數(shù)字化探測器在PET設(shè)備中應(yīng)用性能分析

王雙庚，聶生東

上海理工大學(xué) 醫(yī)學(xué)影像工程研究所，上海 200093

引言

近年來，隨著腫瘤相關(guān)疾病發(fā)病率越來越高，PET/CT檢查就變得越來越重要，其在腫瘤診斷、腫瘤分期、腫瘤防治方面，是其它醫(yī)療設(shè)備無法替代的，但是PET/CT的PET圖像，相對于CT解剖圖像，明顯存在分辨率偏低的短板，而PET成像的基本原理是預(yù)先向生物體內(nèi)注射正電子核素標(biāo)志的化合物，正電子核素中的正電子與負(fù)電子結(jié)合后發(fā)生湮滅反應(yīng)，產(chǎn)生兩個能量為511 keV從湮滅點(diǎn)向相反方向分離的γ光子，我們通過對γ光子對的探測及相關(guān)處理得到正電子核素在生物體內(nèi)代謝的分布圖像[1]，從PET成像原理可以看出決定PET圖像分辨率一個重要因素就是用來獲取γ光子的探測器，探測器對γ光子探測的效率越高，探測到的符合計(jì)數(shù)比例越高，PET圖像分辨率就越高；因此對PET設(shè)備探測器的選用上，根據(jù)各自探測器設(shè)計(jì)和材料性能的區(qū)別，將對PET成像分辨率有很重要的影響。目前醫(yī)療機(jī)構(gòu)使用的PET/CT設(shè)備，大部分PET部分探測器還停留在模擬化采集，光電轉(zhuǎn)換部件基本還在采用光電倍增管（Photomultipliers Tukes，PMT），將光子信號轉(zhuǎn)換成為模擬的電流信號，后續(xù)經(jīng)過數(shù)字采樣，模數(shù)轉(zhuǎn)換，再重建生成數(shù)字圖像，供醫(yī)生診斷，從2019年開始，各大廠商（飛利浦醫(yī)療、通用醫(yī)療和聯(lián)影醫(yī)療）才陸續(xù)開始研究數(shù)字化探測器在PET設(shè)備上面應(yīng)用，但是數(shù)字化探測器中的光電轉(zhuǎn)換部分材料有幾種選項(xiàng)，各自有各自的優(yōu)勢和劣勢，本文首先介紹并對比目前主要光電轉(zhuǎn)換模塊的各自的特點(diǎn)，并根據(jù)各自的優(yōu)勢和劣勢，最后著重闡述一款優(yōu)勢最大的數(shù)字化探測器在PET設(shè)備上面的應(yīng)用，通過對這款探測器結(jié)構(gòu)構(gòu)成和成像原理來分析其對空間分辨率、時間分辨率和靈敏度的影響，最終基于上述內(nèi)容總結(jié)了數(shù)字化探測器的巨大優(yōu)勢，以及大規(guī)模推廣面臨的一些問題。

1 主要光電轉(zhuǎn)換模塊

1.1 PMT

目前市場上主流PET/CT設(shè)備用來探測γ射線的主要模塊是由閃爍晶體將γ射線轉(zhuǎn)換為可見光波段的光子信號，再由PMT將光子信號轉(zhuǎn)換為電流信號，并進(jìn)行初級放大增益，進(jìn)而被后續(xù)的集成電路板進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，進(jìn)而重建運(yùn)算處理，最終給出可視化灰度圖像。

PMT作為光電轉(zhuǎn)換模塊來說，是一款成熟的產(chǎn)品，在過去乃至現(xiàn)在，相當(dāng)長時間被大部分廠家選擇用在PET/CT設(shè)備上面，它具有很多的優(yōu)勢：如對信號有較高的增益倍數(shù)（106～107）、時間響應(yīng)速度快、市場上已經(jīng)有很多成熟的廠家在生產(chǎn)，并且可以在不同體積，不同種類之間進(jìn)行選擇等；然而隨著時間的發(fā)展，PMT[2]的發(fā)展遭遇了瓶頸，由于其固有的缺陷（基于真空管技術(shù)），導(dǎo)致了體積比較大，耦合在微小的閃爍晶體上面，大大影響到了圖像的空間分辨率和采集準(zhǔn)確率；并且由于其固有的特性，導(dǎo)致量子轉(zhuǎn)換效率很低（25%左右），加上PMT對于磁場非常敏感，無法很好的應(yīng)用在最新設(shè)備（PET/MR）上面；PMT增益放大需要很高的電壓加載（通常1000 V以上）；所以一直以來各大廠家也在積極尋找PMT的合適替代品。

