廖 劍, 周紹磊, 史賢俊, 王 朕
(1.中國人民解放軍第91550部隊 大連,116000)(2.海軍航空工程學(xué)院控制工程系 煙臺,264001)
?
模擬電路故障特征降維方法*
廖劍1,2, 周紹磊2, 史賢俊2, 王朕2
(1.中國人民解放軍第91550部隊 大連,116000)(2.海軍航空工程學(xué)院控制工程系 煙臺,264001)
為有效進(jìn)行模擬電路故障特征的降維處理,在線性判別分析(LDA)中通過引入局部化思想提出一種局部線性判別分析(LLDA)降維方法。首先構(gòu)造單個數(shù)據(jù)的局部數(shù)據(jù)塊,計算其類內(nèi)、類間散度矩陣,通過縮放因子平衡局部鄰域類內(nèi)緊性和類間散性之差建立單個數(shù)據(jù)的局部優(yōu)化準(zhǔn)則;然后在整個數(shù)據(jù)空間中采用對齊算法重構(gòu)最終目標(biāo)函數(shù),最后使用標(biāo)準(zhǔn)特征值分解方法求得投影矩陣完成數(shù)據(jù)降維。算法充分利用數(shù)據(jù)的局部判別信息使其能夠處理數(shù)據(jù)的非線性并保持?jǐn)?shù)據(jù)的類區(qū)分度,而且克服了LDA中的小樣本問題。算法在標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集和模擬電路故障特征提取中進(jìn)行實驗均取得了較好的效果。
降維;模擬電路;特征提??;線性判別分析;局部線性判別分析
故障特征提取是模擬電路故障診斷的關(guān)鍵技術(shù)之一,如何有效地進(jìn)行故障特征提取將會對故障診斷結(jié)果產(chǎn)生重要的影響[1-3]。目前,基于信號處理的故障特征提取方法是當(dāng)前研究的重點[3]。該方法通常是對電路響應(yīng)節(jié)點電壓信號進(jìn)行連續(xù)采集,然后直接或利用各種信號處理方法(如傅里葉變換[4]、小波變換等[5])獲取電路狀態(tài)的動態(tài)特征信息進(jìn)行故障診斷,但往往獲得的診斷特征數(shù)據(jù)都是高維的,如果直接將其作為輸入設(shè)計故障分類器不但會增加計算的復(fù)雜性,通常得到的診斷結(jié)果也不是最優(yōu)的。因此,在利用獲得的特征數(shù)據(jù)進(jìn)行故障診斷之前,通常需要對其進(jìn)行降維處理。
降維方法可分為線性降維和非線性降維。典型的線性降維方法有主元分析(principal component analysis,簡稱PCA)[6]和線性判別分析(linear discriminant analysis,簡稱LDA)[7]。PCA不借助類別信息,通過最大化原始高維分布數(shù)據(jù)和投影后低維數(shù)據(jù)的互信息來完成數(shù)據(jù)的降維表示。LDA則利用類別信息通過最大化數(shù)據(jù)類間散度與類內(nèi)散度的跡之比獲得最優(yōu)投影方向進(jìn)行降維。然而PCA和LDA都保持?jǐn)?shù)據(jù)在高維空間中的全局結(jié)構(gòu),使得它們的非線性降維效果不佳[8]。大部分模擬電路都是非線性的,即便是線性模擬電路發(fā)生故障時,其信號特征往往也是非線性的,因此利用線性降維方法對電路響應(yīng)信號進(jìn)行處理是不合適的[9]。近年來,以局部線性嵌入(locally linear embedding,簡稱LLE)[10]、等距特征映射(isometric feature mapping,簡稱ISOMAP)[11]、拉普拉斯特征映射(laplacian eigenmaps,簡稱LE)[12]和局部切空間排列算法(local tangent space alignment,簡稱LTSA)[13]為代表的非線性降維方法成為研究的熱門。雖然它們在處理特定的人工數(shù)據(jù)時表現(xiàn)出良好的性能,但在處理實際數(shù)據(jù)時并沒有明顯的優(yōu)勢[14]。