán),如n-butylammonium(BA),iso-butylammonium(iso-BA),n-pentylammonium(PA),n-hexylammonium(HA),n-octylammonium(OA),phenylethylammonium(PEA)和phenylmethylammonium(PMA)。D-J 結(jié)構(gòu)材料的化學(xué)式為RAn-1BnX3n+1,二價(jià)陽離子R2+的兩端均與八面體結(jié)構(gòu)通過氫鍵連接,因此層之間主要依靠R分子連接;R一般為短鏈有機(jī)分子團(tuán),如(aminomethyl)piperidinium(AMP),(aminomethyl)pyridinium(AMPY)和phenylenedimethanammonium(PDMA)。B一般為相對原子序數(shù)較高的元素,如Pb、Sn 等,因此對X 射線或γ 射線具有高吸收系數(shù)[39]。圖2(b)所示為PEA2PbBr4材料的分子結(jié)構(gòu),由[PbBr6]4-構(gòu)成的八面體和有機(jī)胺分子組成[40]。由于層之間陽離子的空間間隔效應(yīng),二維鈣鈦礦材料通常具有量子阱結(jié)構(gòu),如圖2(c)所示。其中,無機(jī)層被視為“阱”,n的數(shù)量決定了阱深和禁帶寬度,有機(jī)分子層被視為“屏障”,有機(jī)分子的離子半徑?jīng)Q定了屏障的寬度,這種結(jié)構(gòu)導(dǎo)致生成的電子和空穴由于量子限域效應(yīng)被強(qiáng)烈地限制在阱內(nèi)并結(jié)合形成激子,使電子和空穴的波函數(shù)重疊區(qū)域增加,激子結(jié)合能相比于三維結(jié)構(gòu)有所增加[41];另外,有機(jī)層的介電常數(shù)通常要高于無機(jī)層,阱內(nèi)電子和空穴之間的庫倫效應(yīng)不會受有機(jī)層的屏蔽,導(dǎo)致了介電限制效應(yīng)增強(qiáng),使兩者之間的庫倫效應(yīng)增強(qiáng),導(dǎo)致激子結(jié)合能進(jìn)一步增加。如圖2(d)所示為三維材料、二維材料以及由于介電限制效應(yīng)二維材料的吸收譜理論計(jì)算結(jié)果[42],并計(jì)算了相應(yīng)的激子結(jié)合能(Eb)??梢悦黠@看出,二維材料激子結(jié)合能高于三維材料,由于介電限制效應(yīng)二維材料的激子結(jié)合能進(jìn)一步增加,該結(jié)果與上述分析得出的結(jié)論一致。
圖2 (a)二維和三維鈣鈦礦材料的晶體結(jié)構(gòu)[39];(b)PEA2PbBr4材料的分子結(jié)構(gòu)[40];(c)典型的量子阱結(jié)構(gòu)[41];(d)二維和三維鈣鈦礦材料吸收譜理論計(jì)算結(jié)果[42]Fig.2 (a)Crystal structure of two and three dimensional perovskite material[39].(b)Molecular structure of PEA2PbBr4[40].(c)Schematic of quantum well[41].(d)Absorbance spectrum of two and three dimensional perovskite material[42]
綜上所述,由于二維鈣鈦礦材料中激子結(jié)合能的增加,一般可高達(dá)百meV,相應(yīng)地提升了激子的復(fù)合效率,提高了發(fā)光效率;另一方面,由于強(qiáng)烈的量子限域效應(yīng),相應(yīng)地縮短了激子復(fù)合時(shí)間,縮短了發(fā)光時(shí)間。另外,在生長工藝方面,傳統(tǒng)無機(jī)閃爍體(如CsI∶Tl 和LSO 等)一般采用Czochralski或Bridgeman的生長方式,溫度需要高于1 700 ℃;而二維鈣鈦礦材料在室溫下即可合成,降低了生長難度,這對于開展實(shí)驗(yàn)研究非常友好。因此,二維鈣鈦礦材料有望能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)快發(fā)光時(shí)間和高發(fā)光效率。
