楊士杰,唐 苗,汪世林,邱宏波
(1.北京自動化控制設(shè)備研究所·北京·100074;2.海軍駐某院軍事代表室·北京·100074)
激光陀螺起源于20世紀(jì)60年代,是一種敏感運(yùn)動載體相對慣性空間角速度的慣性器件,具有精度高、可靠性高、動態(tài)范圍寬、啟動時間短等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于軍用、民用導(dǎo)航領(lǐng)域。激光陀螺精度的提高過程,是對激光陀螺各種誤差不斷深化認(rèn)知的過程。背向散射作為影響激光陀螺鎖區(qū)的關(guān)鍵因素,在所有誤差源中所占比重越來越大,已成為制約激光陀螺精度提升的主要問題之一。本文從背向散射的成因、分類,以及背向散射的檢測方法和抑制措施等方面,簡要介紹了國內(nèi)外研究進(jìn)展。
激光陀螺的工作原理基于Sagnac效應(yīng),即在環(huán)形諧振腔內(nèi)存在沿順時針(Clockwise, CW)和逆時針(Counterclockwise, CCW)方向獨(dú)立傳播的光束,當(dāng)環(huán)形光路相對慣性空間轉(zhuǎn)動時,這兩束光傳播一圈將走過不同的光程,并且此光程差將轉(zhuǎn)化為非互易的順、逆激光振蕩的頻率差,如圖1所示。激光陀螺對中、高角速率的測量十分精確,但當(dāng)激光陀螺的輸入角速率較小時,其輸出將出現(xiàn)非線性,甚至失去響應(yīng),這就是激光陀螺的閉鎖現(xiàn)象。研究表明,背向散射是引起閉鎖現(xiàn)象的主要因素。
圖1 Sagnac效應(yīng)Fig.1 Sagnac effect
通常,背向散射光是指沿入射光傳播方向的反方向進(jìn)入環(huán)路,形成閉合光路的那一小束散射光,其在整個散射光能中所占比例很小,如圖2所示。由于背向散射光的存在,順、逆激光束的能量相互耦合,在輸入角速率較小時,使得相向行波頻率發(fā)生同步,從而形成鎖區(qū)。
圖2 背向散射示意圖Fig.2 Schematic diagram of backscattering
分析背向散射引起激光陀螺閉鎖的物理機(jī)制,需借助行波激光振蕩的半經(jīng)典理論。環(huán)形諧振腔內(nèi)順逆行波的強(qiáng)度和相位自洽方程組為
(1)
φ
、ε
如下ψ
=ψ
-ψ
≡φ
+π+(θ
+θ
)/
2θ
-θ
)/
2≡ε
-π/
2(2)
對式(1)進(jìn)行變量代換,可得
(3)
式中,前2個方程表示順逆行波在環(huán)形腔中運(yùn)轉(zhuǎn)時光強(qiáng)的相對變化;第3個方程表示順逆行波的頻率差。復(fù)合振幅反射系數(shù)R
ei、R
ei的數(shù)學(xué)表達(dá)式如下(4)
由式(3)和式(4)可知,在環(huán)形諧振腔輸入角速率較小時,空腔振蕩頻差不為0,但由于復(fù)合振幅反射系數(shù)的影響,順逆行波的頻率保持同步,頻差變?yōu)?,進(jìn)而形成鎖區(qū)。
背向散射的來源多種多樣,可以分為如下幾方面:1)反射鏡表面缺陷;2)傳輸介質(zhì)折射率的非均勻性;3)光學(xué)元器件的散射;4)氣體中的灰塵、雜質(zhì)等。在所有散射源中,反射鏡對背向散射的影響最大。
