姚曉童, 李 林
(上海理工大學 管理學院, 上海 200093)
半導體產(chǎn)業(yè)是資金技術(shù)密集型產(chǎn)業(yè),為使企業(yè)盈利,生產(chǎn)財務(wù)規(guī)劃尤為重要,而工廠的生產(chǎn)和財務(wù)規(guī)劃是基于成本估計[1],同時,市場競爭激烈,通常由于供過于求而使平均銷售價格低于單位成本,使企業(yè)無利可圖[2]。因此,半導體單位成本預(yù)測是極具現(xiàn)實意義的課題。
國內(nèi)外學者開展了大量關(guān)于半導體成本的研究。Carnes基于晶圓生產(chǎn)的4階段,即制造、分類、包裝、測試,建立了晶片單位成本的計算公式[3]; 俞靜等基于晶圓生產(chǎn)工序,以工程經(jīng)濟學的角度對晶圓制造成本進行預(yù)測;Liu等人[4]進行工廠模擬,估計與生產(chǎn)計劃相關(guān)的周期性產(chǎn)出和總成本,通過總成本除以產(chǎn)量間接預(yù)測了晶圓單位成本;Burkart和Kolar[5]建立了太陽能半導體的單位成本與芯片大小和封裝成本的線性函數(shù)實現(xiàn)半導體單位成本預(yù)測。以上研究都從不同角度考慮晶圓成本,但沒有考慮在實際生產(chǎn)中半導體成本的學習過程。對半導體成本趨勢進行建模,可幫助企業(yè)分析產(chǎn)品利潤,做好投資規(guī)劃,面對外部風險時可及時采取有效措施應(yīng)對風險。
針對半導體成本趨勢預(yù)測,Chen等[2,6-7]提出了一種模糊協(xié)同智能方法來估計某晶圓廠某產(chǎn)品類型的有效單位成本。該方法直接對單位成本學習函數(shù)進行建模,降低了過程復雜度。但依然存在以下問題:①對于非凸QP問題很難求得最優(yōu)解。②專家對模型參數(shù)的設(shè)置可能導致問題沒有可行解。針對以上問題,本文構(gòu)建了多代理人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(ANN)代替求解QP問題對模糊單位成本學習函數(shù)進行建模。
半導體單位成本在生產(chǎn)階段初期是一個學習過程,構(gòu)造單位成本學習模型可以觀察單位成本發(fā)展趨勢,預(yù)測未來單位成本。由于獲取信息的不確定性及影響因素的復雜性,為降低預(yù)測過程中的不確定性,將單位成本學習模型(1)與三角模糊數(shù)相結(jié)合,構(gòu)造新的單位成本學習模型(3)。為簡化計算,根據(jù)三角模糊數(shù)運算規(guī)則,模型(3)計算可近似為模型(4)。
(1)
(2)
(3)
(4)
目前有多種方法求解式(4),例如文獻[8]通過最小化單位成本預(yù)測范圍構(gòu)建了線性方程LP;文獻[9]提出最大化滿意度水平構(gòu)建了二次規(guī)劃方程QP1;文獻[10]通過綜合LP與QP1的要求,提出了帶有權(quán)重的最小化單位成本預(yù)測范圍的二次規(guī)劃方程QP2,但求解QP問題的全局最優(yōu)解仍然是一個難題,且權(quán)重的確定沒有確定的規(guī)則;文獻[6]改進了可用的模型構(gòu)建了兩個非線性方程NLP1、NLP2擬合半導體單位成本學習模型,求解NLP問題仍是一個挑戰(zhàn);文獻[11]將NLP1與NLP2改為等效的QP問題,以簡化求解過程。當前可用的模糊協(xié)同方法來預(yù)測半導體的單位成本學習過程都是基于求解數(shù)學規(guī)劃問題。
ANN在面對難以判斷的輸入輸出關(guān)系時仍然表現(xiàn)出很好的擬合特性,因此成為時間序列非線性建模最常使用的模型[12]?;诖藰?gòu)建了一個兩層神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)來擬合單位成本的學習過程。本文所用的參數(shù)及變量匯總在表1。
表1 參數(shù)及變量匯總
1.1.1 ANN模型構(gòu)建
ANN來擬合單位成本學習過程。模型構(gòu)造如下。
4)輸出節(jié)點的輸出值為節(jié)點輸入wxt與閾值θ進行比較即wxt(-)θ;
1.1.2 ANN訓練算法
本文所構(gòu)建ANN模型有如下性質(zhì)。
根據(jù)以上性質(zhì)與定理,對現(xiàn)有的梯度下降算法進行改進,以適應(yīng)帶有參數(shù)限制(w<0)的ANN訓練。訓練算法如下:
1)估計單位成本漸進值cmin,cmax。
2)確定模型參數(shù)w,θ,ξ。
煙葉的糖、氮、堿、鉀等常規(guī)化學成分的含量及比例,是煙葉內(nèi)在質(zhì)量的基礎(chǔ),并在一定程度上決定了其感官質(zhì)量[17]。煙葉生長發(fā)育的差異,同樣會影響到葉片內(nèi)含物的積累量,從而影響煙葉化學成分的含量[19]。研究結(jié)果表明,3個處理(移栽期)處理中,上部葉和中部葉的總糖、還原糖、總氮、煙堿、鉀及氯的含量均有所不同,與陳義強等[18-19]的研究結(jié)果相一致??傮w來看,3個處理上部葉和中部葉的總氮、煙堿的含量較為適宜,不足之處是糖含量偏高、鉀與氯的含量偏低,導致糖堿比偏高而氮堿比偏低。因此,在煙葉生產(chǎn)中,需要進一步改進栽培措施,以促使其煙葉的化學成分更加協(xié)調(diào)。