目前對二維有機(jī)-無機(jī)鈣鈦礦閃爍體的研究主要以R2PbBr4結(jié)構(gòu)為主,部分工作研究了用Sn或者M(jìn)n 元素代替Pb 元素和I 元素代替Br 元素后材料的閃爍性能。
Kawano 等[43]通過溶液分散方法合成了尺寸為17 mm×23 mm×4 mm 的(C6H5C2H4NH3)2PbBr4(Phe)二維鈣鈦礦單晶材料(圖3(a)),密度為2.36 g/cm3,有效原子序數(shù)為32.31,并與硅酸釓(GSO∶Ce)閃爍體的閃爍性能開展了對比研究。如圖3(b)所示,X 射線激發(fā)時(shí)衰減時(shí)間分別為11 ns(81%)、36 ns(18%)和236 ns(1%)。11 ns 的快衰減部分源于無機(jī)層中激子退激,發(fā)射譜如圖3(c)所示,發(fā)光峰值位于437 nm 處。Phe 閃爍體在57Co(122 keV)、133Ba(356 keV)、22Na(511 keV)和137Cs(662 keV)不同能量輻射源激發(fā)時(shí)的幅度譜峰值與射線能量之間呈線性變化趨勢(圖3(d)),說明Phe 閃爍體在122~662 keV 射線能量區(qū)間內(nèi)具有良好的能量響應(yīng)線性關(guān)系。由幅度譜測試結(jié)果可知(圖3(e)~(f)),Phe的光產(chǎn)額為14 000 photons/MeV;GSO∶Ce 閃爍體的能量分辨率為(9±2)%(137Cs)和(19±2)%(57Co),相比之下,Phe 閃爍體 能 量 分 辨 率 較 差,為(29±6)%(137Cs)和(43±7)%(57Co),可能是由于激子的自吸收造成。
圖3 (a)(C6H5C2H4NH3)2PbBr4(Phe)單晶材料尺寸[43];Phe 和GSO∶Ce 閃爍體在X 射線激發(fā)下的時(shí)間響應(yīng)曲線(b)和發(fā)射光譜(c)[43];(d)Phe 幅度譜峰值道址和伽馬射線能量之間的變化關(guān)系[43];Phe 和GSO∶Ce 閃爍體在57Co (e)和137Cs(f)輻射源激發(fā)下的幅度譜結(jié)果[43]Fig.3 (a)A image to show the size of (C6H5C2H4NH3)2PbBr4(Phe) single crystal[43].Time response(b) and emission spectra(c) of Phe and GSO∶Ce under X-ray excitation[43].(d)Relationship of Phe between channel number and energy of γ-ray[43].Pulse height spectrum of Phe and GSO∶Ce under 57Co(e) and 137Cs(f) excitation[43]
Blaaderen 等[44]研究了PEA2PbBr4材料的閃爍性能隨溫度的變化規(guī)律(圖4(a))。當(dāng)溫度較高時(shí)只在440 nm 附近出現(xiàn)單獨(dú)的發(fā)射峰,隨溫度降低,發(fā)射光譜峰值逐漸向高能方向移動(dòng),并且光譜半高寬逐漸減??;當(dāng)溫度低于150 K 時(shí),在550 nm附近新出現(xiàn)一個(gè)很寬的發(fā)射峰,并且峰值強(qiáng)度隨溫度降低而升高,該現(xiàn)象可能是材料中深能級缺陷的存在導(dǎo)致了激子的自俘獲發(fā)光,由于深能級缺陷能量較低,所以發(fā)射光譜向長波方向移動(dòng),并且降低溫度加重了自俘獲效應(yīng)。隨溫度降低,光譜強(qiáng)度呈上升-下降-上升趨勢(圖4(b)),在250 K時(shí)強(qiáng)度最大,在100 K 時(shí)強(qiáng)度最小,相同現(xiàn)象同樣出現(xiàn)在Xie[45]和Maddalena[46]等的研究工作中。圖4(c)具體分析了10~200 K 時(shí)不同光譜位置處強(qiáng)度隨溫度的變化關(guān)系,主發(fā)射峰410 nm 和440 nm處強(qiáng)度隨溫度降低而減小,相反,由自俘獲產(chǎn)生的峰值位于550 nm 處強(qiáng)度隨溫度降低而升高,這兩種現(xiàn)象之間的競爭導(dǎo)致了總強(qiáng)度呈先下降后上升的變化趨勢。