彭 芳,鞏 勇
(上海交通大學(xué)醫(yī)學(xué)院蘇州九龍醫(yī)院兒科,江蘇蘇州 215028)
新生兒低血糖的發(fā)生與早產(chǎn)、巨大兒、低體質(zhì)量兒、孕母糖尿病等因素有關(guān)[1]。有研究提示,在足月兒中,低血糖發(fā)生率約14%,在足月大于胎齡兒中,低血糖發(fā)生率約16%[2]。新生兒持續(xù)性低血糖可損害神經(jīng)系統(tǒng),不利于大腦發(fā)育。有研究發(fā)現(xiàn),對(duì)頑固性低血糖病例而言,其枕葉嚴(yán)重受累,而顳葉、大腦動(dòng)脈周圍組織損害相對(duì)較輕[3]。由于大腦組織葡萄糖供給未能使機(jī)體代謝需求得到滿足,可導(dǎo)致線粒體自由基受損,誘發(fā)大腦損傷,影響遠(yuǎn)期聽力、視覺等功能[4]。通過積極補(bǔ)充葡萄糖,能緩解低血糖癥狀,使神經(jīng)系統(tǒng)預(yù)后改善。然而,葡萄糖輸入速度的控制至關(guān)重要,若糖速控制不合理,可能引起低血糖再灌注腦損傷[5]?,F(xiàn)階段,臨床針對(duì)低血糖新生兒的糖速控制尚無統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn),本研究將其納入多因素分析中,旨在觀察低血糖新生兒腦損傷的影響因素,現(xiàn)結(jié)果報(bào)道如下。
1.1 一般資料 回顧性分析上海交通大學(xué)醫(yī)學(xué)院蘇州九龍醫(yī)院2018年7月至2021年7月收治的100例低血糖新生兒的臨床資料,均給予葡萄糖治療。根據(jù)是否發(fā)生腦損傷分為腦損傷組(n=12)和非腦損傷組(n=88)。本研究方案獲上海交通大學(xué)醫(yī)學(xué)院蘇州九龍醫(yī)院醫(yī)學(xué)倫理委員會(huì)批準(zhǔn)。診斷標(biāo)準(zhǔn):血漿葡萄糖或1次全血水平低于2.2 mmol/L,即低血糖。納入標(biāo)準(zhǔn):①血漿葡萄糖或1次全血水平低于2.2 mmol/L,即低血糖。入組時(shí)經(jīng)24小時(shí)腦電圖(EEG)檢查、影像學(xué)檢查和臨床表現(xiàn)等排除腦損傷可能;②日齡不超過1周;③臨床資料完善。排除標(biāo)準(zhǔn):①伴顱內(nèi)出血;②合并腦積水、顱內(nèi)結(jié)構(gòu)異常;③肺、心等臟器受損;④伴顱內(nèi)感染;⑤伴內(nèi)分泌疾??;⑥伴染色體異常;⑦伴腦外傷;⑧顱腦發(fā)育見異常;⑨伴核黃疸。
1.2 治療方法 所有新生兒均根據(jù)情況給予對(duì)癥處理,包括吸氧、補(bǔ)液、糾正水電解質(zhì)/酸堿平衡、改善微循環(huán)等。患兒均接受葡萄糖治療,首先取2 mL/kg 10%葡萄糖靜推,在早期葡萄糖治療達(dá)60 min后,開始進(jìn)行糖速控制,糖速為2~9 mmol/(L·h)。以5 mg/(kg·min)的劑量維持靜滴,每隔20 min測(cè)定足部血糖,根據(jù)糖速控制及血糖變化調(diào)整給藥劑量。持續(xù)給藥,直至新生兒血糖恢復(fù)正常,通??稍?4 h內(nèi)糾正低血糖。
1.3 觀察指標(biāo) ①腦損傷評(píng)價(jià):記錄患兒住院期間腦損傷發(fā)生率。通過腦電圖結(jié)果、影像學(xué)檢查和臨床表現(xiàn)明確是否存在腦損傷。②收集患兒一般資料,包括性別、胎齡、分娩方式、體質(zhì)量、新生兒窒息率、首次喂養(yǎng)時(shí)間、5 min Apgar評(píng)分、低血糖發(fā)生時(shí)間及糖速控制。
