地面高精度磁法在矽卡巖型礦床勘查中的應用

李桂花　張冬

摘要：面高精度磁法的應用，通過對地質(zhì)結(jié)構的分析，將測量的數(shù)據(jù)進行分析和處理，為地質(zhì)勘查工作提供了重要的參考依據(jù)。高精度磁法目前已經(jīng)普遍運用到地質(zhì)勘查工作中，其重要作用是進行預測，主要包括三個方面：劃分巖體、劃分構造單元及構造位置、直接（間接）找礦。作者通過地面高精度磁測在地質(zhì)勘查的運用和研究，在尋找矽卡巖型礦產(chǎn)中，磁法測量能有效的尋找到矽卡巖的具體位置，指導下一步找礦工作。

關鍵詞：地面高精度磁法;應用;矽卡巖;鎢礦;磁異常

某礦礦區(qū)礦床類型為矽卡巖型白鎢礦礦床，矽卡巖型礦床的矽卡巖與圍巖存在磁性差異，且矽卡巖同時又是賦礦的主要巖性和層位，高精度磁法測量工作目的是通過間接找尋與圍巖有磁性差異的矽卡巖分布情況，從而尋找到白鎢礦。

1地面高精度磁法勘探的原理

所謂地面高精度磁法勘探，主要是通過在地面觀察測量地下磁性的差異，及其引起的磁場變化的地球物理勘查方法。含有磁性礦物質(zhì)的各種礦石、巖石以及磁性物體等，具有各種各樣的剩余磁性、感應磁性，進而形成磁場異?，F(xiàn)象，重復疊加于正常地磁場中。采用儀器測量以后，可以根據(jù)測量結(jié)果進一步分析地面磁場異常所表現(xiàn)出來的特點，從而實現(xiàn)找礦的目的，也可以有效解決其他類型的地質(zhì)問題?！兜孛娓呔却艤y技術規(guī)程》規(guī)定，高精度磁法勘探的含義是磁誤差等于或者低5nT的磁測工作，高精度磁測的適用工作是勘查弱磁性目標物、或者隱伏磁性體在地表產(chǎn)生的弱磁異常研究等。

2高精度磁法特點

（1）高精度磁法是測量低下磁場的一種技術，可以使所取磁場信息更為詳細與豐富，能夠解決傳統(tǒng)的中低磁測在找礦中難以解決的問題，在礦產(chǎn)勘探方面，具有很強的能力與精度。

（2）在實際工作中，高精度磁法所使用的儀器比較輕便，而且操作簡單，無需加大成本與工作難度，使找礦的工作效率得以提高，并降低勞動強度。

（3）在找礦時，高精度磁法在解釋磁場異常中，其分辨率非常高，一方面，能夠?qū)ζ渚唧w地質(zhì)結(jié)構進行分辨，另一方面，通過延拓，還能對磁場的真假異常進行辨別，在勘探地質(zhì)的過程中，具有非常高的實用性。

3高精度磁法的具體應用

3.1礦區(qū)概況

3.1.1地質(zhì)特征

（1）地層，工作區(qū)主要地層為：早中元古界德瑪拉巖群蛇躲巖組。巖性為黑云片巖、二云片巖、石英片巖、角巖、大理巖、矽卡巖化大理巖、矽卡巖等。地層總體走向北西，傾向北東，傾角較陡，一般大于45°。其原巖為一套巨厚的海相砂泥質(zhì)-碳酸鹽巖-火山復理石建造。

（2）巖漿巖，區(qū)內(nèi)出露的巖漿巖為：白堊紀嚴嘎桶單元中細粒黑云母二長花崗巖，呈北西向帶狀侵入體產(chǎn)出，為陸殼重熔型花崗巖。

3.1.2地球物理特征

本次巖（礦）石磁法標本采集了各類巖石，并使用SM-30磁化率儀測定，測量結(jié)果采用算術平均法分別統(tǒng)計各類巖、礦石磁化率的平均值、磁化率變化范圍，對其進行統(tǒng)計、歸納。