此外,還需注意到一個(gè)現(xiàn)象,在Blaaderen[44]和Jin[47]等的研究工作中證明PEA2Pb-Br4材料存在自吸收效應(yīng),具體現(xiàn)象為:在紫外激光激發(fā)下,當(dāng)探測器與激光呈90°時(shí),發(fā)射峰位于410 nm 和440 nm;而當(dāng)探測器與激光呈180°時(shí),只有一個(gè)發(fā)射峰位于440 nm,說明410 nm 處熒光被吸收后重新發(fā)出峰值位于440 nm 的熒光;當(dāng)夾角為90°時(shí),材料發(fā)出的熒光有一部分由于自吸收效應(yīng)轉(zhuǎn)化為440 nm 處熒光,因此存在兩個(gè)發(fā)射峰;而當(dāng)夾角為180°時(shí),材料發(fā)出的熒光全部由于自吸收效應(yīng)轉(zhuǎn)化為440 nm 處熒光,因此只有一個(gè)發(fā)射峰。Sheikh 等[48]證明了PEA2PbI4材料的表面相比于內(nèi)部具有更高的禁帶寬度,當(dāng)表面發(fā)射的熒光進(jìn)入晶體內(nèi)部,被重新吸收后釋放出低能量的熒光,導(dǎo)致了自吸收效應(yīng)的形成。該結(jié)論同樣適用于PEA2PbBr4材料中自吸收效應(yīng)的產(chǎn)生。PEA2PbBr4材料在X 射線激發(fā)時(shí)的快衰減時(shí)間隨溫度降低呈先增大后減小的趨勢(圖4(d)),最快衰減時(shí)間可達(dá)1.54 ns,且由單一衰減成分變化為10 K 時(shí)的雙衰減成分;通過對比在探測器前放置/去除455 nm 的長波通濾光片的衰減曲線,表明10 K 時(shí)1.54 ns 的快衰減時(shí)間源于414 nm 熒光發(fā)射,而慢衰減時(shí)間源于550 nm 熒光發(fā)射。PET 系統(tǒng)通過探測人體內(nèi)兩個(gè)相反方向上的511 keV 伽馬光子,進(jìn)而獲得活體斷層圖像[49],對閃爍體時(shí)間性能要求很高。Jin 等[47]對比測量了PEA2PbBr4和硅酸釔镥(LYSO)閃爍體對22Na 輻射源釋放出的一對511 keV 伽馬光子的符合時(shí)間分辨,結(jié)果如圖4(e)所示。PEA2PbBr4材料的時(shí)間分辨可達(dá)(119±3) ps,優(yōu)于LYSO 的(179±2) ps,該 數(shù)據(jù)與Cala 等[40]的研究結(jié)果基本一致,證明PEA2PbBr4材料在PET 應(yīng)用中具有很大的潛力。
圖4 (a)PEA2PbBr4 材料的射線激發(fā)光譜隨溫度變化關(guān)系[44];光譜總強(qiáng)度(b)和不同光譜位置處強(qiáng)度(c)隨溫度變化曲線[44];(d)衰減時(shí)間曲線隨溫度變化關(guān)系[44];(e)PEA2PbBr4和LYSO 閃爍體的符合時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)結(jié)果[47]Fig.4 (a)Relationship of PEA2PbBr4 between emission spectrum and temperature[44].Change curve of intensity of entire(b) and different position(c) of emission spectrum as temperature changing[44].(d)Relationship between decay time curve and temperature[44].(e)Result of coincidence time resolution of PEA2PbBr4 and LYSO[47]
