王建超,楊光慧,唐格格,麻明友,彭華勇2,
(1.吉首大學(xué)藥學(xué)院,吉首 416000;2.錳鋅釩產(chǎn)業(yè)技術(shù)湖南省2011協(xié)同創(chuàng)新中心,吉首 416000;3.吉首大學(xué),武陵山地區(qū)民族藥解析與創(chuàng)制湖南省工程實(shí)驗(yàn)室,吉首 416000;4.吉首大學(xué),實(shí)驗(yàn)室與設(shè)備管理中心,吉首 416000)
劇烈燃燒的火箭羽煙、導(dǎo)彈與飛機(jī)尾焰,或高壓電暈放電、核聚變反應(yīng)等均會釋放紫外輻射。因此,紫外探測技術(shù)在導(dǎo)彈告警、紫外制導(dǎo)、紫外偵察等軍事領(lǐng)域,以及天基紫外預(yù)警、太空探索等領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用價(jià)值[1-3]。ZnO的禁帶寬度為3.37 eV(能量相當(dāng)于370 nm紫外光),具有優(yōu)異的光電轉(zhuǎn)換特性,在紫外探測器領(lǐng)域具有潛在的研究價(jià)值[4-5]。但在實(shí)際應(yīng)用中,用ZnO構(gòu)建的紫外探測器存在光響應(yīng)弱的缺陷,限制了其在紫外探測器件的應(yīng)用[6-7]。最近的研究表明,納米結(jié)構(gòu)的ZnO有利于光生載流子的傳輸[8-9],基于p-n結(jié)的納米復(fù)合材料有助于提升光電導(dǎo)[10-11],構(gòu)建納米結(jié)構(gòu)ZnO的p-n結(jié)復(fù)合材料有望成為解決這一缺陷的關(guān)鍵,而納米結(jié)構(gòu)的ZnO與聚苯胺(PANI)雜化構(gòu)筑的p-n結(jié)復(fù)合材料在p-n結(jié)增強(qiáng)光響應(yīng)的研究鮮有報(bào)道。因此,本文通過水熱法在導(dǎo)電玻璃表面垂直生長ZnO納米棒陣列,在陣列上修飾一層p型聚苯胺線膜,得到導(dǎo)電聚苯胺修飾的ZnO納米棒陣列,并組裝成紫外光檢測器,考察其光生伏特效應(yīng)與紫外探測性能。
硝酸錳(分析純,天津大茂試劑廠),苯胺(Alfa Aesar,99%),過氧化二硫酸銨(分析純,天津永大試劑有限公司),六次亞甲基四胺(分析純,西隴化工股份有限公司),硝酸鋅(分析純,成都金山化學(xué)試劑有限公司),鹽酸(分析純,天津永大試劑有限公司),聚乙烯吡咯烷酮(PVP,分子量58 000,上海阿拉丁生化科技股份有限公司),摻雜F的SnO2導(dǎo)電玻璃(FTO),甲醇,丙酮(分析純)。
取50 μL含有0.2%PVP、0.0l mol/L硝酸錳的甲醇溶液以速度1∶400 r/min,10 s; 速度2∶4 000 r/min,15 s在FTO表面均勻涂膜。將樣品置于馬弗爐中,以1 ℃/min的速度升溫至600 ℃并煅燒2 h,硝酸錳熱分解為二氧化錳籽晶的同時(shí),膜中的PVP徹底分解,即可得到鋪展性和致密性良好的二氧化錳晶種層。
稱取六次亞甲基四胺0.168 2 g和硝酸鋅0.357 0 g加入60 mL去離子水中,超聲混合均勻后加入水熱釜中。將上述制備的二氧化錳FTO導(dǎo)電玻璃干燥后,導(dǎo)電面朝下傾斜放入,在85 ℃下反應(yīng)4 h,得到ZnO-NRs材料。
圖1 構(gòu)建紫外探測器的方案
將0.8 mL苯胺溶解在100 mL 鹽酸溶液(1 mol/L)中,將上述氧化鋅納米棒陣列面朝下置于反應(yīng)液表面,緩慢加入2 mL過氧化二硫酸銨(0.1 mol/L)溶液,置于2 ℃下反應(yīng)3 h,獲得ZnO-NRs/PANI-NWs復(fù)合材料。
將上述ZnO-NRs/PANI-NWs復(fù)合材料表面組裝一片F(xiàn)TO并固定,連接電化學(xué)工作站進(jìn)行紫外光敏性能測試,紫外光源與紫外檢測器之間距離5 cm。構(gòu)建紫外探測器的方案如圖1所示。
紫外-可見漫反射由紫外分光光度計(jì)(UV 2450,Shimadzu)測量,樣品的形貌由場發(fā)射掃描電鏡(JSM-7001F,JEOL)測試。材料晶型由X射線衍射儀(日本理學(xué)Ultima III)測試。I-t曲線及I-V曲線測試由上海辰華儀器公司的電化學(xué)工作站(上海辰華CHI660b)進(jìn)行測試,紫外光源為深圳德勝興科技有限公司DSX395-4020型。
