(航天科工集團十院3419廠,江蘇蘇州,215129)
在軍用線束領域,壓接是一道重要工序。壓接連接技術是指在常溫下,通過壓接設備或工具,對裝入導線的接觸件施加一定壓力并保持一段時間,使其產(chǎn)生塑性變形而形成可靠的電氣連接,具有優(yōu)良的機械性能和電氣性能。所謂坑壓式壓接,是指通過壓頭將連接器的接觸件壓成坑式窩點的壓接法。軍用線束上所用的坑壓式一般為四面雙窩點,如圖1所示。
圖1 坑壓式壓接法
在GJB5020-2001《壓接連接技術要求》中對壓接后接觸件的空隙率,只在壓接截面金相顯微鏡檢查中有提到一點要求:所有空隙所占面積應小于導線所占空間總面積的10%。
而在我們公司大量的坑壓式壓接的生產(chǎn)過程中發(fā)現(xiàn),壓接的各項指標都是合格,金相解剖空隙率也小于10%,如為8.7%時,如下圖2所示。此時連接器的部分接觸件孔位在終檢測試導通電阻會出現(xiàn)接觸電阻超5%的輕微變大現(xiàn)象。為此本文將對這種接觸電阻要求嚴格的產(chǎn)品進行深入研究。
圖2 壓接金相圖
導線導體表面、接觸件內(nèi)部表面盡管十分光滑、且都有鍍層覆蓋,如導線導體表面鍍銀,連接器接觸件表面鍍金。都在顯微鏡下觀察接觸面都是凹凸不平。此時的接觸,并不是整個接觸面的接觸,而是散布在接觸面上的一些點的接觸。真正導體與接觸件直接接觸部分,也被稱為導電斑點,是由接觸壓力破壞界面膜后形成。此部分導電斑點的面積遠小于實際接觸面積。圖3是實際接觸的示意圖。
圖3 實際接觸面積示意圖
接觸件總接觸電阻R可由下列公式(1)表示:
R=Rc+Rf+Rm
(1)
式中:Rc——收縮電阻;
Rf——表面膜層電阻;
Rm——導體電阻。
在軍用線束產(chǎn)品的實際測量連接器的接觸電阻時,都是包含接觸件本身電阻和引出導線的導體電阻。接觸件和導線導體的電阻主要取決于金屬材料本身的導電性能。為便于區(qū)分,本文將收縮電阻加上表面膜層電阻稱為真實的接觸電阻,即接觸電阻R=Rc+Rf。
當電流通過接觸件表面流向導線導體時,從原來截面較大的接觸面突然轉到截面很小的導電斑點時,電流會發(fā)生劇烈收縮現(xiàn)象,也叫集中現(xiàn)象,此時電流路徑加長,導電面積減少。此現(xiàn)象所呈現(xiàn)的附加電阻被稱為收縮電阻。
圖4 接觸斑點示意圖
收縮電阻有很多數(shù)學模型,其中Holm計算模型比較簡單。Holm理論主要有四點假設,此時導電斑點為半徑α圓形,且單個α斑點足夠遠,接觸表面沒有污染層,并且接觸的兩個金屬為相同材料ρ1=ρ2=ρ。
在滿足上述條件下,Holm計算公式為:
(2)
式中:RC——收縮電阻,Ω;
ρ——材料電阻率,Ω·m;
α——接觸斑點半徑,m。
在實際生產(chǎn)的情況下,接觸件內(nèi)表面中,導電斑點應該有n個。我們假設其斑點面積都一樣大,這樣在電路上是并聯(lián)的關系,總的收縮電阻將為:
(1)
αi為第i個導電斑點半徑;αp為n個斑點半徑的平均值。
電接觸表面上,由于種種原因覆蓋著一層導電性很差的物質(zhì),例如金屬氧化物、硫化物、灰塵、污染物或夾在接觸面間的油膜、水膜等。一般來說,電接觸表面氧化膜居多,而氧化膜多半是半導體,電阻率很高,使得產(chǎn)品接觸電阻大大增加,此電阻被稱為表面膜層電阻Rf。
此時單個半徑為α圓形導電斑點表面膜層電阻計算公式:
式中:U——接觸面之間的電壓,V;
J——流過膜層的電流密度,A/m2;
σ——膜層電阻率,Ω·m2。
對于具有 n 個導電斑點的接觸件,且其平均半徑為αp,則總表面膜層電阻:
則接觸電阻的計算公式為:
從公式中可以看出,當接觸件材料固定時,接觸斑點的半徑越大,此時的接觸電阻越小。即要獲得可靠接觸,必須保證兩金屬的充分接觸。對接觸件的壓接電阻而言,可得出壓接后,空隙率越小,接觸面積越大,接觸電阻越小的關系。
在 GJB5020-2001《壓接連接技術要求》對壓接深度和導線截面積、耐拉力定義的曲線圖如下,即隨著壓接深度的加大,導線截面積越來越小,導線的耐拉力先逐漸升高到最大值,在壓接處拉斷后再逐漸減小。但該趨勢圖沒有給出壓接過程中導線截面積的具體數(shù)值,即壓接空隙率的變化趨勢圖。
為驗證空隙率對壓接可靠性的影響,我們從較小的壓接深度開始試做,每個檔位10只產(chǎn)品,5只進行耐拉力試驗,5只進行金相顯微鏡檢查。然后再加大壓接深度,直至導線的導體從壓接處斷裂,金相檢查的空隙率為零。為此得出耐拉力和空隙率的17組試驗結果如下表1所示。
圖5 壓接過程參數(shù)變化
表1 耐拉力和空隙率試驗數(shù)據(jù)表
同時,我們繪制耐拉力值和空隙率的對比曲線圖如下圖6所示。結果,我們發(fā)現(xiàn),在空隙率10%左右時,耐拉力并不是最大,還處于上升階段,而空隙率為3%以下時,導線的耐拉力處于平穩(wěn)的頂峰階段。
圖6 耐拉力和空隙率曲線圖
通過我們廠先前的生產(chǎn)經(jīng)驗,空隙率在10%左右時,接觸件的電阻值會出現(xiàn)輕微的變大現(xiàn)象。為此我們將空隙率為3%的接觸件如圖7所示,進行溫度沖擊試驗。實驗條件:-55℃~+125℃,單次循環(huán),高、低溫保持時間至少為30min,共20次循環(huán)。記錄溫度沖擊前后的接觸件的電阻值,結果顯示所有試驗件,在溫度沖擊后沒有出現(xiàn)超過5%電阻變化值的現(xiàn)象。
此次試驗證明了,壓接空隙率為3%時,接觸件的導通電阻值恒定性很好,產(chǎn)品質(zhì)量得到保證。
圖7 空隙率3%的金相圖
對接觸電阻要求嚴格的產(chǎn)品,我們可以通過適當加大壓接深度,使壓接空隙率保持在3%左右,這樣連接器的接觸件將獲得可靠的、永久性的接觸,從而降低接觸電阻變大的風險。通過對壓接空隙率的監(jiān)控,我們公司采用坑壓式接觸件的產(chǎn)品質(zhì)量得到了提升,滿足了軍工客戶的要求。