Xie[45]和Maddalena[46]等研究了Li 元素?fù)诫s對phenylethylammonium lead bromide(PEA2PbBr4)和butylammonium lead bromide (BA2PbBr4)等材料閃爍性能的影響。圖5(a)中所示比值關(guān)系為LiBr 和PbBr2前驅(qū)液的容量比,由不同濃度Li摻雜的X射線衍射技術(shù)(XRD)測試結(jié)果可知,摻雜Li元素幾乎不會影響材料的晶體結(jié)構(gòu)。主要原因?yàn)椋阂环矫?,Li具有小的相對原子序數(shù),相比其他元素其X 射線截面太?。涣硪环矫?,Li元素半徑過小而不會引起晶格變形。根據(jù)Li 摻雜PEA2PbBr4和BA2PbBr4材料的X射線光電子能譜(XPS)測試結(jié)果(圖5(b)),可得到Li 摻雜PEA2PbBr4材料中Li 和Pb 的比例分別為5.4%和4.4%,Li 摻雜BA2PbBr4材料中Li 和Pb 的比例分別為3.7%和3.8%。Li 摻雜不會改變X 射線激發(fā)發(fā)光峰值的位置(圖5(c)),但是卻展寬了發(fā)射光譜,PEA2PbBr4材料摻雜前后發(fā)射光譜的半寬由30 nm展寬為41 nm,BA2PbBr4材料摻雜前后發(fā)射光譜的半寬由27 nm 展寬為35 nm。計(jì)算了Li摻雜前后兩種材料在241Am(59.5 keV)、22Na(511 keV)和137Cs(662 keV)等輻射源激發(fā)時(shí)的光產(chǎn)額和對應(yīng)能量的能量分辨率(圖5(d)~(e))。結(jié)果表明,Li摻雜后PEA2PbBr4材料在59.5 keV 和662 keV 能量激發(fā)時(shí)的光產(chǎn)額分別提升了58%和78%,能量分辨率由 摻 雜 前 的(43.1±2.1)%(59.5 keV)和(11.2±1.7)%(662 keV)提升至(32.6±1.3)%(59.5 keV)和(9.5±2)%(662 keV);相反,Li摻雜后BA2PbBr4材料在59.5 keV、511 keV 和662 keV 能量激發(fā)時(shí)的光產(chǎn)額分別降低了12%、30%和20%,662 keV 處能量分 辨 率 由 摻 雜 前 的(13±1.5)%提 升 至(10.9±1.7)%。分析不同材料中Li摻雜引起光產(chǎn)額不同變化趨勢的原因?yàn)椋篜EA2PbBr4材料中由于Li 摻雜主要起表面鈍化作用,減少了表面缺陷密度,使輻射復(fù)合效率提高,進(jìn)而增加了光產(chǎn)額[50];而BA2PbBr4材料中Li 摻雜降低了載流子運(yùn)動(dòng)速度并且增加了非輻射復(fù)合過程,最終減小了光產(chǎn)額。該研究中PEA2PbBr4材料在662 keV 處的能量分辨率優(yōu)于Kawano等[43]的結(jié)果,可能是由于材料晶體質(zhì)量不同造成的。PEA2PbBr4材料衰減時(shí)間的主要快成分由13.4 ns 減小為摻雜后的11.2 ns,而BA2PbBr4材料摻雜前后衰減時(shí)間保持一致(圖5(f))。因此,在PEA2PbBr4材料中摻雜Li 元素可以增加光產(chǎn)額、提高能量分辨率和減少衰減時(shí)間;在BA2PbBr4材料中摻雜Li元素可以提高能量分辨率,但降低了光產(chǎn)額。另外,Li 摻雜PEA2PbBr4材料能夠在低能X 射線(8 keV)條件下清晰地識別250 μm的物體(圖5(g)),說明該材料具有良好的空間分辨能力[45]。
Onoda 等[51-52]實(shí)驗(yàn)研究了Cd 和Sn 元素?fù)诫s對PEA2PbBr4材料閃爍性能的影響規(guī)律(圖6(a)~(f))。Cd、Sn 濃度的不同不會改變材料發(fā)射譜形狀和峰值位置,衰減時(shí)間和光產(chǎn)額計(jì)算結(jié)果如表2 所示。隨x數(shù)值增加,衰減時(shí)間和光產(chǎn)額均呈先增加后下降的趨勢,并且當(dāng)x為0.25 時(shí)達(dá)到最大值;另外,當(dāng)x數(shù)值相等時(shí),Cd 元素對材料閃爍性能影響較大。分析原因?yàn)镃d 和Sn 元素的摻雜影響了晶體結(jié)構(gòu),進(jìn)而增強(qiáng)/減弱了量子限域效應(yīng),最終改變了材料的閃爍性能。Kawano 等[27]研究了碘元素?fù)诫s對PEA2PbBr4材料衰減時(shí)間的影響規(guī)律,結(jié)果如表3所示。隨I元素濃度增加,材料在紫外激光和X 射線激發(fā)下的衰減時(shí)間均呈減小趨勢,且對射線激發(fā)時(shí)的衰減時(shí)間改變較大。碘元素相比Br元素對射線具有更大的吸收系數(shù),由于激光照射時(shí)只有材料的無機(jī)層被激發(fā),而射線照射時(shí)材料的無機(jī)和有機(jī)層均被激發(fā),隨著碘元素含量的增加,兩種激發(fā)條件下得到的衰減時(shí)間基本一致,這說明射線的吸收過程主要發(fā)生在無機(jī)層中。