圖2(a~f)分別為ZnO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs復(fù)合材料的SEM照片。圖2(a,b)為ZnO-NRs的SEM俯視照片,由圖可知,ZnO納米棒均勻緊密布滿于FTO基底的導(dǎo)電面上,在FTO導(dǎo)電玻璃表面是垂直生長,整齊排列,生長密集,直徑約為670 nm,密度約為2根/mm2。圖2(c)為ZnO-NRs斷面照片,從圖可見納米棒長度均勻,約為2 μm。圖2(f)為ZnO-NRs/PANI-NWs斷面掃描電鏡圖,PANI-NWs線膜厚度1.6 μm。圖2(d,e)為ZnO-NRs/PANI-NWs的SEM照片,可見PANI呈線狀,表面被聚苯胺線膜完全覆蓋,線直徑約為100 nm。聚苯胺納米線比較均勻的復(fù)合于氧化鋅納米棒表面組成了納米膜。結(jié)果表明,ZnO-NRs和PANI-NWs界面接觸良好,孔隙均勻,有利于光生電子的傳遞。
圖2 ZnO納米棒的俯視圖(a, b)和斷面圖(c);ZnO-NRs/PANI-NWs 復(fù)合材料SEM照片(d, e)和斷面圖(f)
圖3是ZnO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs的XRD圖譜。由圖可知,ZnO-NRs的XRD圖譜出現(xiàn)12個(gè)明顯的特征峰,與標(biāo)準(zhǔn)卡片JCPDS 36-1451的特征峰高度吻合,表明ZnO-NRs具有六方纖鋅礦結(jié)構(gòu)且具有高結(jié)晶度。修飾聚苯胺線膜后,ZnO-NRs的12個(gè)特征峰未發(fā)生變化,僅在27.02°處出現(xiàn)代表聚苯胺分子鏈間距的特征峰[12],表明PANI結(jié)構(gòu)是無定形的,引入PANI未破壞ZnO-NRs的晶體結(jié)構(gòu)。
圖4為 ZnO-NRs和ZnO-NRs/PANI-NWs材料的紫外可見漫反射光譜圖。由圖可知,在400~800 nm 可見光區(qū)ZnO-NRs/PANI-NWs吸收明顯,ZnO-NRs的吸收較弱,這主要是PANI-NWs吸收400~800 nm 可見光所致。在200~385 nm 紫外光區(qū)ZnO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs的吸收峰相似,吸收較強(qiáng),主要由ZnO-NRs吸收所致。結(jié)果表明,用ZnO-NRs或ZnO-NRs/PANI-NWs材料組裝的探測器能在紫外區(qū)發(fā)生光響應(yīng)。因此,光響應(yīng)測試采用典型的254 nm與365 nm紫外光源。
圖3 ZnO納米棒和ZnO-NRs/PANI-NWs納米復(fù)合物的XRD圖譜
圖5為暗室和365 nm光源條件下的ZnO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的I-V特性曲線,從圖中可以看出,暗室條件下ZnO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的I-V特性曲線在0點(diǎn)附近,且呈現(xiàn)基本對稱的非線性形狀,表明探測器的暗電流低。365 nm光源射下,ZnO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs探測器產(chǎn)生光電流,ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的光電流更為明顯。ZnO-NRs與ZnO-NRs /PANI-NWs吸收365 nm的紫外光后,產(chǎn)生光生伏特效應(yīng)。由于ZnO-NRs/PANI-NWs材料中的PANI-NWs不僅能增強(qiáng)探測器的導(dǎo)電性能,而且ZnO-NRs/PANI-NWs材料中p-n結(jié)的存在,可在n型ZnO-NRs中產(chǎn)生更多的自由電子,提升了光生伏特效應(yīng)。
