(上海宇航系統(tǒng)工程研究所,上海 201109)
運(yùn)載火箭飛行試驗(yàn)是運(yùn)載火箭研制過程中的重要環(huán)節(jié),在飛行試驗(yàn)中,通過遙測系統(tǒng)采集記錄火箭飛行試驗(yàn)中的工作狀態(tài)參數(shù),進(jìn)而評估火箭的各種技術(shù)指標(biāo)。
隨著航天技術(shù)的迅速發(fā)展,對運(yùn)載火箭的運(yùn)載能力提出了更高的要求。運(yùn)載火箭外形尺寸和體積的增大,以及捆綁助推器等新狀態(tài),導(dǎo)致運(yùn)載火箭遙測參數(shù)的數(shù)量和采樣率都有了較大增長[1]。對于成熟型號運(yùn)載火箭,為改進(jìn)載荷能力,需要進(jìn)行相關(guān)參數(shù)測量,從而為后續(xù)性能改進(jìn)提供工程數(shù)據(jù),這就需要對遙測數(shù)據(jù)波道進(jìn)行調(diào)整。而現(xiàn)有測量波道已趨于飽和,如對已有數(shù)據(jù)采集設(shè)備進(jìn)行更改會涉及到多個(gè)技術(shù)狀態(tài)變化,不適用于高密度發(fā)射形勢。對于新增測量需求,可將部分無實(shí)時(shí)性要求的測量參數(shù)通過存儲器的形式事后獲得,與無線傳輸方式相比,該種方式具有系統(tǒng)架構(gòu)簡單、獲取數(shù)據(jù)可靠的優(yōu)點(diǎn),在飛行器飛行試驗(yàn)中具備廣泛的應(yīng)用[2]。
針對運(yùn)載火箭不同技術(shù)狀態(tài)下新增參數(shù)的測量需求,本文設(shè)計(jì)一種具備存儲功能的小型數(shù)據(jù)采集裝置。該裝置對運(yùn)載火箭飛行過程中的多路參數(shù)進(jìn)行采集并存儲,待回收后可通過專用測試設(shè)備對存儲的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取并分析。該種測試方法獨(dú)立于現(xiàn)有遙測系統(tǒng),不占用現(xiàn)有遙測系統(tǒng)波道,并具有設(shè)計(jì)簡便、可回收、體積小、可靠性高等特點(diǎn),可推廣應(yīng)用于多種型號運(yùn)載火箭飛行試驗(yàn)過程中的參數(shù)測量,為運(yùn)載火箭設(shè)計(jì)改進(jìn)提供技術(shù)基礎(chǔ)。
數(shù)據(jù)采集記錄裝置測量需求如下:
1)測量路數(shù):16路,包含4路2 kHz的速變信號,以及頻率不大于15 Hz的12路緩變信號;
2)信號類型:幅值為0~5 V,采樣精度為8位;
3)測量時(shí)間:不大于200 s。
根據(jù)測量需求,設(shè)計(jì)原理如圖1所示。數(shù)據(jù)采集記錄裝置由電源板和主控板組成。其中,28 V電源由電池提供,電源板將28 V電源濾波后轉(zhuǎn)換成主控板所需電壓;主控板負(fù)責(zé)控制數(shù)據(jù)采集、編幀和存儲任務(wù)。
主控板以FPGA為控制核心,控制模擬開關(guān)及AD轉(zhuǎn)換器進(jìn)行傳感器信號的采集,并將采集到的數(shù)據(jù)存儲至存儲芯片中。為與系統(tǒng)時(shí)標(biāo)進(jìn)行統(tǒng)一,使用起飛信號作為數(shù)據(jù)采集存儲動作的啟動指令。為提高數(shù)據(jù)存儲的可靠性,在主控板上設(shè)置2塊完全相同的存儲芯片,互為備份,同時(shí)存儲,確保在回收時(shí),當(dāng)其中一個(gè)出現(xiàn)故障,另一個(gè)存儲芯片能保證數(shù)據(jù)的完整回讀。
