脈沖中子氧活化測(cè)井技術(shù)在低滲透油田的應(yīng)用

譚文秀（大慶油田測(cè)試技術(shù)服務(wù)分公司評(píng)價(jià)中心， 黑龍江 大慶 163000）

脈沖中子氧活化測(cè)井技術(shù)在低滲透油田的應(yīng)用

譚文秀（大慶油田測(cè)試技術(shù)服務(wù)分公司評(píng)價(jià)中心， 黑龍江 大慶 163000）

本文介紹了脈沖中子氧活化測(cè)井技術(shù)的原理，以及在XX低滲透油田上的應(yīng)用情況和存在的一些問(wèn)題。

脈沖中子氧活化測(cè)井技術(shù)；低滲透油田；應(yīng)用

XX油田是非均質(zhì)多油層注水開(kāi)發(fā)油田，了解注水井各油層的吸水狀況，對(duì)于油田開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)具有極其重要的作用。油田測(cè)量吸水剖面最常用的方法是放射性同位素示蹤測(cè)井技術(shù)。但隨著時(shí)間的推移和油田開(kāi)發(fā)的不斷深入，在近幾年的同位素注入剖面測(cè)井中的放射性示蹤劑沾污、漏失和竄槽現(xiàn)象比較多，因此在放射性同位素示蹤測(cè)井曲線上產(chǎn)生了不能正確反映注水量的假異常，影響了注入剖面測(cè)井的準(zhǔn)確性，降低了資料利用率。而應(yīng)用脈沖中子氧活化測(cè)井技術(shù)，彌補(bǔ)了這些弊端，主要應(yīng)用在注凝膠、注聚合物、低注入量、沾污嚴(yán)重及竄漏等類水井中，地質(zhì)分析效果良好。

1　現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用

（1）對(duì)于同位素示蹤劑“沾污”的井，如XX井為分層井，在進(jìn)行同位素示蹤測(cè)井中，由于層位II正對(duì)著配水器，使得同位素的反應(yīng)很難確定該層位的吸水量，不好確定扣除沾污的比例。而脈沖中子氧活化技術(shù)就可以確定出該層的實(shí)際吸入量。

某井日配注20m3，用同位素示蹤和氧活化測(cè)井得到的解釋結(jié)果如表1。

表1　

從表l看出，脈沖中子氧活化測(cè)量II層相對(duì)吸水量為70.14% ，III 層相對(duì)吸水量為29.86% 。測(cè)量的總流量為20.26m3/d。II 層絕對(duì)吸水量為14.21m3/d，III層絕對(duì)吸水量為6.05m3/d。氧活化法測(cè)量同時(shí)還測(cè)出了該層的絕對(duì)吸水量。而同位素由于存在沾污的影響，測(cè)得II層相對(duì)吸水量為46.2%，誤差很大，影響了注入剖面的準(zhǔn)確性。

（2）在存在大孔道地層的情況下，可避免或消除地層大孔道對(duì)放射性同位素注水剖面測(cè)井的影響，如XX井該井為分層配注，從井溫曲線可以看出，該層井溫有變化，說(shuō)明該層有水量變化。但同位素示蹤測(cè)井技術(shù)由于同位素載體進(jìn)入層位的內(nèi)部，超出伽瑪儀器探測(cè)范圍，不能真實(shí)的說(shuō)明該層位的吸水情況。

接下來(lái)對(duì)該井進(jìn)行氧活化測(cè)井項(xiàng)目，在層上、下分別加測(cè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量，該層位的絕對(duì)吸入量為9.14方。同位素示蹤測(cè)井技術(shù)由于同位素載體進(jìn)入層位的內(nèi)部，超出伽瑪儀器探測(cè)范圍，不能真實(shí)的說(shuō)明該層位的吸水情況。氧活化測(cè)井技術(shù)，可避免或消除地層大孔道對(duì)放射性同位素注水剖面測(cè)井的影響，為油田開(kāi)發(fā)提供可靠的注水井注水剖面資料，是油田在注水開(kāi)發(fā)后期測(cè)量注水井注水剖面的行之有效的測(cè)井方法。

（3）脈沖中子氧活化測(cè)井技術(shù)還可以判斷封隔器密封性，在分層配注井中，如果各層段封隔器都正常工作，且套管外水泥環(huán)中沒(méi)有竄流，則在封隔器上下，即在一個(gè)配注段中最上面射開(kāi)層位之上和最下面射開(kāi)層位之下，不應(yīng)該測(cè)到水流，并且油管內(nèi)水嘴上下流量差應(yīng)該等于該配注段各層注入量之和?？墒菍?shí)際資料顯示，封隔器不密封的情況經(jīng)常出現(xiàn)，有時(shí)甚至?xí)霈F(xiàn)幾個(gè)封隔器同時(shí)失效的情況，因此測(cè)井施工和資料解釋中要首先檢驗(yàn)封隔器是否密封。

（4）對(duì)于喇叭口在射孔段底部，當(dāng)同位素微球密度大時(shí)，微球滑脫、下沉，下部同位素多，上部到位少，污染多。即使同位素微球密度不大，也常因?yàn)榫伍L(zhǎng)，沿途沾污損失后，上部主吸水層同位素到位少或不到位，影響資料解釋質(zhì)量。如XX井為籠統(tǒng)注水，并且喇叭口在射孔層的底部。另外兩個(gè)小層距IV層的層距在為25米，從注入剖面對(duì)比成果表中可以看出，IV層為主力吸水層。又對(duì)該井進(jìn)行了氧活化測(cè)井項(xiàng)目進(jìn)行對(duì)比，結(jié)果顯示，III層的絕對(duì)吸水量占全井的百分之五十二，為主力吸水層。

2　存在的問(wèn)題

2.1流量測(cè)量的影響

目前，使用的氧活化儀器測(cè)得的油管流量的下限為3方/天，套管流量的下限為8方/天，而XX油田為低配注油田，某些井因不能滿足流量測(cè)量條件而無(wú)法進(jìn)行測(cè)井。

2.2源距的限制

由于源距的限制，對(duì)于層間距小于一米的層位，氧活化測(cè)井技術(shù)無(wú)法將層位分開(kāi)，只能按和層進(jìn)行處理。

2.3井況的影響

由于井內(nèi)可能有臟物或死油很多，而且分布不均勻，使得儀器與油管的環(huán)形空間面積是變化的，可能使得下一測(cè)點(diǎn)比上一測(cè)點(diǎn)的水量要高。

［1］付劍，山永蘭.注入剖面測(cè)井存在的問(wèn)題及解決途徑［J］.大慶石油地質(zhì)與開(kāi)發(fā)，2004，23（1）.

［2］鐘興福，李婧，樸玉琴，龔杰.中子氧活化測(cè)井技術(shù)在油田開(kāi)發(fā)中的應(yīng)用［J］.測(cè)井技術(shù)，2004，（28）.

［3］陸海英，董麗華，蘭艷.脈沖中子氧活化測(cè)井技術(shù)在油田開(kāi)發(fā)中的應(yīng)用［J］.大慶石油地質(zhì)與開(kāi)發(fā)，2004，23（2）.

［4］孫秀梅，嚴(yán)青伍，王佳平，崔杰.脈沖中子氧活化測(cè)井儀的改進(jìn)及應(yīng)用［J］.大慶石油地質(zhì)與開(kāi)發(fā)，2005，24（3）.

［5］段艷麗，姜萍，蔣全濤，劉傳政.同位素吸水剖面測(cè)井影響因素探討［J］.斷塊油氣田，2004，11（5）.