選用254 nm與365 nm紫外光源,外置偏壓為2 V,紫外光源與紫外檢測器之間距離5 cm,測定ZnO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的I-t曲線,如圖6所示。由圖可知,光源關(guān)閉時(shí),ZnO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的電流接近0;光源開啟時(shí),ZnO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的立即出現(xiàn)明顯的光電流;切斷光源,光電流會立即下降至初始值;光源再開啟時(shí),光電流立即恢復(fù)。在254 nm光源下,ZnO-NRs探測器的響應(yīng)值為1.59×10-5A,ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的響應(yīng)值為1.44×10-4A,后者的光電流約為前者的10倍。在365 nm光源下,ZnO-NRs探測器的響應(yīng)值為6.68×10-5A,ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的響應(yīng)值為2.73×10-4A,后者的光電流約為前者的4倍。此外,隨著光源波長的增加,ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的光電流增強(qiáng),365 nm光源條件下產(chǎn)生的光電流是254 nm光源的2~3倍,可能是長波紫外線比短波紫外線具有更強(qiáng)的穿透能力。表明ZnO-NRs或ZnO-NRs/PANI-NWs探測器具有高靈敏性及可逆性,PANI-NWs修飾 ZnO-NRs后光響應(yīng)明顯增強(qiáng)。
ZnO-NRs探測器產(chǎn)生光電流的機(jī)理如圖7(a)所示,選用254 nm與365 nm光源的光能量分別為4.894 eV、3.405 eV,高于ZnO禁帶寬度3.37 eV,在254 nm或365 nm光源照射下,ZnO的電子從價(jià)帶激發(fā)到導(dǎo)帶成為自由電子,使ZnO立即產(chǎn)生光電流。另外,ZnO納米棒結(jié)構(gòu)增加了表面氧空位缺陷可以吸附氧分子,吸附在ZnO-NRs表面的氧分子束縛ZnO導(dǎo)帶的電子,將其轉(zhuǎn)變?yōu)檠踟?fù)離子,導(dǎo)致ZnO-NRs表面產(chǎn)生富余的負(fù)電荷[13]。帶正電荷的空穴遷移到ZnO-NRs表面中和表面的氧負(fù)離子,空穴會移向ZnO-NRs表面,被帶負(fù)電的氧離子中和而ZnO-NRs內(nèi)的未配對電子密度增大,產(chǎn)生電流。當(dāng)切斷光源時(shí),電子和空穴復(fù)合,氧分子又吸附在ZnO-NRs表面捕獲電子,導(dǎo)致電流迅速下降。受ZnO禁帶寬度限制,365 nm紫外光比254 nm紫外光更易被ZnO捕獲產(chǎn)生光電流,ZnO-NRs探測器檢測365 nm紫外輻射更靈敏。
ZnO-NRs/PANI-NWs探測器產(chǎn)生光電流的機(jī)理如圖7(b)所示,在ZnO-NRs/PANI-NWs材料中p型PANI-NWs與n型ZnO-NRs形成了p-n結(jié),在ZnO-NRs/PANI-NWs耗盡區(qū)內(nèi)電場的方向是從ZnO-NRs到PANI-NWs,在紫外光照射下,在耗盡區(qū)產(chǎn)生電子空穴對,在內(nèi)電場的作用下,光生電子向氧化鋅移動(dòng),光生空穴向聚苯胺移動(dòng),在ZnO-NRs/PANI-NWs材料中電子-空穴對有效分離,從而增強(qiáng)光電流。
圖5 基于ZnO-NRs和ZnO-NRs/PANI-NWs的光電探測器的I-V特性曲線
圖6 不同紫外光波長下光電探測器外置偏壓為2 V時(shí)的I-t曲線
圖7 光敏機(jī)理示意圖
基于p-n結(jié)的光生伏特效應(yīng),本文制備了排列規(guī)則、孔隙均勻、界面接觸良好的ZnO-NRs、ZnO-NRs/PANI-NWs材料,其中ZnO納米棒的長度約2 μm、直徑為670 nm、密度為2根/mm2,PANI納米線的直徑約100 nm,線膜厚度約為1.6 μm??疾靂nO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的光響應(yīng)性能,發(fā)現(xiàn)ZnO-NRs與ZnO-NRs/PANI-NWs探測器的穩(wěn)定性好、相應(yīng)速度快、恢復(fù)時(shí)間短、暗電流低、電流增益高,證實(shí)具有p-n結(jié)的ZnO-NRs/PANI-NWs探測器可以明顯增強(qiáng)光響應(yīng)。該研究結(jié)果有望成為解決UV探測器光響應(yīng)弱這一缺陷的關(guān)鍵,為開發(fā)高性能紫外光電探測器的應(yīng)用奠定基礎(chǔ)。