數(shù)據(jù)采集記錄裝置與測試設(shè)備之間設(shè)置數(shù)據(jù)回讀接口,在數(shù)據(jù)回收時(shí),接收測試設(shè)備命令,將測試數(shù)據(jù)通過數(shù)據(jù)回讀接口傳輸?shù)綔y試設(shè)備進(jìn)行分析。
圖1 數(shù)據(jù)采集記錄裝置原理框圖
FPGA具有功能集成度高、邏輯資源豐富、可重復(fù)編程、速度快、效率高、設(shè)計(jì)靈活等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)。本產(chǎn)品選用Xilinx公司生產(chǎn)的XC3S500E型芯片作為控制芯片來完成整機(jī)的功能和時(shí)序控制,該芯片具備豐富的邏輯資源,融合了RAM和用戶I/O,適用于大規(guī)模時(shí)序電路的開發(fā)和設(shè)計(jì)[3]。
上電初始化完成后,F(xiàn)PGA周期性從其內(nèi)部RAM中讀出幀格式信息。通過幀格式數(shù)據(jù)設(shè)置,可以更改不同信號的采樣頻率,產(chǎn)生模擬開關(guān)以及AD控制信號,將采集到的信號按幀格式編幀,存儲至FLASH芯片,并提供芯片數(shù)據(jù)的回收讀數(shù)以及擦除功能。
16路傳感器信號經(jīng)模擬開關(guān)進(jìn)行依次選通,接入到AD轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行轉(zhuǎn)換,得到的二進(jìn)制數(shù)據(jù)傳輸至FPGA進(jìn)行存儲和處理。模擬開關(guān)的切換由FPGA控制,在FPGA內(nèi)部設(shè)置幀格式,F(xiàn)PGA根據(jù)幀格式順序依次打開模擬開關(guān),對選通的相應(yīng)路數(shù)的模擬信號進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換。通過改寫幀格式數(shù)據(jù),可對待測信號的采樣頻率以及采樣順序進(jìn)行控制。
模擬開關(guān)選用AD公司的ADG1206,該芯片由±15 V供電,可對16路輸入信號進(jìn)行切換,典型切換時(shí)間為80 ns,且封裝小,有利于產(chǎn)品的小型化設(shè)計(jì)[4]。AD轉(zhuǎn)換芯片選用AD7892-1,該芯片具備12位分辨率,轉(zhuǎn)換速率為500 ksps,輸入信號范圍為-5~+5 V,自帶參考電壓模塊[5]。為保證采樣精度,選用精度以及穩(wěn)定度更高的外部參考源AD845作為AD7892參考電壓端的外部輸入。為保證阻抗匹配,模擬開關(guān)輸出端通過電壓跟隨器LM110連接到AD芯片輸入端。
圖2 AD轉(zhuǎn)換原理框圖
常用的非易失性存儲芯片有E2PROM、NorFlash、NandFlash等,其中E2PROM的寫入速度較慢,NandFlash需要特殊的控制接口和軟件算法,均不適合本數(shù)據(jù)采集記錄裝置的應(yīng)用。設(shè)計(jì)中選用Atmel公司的AT25DF641,該芯片為SPI型FLASH,具有引線少、接口簡單、使用方便的優(yōu)點(diǎn)。芯片存儲容量為64 Mbit(8MByte),單字節(jié)典型編程時(shí)間為7 μs,單頁(256Bytes)最大編程時(shí)間為3 ms。芯片在使用前需執(zhí)行擦除操作,擦除操作可按扇區(qū)、塊或整片執(zhí)行,芯片的擦除壽命為10萬次[6]。由于擦除操作耗時(shí)較長,設(shè)計(jì)時(shí)在寫入操作前先進(jìn)行整片F(xiàn)LASH的擦除。AT25DF641電原理圖見圖3。
圖3 存儲芯片電原理圖