反射鏡表面缺陷是指在反射鏡加工過程中,由于鍍膜等工藝的限制,或者使用過程中的損傷,反射鏡表面并非絕對光滑,存在一定的粗糙度。反射鏡表面缺陷主要包括麻點(diǎn)、劃痕等。通常,麻點(diǎn)直徑和劃痕寬度可控制在微米量級。當(dāng)入射光入射到缺陷位置,將引起朝著各個方向的散射,而這其中就包含了沿著入射光反方向的背向散射。
激光傳輸介質(zhì)的折射率非均勻性同樣可以引起背向散射。傳輸介質(zhì)折射率沿光束軸向z
的分布n
(z
)可拆分為兩部分,即n
(z
) =n
(z
) + Δn
(z
),等式右端第一項(xiàng)表示折射率的緩變部分,第二項(xiàng)表示折射率的突變部分。根據(jù)激光振蕩的半經(jīng)典理論和簡并微擾理論,可得折射率非均勻性與背向散射系數(shù)的關(guān)系為r
=(5)
式中,L
為環(huán)形腔長;k
為真空中的波矢;n
為平均折射率;k
=k
n
。在激光陀螺諧振腔中,反射鏡所鍍高反膜系和不同光學(xué)元件交界面是折射率非均勻性的主要來源。由光學(xué)元件引起的背向散射同樣需要注意。激光陀螺環(huán)形諧振腔一般由毛細(xì)管、光闌、反射鏡等組成,若光學(xué)元件的尺寸參數(shù)不合理,毛細(xì)管孔壁與光闌的光潔度不夠高,可能存在使入射光反向的光路,形成背向散射。
另外,諧振腔的裝配和處理需要在超潔凈環(huán)境下進(jìn)行,以盡量避免引入空氣中的灰塵、雜質(zhì)等,這些氣體中的微粒同樣會引起朝著各個方向的散射。根據(jù)微粒尺寸的不同,可分別應(yīng)用瑞利散射或米散射理論進(jìn)行分析。
從能量傳遞的角度,背向散射又可分為保守型(Conservative)和非保守型(Dissipative)兩種。保守型背向散射是指CW/CCW光束損失的能量等于CCW/CW光束獲得的能量;而非保守型背向散射是指CW/CCW光束損失的能量不能完全耦合到CCW/CW光束中,這其中存在一定的能量損耗。保守型背向散射通常由波長量級的折射率非均勻性引起;而非保守型背向散射通常由反射鏡表面缺陷、氣體中的灰塵引起。非保守型背向散射在低轉(zhuǎn)速時抵消Sagnac效應(yīng)頻差,進(jìn)而形成鎖區(qū);而保守型背向散射在低轉(zhuǎn)速時使順逆光束強(qiáng)度不等,甚至一束光湮滅,進(jìn)而形成鎖區(qū)。
若環(huán)形諧振腔內(nèi)部存在多個背向散射源,可采用矢量疊加方法分析多個背向散射源條件下諧振腔內(nèi)的綜合背向散射。
以正方形諧振腔為例,分析各個背向散射源對綜合背向散射的貢獻(xiàn)。為了討論方便,這里只考慮了由反射鏡引起的背向散射。如圖3所示,CW光束引起的背向散射光與CCW光束方向相同。嚴(yán)格意義上,背向散射光束與入射光束同軸反向。
圖3 正方形諧振腔內(nèi)背向散射示意圖Fig.3 Schematic diagram of backscattering in a square cavity
但實(shí)際情況下,如圖4所示,所分析背向散射光束通常是在以入射光為軸線的小圓錐角之內(nèi)。
圖4 實(shí)際背向散射光束方向示意圖Fig.4 Schematic diagram of the actual backscattered beam direction
設(shè)在環(huán)形諧振腔中運(yùn)行的CW光束電場矢量為,CCW光束電場矢量為??紤]CW光束,起點(diǎn)O
選在M鏡處,則由M鏡引起的背向散射到達(dá)O
點(diǎn)的電場為=r
e-i2(6)
其中,r
為M鏡的背向散射復(fù)系數(shù);z
為M鏡散射點(diǎn)到起點(diǎn)O