1.4 統(tǒng)計(jì)學(xué)分析 采用SPSS 26.0軟件分析數(shù)據(jù),計(jì)量資料用()表示,行t檢驗(yàn);計(jì)數(shù)資料用[例(%)]表示,行χ2檢驗(yàn)。將單因素分析中存在統(tǒng)計(jì)學(xué)差異的因素納入多因素分析,經(jīng)Logistic回歸模型分析低血糖新生兒腦損傷發(fā)生的影響因素。P<0.05為差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。
2.1 兩組患者一般資料比較 100例低血糖新生兒腦損傷共12例,88例未發(fā)生腦損傷,腦損傷發(fā)生率為12.00%。腦損傷組低血糖發(fā)生時(shí)間≥24 h及糖速控制為≤ 3 mmol/(L·h)、7~9 mmol/(L·h)的患者占比高于無腦損傷組,差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05),見表1。
表1 兩組患者一般資料比較
2.2 低血糖新生兒發(fā)生腦損傷影響因素的Logistic回歸分析 經(jīng)Logistic回歸模型對(duì)各變量行量化賦值,見表2。結(jié)果顯示,低血糖發(fā)生≥24 h、糖速控制為≤ 3 mmol/(L·h)及 7~9 mmol/(L·h)是低血糖新生兒發(fā)生腦損傷的危險(xiǎn)因素(P<0.05),而糖速控制為4~6 mmol/(L·h)是預(yù)防腦損傷的保護(hù)因素(P<0.05),見表3。
表2 低血糖新生兒腦損傷的危險(xiǎn)因素分析
表3 低血糖新生兒腦損傷的多因素Logistic回歸分析
新生兒低血糖是新生兒期的常見疾病,大部分患兒通過補(bǔ)充葡萄糖,能取得較好治療效果,然而,部分患兒處于持續(xù)低血糖狀態(tài),嚴(yán)重情況下可導(dǎo)致酸堿平衡紊亂,并引起神經(jīng)毒性,促使重要系統(tǒng)受到損害,以大腦損傷發(fā)生率較高[6]。有研究發(fā)現(xiàn),腦組織通過獲取葡萄糖,才可確保其能量代謝得以維持,低血糖患兒因血糖較低,大腦無法獲得足夠的葡萄糖,可造成大腦損傷[7]。早期給予葡萄糖,能促進(jìn)低血糖改善,糾正患兒的不適癥狀,然而,糖速控制對(duì)葡萄糖治療而言至關(guān)重要。研究指出,一旦糖速控制不當(dāng),可能導(dǎo)致腦細(xì)胞內(nèi)、外所獲得的葡萄糖濃度產(chǎn)生差異,引起腦損傷[8]。
本研究回顧性分析低血糖新生兒的臨床資料,觀察腦損傷的影響因素,結(jié)果提示,糖速控制為≤ 3 mmol/(L·h)及 7~9 mmol/(L·h)是低血糖新生兒發(fā)生腦損傷的危險(xiǎn)因素,而糖速控制為4~6 mmol/(L·h)是預(yù)防腦損傷的保護(hù)因素。原因可能在于,輸糖速度過慢時(shí),可致腦組織無法及時(shí)攝取足夠的葡萄糖,而輸糖速度過快,則可致腦細(xì)胞外部與內(nèi)部的葡萄糖濃度發(fā)生較大差異,引起再灌注損害[9]。因此,醫(yī)師需將輸糖速度控制為4~6 mmol/(L·h),降低腦損傷風(fēng)險(xiǎn)。此外,結(jié)果還表明低血糖發(fā)生≥24 h是患兒發(fā)生腦損傷的危險(xiǎn)因素之一,提示醫(yī)師還需了解患兒的低血糖持續(xù)時(shí)間,通常持續(xù)時(shí)間越長,預(yù)后越差。既往還有研究指出,新生兒窒息也與腦損傷發(fā)生有關(guān)[10]。但也有研究認(rèn)為,新生兒窒息程度與腦損傷發(fā)生無關(guān),僅窒息時(shí)長與其有關(guān)[11]。在本研究中,未見新生兒窒息與腦損傷發(fā)生存在關(guān)聯(lián),日后將增加樣本量對(duì)此予以論證。
綜上所述,低血糖新生兒經(jīng)葡萄糖治療時(shí),輸糖速度控制為4~6 mmol/(L·h)最佳,能降低腦損傷風(fēng)險(xiǎn),且低血糖發(fā)生≥24 h、糖速控制為 3 mmol/(L·h)及 7~9 mmol/(L·h)可導(dǎo)致腦損傷發(fā)生風(fēng)險(xiǎn)增加。