此外,一些基于流形學(xué)習(xí)的非線性降維方法不能產(chǎn)生從高維空間到低維空間的映射函數(shù),因而無法處理新出現(xiàn)的樣本,使得此類方法在諸如模式識別、故障診斷等分類任務(wù)的應(yīng)用中受到限制[15]。研究表明,數(shù)據(jù)間的局部流形結(jié)構(gòu)可能更有助于模式分類。為此,一些研究聚集在如何將局部化思想引入到降維方法中,例如近年提出的局部保持投影(locality preserving projections,簡稱LPP)[16]、局部Fisher判別分析(local fisher discriminant analysis,簡稱LFDA)[17]、邊界Fisher分析(marginal fisher analysis,簡稱MFA)[18]和局部判別投影(local discriminant projection,簡稱LDP)[14]都是局部化思想的應(yīng)用。但LPP是一種無監(jiān)督方法,將其用于分類顯然不是最優(yōu)的。LFDA和MFA都在同類近鄰樣本間的權(quán)值定義中引入了局部信息,而對異類樣本近鄰關(guān)系的權(quán)值定義則予以忽略或簡單的設(shè)定為1,都將對降維結(jié)果產(chǎn)生不利影響。LDP在LFDA和MFA的基礎(chǔ)上同時考慮了同類樣本和異類樣本間的近鄰關(guān)系,但其解的求取無法克服小樣本的奇異值問題。
筆者從分析LDA及LFDA中的不足入手,然后在其基礎(chǔ)上通過強調(diào)單個數(shù)據(jù)的局部關(guān)系,提出一種局部線性判別分析(local linear discriminant analysis,簡稱LLDA)降維方法。采用與LFDA不同的局部化方法并使用類內(nèi)與類間散度矩陣之差作為目標(biāo)優(yōu)化函數(shù),有效地克服了LFDA方法的不足和LDA中存在的小樣本問題,在標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集和模擬電路故障特征提取試驗中均取得了較好的效果。
設(shè)由N個樣本組成的數(shù)據(jù)集記為X=[x1,…,xN]∈Rm×N,xi(1≤i≤N)∈Rm,m為每個樣本的維數(shù)。數(shù)據(jù)降維就是按照某種優(yōu)化準(zhǔn)則求得一個投影矩陣W∈Rm×d,將樣本集投影到低維空間得到Y(jié)= WTX=[y1,…,yN]∈Rd×N,yi(1≤i≤N)∈Rd為樣本xi在低維空間中的投影。
經(jīng)典線性判別分析降維方法LDA的基本思想是最小化類內(nèi)散度和最大化類間散度,并以類間散度矩陣的跡和類內(nèi)散度矩陣的跡之比為優(yōu)化目標(biāo)[]:
其中:SW和SB分別稱為類內(nèi)和類間散度矩陣;W則是需求解的最優(yōu)投影向量集;C為數(shù)據(jù)集的類別總數(shù);Ni為第i類樣本總數(shù);xji為第i類的第j個樣本為第i類樣本的平均值;為所有樣本的平均值。LDA的目標(biāo)函數(shù)可以轉(zhuǎn)化為廣義特征值問題的求解[8],即
求解LDA的最優(yōu)投影向量實際上就是獲得矩陣SBS-1W的主導(dǎo)向量,但對于小樣本情況下,類內(nèi)散度矩陣SW通常是不可逆的。
為后面便于與LFDA比較,把LDA的SW和SB改寫成下面的等價形式[17]:
從式(3)中不難看出,權(quán)值pij和體現(xiàn)了判別信息,即權(quán)值與xi和xj是否同類有關(guān),然而pij和中沒有體現(xiàn)局部信息,即權(quán)值與xi和xj是否相鄰無關(guān)[14]。