5)計算預(yù)測值與真實值偏差δt。
6)計算模型參數(shù)偏置Δwt,Δθt。
7)判斷所有樣本是否都參與訓練,如果是則轉(zhuǎn)第8步,如果否,則返回第3步。
8)計算均方差mse。
9)更新權(quán)重與閾值w2,θ2。
10)判斷w2<0,mse<10-6 ,如果是,則轉(zhuǎn)第11步,如果否,則轉(zhuǎn)第3步。
11)更新模型參數(shù)w1,w3,θ1,θ3。
(5)
(6)
BPN廣泛應(yīng)用于復雜模型的線性擬合中,并表現(xiàn)出良好的擬合特性。為獲得清晰的預(yù)測值,構(gòu)建三層BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)去模糊化,得到單位成本預(yù)測清晰值,步驟如下:
1)多邊形的每個交點作為BPN輸入,如果多邊形有5個交點,則BPN輸入點有10個。由于每個時間周期多邊形交點數(shù)不同,BPN輸入點數(shù)由各個周期多變形最多的點數(shù)決定。點數(shù)不足,輸入值為0。
2)根據(jù)經(jīng)驗將BPN隱藏層點數(shù)設(shè)置為輸入點數(shù)的2倍。
3)采用Levenberg-Marquardt訓練算法[13]。
為驗證所提出模型的有效性與精確性,本文選用10組包含1G DRAM產(chǎn)品成本數(shù)據(jù)進行仿真[16],數(shù)據(jù)如表2。按照7:3原則,將前7個周期數(shù)據(jù)用來訓練ANN,后3個周期數(shù)據(jù)用來評價模型。由3名代理獨自執(zhí)行ANN模糊預(yù)測,獨立設(shè)置初始參數(shù),經(jīng)過反復調(diào)整,ANN模型初始參數(shù)如表3。
本文用MATLAB2014b對所提出的FCI方法進行驗證,ANN預(yù)測半導體單位成本與模糊聚合通過編寫代碼實現(xiàn),用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)工具箱完成BPN解模糊化。
表2 真實單位成本
表3 初始參數(shù)設(shè)置
根據(jù)求解模糊線性回歸方程(4),得到模糊單位成本預(yù)測學習模型如圖1-圖3,從圖中可以看出在訓練數(shù)據(jù)集上3位代理所使用的FCI方法均包含實際的單位成本值??s小預(yù)測范圍,使預(yù)測結(jié)果逼近真實值,我們采用模糊聚合函數(shù)(6)將3位代理的預(yù)測結(jié)果進行聚合。聚合后的結(jié)果如表4。
為得到單位成本精確值,我們將表4的坐標點作為BPN的輸入,由于BPN對初值的敏感性[17],我們用隨機初始值重復實驗20次,取最佳表現(xiàn)預(yù)測值。由于數(shù)據(jù)集較少,選用10折交叉驗證的方法,即選取1周期作為測試集,其他作為訓練集,由此循環(huán)10次。采用平均范圍、MAE、MAPE、RMSE等評價指標進行性能分析,并與Chen提出的NLP-BPN方法、Chen 和 Chiu提出的NLP/QP-BPN與本文提出的ANN-BPN做比較,結(jié)果匯總在表5。
表4 模糊聚合點坐標
圖1 代理1對單位成本的模糊預(yù)測
圖2 代理2對單位成本的模糊預(yù)測
圖3 代理3對單位成本的模糊預(yù)測
由表5可知,本文提出的ANN模糊協(xié)同方法相較于傳統(tǒng)的模糊協(xié)同算法在MAE、MAPE、RMSE三項指標上有顯著提高,有利于提高半導體單位成本的預(yù)測準確性。平均范圍指標也取得了較好的性能。
表5 不同方法預(yù)測表現(xiàn)
考慮到單位成本學習現(xiàn)象,本文構(gòu)建兩層ANN擬合單位成本學習函數(shù)并于三角模糊數(shù)結(jié)合,ANN方法是單位成本預(yù)測一種新的嘗試,避免了普遍數(shù)學編程方法參數(shù)設(shè)置問題以及二元方程最優(yōu)解不易確定問題。針對半導體單位成本受多種不同因素影響而導致單位成本的預(yù)測復雜性與不確定性,本文使用3名代理單獨設(shè)置ANN初始參數(shù),得到單位成本預(yù)測三角模糊值,使用模糊聚合方法將三位代理的三角模糊值聚合縮小預(yù)測范圍,提高預(yù)測準確性。聚合結(jié)果使用BPN解模糊化,得到單位成本預(yù)測精確值。實驗結(jié)果證明,本方法預(yù)測半導體單位成本與現(xiàn)有方法比較,預(yù)測性能明顯提高,為求解半導體學習模型參數(shù)提供了一種新的思路。