的距離。同理,可定義M、M、M鏡的背向散射復(fù)系數(shù)r
、r
、r
。=r
e-i2r
e-i2r
e-i2(7)
設(shè)CW和CCW方向上的綜合背向散射系數(shù)分別為R
和R
,則有(8)
式中,r
1,和r
2,分別為沿CW方向和CCW方向各個鏡面上的背向散射復(fù)系數(shù)。由于背向散射,順逆行波能量發(fā)生耦合時,CW方向和CCW方向上光束的電場將變?yōu)?/p>′=+
R
R
(9)
更直觀地,可以采用矢量圖的形式對背向散射進(jìn)行描述。若以一定模長和方向的矢量表示各個反射鏡處的背向散射,將這些矢量首尾相連即可獲得綜合背向散射的模長和方向,如圖5所示。
(a)綜合背向散射為0
僅依靠工藝水平的提升無法完全消除反射鏡的背向散射,但矢量疊加方法提供了一種思路,即可通過調(diào)整反射鏡的方位,以獲得最小的綜合背向散射。
在機(jī)抖型激光陀螺的工程應(yīng)用中,為減小角度隨機(jī)游走誤差,提高激光陀螺的精度,應(yīng)盡可能壓縮鎖區(qū)。而背向散射作為引起激光陀螺閉鎖效應(yīng)的主要因素,在激光陀螺研制過程中應(yīng)采取必要措施加以抑制。在元器件層面,提升反射膜的加工質(zhì)量是解決背向散射問題的有效方式,但這依賴于鍍膜等工藝的進(jìn)步,短期內(nèi)實(shí)現(xiàn)大幅提升較為困難;在諧振腔層面,保證諧振腔內(nèi)部氣體環(huán)境潔凈、合理配置反射鏡安裝位置等,可以在一定程度上改變綜合背向散射的大小。
檢測諧振腔內(nèi)背向散射光強(qiáng)以獲得背向散射系數(shù),是背向散射抑制措施的設(shè)計(jì)前提和驗(yàn)證手段。激光陀螺內(nèi)背向散射光強(qiáng)通常比工作激光光束光強(qiáng)小6~10個數(shù)量級,檢測時需選擇靈敏度較高的探測器。由于反射鏡的背向散射在所有散射源中影響最大,以下討論將主要圍繞反射鏡進(jìn)行。
針對激光陀螺所用反射鏡,一般采取積分散射法測量其表面的背向散射。該方法利用積分球收集以入射光束為中心的小孔徑立體角內(nèi)的背向散射光束,并由光電倍增管(Photomultiplier Tube, PMT)將背向散射光信號轉(zhuǎn)換成電信號,此信號幅度即表征反射鏡背向散射大小。
西安工業(yè)大學(xué)的劉衛(wèi)國團(tuán)隊(duì)提出了一種典型的采用立體角積分散射法檢測反射鏡背向散射光強(qiáng)的裝置,其結(jié)構(gòu)如圖6所示。
圖6 反射鏡背向散射測量裝置結(jié)構(gòu)圖Fig.6 Structure diagram of the device for measuring backscattered beam intensity at mirror
在此裝置中,激光束穿過光束調(diào)節(jié)裝置及積分球后照射在樣品表面,反射光束由陷光器吸收,背向散射光束進(jìn)入積分球內(nèi)并由光電倍增管接收,經(jīng)去噪放大后可得到反射鏡背向散射大小。此方法測量原理較為簡單,但背向散射大小隨光束在反射鏡表面入射角度、入射點(diǎn)位置及反射鏡繞軸旋轉(zhuǎn)角度的改變而變化,測量時應(yīng)準(zhǔn)確模擬反射鏡的工作狀態(tài)。