表2 不同x 數(shù)值時(shí)PEA2Pb1-xCdxBr4 和PEA2Pb1-xSnxBr4材料衰減時(shí)間和光產(chǎn)額結(jié)果[51-52]Tab.2 Decay time and light yield of PEA2Pb1-xCdxBr4 and PEA2Pb1-xSnxBr4 with different x[51-52]
表3 不同x 數(shù)值時(shí)PEA2PbIxBr4-x衰減時(shí)間計(jì)算結(jié)果[27]Tab.3 Decay time of PEA2PbIxBr4-x with different x[27]
Li等[53]在不同輻照條件下實(shí)驗(yàn)測量了BA2PbBr4材料的閃爍性能。由圖7(a)可知,材料發(fā)光強(qiáng)度與X 射線輻照劑量率之間呈良好的線性,最低探測閾值為318.3 nGyair/s,明顯低于醫(yī)學(xué)探測劑量率值(5 500 nGyair/s)。由圖7(b)可知,137Cs輻射源激發(fā)時(shí)材料衰減常數(shù)分別為2.52 ns(99.99%)和9.55 ns(0.01%);由圖7(c)可知,237Np輻射源激發(fā)時(shí)材料衰減常數(shù)分別為1.7 ns(99.99%)和7.61 ns(0.01%)。由圖7(d)~(e)所示幅度譜結(jié)果可知,137Cs和237Np 激發(fā)時(shí)材料光產(chǎn)額分別為EJ228 的0.72 倍和5.8 倍。在237Np 激發(fā)時(shí)材料具有更快的衰減時(shí)間和更高的光產(chǎn)額,可能是α 粒子的電離能力更強(qiáng)的原因。Shao等[54]研究了Mn 摻雜對BA2PbBr4材料閃爍性能的影響,未摻雜時(shí)射線激發(fā)發(fā)射峰位于440 nm,隨Mn 摻雜比例增加,440 nm 處強(qiáng)度逐漸降低,而在長波方向610 nm處出現(xiàn)新發(fā)射峰(圖7(f))。由圖7(g)可知,X 射線吸收系數(shù)隨Mn 濃度增加逐漸減小,原因?yàn)镸n比Pb具有更小的X 射線吸收系數(shù)(ZMn=25,ZPb=82),而Mn濃度增加導(dǎo)致了Pb濃度降低,因此材料的X射線吸收系數(shù)逐漸減?。还庾V總強(qiáng)度和PLQY隨Mn濃度增加呈先增加后減小趨勢,當(dāng)Mn濃度為10%時(shí)光譜強(qiáng)度達(dá)到最大值,當(dāng)Mn 濃度為20%時(shí)PLQY 達(dá)到最大值。圖7(h)為Mn 摻雜時(shí)BA2PbBr4材料發(fā)光機(jī)制示意圖,未摻雜Mn時(shí)材料為帶邊自由激子發(fā)光(機(jī)制1),發(fā)光峰值位于440 nm;摻雜Mn元素可使電子和空穴通過能量轉(zhuǎn)移至低能級,并通過4T1g→6A1g退激發(fā)光(機(jī)制2),發(fā)光峰值位于610 nm,并且Mn濃度增加會提高能量轉(zhuǎn)移效率。因此,當(dāng)材料被激發(fā)時(shí),兩種發(fā)光機(jī)制相互競爭,隨Mn 濃度增加,機(jī)制2更具優(yōu)勢,導(dǎo)致圖7(f)中440 nm 處發(fā)光逐漸降低。BA2PbBr4∶10%Mn材料在X 射線激發(fā)時(shí)能夠清晰識別10 lp/mm 的物體(圖7(i)),利用X射線鎢刀口圖像計(jì)算了相應(yīng)的調(diào)制度傳遞函數(shù)曲線(MTF),當(dāng)MTF=0.2 時(shí)空間分辨達(dá)到10.7 lp/mm(圖7(j))。圖7(i)~(j)的 結(jié) 論 證 明BA2PbBr4∶10%Mn 材料能夠在X 射線成像系統(tǒng)中獲取高空間分辨的圖像。
