電子器件測試設(shè)備信息監(jiān)控方法研究

袁 可

（南充市衛(wèi)生健康信息中心 四川南充 637300）

在經(jīng)濟(jì)市場高新技術(shù)的不斷推進(jìn)下，電子器件的生產(chǎn)效率與生產(chǎn)質(zhì)量正逐年提升，與此同時，相關(guān)電子器件的測試設(shè)備也發(fā)生了較大的變革[1]。在企業(yè)發(fā)展與工業(yè)生產(chǎn)中，獲取測試設(shè)備的核心信息，可以輔助生產(chǎn)鏈持續(xù)運行，而對設(shè)備輸出的信息進(jìn)行及時獲取，不僅可以掌握電子器件在運行中是否存在異?，F(xiàn)象，同時也能在某種程度上了解測試設(shè)備運行的可靠性。

一、電子元器件的分類及其相應(yīng)基本特征分析

電子元器件是構(gòu)成機(jī)器、設(shè)備、儀器的核心構(gòu)件，其自身也由多個零構(gòu)件組成，下述將對電子元器件的分類及其相應(yīng)基本特征展開分析。如表1所示。

表1 電子元器件的分類及其相應(yīng)基本特征

根據(jù)上述表1，完成對電子元器件的基本分類的闡述。

二、電子元器件常見故障分析

電子元器件是電子器件的主要構(gòu)成，因此，深入對元器件常見故障的分析，有利于保障電子器件的持續(xù)與穩(wěn)定運行。具體內(nèi)容如表2所示。

表2 電子元器件常見故障及原因

綜合上述分析可知電子元器件在實際應(yīng)用中，極易受到外界因素或環(huán)境的影響出現(xiàn)故障，這些故障不僅會影響到器件的運行，甚至?xí)驗楣收希l(fā)生電子器件運行安全事故。

三、電子器件測試設(shè)備信息遠(yuǎn)程監(jiān)控方法

（一）電子器件測試設(shè)備信息采集

為了落實對測試設(shè)備信息的有效監(jiān)控，在設(shè)計方法前，需要對測試設(shè)備運行信息進(jìn)行采集。在此過程中，需要結(jié)合設(shè)備主機(jī)與終端服務(wù)器的通信方式，搭建信息采集框架。如圖1所示。

圖1 設(shè)備信息采集框架

按照上述圖1所示結(jié)構(gòu)，對測試設(shè)備運行信息進(jìn)行獲取。其中現(xiàn)場主機(jī)主要負(fù)責(zé)對設(shè)備在現(xiàn)場的運行狀態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，其中客戶端用于監(jiān)控程序是否處于良好通信狀態(tài)，數(shù)據(jù)庫用于存儲獲取的信息，現(xiàn)場監(jiān)控管理設(shè)備主要負(fù)責(zé)對數(shù)據(jù)進(jìn)行整理與后期分析[2]。在完成對信息的采集后，可將終端獲取的信息劃分為兩種類型，其一為測試設(shè)備工作狀態(tài)信息；其二為測試數(shù)據(jù)信息。

（二）監(jiān)控數(shù)據(jù)傳輸信道數(shù)字濾波

為了避免在監(jiān)控測試設(shè)備信息過程中，監(jiān)控行為受到外界因素的干擾，需要對傳輸信道進(jìn)行數(shù)字濾波處理。

為此，本章引進(jìn)IIR濾波器，此種濾波器在相同階段下，可實現(xiàn)的濾波效果相對較好，并且此種結(jié)構(gòu)框架相對簡單，更加有助于對后期數(shù)據(jù)的處理解析。在進(jìn)行實際濾波處理過程中，需要結(jié)合獲取數(shù)據(jù)的實際規(guī)模，并通過因果函數(shù)計算的方式，對設(shè)備性能值進(jìn)行持續(xù)逼近。在此種條件下，可定位濾波的相位特征為奇函數(shù)，此時可輸出下述表達(dá)式。

參照上述計算公式，實現(xiàn)基于IIR濾波器對數(shù)字濾波的監(jiān)控。

（三）電子器件測試設(shè)備信息監(jiān)控報警

考慮到獲取的監(jiān)控信息可能存在冗余性或模糊性特點，因此本章將結(jié)合故障數(shù)據(jù)模型，劃分測試設(shè)備信息監(jiān)控預(yù)警等級圖。如下圖2所示。

圖2 測試設(shè)備信息監(jiān)控預(yù)警等級圖

在完成對等級圖的規(guī)劃后，獲取前端信息，將監(jiān)控中心生成的預(yù)警信息與警戒圖等級進(jìn)行對照。根據(jù)信息所對應(yīng)的等級模塊，輸出預(yù)警信號，以此種方式，實現(xiàn)對測試設(shè)備信息監(jiān)控的實時預(yù)警。

四、實驗分析

（一）實驗準(zhǔn)備

為進(jìn)一步驗證本文提出的電子器件測試設(shè)備信息監(jiān)控方法在實際應(yīng)用中的優(yōu)勢，開展如下對比實驗：結(jié)合matlab程序，將常見電子器件測試設(shè)備作為實驗對象，實驗過程中產(chǎn)生的數(shù)據(jù)均為某電子器件生產(chǎn)廠提供的真實數(shù)據(jù)。

（二）實驗過程

實驗過程中，分別利用本文提出的監(jiān)控方法和傳統(tǒng)監(jiān)控方法對該電子器件測試設(shè)備進(jìn)行監(jiān)控，本文選擇將監(jiān)控設(shè)備運行過程中出現(xiàn)異常狀態(tài)的報警準(zhǔn)確率作為評價指標(biāo)，為了方便對比，對該指標(biāo)進(jìn)行量化，對比100次實驗后，兩種監(jiān)控方法準(zhǔn)確監(jiān)測到設(shè)備異常運行狀態(tài)并報警的次數(shù)。

（三）實驗結(jié)果分析

將實驗得出的結(jié)果進(jìn)行記錄，為更加直觀地對兩種監(jiān)控方法應(yīng)用性能進(jìn)行分析，將其繪制成如表3所示的實驗結(jié)果對比表。

表3 兩種監(jiān)控方法實驗結(jié)果對比表 單位：次

從表3中實驗結(jié)果可以看出，本文提出的監(jiān)控方法能夠?qū)崿F(xiàn)100%的監(jiān)控報警準(zhǔn)確度。因此，通過實驗證明，本文提出的電子器件測試設(shè)備信息監(jiān)控方法在實際應(yīng)用中具有更高的運行效率，能夠?qū)崿F(xiàn)對所有電子器件異常狀態(tài)的監(jiān)控和報警。

五、結(jié)束語

在完成本文提出方法的設(shè)計后，經(jīng)過實踐應(yīng)用證明了此方法真實有效，因此，可在后期的相關(guān)研究中，深入到對此方面的研究中，從而為我國監(jiān)控領(lǐng)域的發(fā)展提供技術(shù)層面支撐。