數(shù)據(jù)回讀接口用于在回收時(shí)讀取FLASH中的數(shù)據(jù),并可以在數(shù)據(jù)采集時(shí)對FLASH狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控,以及通過測試設(shè)備對數(shù)據(jù)采集記錄裝置發(fā)出指令進(jìn)行控制。硬件接口采用RS422模式,接口原理圖見圖4。電路設(shè)計(jì)中,對于輸入信號,采用120 Ω終端匹配電阻來進(jìn)行阻抗匹配,并添加1 KΩ的上下拉電阻,當(dāng)輸入信號處于未連接或意外斷開的狀態(tài)時(shí),接收端有固定的差分輸入電壓。對于輸出信號,為避免輸出端意外短路,串接10 Ω的保護(hù)電阻。RS422電路具備較強(qiáng)的抗共模干擾能力,信號容差性好,且接口協(xié)議可自定義,在多種數(shù)據(jù)通信場合得到廣泛應(yīng)用[7]。
圖4 RS422接口原理圖
電源板為整機(jī)供電,28 V一次電源經(jīng)電磁濾波器EMI濾波后,輸入至16~40 V寬輸入開關(guān)電源DC/DC模塊,產(chǎn)生控制板所需的二次電源±15 V及+5 V。
EMI濾波器用在電源模塊的輸入端,其主要作用是抑制DC/DC的開關(guān)噪聲對電源母線產(chǎn)生干擾,同時(shí)抑制DC/DC端的共模和差模干擾,以及對內(nèi)部DC/DC進(jìn)行防過壓和防過流保護(hù)。DC/DC模塊為換流模塊的核心電路,主要功能是將一次電源28 V電壓,隔離后轉(zhuǎn)換成測量系統(tǒng)所需要的±15 V以及+5 V電壓,同時(shí)功率與電壓輸出品質(zhì)滿足系統(tǒng)負(fù)載使用要求。根據(jù)負(fù)載評估結(jié)果及電源品質(zhì)輸出要求,同時(shí)選擇成熟可靠廠家產(chǎn)品,采用Interpoint公司的DC/DC芯片。該公司DC/DC芯片同時(shí)具備短路保護(hù)、輸入輸出電氣隔離、以及耐50 V瞬時(shí)沖擊的特性,成熟度較高,經(jīng)過國內(nèi)外多發(fā)飛行試驗(yàn)的考核。
數(shù)據(jù)采集記錄裝置的軟件功能主要包括:根據(jù)起飛信號到來時(shí)間,以及幀格式要求,控制模擬開關(guān)及A/D轉(zhuǎn)換,進(jìn)行模擬信號采集,將采集到的數(shù)據(jù)存儲至FLASH中;通過RS422接口接收測試設(shè)備命令,在回收后,讀取FLASH中存儲的數(shù)據(jù)。軟件功能框圖見圖5。
圖5 軟件功能框圖
根據(jù)對測量需求的分析,需采集的信號包括4路2 kHz的速變信號,以及12路緩變信號。根據(jù)采樣定理,為保證采樣質(zhì)量,采樣頻率至少為信號頻率的2倍,同時(shí)考慮到FLASH芯片AD25DF641的頁編程字節(jié)數(shù)為256,為此設(shè)計(jì)如下幀格式:
1)副幀長度:50;子幀長度:10;全幀字?jǐn)?shù):500;
2)字長:8 bits,碼速率:200000 bps(25 K Byte/s);
3)副幀采樣率:50 Hz;子幀采樣率:2.5 kHz;
4)測量時(shí)間:200 s,總數(shù)據(jù)量:5 M Bytes。
其中,每路速變信號占2個(gè)子幀,采樣率為5 kHz。緩變信號在每個(gè)副幀中采樣一次,采樣率為50 Hz。同時(shí),在幀格式中添加幀同步標(biāo)識以及幀計(jì)數(shù),防止丟幀以及誤幀情況。
為節(jié)省硬件空間,幀格式數(shù)據(jù)放置于FPGA內(nèi)部。FPGA在進(jìn)入采集模式后,周期性地從幀格式存儲空間讀取通道號和通道類型,根據(jù)類型產(chǎn)生不同的時(shí)序。通道類型包括待采信號、幀同步、幀計(jì)數(shù)以及空波道等。當(dāng)信號采集需求發(fā)生變化時(shí),通過更改幀格式數(shù)據(jù)文件即可實(shí)現(xiàn)不同采樣率的控制。