圖7 (a)BA2PbBr4材料發(fā)光強(qiáng)度隨X 射線劑量的變化曲線[53];137Cs(b)和237Np(c)激發(fā)材料時(shí)的衰減時(shí)間曲線[53];137Cs(d)和237Np(e)激發(fā)材料時(shí)的幅度譜[53];(f)X 射線激發(fā)材料的發(fā)射光譜隨Mn 摻雜濃度的變化關(guān)系[54];(g)材料的X 射線吸收系數(shù)、發(fā)光總強(qiáng)度和量子效率隨Mn 摻雜濃度的變化曲線[54];(h)Mn 摻雜時(shí)材料的閃爍發(fā)光機(jī)制[54];(i)利用BA2PbBr4∶10%Mn 材料獲得的X 射線鎢刀口圖像和MTF 計(jì)算結(jié)果[54];(j)利用BA2PbBr4∶10%Mn 材料獲得的X 射線分辨卡圖像[54]Fig.7 (a)Radioluminescence intensity of BA2PbBr4 as X-ray dose changing[53].Decay time curve under 137Cs(b) and 237Np(c)excitation[53].Pulse height spectrum under 137Cs(d) and 237Np(e) excitation[53].(f)Emission spectra under X-ray excitation as concentration of Mn changing[54].(g)Mass attenuation coefficient, intensity of entire spectrum, and PLQY as concentration of Mn changing[54].(h)Scintillation mechanism while Mn doped[54].(i)X-ray tungsten knife-edge image and result of MTF acquired by BA2PbBr4∶10%Mn[55].(j)X-ray resolution card image acquired by BA2PbBr4∶10%Mn[54]
Kowal 等[55]研究了PEA2PbI4材料的閃爍性能。由圖8(a)可知,該材料在137Cs 激發(fā)時(shí)共計(jì)有4 個(gè)衰減常數(shù),分別為0.5 ns(10%)、4.5 ns(2%)、22 ns(48%)和450 ns(40%),0.5 ns 的超快衰減時(shí)間小于最快的無機(jī)閃爍體BaF2(0.8 ns),但是該成分強(qiáng)度所占比例較低,僅為10%。由圖8(b)可知,材料熒光產(chǎn)額較低,為1×107lx/MeV,并且對662 keV 的γ 射線能量分辨率僅為35%,明顯弱于PEA2PbBr4(11.2%@662 keV)。材 料 在300 K 時(shí)有兩個(gè)明顯的發(fā)射峰(圖8(c)),分別位于523 nm和660 nm,并且660 nm 的發(fā)射峰主要是由表面缺陷態(tài)引起;隨溫度降低,發(fā)射峰逐漸向長波方向移動(dòng)且發(fā)射光譜半寬逐漸減小,發(fā)光強(qiáng)度逐漸增大,660 nm 處強(qiáng)度大幅提升,而523 nm 處強(qiáng)度提升幅度較小。Xie 等[56]對比了多種二維鈣鈦礦材料被射線激發(fā)時(shí)的熒光產(chǎn)額和衰減時(shí)間,結(jié)果如圖8(d)~(e)所示。Br 基材料熒光產(chǎn)額總體高于碘基材料,主要是由于碘基材料中高熒光猝滅系數(shù)導(dǎo)致;碘基材料衰減時(shí)間均小于2 ns,而大部分Br基材料衰減時(shí)間在1.1~6.4 ns 范圍內(nèi)。
圖8 137Cs 激發(fā)PEA2PbI4材料時(shí)的衰減時(shí)間曲線(a)和幅度譜結(jié)果(b)[55]; (c)X 射線激發(fā)時(shí)材料發(fā)射光譜隨溫度的變化規(guī)律[55];多種二維鈣鈦礦材料的熒光產(chǎn)額(d)和衰減時(shí)間曲線(e)[56]Fig.8 Decay time curve(a) and pulse height spectrum(b) of PEA2PbI4 under 137Cs excitation[55].(c)Emission spectrum as temperature changing under X-ray excitation[55].Light yield(d) and decay time curve(e) of multiple 2D perovskites[56]