1.2 雪崩二極管

雪崩二極管（Avalanche Photodiode，APD）[3]是一種基于P-N結(jié)為基礎(chǔ)的一種光電探測器件，它克服了PMT的幾種劣勢，用于PET設(shè)備上的APD反偏電壓低于擊穿電壓，所以APD的輸出脈沖跟觸發(fā)光子的數(shù)量存在線性關(guān)系，其體積很小，而且APD的量子轉(zhuǎn)換效率可以達(dá)到80%左右，遠(yuǎn)高于PMT，并且APD對磁場并不敏感，可以在高磁場的環(huán)境下正常工作，可以集成在PET/MR設(shè)備上。不過，APD存在三個比較大的劣勢：① APD與PMT一樣加載了很高的電壓，但是對信號的增益卻很低，只有102～103左右； ②APD時間分辨率非常差，存在較長的恢復(fù)時間，無法應(yīng)用TOF相關(guān)技術(shù)；③ APD對溫度和反偏電壓調(diào)制精度要求很高，隨著溫度和反偏電壓的變化，APD的增益和性能參數(shù)會發(fā)生很大的變化，并且熱量會產(chǎn)生很多的Dark Count Noise?；谏鲜龅娜秉c(diǎn)，APD雖然經(jīng)過很長時間的發(fā)展，卻一直也沒有替代掉PMT。

1.3 模擬硅光二極管

直到90年代，得益于硅材料技術(shù)的突破[4]，電子器件迅速實(shí)現(xiàn)小型化，從而誕生了硅光二極管（SIPM），其主要結(jié)構(gòu)是在一個很薄的金屬介質(zhì)層上面覆蓋很多微小G-APDS（工作在Geiger模式下的APD），組成二維陣列，當(dāng)有晶體產(chǎn)生的光子打到SIPM的時候，每個APD獨(dú)立工作，產(chǎn)生雪崩效應(yīng)后，會形成放電—猝滅—充電的過程，所有的APD共用一路輸出，形成一個模擬脈沖信號，此脈沖的峰值在一定程度上與打到SIPM表面的光子數(shù)量存在正比例關(guān)系，這種SIPM輸出是模擬的脈沖信號，所以也稱為模擬硅光二極管（Analog Silicon Photo Multiplier，A.SIPM）或者M(jìn)PPC（Multi-Pixel-Photon-Counter）；從它的結(jié)構(gòu)可以看出：它的體積可以做到非常小，因此它的APD的耗盡層很?。ā?.7 μm），所以只需要幾十伏特的工作電壓就可以， 并且可以產(chǎn)生與PMT相當(dāng)或者更高的增益倍數(shù)；對磁場不敏感，可以融合在PET/MR設(shè)備上面；由于APD工作在Geiger模式下，偏置電壓大于擊穿電壓，所以雪崩效應(yīng)時間響應(yīng)非常快，并且串聯(lián)了猝滅電路，發(fā)生雪崩后，APD重置到初始狀態(tài)所需時間也很短暫，因此時間分辨率很高，可以匹配飛行時間（Time of Flight，TOF）[5]技術(shù)；目前市場上有不少廠家都發(fā)行了相關(guān)產(chǎn)品，如：SensL，Zecotek Photonics Inc.，CPTA，STMicroelectronics，Hamamatsu Photonics, Amplification Technologies, Photonique SA，也有部分產(chǎn)品代替PMT，應(yīng)用到了小動物PET上面用于科研工作，但是它的PDE和增益，與BIAS電壓和溫度有很大的關(guān)聯(lián)性，需要對于工作溫度和BIAS電壓做到很精確的調(diào)制，才可以使圖像空間分辨率和時間分辨率穩(wěn)定[6-9]；而且MPPC的輸出是所有被激發(fā)的cells的共同輸出，是模擬脈沖輸出，由于PET設(shè)備上面，閃爍晶體發(fā)出的光子強(qiáng)度很大，一次γ射線的所發(fā)出的數(shù)量約有12500個光子數(shù)目，對于MPPC的激發(fā)，都是飽和狀態(tài)下的激發(fā)，對于動態(tài)狀態(tài)下，如何做到有效地減小熱量導(dǎo)致的dark count噪聲和盡可能的屏蔽掉康普頓散射線所形成的無效計(jì)數(shù)，將會是非常復(fù)雜的事情。