由于模擬開關(guān)的切換需要一定的穩(wěn)定時(shí)間,軟件設(shè)計(jì)時(shí)預(yù)留足夠的時(shí)間,保證模擬開關(guān)穩(wěn)定以后,再進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換。
A/D芯片AD7892轉(zhuǎn)換時(shí)序見圖6,在CONVST信號的上升沿,采樣保持器進(jìn)入保持狀態(tài),并開始A/D轉(zhuǎn)換。經(jīng)過一定的轉(zhuǎn)換時(shí)間tCONV后,EOC信號輸出負(fù)脈沖表明轉(zhuǎn)換結(jié)束。當(dāng)CS、RD信號有效,經(jīng)過t6時(shí)間后,即可在數(shù)據(jù)總線上獲得12位數(shù)據(jù)。12位數(shù)據(jù)全部送入FPGA,可根據(jù)采樣精度需求,選取相應(yīng)位數(shù)進(jìn)行編幀。本設(shè)計(jì)為8位字長,且由于輸入的模擬信號為0~5 V,故選取第11至第4位進(jìn)行存儲。
圖6 A/D轉(zhuǎn)換軟件時(shí)序圖
根據(jù)對幀格式的分析,每幀數(shù)據(jù)大小為500字節(jié),時(shí)長為20 ms。對FLASH存儲芯片AT25DF641進(jìn)行寫操作時(shí),需要寫控制字、寫數(shù)據(jù)和編程,這些都需占據(jù)一定時(shí)間。在此期間采集的數(shù)據(jù)是連續(xù)不斷送來的,需要使用FIFO進(jìn)行緩存,否則會丟失該時(shí)間段內(nèi)的參數(shù)。為得到最快的寫FLASH速率,選用頁編程模式,每次可對256 Bytes的數(shù)據(jù)進(jìn)行編程,最大頁編程時(shí)間為3 ms,設(shè)計(jì)時(shí)選用512 Bytes的FIFO進(jìn)行數(shù)據(jù)的緩存?;谙到y(tǒng)集成化的考慮,選用FPGA內(nèi)部FIFO,充分利用了FPGA強(qiáng)大的資源,減小了系統(tǒng)體積,同時(shí)節(jié)省硬件成本[8]。
對FLASH芯片AT25DF641的操作包括擦除、寫操作以及讀操作。對于寫操作來說,在每次編程前要先進(jìn)行寫使能,允許對芯片進(jìn)行編程操作,然后發(fā)送頁編程命令、地址以及需要寫到FLASH中的數(shù)據(jù)。頁編程命令時(shí)序圖見圖7。AD25DF641可自動檢測、報(bào)告編程或擦除失敗,在編程結(jié)束時(shí)可通過讀相關(guān)寄存器來查詢編程是否成功,如沒有編程成功,則將該頁地址寫入FLASH特定地址,供回收數(shù)據(jù)時(shí)參考。
圖7 FLASH頁編程時(shí)序圖
數(shù)據(jù)采集記錄裝置需要經(jīng)過硬回收,工作環(huán)境惡劣,如高沖擊過載、高溫、高壓等,易對內(nèi)部電子器件造成損害[9]。數(shù)據(jù)采集記錄裝置在落地硬回收的過程中,一方面因與地面撞擊,會產(chǎn)生巨大的撞擊力,需要對殼體進(jìn)行抗高過載防護(hù)設(shè)計(jì);另一方面,因數(shù)據(jù)采集記錄裝置在隨艙段飛行過程中,具有較高的動態(tài)性能,對其內(nèi)部電路產(chǎn)生較大的慣性作用力,因此需要在殼體內(nèi)部設(shè)置多層緩沖材料,并對印制板進(jìn)行灌膠處理。