另外,也可利用諧振腔內(nèi)綜合背向散射的周期性變化獲得單個反射鏡的背向散射。該方法需控制反射鏡在光膠面上以納米量級移動,對執(zhí)行機(jī)構(gòu)的精度要求較高。從工程應(yīng)用角度出發(fā),作為激光陀螺反射鏡的初步篩選,以積分散射法檢測反射鏡背向散射雖不如此方法精確,但因其操作簡便而更具實(shí)用性。
針對激光陀螺諧振腔,可通過檢測CW光束和CCW光束強(qiáng)度獲得綜合背向散射大小。由式(9)可知,CW和CCW光強(qiáng)信號中包含諧振腔內(nèi)背向散射信息。在有源腔中,由順逆行波光強(qiáng)的交流量和差分量解算可得到綜合背向散射大小;在無源腔中,可通過直接測量背向散射光束強(qiáng)度與正向光束強(qiáng)度的比值來獲得綜合背向散射大小。
諾·格公司的D. R. Jungwirth提出了一種檢測無源腔內(nèi)綜合背向散射的裝置,其結(jié)構(gòu)如圖7所示。
圖7 無源腔背向散射測量裝置結(jié)構(gòu)圖Fig.7 Structure diagram of the device for measuring backscattered beam intensity in passive cavity
該裝置設(shè)計(jì)的特點(diǎn)在于利用調(diào)制盤選通特定傳播方向的光束。若令CW光束進(jìn)入諧振腔,由于調(diào)制盤及反射鏡組的設(shè)計(jì),前向CW光束由光電探測器接收,而背向散射CCW光束則被光電倍增管接收,反之亦然。利用此裝置可實(shí)現(xiàn)無源諧振腔內(nèi)背向散射的定量檢測,并且測試結(jié)果可進(jìn)一步用來估算閉鎖閾值
(10)
式中,Ω
為閉鎖閾值;I
為背向散射光束的光強(qiáng);I
為前向光束的光強(qiáng);α
為諧振腔的損耗;C
為光速;K
為激光陀螺儀的比例因子;L
為環(huán)形腔的光學(xué)長度。相較而言,在有源腔狀態(tài)下由順逆行波光強(qiáng)信號獲取的綜合背向散射大小更符合激光陀螺實(shí)際工作狀態(tài);而在無源腔狀態(tài)下進(jìn)行綜合背向散射檢測,其意義在于為激光陀螺諧振腔裝配環(huán)節(jié)提供指導(dǎo)數(shù)據(jù),反射鏡等元件的調(diào)節(jié)裕量更大。
激光陀螺內(nèi)部存在多個背向散射源,這些背向散射源又以矢量疊加的方式影響諧振腔內(nèi)的綜合背向散射。因此,主要可采取兩種方式抑制背向散射。
1)優(yōu)化光學(xué)元器件設(shè)計(jì)和加工工藝,減小單個背向散射大小。西安電子科技大學(xué)的潘永強(qiáng)等對于反射鏡的背向散射進(jìn)行了深入研究,提出了降低基底和膜層的粗糙度,控制膜層間的相關(guān)性,可有效減小反射鏡的背向散射。利頓公司的L. G. Cote提出了無光闌的諧振腔設(shè)計(jì)方案,可避免光闌處背向散射的產(chǎn)生,此方案通過增加氣體壓力和模式競爭機(jī)制,保證諧振腔內(nèi)只有基模振蕩。
2)調(diào)整各背向散射矢量間的相位關(guān)系,以減小綜合背向散射。利頓公司的J. Rahn提出了一種典型的諧振腔裝調(diào)優(yōu)化方案,如圖8所示。其在諧振腔裝調(diào)階段,將待測反射鏡繞其軸線旋轉(zhuǎn),可改變反射鏡背向散射的幅度和相位,得到不同旋轉(zhuǎn)角度下的激光散射光斑,進(jìn)而可找到反射鏡的最佳安裝位置,以使諧振腔的綜合背向散射達(dá)到最小。