2 數(shù)字化硅光二極管

前面敘述了主要的光電轉(zhuǎn)換模塊各自的特點(diǎn)（圖1），可以看出其都或多或少存在一些局限，基于此，本文將在下面介紹一款完全數(shù)字化的硅光二極管的設(shè)計(jì)[10-15]。

圖1 主要光電轉(zhuǎn)換模塊的特點(diǎn)

2.1 數(shù)字化硅光二極管的結(jié)構(gòu)

本文中介紹的數(shù)字化硅光二極管（Digital Silicon Photo Multiplier，D.SIPM）（圖 2～3），單個 DSIPM尺寸面積為32.6 mm×32.6 mm，下面包括4×4個Sensors（Dies），每個Sensor包括2×2個Pixels，每個Pixel包括3200個Microcells，單個 Microcell的尺寸面積為 59.4 μm×64 μm，每個Pixel的有效感應(yīng)面積占比74%。單個Microcell里面是一個工作在Geiger模式下的SPAD，當(dāng)有光子入射時，每個Microcell將會獨(dú)立觸發(fā)，每個觸發(fā)的Microcell將會獨(dú)立輸出獨(dú)立的數(shù)字信號，由計(jì)數(shù)累加器進(jìn)行記錄，并加載有TDC電路產(chǎn)生的時鐘信號，一起輸出給主要控制電路。實(shí)驗(yàn)所使用的的最佳晶體是LYSO晶體，尺寸為4 mm×4 mm×22 mm，這樣晶體的結(jié)構(gòu)就實(shí)現(xiàn)了晶體與探測器每個Pixel之間1:1的對應(yīng)關(guān)系，提高了空間分辨率和時間分辨率，并且選擇晶體尺寸較長，大幅增加了計(jì)數(shù)效率。相對于A.SIPM，D.SIPM不需要外接任何外部的邏輯處理電路，減少了模數(shù)轉(zhuǎn)換環(huán)節(jié)，直接輸出觸發(fā)的光子數(shù)量和第一個光子觸發(fā)的時間信息，而這兩個參數(shù)將直接決定TOF PET設(shè)備上面計(jì)數(shù)是否為有效計(jì)數(shù)；所以D.SIPM的有效計(jì)數(shù)比例也大大優(yōu)于A.SIPM。

圖2 Digital SIPM的表面結(jié)構(gòu)

圖3 Digital SIPM的結(jié)構(gòu)示意圖

2.2 D.SIPM的Dark Count Rates

D.SIPM的光電轉(zhuǎn)換器件，實(shí)質(zhì)上是微小的SPADs，當(dāng)沒有光子觸發(fā)的時候，其自身由于熱量或者外部光子的滲入，會觸發(fā)SPADs，存在本底噪聲，稱之為Dark Count Rate[16]。

使用上述2.1所述結(jié)構(gòu)組成的D.SIPM，配合尺寸為4 mm×4 mm×22 mm的LYSO晶體，在無密閉光源的條件下，采集的本底計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)，即Dark Count Rates（圖4）。

圖4 D.SIPM采集的本底Dark count的結(jié)果

在20℃，3.3 V反偏電壓的條件下，每個SPAD的Dark Count Rates平均在550 cps左右。但是，由于D.SIPM中每個SPAD均配置了一個靜態(tài)內(nèi)存，每個SPAD都會被標(biāo)地址標(biāo)記，Dark Count Rates太高的SPAD會被禁用掉，所以探測器實(shí)際工作時，會有90%～95%有效的SPADs工作，Dark Count Rates會成倍的降低（圖5）。在臨床PET應(yīng)用時候，將會形成校正表，對圖像進(jìn)行校正。