通過特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和電裝工藝,確保產(chǎn)品可耐受大劑量沖擊應(yīng)力,確保隨火箭箭體墜落至地面時(shí)產(chǎn)品不損壞,從而可靠回收數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)在回收后需要進(jìn)行分析,對飛行過程中的重要參數(shù)進(jìn)行還原。所以應(yīng)保證數(shù)據(jù)采集記錄裝置工作的穩(wěn)定、可靠[10]。設(shè)計(jì)時(shí)采用以下技術(shù):
1)位置標(biāo)識技術(shù):每幀數(shù)據(jù)為500 Bytes,F(xiàn)LASH芯片AT25DF641每頁包含256 Bytes,因此在存儲時(shí)把每幀數(shù)據(jù)均分為2塊,在每一塊數(shù)據(jù)的末尾加上6個(gè)字節(jié)的位置信息,記錄本塊數(shù)據(jù)的具體位置,在數(shù)據(jù)回收時(shí)可方便的進(jìn)行參數(shù)的恢復(fù),避免由于外界干擾導(dǎo)致的數(shù)據(jù)丟失。
2)FLASH分頁存儲技術(shù):每幀數(shù)據(jù)占據(jù)的存儲空間為2頁,軟件在進(jìn)行到寫數(shù)據(jù)模式時(shí),先順序檢測每頁是否有數(shù)據(jù),如有則跳至下一頁地址,直至跳轉(zhuǎn)至空白頁進(jìn)行數(shù)據(jù)寫入。這樣一方面保證不會覆蓋已寫入的數(shù)據(jù),另一方面避免頻繁的對FLASH芯片初始地址的頁面進(jìn)行操作,造成芯片損壞。
3)冗余設(shè)計(jì):為提高數(shù)據(jù)存儲的可靠性,在主控板上設(shè)置2塊完全相同的存儲芯片,互為備份,同時(shí)存儲,確保在回收時(shí),其一出現(xiàn)故障,另一個(gè)存儲芯片保證數(shù)據(jù)的完整回讀。
數(shù)據(jù)采集記錄裝置以“起飛”信號為起點(diǎn)開始記錄數(shù)據(jù),與系統(tǒng)時(shí)標(biāo)起點(diǎn)統(tǒng)一。當(dāng)數(shù)據(jù)采集試驗(yàn)結(jié)束后,從數(shù)據(jù)采集記錄裝置中回收數(shù)據(jù),以起飛信號作為起點(diǎn),結(jié)合幀格式來繪制波形,可以得到16路傳感器信號在200 s內(nèi)的變化趨勢。
為驗(yàn)證測試數(shù)據(jù)采集記錄裝置的功能性能,設(shè)計(jì)生產(chǎn)了原理樣機(jī),使用測試設(shè)備模擬傳感器信號,包括正弦波、方波、三角波等。數(shù)據(jù)采集記錄裝置對上述波形進(jìn)行采集,結(jié)束后進(jìn)行數(shù)據(jù)回收,并用上位機(jī)軟件對數(shù)據(jù)進(jìn)行波形繪制,輸入及輸出波形見圖8??梢姡瑪?shù)據(jù)采集記錄裝置中存儲的數(shù)據(jù)未見異常,與測試設(shè)備輸出波形一致。
圖8 測試波形圖
本文介紹了一種具備存儲功能的遙測數(shù)據(jù)采集裝置的設(shè)計(jì)方法及其可靠性設(shè)計(jì)。該裝置可對多路信號進(jìn)行采集、編幀及存儲,并在數(shù)據(jù)存儲時(shí)采用了位置標(biāo)識、分區(qū)存儲、冗余設(shè)計(jì)等技術(shù),能夠可靠地進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲及回收分析,為后續(xù)運(yùn)載火箭的設(shè)計(jì)改進(jìn)提供了有效數(shù)據(jù)支持。該裝置設(shè)計(jì)靈活,節(jié)省了無線信道帶寬,提高了運(yùn)載火箭數(shù)據(jù)獲取的準(zhǔn)確性與可靠性,以低成本、低風(fēng)險(xiǎn)的方式解決了現(xiàn)有遙測波道余量不足的問題,具有一定的推廣價(jià)值。