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      4H-SiC探測器的快中子產(chǎn)額測量可行性研究

      2021-06-16 12:13:00王飛鵬李桃生沈水法蔣潔瓊陳思澤
      核技術(shù) 2021年6期
      關(guān)鍵詞:快中子產(chǎn)額中子

      王飛鵬 洪 兵 李桃生 沈水法,3 蔣潔瓊 陳思澤

      1(中國科學院合肥物質(zhì)科學研究院 合肥230031)

      2(中國科學技術(shù)大學 合肥230027)

      3(福建工程學院電子電氣與物理學院 福州350118)

      基于4H-SiC材料的快中子探測器位移閾能大、禁帶寬度寬、飽和電子漂移速度高,具有抗輻照、耐高溫、響應(yīng)速度快等優(yōu)點[1-2],可以克服半導體探測器不耐高溫和不耐輻照的技術(shù)難題,在聚變中子診斷、堆芯功率監(jiān)測、脈沖中子油/氣測井、外太空試驗等高溫強輻射環(huán)境中進行中子測量時,有著很好的應(yīng)用前景[2-5]。目前,國內(nèi)外的研究主要集中于4H-SiC肖特基勢壘二極管在高溫、中子/γ及電子強輻照前后,電學性能及α粒子探測性能研究[3,6-8],同時開展了在常溫下通過增加轉(zhuǎn)換層(LiF、LiH、BF3等)進行中子探測的探索[9-10],使用4H-SiC探測器測量快中子產(chǎn)額的實驗研究仍需進一步深入。本文利用強流氘氚聚變中子發(fā)生器(High Intensity Deuterium-Tritium Fusion Neutron Generator,HINEG)[11]產(chǎn)生的單能14.1 MeV氘氚聚變中子測試4H-SiC探測器的性能,得到了探測器對14.1 MeV中子的注量響應(yīng)。

      1 探測原理

      基于4H-SiC材料制作的肖特基二極管結(jié)構(gòu)如圖1所示,其中外延層厚度為30μm,外延層上沉積100 nm的Ni形成肖特基接觸,在350μm厚的4HSiC基底上蒸鍍100 nm的Ni形成歐姆接觸[12]。靈敏區(qū)規(guī)格為5 mm×5 mm,如圖1所示,探測器封裝后使用。

      圖1 4H-SiC快中子探測器結(jié)構(gòu)示意圖及實物圖Fig.1 Schematic diagram and physical map of 4H-SiC fast neutron detector

      中子與28Si和12C原子核發(fā)生反應(yīng),通過收集測量核反應(yīng)產(chǎn)生的帶電粒子,實現(xiàn)中子測量。14.1 MeV氘氚聚變中子與4H-SiC探測器發(fā)生的核反應(yīng)如表1所示[12-14]。

      表1 14.1 MeV中子與C、Si發(fā)生的主要核反應(yīng)Table 1 Main reactions between 14.1 MeV neutrons and C,Si

      對于14.1 MeV快中子,12C(n,α0)9Be反應(yīng)的閾值為6.419 6 MeV,產(chǎn)生的帶電粒子總動能更是高達8.4 MeV,如果該特征峰在脈沖幅度譜上能很好地分離,利用該特征峰實現(xiàn)14.1 MeV中子計數(shù)測量將具有理論可行性。

      2 實驗

      測試工作在強流氘氚聚變中子發(fā)生器HINEG上開展,該加速器使用電子回旋共振(Electron Cyclotron Resonance,ECR)離子源產(chǎn)生D+離子,經(jīng)加速后轟擊旋轉(zhuǎn)氚靶,產(chǎn)生DT聚變中子,其中束流強度、能量及束斑大小可以根據(jù)不同的實驗需求進行調(diào)節(jié)[11]。對于探測器測試并不需要很高的中子產(chǎn)額,本次實驗的到靶流強4~5 mA,束流能量260 keV,預(yù)計中子產(chǎn)額為2.0×1010n·s-1。