圖5 D.SIPM DCR 與有效SPADS的坐標(biāo)圖

2.3 D.SIPM的Optical Cross Talk

理論情況下，一個光子會在一個SPAD上面觸發(fā)雪崩效應(yīng)，從而進(jìn)行有效計(jì)數(shù)，每個SPAD之間使用隔離層進(jìn)行隔離。但是還是存在同一個光子打在SPAD的邊緣，導(dǎo)致兩個或者多個SPADs觸發(fā)雪崩效應(yīng)，從而分別進(jìn)行累加計(jì)數(shù)，顯然這種情況會降低計(jì)數(shù)的準(zhǔn)確性。

使用2.1所述結(jié)構(gòu)組成的D.SIPM探測器，配合LYSO晶體，使用Na-22輻射源，所測試的探測器Optical Cross Talk數(shù)據(jù)如圖6所示。

圖6 D.SIPM Optical Cross Talk數(shù)據(jù)

從圖中可以看出，在20 ℃，3.3 V反偏電壓工作狀態(tài)下，以5×5的Cells的數(shù)據(jù)來看，Optical Cross Talk大概占比18%，并且Optical Cross Talk的占比與反偏電壓的大小基本成正比例關(guān)系，同樣在臨床PET應(yīng)用時候，需要生成衰減校正表對圖像進(jìn)行校正。

2.4 D.SIPM的光子探測效率

入射光子最終轉(zhuǎn)換成有效計(jì)數(shù)的比例定義為光子探測效率（Photon Detection Efficiency，PDE），顯然PDE越高，代表計(jì)數(shù)越多，圖像也會越清晰。但是由于探測器中每個SPAD之間需要隔離，來減少Optical Cross talk，所以每個入射光子，不一定會轉(zhuǎn)換成有效計(jì)數(shù)，而且Optical Cross Talk和Dark Count Rates也會影響到PDE參數(shù)，按照2.1所述結(jié)構(gòu)組成的D.SIPM探測器，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示，其最終的PDE曲線如圖7所示，在λ=420 nm時候，PDE將近40%；實(shí)驗(yàn)用的晶體采用的LYSO晶體，其發(fā)射光子的能量峰值字420 nm（圖8）。

圖7 D.SIPM的光子探測效率與入射光波長坐標(biāo)圖

圖8 主要晶體檢測入射光波長峰值

2.5 D.SIPM的溫度敏感度

由于組成D.SIPM的基本組件SPADs對溫度比較敏感[20-21]，所以必須要測試探測器受溫度影響的程度，采用2.1所述的結(jié)構(gòu)組成的D.SIPM探測器，以2100 k photons/pulse，24 ps FWHM時間分辨率，不同溫度下PDE和 TDC偏離的程度如圖9所示。試驗(yàn)結(jié)果，兩者偏移的程度與溫度的大小基本成線性關(guān)系，即：PDE 偏移值: 0.33%·K-1。

圖9 PDE偏離值與溫度的關(guān)系圖

TDC 偏移值 ： 15.3ps · K-1（圖 10），其中 PDE 的偏離可以通過調(diào)節(jié)反偏電壓的數(shù)值進(jìn)行補(bǔ)償，TDC的偏移則可以通過電子時鐘的校正。

圖10 TDC偏離值與溫度的關(guān)系圖

2.6 D.SIPM的空間分辨率

2.1章節(jié)所敘述的D.SIPM結(jié)構(gòu)，單個Pixel面積為4 mm×4 mm，配對尺寸為4 mm×4 mm×22 mm 的LYSO晶體，實(shí)現(xiàn)了晶體與探測器之間1:1匹配，每個pixel含有3200個SPADs，每個SPAD可以單獨(dú)采集單個光子的入射，詳見圖11。PMT定位光子位置，是通過相鄰幾個PMT所采集的不同能量來綜合確定光子位置，由于PMT尺寸較大，位置定位信息就遠(yuǎn)沒有D.SIPM精準(zhǔn)，并且打到PMT邊緣位置的光子，由于反射折射衰減，會形成很多無效計(jì)數(shù)，而D.SIPM采用與晶體1:1配對，每個SPAD的位置信息已經(jīng)存儲在SRAM中，所以精度會更高。其原理是SPAD接收到入射光子觸發(fā)，會產(chǎn)生雪崩，然后計(jì)數(shù)電路累加器加1，TDC電路記錄時間信息，然后主動猝滅電路快速消除光子能量，使SPAD快速恢復(fù)到未觸發(fā)狀態(tài)（圖12），同時每個Pixel輸出的信息只有數(shù)字化的信號，即計(jì)數(shù)電路的計(jì)數(shù)，及計(jì)數(shù)的位置和時間信息，所以并不需要經(jīng)過模數(shù)轉(zhuǎn)換的復(fù)雜電路，不存在無效計(jì)數(shù)，增大了有效計(jì)數(shù)。