從磁性參數(shù)測定結(jié)果，總結(jié)出本區(qū)的巖（礦）石具有以下磁性特征：

矽卡巖、矽卡巖化大理巖具有較強的磁性，磁化率在0. 834～0. 899×10-3SI;輝綠輝長巖和大理巖較矽卡巖磁性稍弱;花崗細晶斑巖有較弱的磁性，總體磁異常值低于矽卡巖的磁化率;花崗巖、角巖、片巖表現(xiàn)為無磁性特征。礦區(qū)內(nèi)較純白鎢礦無磁性特征，但因其賦存在矽卡巖中，因而通過磁法測量找出與矽卡巖相關的磁性異常的分布，能間接找尋白鎢礦體。各巖石磁性特征有一定的差異，因此該工作區(qū)具備開展磁法工作的地球物理前期。

3.2工作成果及推斷解釋

本次高精度磁法在測區(qū)內(nèi)發(fā)現(xiàn)多處明顯的高磁異常。物探異常劃分結(jié)合了實地地質(zhì)情況（礦體、地層、構造等地質(zhì)體特定的地質(zhì)特征），共圈定出了4條磁異常帶。

1） C-l磁異常

C-l磁異常位于I號礦帶上，走向北西南東，呈條帶狀分布，異常長420m，異常最大值147nT，最小值46nT，異常主要分布在蝕變較強矽卡巖帶。異常區(qū)出露巖性為元古界德瑪拉巖群蛇躲巖組強弱矽卡巖化大理巖、矽卡巖和二云片巖、角閃片巖。二云片巖、角閃片巖不會引起正磁異常，矽卡巖是在該區(qū)引起正磁異常的主要地質(zhì)體。異常沿礦區(qū)主斷層F2分布，異常強度中心向F2斷層東側(cè)傾向。C-l磁異常和礦化帶、構造相吻合。

2） C-2磁異常

C-2磁異常受F2斷層控制，異常走向與F2斷層一致，近南北向，異常邊緣梯度變化較小，從異常梯度顯示該磁性體傾角較陡，以70nT圈定磁異常范圍長軸llOm，短軸17～50m，磁異常最大值98. 08nT。推測該異常為矽卡巖化大理巖引起。

3） C-3磁異常

C-3磁異常北段走向北偏東，南段南偏西，以50nT圈定磁異常面積0. 04km2，呈紡錘形，異常梯度變化小。異常北段在平剖圖看出有尖銳跳躍式波峰，說明由F2主斷層影響。

4） C-4磁異常

C-4磁異常走向北西一南東向，近似橢圓狀，周圍分布正常場，說明磁性體的延深較大，最大磁異常96. 75nT，50nT異常圈定范圍約0. 012 km2。該異常走向是一低阻高磁異常帶，綜合該工作區(qū)的地質(zhì)因素分析，推測該小磁異常為矽卡巖（化）引起。

4結(jié)論

高精度磁法勘探在地質(zhì)勘查中應用較廣，尤其在含磁性差異較大的勘查工作中應用效果明顯。高精度磁法測量在某礦區(qū)圈定矽卡巖型白鎢礦上效果明顯，磁異常的區(qū)帶分布與矽卡巖分布形態(tài)吻合。

礦區(qū)內(nèi)磁場變化明顯，總體呈北西一南東向展布，由C-l、C-2、C-3、C-4、共4個高磁異常組成。高磁異常帶與地表地質(zhì)現(xiàn)象對應較好，高磁異常體分布在矽卡巖帶附近，該區(qū)高磁正異常分布狀況與工作區(qū)構造有密切的關系，而其他地層巖性則表現(xiàn)為弱磁性到無磁性的磁場特征，測量成果也體現(xiàn)了在該工作區(qū)采用磁法測量能提供出下步工作重心，較快圈出磁異常所在的分布范圍，為找尋矽卡巖型白鎢礦礦床提供物探依據(jù)。

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