圖8 諧振腔裝調(diào)優(yōu)化方案Fig.8 Optimized scheme of cavity adjustment process
霍尼韋爾公司的T. J. Podgorski則設(shè)計(jì)了一種在陀螺儀工作狀態(tài)下實(shí)現(xiàn)鎖區(qū)最小化的方案。通過控制其中一個反射鏡的移動,實(shí)現(xiàn)諧振腔長的調(diào)整,并通過控制另一個反射鏡的移動,改變背向散射的相位關(guān)系,從而找到最佳的反射鏡位置,使綜合背向散射達(dá)到最小。
霍尼韋爾公司的C. D. Anderson分析了溫度變化對諧振腔內(nèi)綜合背向散射的影響。在激光陀螺諧振腔體上設(shè)置壓電驅(qū)動器(Piezo-electric Actuator, PZT)或空穴,以補(bǔ)償由溫度變化引起的諧振腔光路變化,如圖9所示。此方案可在溫度變化時固定激光束在反射鏡表面的入射點(diǎn),以使諧振腔內(nèi)綜合背向散射在溫度變化時仍保持在最小狀態(tài)。
圖9 設(shè)有PZT/空穴的激光陀螺諧振腔體Fig.9 Ring laser gyroscope block with PZT/cavity
另外,激光陀螺諧振腔外同樣存在背向散射源,這些散射源可使輸出光束回返進(jìn)入諧振腔,干擾諧振腔內(nèi)激光振蕩。通過在輸出鏡處安裝光隔離裝置或傾斜合光元件,可消除此類外圍散射的影響。
上述背向散射抑制方式中,通過優(yōu)化光學(xué)元器件進(jìn)而減小甚至消除背向散射源是解決背向散射問題的理想方案,而這有賴于基礎(chǔ)工藝技術(shù)的進(jìn)步;通過不同途徑調(diào)整各背向散射源間的相位關(guān)系,是簡而易行且行之有效的補(bǔ)償措施。
背向散射直接影響激光陀螺鎖區(qū),增大角度隨機(jī)游走誤差,是提升激光陀螺精度必須解決的問題。目前,背向散射的理論研究已較為深入,利用激光振蕩的半經(jīng)典理論可以闡釋背向散射與激光陀螺鎖區(qū)間的聯(lián)系,利用矢量疊加模型可以得到多個背向散射源作用下的綜合背向散射。背向散射檢測方法和抑制措施的相關(guān)研究也有一定進(jìn)展,可通過積分散射等方法實(shí)現(xiàn)單個反射鏡的背向散射檢測,通過測量順逆光束強(qiáng)度等方法對諧振腔綜合背向散射進(jìn)行測量,可采取降低基底和膜層的粗糙度、優(yōu)化諧振腔裝調(diào)方式等措施抑制背向散射。
展望未來,抑制諧振腔內(nèi)背向散射,提升激光陀螺性能,還需在以下方面開展研究:其一,諧振腔內(nèi)各背向散射源的精確定量檢測。背向散射來源廣泛,若能獲得背向散射在諧振腔內(nèi)各個位置處的分布,就可有的放矢地制定抑制措施并作出相應(yīng)評價。其二,分析無源腔背向散射與有源腔背向散射的差異。背向散射檢測應(yīng)在諧振腔裝調(diào)階段進(jìn)行,以指導(dǎo)諧振腔裝調(diào)過程,但此時諧振腔未充入氦氖氣體,與工作條件下的諧振腔狀態(tài)并不相同。對兩種狀態(tài)下背向散射的差異進(jìn)行研究,可提高無源腔狀態(tài)下背向散射檢測結(jié)果的有效性。其三,多種背向散射檢測方法與抑制措施的結(jié)合。為實(shí)現(xiàn)綜合背向散射最小化,可將不同背向散射檢測方法與抑制措施組合起來,如無源腔背向散射檢測方法配合無源腔背向散射抑制措施,有源腔背向散射檢測方法配合有源腔背向散射抑制措施,以實(shí)現(xiàn)激光陀螺精度最優(yōu)化。