圖11 PMT與D.SIPM確定計(jì)數(shù)位置的方法

圖12 D.SIPM計(jì)數(shù)原理

2.7 D.SIPM的時間分辨率

2.1章節(jié)所敘述的D.SIPM結(jié)構(gòu)配合尺寸為4 mm×4 mm×22 mm 的LYSO晶體，在10℃環(huán)境下測量的單個Pixel的時間分辨率，可以看到測量的時間分辨率FWHM=286 ps[17]（圖13）。其時間分辨率的主要由SPAD的觸發(fā)時間、SPAD觸發(fā)后，發(fā)生雪崩，到主動猝滅電路消除光子能量，重新將SPAD恢復(fù)到待觸發(fā)狀態(tài)和TDC時鐘電路的時間分辨率；2.1章節(jié)所敘述的D.SIPM采用的是20 ps的TDC時鐘電路，SPAD觸發(fā)的平均時間一般在56 ps左右，SPAD從觸發(fā)狀態(tài)恢復(fù)到待觸發(fā)狀態(tài)所需要的時間在110 ps左右，由于試驗(yàn)中光子數(shù)量眾多，存在PDE和optical cross talk等很多的外部因素，所以實(shí)際試驗(yàn)的最佳時間分辨率在250 ps左右，但是根據(jù)其硬件的固有時間分辨率來看，后續(xù)還有優(yōu)化的空間，使時間分辨率達(dá)到110 ps左右。

圖13 10 ℃下測得D.SIPM的時間分辨率

3 討論

從上面第二部分的分析可以看到：相對于目前主流PET設(shè)備上面所采用的光電倍增管（PMT）以及模擬化硅光二極管（A.SIPM），數(shù)字化探測器（D.SIPM）有很大的優(yōu)勢[18-19]。

SPAD本身固有的特性,通過校正，獲得每個SPAD的擊穿電壓，形成矩陣表，根據(jù)此矩陣表，加載給SPAD相應(yīng)的反偏電壓，使其在有光子射入的時候，可以快速被擊穿，并且在每個SPAD后面配置能量淬滅電路，使光子的能量可以快速淬滅，從而使SPAD快速回復(fù)到待出發(fā)狀態(tài)，從而減少由于光電轉(zhuǎn)換單元導(dǎo)致的死時間，相對于PMT等模擬光電轉(zhuǎn)換部件，提高了時間分辨率，結(jié)合于TOF技術(shù)的應(yīng)用，大大提高了對光子發(fā)生湮滅位置的定位精度。

由于SIPM的快速小型化，使之可以在很小的面積組成很多的陣列SPADS，相對于PMT很大的面積來說，SIPM的體積可以做到數(shù)量級的減小，并且支持對每個硅光二極管地址編碼，從而在后續(xù)重建過程中，大大提高光子在探測器觸發(fā)的位置精度，提高空間分辨率。同時，大大減少用來計(jì)算光子在探測器觸發(fā)位置的數(shù)據(jù)量（PMT通常使用區(qū)域能峰峰值，然后三角定位來定位，點(diǎn)位精度差，計(jì)算量大）。

此款探測器采用1:1匹配晶體的特殊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，有效提高了空間分辨率。