      探測器放置在旋轉(zhuǎn)靶的正前方距離靶點30 cm處,實驗過程中使用238U(貧鈾99.99%)平板型電離室測量HINEG的中子產(chǎn)額,長中子計數(shù)器監(jiān)測束流穩(wěn)定性。電子學設(shè)備使用標準NIM插件,信號經(jīng)前級放大后送到數(shù)據(jù)采集室,通過主放大器574A后由單道550A進行卡閾值,最后由脈沖計數(shù)器給出產(chǎn)額監(jiān)測數(shù)據(jù),如圖2所示。

      圖2 中子產(chǎn)額隨時間的變化關(guān)系Fig.2 Relationship between neutron yield and time

      4H-SiC探測器連接到電荷靈敏前置放大器(CIVIDEC Cx-L)上,偏置電壓設(shè)置為-450 V(由ORTEC 710提供),前置放大器的信號接入動態(tài)范圍為1 V、采樣率為1 GS·s-1、分辨率為10 bit的波形數(shù)字化儀CANE DT5751,使用其自帶的CAEN COMPASS軟件對波形進行采集,基于MATABLE軟件對存儲的數(shù)據(jù)進行離線處理,實驗布置如圖3所示。

      圖3 探測器測試示意圖及實驗布置Fig.3 Schematic diagram of detector test and experimental layout

      3 實驗結(jié)果與討論

      3.1 實驗結(jié)果

      實驗采集時間為1 200 s,實驗測得的脈沖幅度譜如圖4所示。在非彈性散射(n,n′)3α反應(yīng)中,高激發(fā)態(tài)的12C*會發(fā)生12C*→α+8Be*→2α反應(yīng),產(chǎn)生的帶電粒子總動能0.5~6.8 MeV,(n,n′)3α峰和(n,α1)峰則出現(xiàn)了重疊,圖中(n,α0)峰分離程度較好,其他反應(yīng)峰重疊嚴重,(n,p)峰無法識別。

      3.2 數(shù)據(jù)分析與討論

      核反應(yīng)產(chǎn)生的帶電粒子能量沉積到探測器中,以電脈沖信號的形式在道址上按能量的大小進行分類排列,反應(yīng)產(chǎn)物的能量ETotal=En-Q,其中En是入射中子的能量。能量低于4 MeV的中子與12C和28Si核主要發(fā)生彈性散射與非彈性散射,這部分中子份額雖然少但反應(yīng)截面大,和低能γ射線一起在脈沖幅度譜的左側(cè)形成了很高的計數(shù)區(qū),其中12C(n,n)12C特征峰的識別程度稍高。12C(n,n′)3α、12C(n,α1)9Be在道址650左右形成了第二個計數(shù)平臺,重疊在一起。12C(n,α0)9Be反應(yīng)Q值為5.7 MeV,氘氚聚變中子能量為14.1 MeV,在脈沖幅度譜上特征峰對應(yīng)的能量為8.4 MeV,與其他幾個反應(yīng)的特征峰分離程度較好,易于區(qū)分。28Si(n,α)25Mg、28Si(n,p)28Al兩個核反應(yīng)除了基態(tài)外,產(chǎn)物核還分別存在12個和4個激發(fā)態(tài),產(chǎn)物核的能量范圍分別為6.986~11.346 MeV、8.767~10.14 MeV[14],由于p在SiC中的射程遠大于探測器的厚度,大部分(n,p)反應(yīng)的能量未能沉積在探測器,因此脈沖幅度譜上并未呈現(xiàn)完整的(n,p)峰。

      圖4 實驗測得的脈沖幅度譜Fig.4 Pulse amplitude spectrum experimentally by experiment

      探測器厚度相對于中子射程可以忽略,14.1 MeV中子在穿越厚度d的SiC材料時能量損失忽略不計,反應(yīng)截面σ(En)視為常數(shù),做薄靶近似計算核反應(yīng)產(chǎn)物計數(shù):

      式中:NA為對應(yīng)靶上單位原子核密度。通過SRIM程序估算對應(yīng)能量的25Mg、28Al產(chǎn)物核在SiC材料的中的射程為4.12~5.5μm、4.72~5.05μm,絕大部分產(chǎn)物核能量均沉積在探測器內(nèi),計算12C(n,α0)9Be特征峰計數(shù)CT=14.35 s-1。

