張志威,彭 昊,譚宇豪,李明皓,汪旭明
(吉首大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院,湖南 吉首 416000)
介質(zhì)損耗角是衡量電氣設(shè)備絕緣性能的重要指標(biāo)之一,介質(zhì)損耗角的精確測量對于電力設(shè)備的安全、可靠運(yùn)行起到重要作用[1].介質(zhì)損耗角的數(shù)值小,傳統(tǒng)硬件測量方法的測量精度較低,而軟件法處理方式較靈活且精度高[2].在軟件法中,快速傅里葉變換(Fast Fourier Transform,F(xiàn)FT)因具有便于嵌入式實現(xiàn)、抗干擾性強(qiáng)等特點,成為介質(zhì)損耗角測量的常用方法.然而,通過電壓互感器、電流互感器測量得到的電壓、電流信號存在非同步采樣,導(dǎo)致對信號FFT處理時會出現(xiàn)頻譜泄漏,從而降低介質(zhì)損耗角的測量精度.為了提高介質(zhì)損耗角的FFT測量精度,研究者提出了加窗與插值相結(jié)合的FFT介質(zhì)損耗角測量方法[3-6],以及對信號FFT處理后的譜序列進(jìn)行加權(quán)變換的方法[7].為了更好地監(jiān)測電力設(shè)備的絕緣性能,從窗函數(shù)復(fù)雜度和測量精度角度綜合考慮,筆者認(rèn)為,仍需對基于FFT的介質(zhì)損耗角測量方法作改進(jìn).
絕緣材料可以用電阻和電容的并聯(lián)模型來等效替代,對絕緣材料兩端加電壓,電介質(zhì)等效電路見圖1.圖1(a)中C為介質(zhì)等效電容,R為介質(zhì)等效電阻,iR為流過電阻的電流,iC為流過電容的電流;圖1(b)中u和i分別為絕緣材料的電壓和電流向量,iR和iC正交,φ為u和i的相位差,介質(zhì)損耗角δ為φ的補(bǔ)交[8].設(shè)電容兩端電壓和電流表達(dá)式分別為
u(t)=Au1sin(2πfu1t+φu1),
i(t)=Ai1sin(2πfi1t+φi1).
(1)
其中:Au1和Ai1分別為電壓和電流的幅值;φu1和φi1分別為電壓和電流的初相角;fu1和fi1分別為電壓、電流的頻率.介質(zhì)損耗角δ的計算公式為
(2)
其中φ=|φu1-φi1|.
圖1 電介質(zhì)等效電路Fig. 1 Dielectric Equivalent Circuit
在FFT介質(zhì)損耗角測量方法中,窗函數(shù)旁瓣性能的優(yōu)劣決定了測量的精度.筆者設(shè)計了一種新的窗函數(shù),新窗由五項Rife-Vincent(Ι)窗自乘得到,用RVSM表示.Rife-Vincent(Ι)窗用RV表示,表達(dá)式為
圖2 窗函數(shù)的幅頻特性Fig. 2 Amplitude-Frequency Characteristic of Window Function
其中:m為項數(shù);am為系數(shù);N為窗函數(shù)長度;n=0,1,…,N-1.這里a0=1,a1=1.6,a2=0.8,a3=0.228 57,a4=0.028 57.Rife-Vincent (Ι)自乘窗的表達(dá)式為
wRVSM(n)=wRV(n)wRV(n).
Hanning窗、Blackman窗、Rife-Vincent(Ι)自乘窗的幅頻特性如圖2所示.從圖2可以看出,Rife-Vincent(Ι)自乘窗的第一旁瓣比Blackman窗、Hanning窗的低,且旁瓣衰減速度更快.
測量介質(zhì)損耗角需要先計算出電壓、電流信號的相位,再通過(2)式求得介質(zhì)損耗角.為了更好地分析基于改進(jìn)Rife-Vincent(Ι)窗的FFT介質(zhì)損耗角測量原理,對(1)式中的電壓信號進(jìn)行離散化,得到
(3)
其中fs為采樣頻率.為了方便窗函數(shù)的截斷,信號的長度與窗函數(shù)相同.對(3)式用Rife-Vincent(Ι)自乘窗截斷后進(jìn)行離散時間傅里葉變換,得到
(4)
(5)
由于信號的非同步采樣,頻域中實際頻率很難對應(yīng)頻域譜線.設(shè)ku1=kud+αu,其中kud為頻域最大幅值譜線序號,αu為頻率偏移量,αu∈[-0.5,0.5].結(jié)合三譜線插值算法[4],不難找出幅值最大的3根譜線為U(kud-1),U(kud),U(kud+1),其中kud-1=kud-1,kud+1=kud+1.令
(6)
由(6)式可知βu和αu可構(gòu)成函數(shù)關(guān)系式βu=g(αu),利用多項式擬合可計算出αu=g-1(βu)的近似多項式.根據(jù)搜尋獲得的三譜線幅值所含信息[4],當(dāng)N較大時,聯(lián)合(5)和(6)式可得
(7)
(7)式可簡化為
(8)
其中
通過多項式擬合也可計算得到O(αu)的近似多項式,代入到(8)式就可計算出幅值A(chǔ)u1.相位修正公式為
(9)
與電壓信號的相位測量方法相同,電流信號同樣可以利用(9)式計算出(1)式中電流信號的相位φi1,再利用(2)式計算得到介質(zhì)損耗角δ.介質(zhì)損耗角δ的計算流程如圖3所示.
圖3 計算介質(zhì)損耗角的流程Fig. 3 Flow Chart of Dielectric Loss Angle Calculation
為了驗證Rife-Vincent(Ι)自乘窗介質(zhì)損耗角測量方法的有效性,將其與加Hanning窗方法、加Blackman窗方法進(jìn)行對比實驗.采用文獻(xiàn)[6]中的仿真模型,一個由基波、3次諧波、5次諧波構(gòu)成的復(fù)合信號,信號基波頻率為49.5 Hz,介質(zhì)損耗角的理論值為0.004 019 04 rad,采樣點數(shù)為1 024,采樣頻率為1 280 Hz.仿真結(jié)果見表2.
表2 不同窗函數(shù)方法下的介質(zhì)損耗角測量結(jié)果
由表2可知,Rife-Vincent(Ι)自乘窗方法介質(zhì)損耗角的測量精度比加Hanning窗方法、加Blackman窗方法的高出接近9個數(shù)量級.
設(shè)計了基于改進(jìn)Rife-Vincent(Ι)窗的FFT介質(zhì)損耗角測量方法,構(gòu)造的Rife-Vincent(Ι)自乘窗旁瓣特性優(yōu)于傳統(tǒng)窗函數(shù),在很大程度上可以抑制頻譜泄漏的影響.仿真實驗結(jié)果表明,Rife-Vincent(Ι)自乘窗方法比加Hanning窗方法、加Blackman窗方法的介質(zhì)損耗角測量精度更高.為了進(jìn)一步提高窗函數(shù)的旁瓣特性,可以對Rife-Vincent(Ι)自乘窗自卷積,加快旁瓣的衰減速率,從而更好地減少頻譜泄漏的影響.