此款數(shù)字化探測器最大的優(yōu)勢還在于相對于傳統(tǒng)模擬光電轉(zhuǎn)換部件，其采用計(jì)數(shù)直接數(shù)字化的處理方式，即每次光子觸發(fā)探測器之后，探測器不會對能量幅度進(jìn)行記錄，根據(jù)ps級別的時鐘電路，記錄觸發(fā)時間信號，由這個時間信號和地址編碼的pixel對應(yīng)信息來決定此計(jì)數(shù)對是否為符合計(jì)數(shù)，如果是符合計(jì)數(shù)，在計(jì)數(shù)累計(jì)電路上面累加1，最后將此符合計(jì)數(shù)的時間信號、地址信息和計(jì)數(shù)電路累加信息，傳輸?shù)胶罄m(xù)重建計(jì)算機(jī)加載pixel map，cross talk和均勻性等校正表進(jìn)行圖像重建。相對于PMT等，從采集原理上，減少了圖像失真并增加了分辨率（模數(shù)轉(zhuǎn)換過程，對模擬信號整型濾波，信號會有失真的部分，根據(jù)模擬信號峰值來確定光子觸發(fā)位置精度同樣會有偏差）。

數(shù)字化探測器配合TOF技術(shù)來確認(rèn)電子湮滅發(fā)生的位置，由于探測器的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)結(jié)合地址編碼電路、偏置電壓電路、能量淬滅電路、時鐘電路、計(jì)數(shù)累加電路的配合，使得時間分辨率相對于模擬探測器雙倍的增加，從而增加了計(jì)數(shù)率，并且提高了電子湮滅位置的定位精度。

基于上面的設(shè)計(jì)和應(yīng)用，數(shù)字化探測器（D.SIPM）大大提高了PET成像的空間分辨率、時間分辨率、計(jì)數(shù)靈敏度和有效計(jì)數(shù)的比例。在實(shí)驗(yàn)室條件下，利用Jaszczak 模型(圖14)和NEMA測試模型測量的結(jié)果[21-25]（圖15），空間分辨率達(dá)到61 mm3；時間分辨率可以達(dá)到345 ps[26]（從其原理來看，存在進(jìn)一步優(yōu)化的空間）；靈敏度達(dá)到 23000 cps?MBq-1[27]；有效計(jì)數(shù) >700 Kcps[28]。

圖14 Jaszczak 模型測試結(jié)果

圖15 應(yīng)用Digital SIPM的PET設(shè)備的性能參數(shù)

4 結(jié)論

目前為止，數(shù)字化探測器的應(yīng)用還在初步階段，在選用材料方面基本都選擇了以SIPM為基礎(chǔ)的材料，但在SIPM陣列、耦合晶體尺寸和后續(xù)處理電路方面有著不同的考慮和設(shè)計(jì)。本文在1章節(jié)中敘述了目前可用于光電轉(zhuǎn)換的各種部件材料，也總結(jié)了各自材料的優(yōu)勢和劣勢；在第2章節(jié)著重?cái)⑹隽艘豢顢?shù)字化探測器的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)和采集原理，并且討論了其在各項(xiàng)性能參數(shù)方面的表現(xiàn)，以及最終通過NEMA（目前全球比較通用認(rèn)可的PET/CT設(shè)備性能測試）測試結(jié)果驗(yàn)證了其優(yōu)勢所在；在第3章節(jié)討論總結(jié)了數(shù)字化探測器相對于目前主流模擬轉(zhuǎn)換的探測器的明顯優(yōu)勢所在，但不可忽略的是數(shù)字化探測器的大規(guī)模推廣使用還存在一些問題，如：研發(fā)成本高昂、生產(chǎn)工藝要求精度高、后期生產(chǎn)成本及探測器工作環(huán)境要求高等。相信隨著數(shù)字化探測器的量產(chǎn)數(shù)量的增加，成本會逐步被均攤，但是數(shù)字化探測器的工作環(huán)境尤其是對溫度的要求很高（要求探測器工作環(huán)境在18 ℃左右），這就需要設(shè)備額外增加水冷機(jī)和除濕機(jī)來確保工作環(huán)境，增加了設(shè)備成本和機(jī)械設(shè)計(jì)復(fù)雜性，在未來需要對這方面進(jìn)一步進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)，進(jìn)一步增加光電轉(zhuǎn)換材料的穩(wěn)定性。從上述分析來看，相對于傳統(tǒng)PMT，數(shù)字化探測器，可以大幅度的提升PET圖像的分辨率，從而可以幫助患者更早的、更精確的發(fā)現(xiàn)病灶[28-29]；可以預(yù)想，由于數(shù)字化探測器的優(yōu)越性能，其必然會逐步取代傳統(tǒng)模擬PET/CT設(shè)備，成為未來PET/CT設(shè)備的主流。