      在脈沖幅度譜上計算12C(n,α0)9Be特征峰計數(shù)率時應(yīng)該進行考慮的因素包括:1)28Si(n,α)25Mg、28Si(n,p)28Al兩個核反應(yīng)中子能量閾值較小計數(shù)少,產(chǎn)物核能量范圍廣,與12C(n,α0)9Be核反應(yīng)的計數(shù)部分重疊;2)特征峰數(shù)據(jù)處理的過程中,交叉重疊及本底噪聲修正;3)14.1 MeV中子與13C反應(yīng)截面是12C的2.1倍(TENDL-2011),總的沉積能量為10.16 MeV。(n,α0)為一個單峰區(qū),分離程度較好且對稱,采用峰區(qū)本底扣除法,擬合脈沖幅度譜后做本底扣除,由特征峰的FWHM計算峰區(qū)的左、右邊道址,mL、mR計算方式如下:

      式中:mp是峰位道址,符號INT的含義是取整數(shù),計算得到CE=18.54 s-1。

      計算探測效率公式為:

      式中:R是靶點到探測器的距離;CE為SiC探測器(n,α0)特征峰的計數(shù)率;Yn是測量時間段內(nèi)的平均中子產(chǎn)額,由238U平板型電離室給出。

      在測量過程中,中子源不能近似為點源且各向異性,中子注量不服從R-2規(guī)律,應(yīng)按照面源修正中子注量率,為此引入近距離修正因子λ[15]:

      其中:R是靶點到探測器的距離;r為束斑有效半徑,取15 mm,λ=0.99。各向異性因子η=0.92[16]。考慮到Si(n,α)、Si(n,p)的干擾及高能拖尾計數(shù)的影響,引入特征峰計數(shù)修正因子κ=0.84。經(jīng)修正后,根據(jù)式(4)與實驗數(shù)據(jù)得到εE=8.89×10-6n-1·cm-2,比金剛石快中子探測器的探測器效率低一個量級[13]。12C(n,α0)9Be特征峰FWHM=190 keV,能量分辨率R=2.26%,如圖5所示,能量分辨率比文獻[11]測得稍差,這可能與探測器厚度相關(guān),部分α能量沒有完全沉積在靈敏區(qū)上就穿透了SiC材料,導致特征峰有所展寬。探測器中參雜粒子及結(jié)構(gòu)缺陷會影響能量分辨率,另外前置放大器與探測器之間同軸電纜的長度、主放大器的成形時間均會影響探測器的能量分辨率。

      圖5 12C(n,α0)9Be反應(yīng)的特征峰Fig.5 Characteristic peak of 12C(n,α0)9Be reaction

      對實驗條件引入的不確定度進行分析,如表2所示。實驗中最大的不確定度來自238U平板型電離室測量平均中子產(chǎn)額的不確定度(5.6%),其次是擬合12C(n,α0)9Be特征峰計數(shù)率過程中引入不確定度(4.5%),探測器中的13C與中子反應(yīng)在脈沖幅度譜中形成高能拖尾[13],也會影響特征峰的計數(shù),需要進行修正。

      表2 實驗不確定度分析Table 2 Experimental uncertainty analysis

      4 結(jié)語

      本文利用強流氘氚聚變中子發(fā)生器HINEG測試了4H-SiC探測器的探測效率,該探測器對14.1 MeV中子的探測效率為εE=8.89×10-6n-1·cm-2(±7.7%),12C(n,α0)9Be特征峰FWHM=190 keV,能量分辨率R=2.26%,探測器輸出信號穩(wěn)定,適合用于快中子計數(shù)測量。但對于中子注量較低的場合,如石油測井等則需要增加轉(zhuǎn)換層或提高靈敏區(qū)面積,在測試過程中產(chǎn)物核的能量未完全沉積在探測器中,導致(n,p)峰辨識度較差,若用于中子能譜的測量則需開展進一步的研究。

      致謝 本工作得到了強流氘氚聚變中子發(fā)生器HINEG運維組成員的幫助,在此表示衷心的感謝。

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