此外,有研究報(bào)道了利用Sn2+和Mn2+等二價(jià)陽離子代替Pb2+的二維鈣鈦礦材料的閃爍性能。Cao等[57]合成的(C8H17NH3)2SnBr4材料在X 射線成像系統(tǒng)中能夠獲得不同物體的清晰圖像,如圖9(a)所示,在工業(yè)無損檢測、電子元器件檢測和生物成像領(lǐng)域有很大的應(yīng)用潛力。Hardhienata 等[58]發(fā)現(xiàn)X2MnCl4材料(X=PEA,C9H14N(PPA))只有在溫度低于100 K時(shí)才會發(fā)出熒光,如圖9(b)所示,是高溫條件下熱猝滅效應(yīng)導(dǎo)致的非輻射復(fù)合效應(yīng)占據(jù)了主導(dǎo)地位、而幾乎不發(fā)生輻射復(fù)合發(fā)光過程造成。
圖9 (a)由(C8H17NH3)2SnBr4 材料獲得的X 射線圖像[57];(b)X2MnCl4 材料(X=PEA,PPA)在射線激發(fā)下的發(fā)射光譜隨溫度變化關(guān)系[58]Fig.9 (a)X-ray image acquired by (C8H17NH3)2SnBr4[57].(b)Emission spectrum of X2MnCl4(X=PEA, PPA) as temperature changing[58]
二維鈣鈦礦材料的有機(jī)分子富含氫元素,可與中子發(fā)生彈性散射,因此理論上對中子具備一定的探測能力。Xia 等[59]研究了PEA2Pb(Br0.95Cl0.05)4材料(PLBC)在中子作用下的閃爍性能,PLBC 中子截面和富氫塑料閃爍體(C9H10)n(PVT)基本相當(dāng)(圖10(a)),并且高出無機(jī)閃爍體LaBr3∶Ce 約一個(gè)量級,說明PLBC 具有和塑料閃爍體相當(dāng)?shù)闹凶犹綔y效率。根據(jù)材料在Am-Be 中子源作用下獲得的時(shí)間響應(yīng)曲線(圖10(b)),上升時(shí)間和脈沖寬度分別為0.78 ns 和3.05 ns,說明PLBC 對中子有很快的時(shí)間響應(yīng)。圖10(c)所示為材料在14.1 MeV(D-T)和2.5 MeV(D-T)中子激發(fā)時(shí)的幅度譜結(jié)果,截止道數(shù)分別為1 465 和270,與中子能量呈線性變化趨勢,說明該材料對中子具有良好的能量響應(yīng)線性。材料的中子響應(yīng)強(qiáng)度和中子產(chǎn)額之間呈良好的線性(圖10(d)),說明PLBC在中子激發(fā)時(shí)的發(fā)光強(qiáng)度與中子劑量之間為線性,并且中子靈敏度為5.6×10-16C/中子@2.5MeV。Zheng 等[60]利用生長的富氫二維鈣鈦礦材料Mn-(C18H37NH3)2PbBr4(Mn-STA2PtbBr4)和 鋼 分 辨 卡獲得了清晰的中子輻射圖像,材料厚度為1.135 mm,中子能量為14.1 MeV,結(jié)果如圖10(e)所示??臻g分辨達(dá)到0.5 lp/mm,該數(shù)值要弱于商用ZnS(Ag)∶PP 閃爍體的中子空間分辨(2 lp/mm),分析原因?yàn)槭芟抻诓牧仙L技術(shù)。因此,二維鈣鈦礦材料在中子探測以及中子成像方面也具有較大的應(yīng)用潛力。
圖10 (a)不同材料的中子反應(yīng)截面計(jì)算結(jié)果[59];(b)PLBC 對中子的時(shí)間響應(yīng)[59];(c)PLBC 對2.5 MeV 和14.1 MeV 中子的幅度譜測試結(jié)果[59];(d)PLBC 對中子的響應(yīng)強(qiáng)度和中子數(shù)之間的對應(yīng)關(guān)系[59];(e)14.1 MeV 中子輻照時(shí)Mn-(C18H37NH3)2PbBr4材料獲得的中子圖像[60]Fig.10 (a)Results of cross section of different materials[59].(b)Time response of PLBC toward neutron[59].(c)Pulse height of PLBC toward neutron with energies of 2.5 MeV and 14.1 MeV[59].(d)Relationship between response intensity of PLBC toward neutron and neutron yield[59].(e)Neutron image acquired by Mn-(C18H37NH3)2PbBr4 under neutron excitation with energy of 14.1 MeV[60]
二維有機(jī)-無機(jī)雜化鈣鈦礦閃爍體在X/γ/中子射線探測與成像等方面得到了廣泛的研究,在已發(fā)表的工作中,一些材料的閃爍性能甚至已超過了成熟商用閃爍體,比如ns 量級的衰減常數(shù)和大于10 000 ph/MeV 的光產(chǎn)額,在醫(yī)學(xué)成像和高能物理探測領(lǐng)域有很大的應(yīng)用潛力。但是還存在一些未解決的問題,仍有很大的發(fā)展前景。
一是大面積二維鈣鈦礦材料的生長和商業(yè)化應(yīng)用。在高能物理探測領(lǐng)域,比如閃光照相系統(tǒng),通過對輻射源區(qū)或被檢測物體成像獲得源區(qū)和物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息,經(jīng)常需要數(shù)十cm2的大面積閃爍體,而目前的研究工作還是以小尺寸(<5 cm)材料為主,很難滿足上述需求。發(fā)展大面積二維鈣鈦礦材料的生長技術(shù),不僅能夠促進(jìn)對材料物化性能的進(jìn)一步認(rèn)識,而且能夠提高材料生長工藝水平,具有很大的發(fā)展?jié)摿?。另外,對二維鈣鈦礦閃爍材料的研究目前還處于基礎(chǔ)研究階段,若要促進(jìn)該類型材料的進(jìn)一步發(fā)展,需要推動(dòng)它們的成品化生產(chǎn)以滿足商業(yè)化應(yīng)用。
二是二維鈣鈦礦材料在脈沖輻射場中的應(yīng)用。脈沖輻射源持續(xù)過程一般為數(shù)十ns 量級,射線劑量值為Gy 量級,劑量率高達(dá)~109Gy/s 量級,該數(shù)值較穩(wěn)態(tài)輻射源(如西北核技術(shù)研究所的萬居里鈷源)高~8 個(gè)量級。當(dāng)前材料的閃爍性能研究基本采用的為穩(wěn)態(tài)輻射源,雖然表現(xiàn)出良好的閃爍性能,但在脈沖輻射場中的研究幾乎沒有,無法作為脈沖輻射場參數(shù)診斷的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)。另外,隨著高能物理技術(shù)的發(fā)展,脈沖輻射持續(xù)時(shí)間持續(xù)縮短,為保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度,要求閃爍體性能進(jìn)一步提升,如百ps 量級的衰減時(shí)間和高熒光產(chǎn)額,基于二維鈣鈦礦材料強(qiáng)量子限域效應(yīng)的優(yōu)勢,深入研究該效應(yīng)和發(fā)光時(shí)間之間的相關(guān)規(guī)律,進(jìn)而推動(dòng)新材料的發(fā)展,具有很重要的學(xué)術(shù)價(jià)值。
三是光致激發(fā)和輻射致激發(fā)時(shí)材料不同的發(fā)光物理機(jī)制。相關(guān)研究表明二維鈣鈦礦材料在光致激發(fā)時(shí)比輻射致激發(fā)時(shí)具有更小的衰減時(shí)間,對于該現(xiàn)象的解釋,目前還沒有統(tǒng)一的結(jié)論。通過相關(guān)實(shí)驗(yàn)(比如瞬態(tài)吸收譜測量)或模擬方法(比如激發(fā)態(tài)載流子動(dòng)力學(xué)模擬),尋找不同激發(fā)源激發(fā)時(shí)材料中載流子運(yùn)動(dòng)規(guī)律,并進(jìn)行相關(guān)機(jī)制的研究,有望能夠解釋不同激發(fā)源激發(fā)材料時(shí)發(fā)光物理機(jī)制的不同,這對二維鈣鈦礦材料的發(fā)光機(jī)制可做進(jìn)一步補(bǔ)充。
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