文獻(xiàn)[17]提出一種LFDA方法,其在LDA權(quán)值的定義中融入了局部信息,目標(biāo)函數(shù)與LDA優(yōu)化目標(biāo)一致,LFDA中權(quán)值定義為其中:Aij表示xi和xj之間的一種相似性度量,通常Aij可取為熱核[12],可見LFDA體現(xiàn)了局部信息。
但LFDA不考慮異類樣本之間的近鄰關(guān)系,只要兩個樣本異類,兩者之間的權(quán)值就是1/N,這樣會帶來兩個缺點:一是對野值敏感,二是不考慮異類樣本之間的近鄰關(guān)系,會導(dǎo)致相距較遠(yuǎn)的異類樣本在目標(biāo)函數(shù)中占據(jù)較大比重,以致在處理某些多模問題時出現(xiàn)錯誤[14]。
為解決LDA與LFDA方法中存在的問題,文中提出一種結(jié)合局部化信息的LLDA方法。LLDA通過對單個樣本建立近鄰類內(nèi)散度矩陣和類間散度矩陣,構(gòu)造局部優(yōu)化準(zhǔn)則,然后采用對齊算法[13]在整個數(shù)據(jù)空間中重構(gòu)目標(biāo)函數(shù),最后使用特征值分解方法求得投影矩陣完成數(shù)據(jù)降維。除引入局部信息外,LLDA在構(gòu)造局部優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)時與LDA算法的不同之處還在于,LDA方法是最大化類間散度矩陣和類內(nèi)散度矩陣之比,而LLDA方法則是通過最小化引入了縮放因子的類內(nèi)散度和類間散度矩陣之差,避免了類內(nèi)散度矩陣求逆造成的LDA中存在的小樣本問題。其具體步驟如下:
如第1節(jié)定義,設(shè)數(shù)據(jù)集X中任一樣本xi,選擇其k1個同類近鄰組成同類近鄰數(shù)據(jù)集同理選擇其k2個異類近鄰組成異類近鄰數(shù)據(jù)集:[xi1,…,xik2]。這樣把樣本xi及由k1個同類近鄰和k2個異類近鄰組成的數(shù)據(jù)集稱為xi的局部數(shù)據(jù)塊。對高維空間中的每一個xi都可以形成如上定義的局部數(shù)據(jù)塊。對每一個局部數(shù)據(jù)塊相應(yīng)的低維空間表示為根據(jù)LDA思想,期望數(shù)據(jù)投影在低維空間中同類樣本之間盡可能緊湊,而異類樣本之間盡可能分散。因此,對每一個局部數(shù)據(jù)塊,期望數(shù)據(jù)在投影之后近鄰?fù)悩颖局g盡可能緊湊,于是有
同時,也期望數(shù)據(jù)在投影之后近鄰異類樣本之間盡可能分散,于是有
數(shù)據(jù)塊都是局部近鄰構(gòu)成的,可以認(rèn)為是近似線性的,于是采用線性化的處理手段將雙目標(biāo)問題轉(zhuǎn)化為如下單目標(biāo)問題:
其中:η∈[0,1]是一個縮放因子,用來在每個局部鄰域中的類內(nèi)緊性和類間散性之間尋求一個滿意的平衡。
設(shè)定義相關(guān)系數(shù)向量:
ωi中1的個數(shù)為k1,-η的個數(shù)為k2,于是式(7)可進(jìn)一步化簡為
Fi=[i,i1,…,ik1,i1,…,ik2]為局部數(shù)據(jù)塊Xi中數(shù)據(jù)點的索引向量為(k1+k2)×(k1+k2)的單位矩陣。
根據(jù)文獻(xiàn)[13]中的對齊算法,有
其中:Si∈N×K為選擇矩陣,K=k1+k2+1,相應(yīng)的元素定義為
于是式(9)可重寫為
通過把每個局部數(shù)據(jù)塊相加,得到整體數(shù)據(jù)優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)為
最終式(14)的求解可轉(zhuǎn)化為標(biāo)準(zhǔn)特征值的求解問題,避免了LDA和LFDA中廣義特征值求解可能帶來的奇異值問題。
根據(jù)以上推導(dǎo),可以得到使用LLDA進(jìn)行數(shù)據(jù)降維的基本過程如下:
巷道圍巖不同測點位置位移隨加載次數(shù)的變化如圖4所示。從圖中可看出,邊界應(yīng)力加載過程中巷道圍巖應(yīng)力變化主要表現(xiàn)為兩個階段:(1)外力加載至0.8MPa時,測點2、3、6、7處圍巖開始發(fā)生變形破壞,且測點2、7處位移量明顯較大,表明巷道拱部左側(cè)與底板右側(cè)首先發(fā)生變形破壞,且巷道變形量最大的位置達(dá)到30mm以上;(2)外力加載至1.6MPa時,其他測點也開始發(fā)生變形,且每個測點的變形量持續(xù)增加,未出現(xiàn)穩(wěn)定期,表明超千米深井圍巖發(fā)生持續(xù)變形破壞,且破壞范圍較大。
(1)對數(shù)據(jù)集X中的每一個數(shù)據(jù)樣本xi,選擇合適的k1個近鄰?fù)悩颖竞蚹2個近鄰異類樣本構(gòu)造樣本xi的局部數(shù)據(jù)塊X Xi;
(2)通過式(10)計算Li,然后根據(jù)式(15)迭代產(chǎn)生對齊矩陣L;
(3)求解標(biāo)準(zhǔn)特征值問題XLXTw=λw得到LLDA投影矩陣為W=[w1,…,wd],于是有:
為了驗證LLDA算法的性能,在幾個標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集上系統(tǒng)地比較了LLDA算法與PCA[6],LDA[7],LFDA[17],LDP[14]等算法。LFDA采用文獻(xiàn)[17]提供的代碼,參數(shù)設(shè)置使用默認(rèn)值。LDP中選擇近鄰個數(shù)k=8。LLDA中同類近鄰個數(shù)k1取6,異類近鄰個數(shù)k2取10。為使試驗具有代表性,在同樣的軟硬件平臺下進(jìn)行試驗。
3.1數(shù)據(jù)集描述
試驗中的數(shù)據(jù)集包括來自UCI數(shù)據(jù)庫[17]的3個數(shù)據(jù)集(分別為Ionosphere,Sonar和MF),Benchmark數(shù)據(jù)庫的6個數(shù)據(jù)集[14](分別為Breastcancer,German,Heart,Image,Thyroid和Waveform)以及一個基因數(shù)據(jù)集(Gene)[19],共10個數(shù)據(jù)集。其中Benchmark數(shù)據(jù)庫中有多個數(shù)據(jù)集數(shù)據(jù)呈現(xiàn)多模分布,在表1中用“*”進(jìn)行了標(biāo)記。所有的數(shù)據(jù)集被隨機分成3部分:訓(xùn)練集、驗證集和測試集,每個數(shù)據(jù)集各部分樣本數(shù)見表1所示。訓(xùn)練集用于學(xué)習(xí)相應(yīng)的低維子空間投影矩陣,驗證集用于選擇算法中的最優(yōu)降維子空間d,測試集用于驗證最終的識別精度。表1給出了各數(shù)據(jù)集的基本信息。
表1 各數(shù)據(jù)集的基本信息Tab.1 Basic information of dataset
試驗對每個數(shù)據(jù)集按照表1中的訓(xùn)練集、驗證集和測試集重復(fù)進(jìn)行10次,產(chǎn)生10組不同的訓(xùn)練集、驗證集和測試集以獲得更好的試驗結(jié)果,并以10組的平均識別率作為最終的測試結(jié)果。在驗證和測試階段使用最近鄰分類器進(jìn)行分類。
圖1(a)~(c)分別給出了Ionosphere、Breastcancer和Gene數(shù)據(jù)集在驗證集上的平均識別率隨子空間維數(shù)d的變化曲線圖。表2給出了所有數(shù)據(jù)集在測試集上的最終識別率,同時表中括號內(nèi)還給出了相應(yīng)識別率時的最優(yōu)子空間維數(shù)。從表2中看出,LLDA算法在大部分?jǐn)?shù)據(jù)集上都取得了最優(yōu)的結(jié)果,在2類多模數(shù)據(jù)集中也有1類達(dá)到最優(yōu),表明了文中算法的優(yōu)勢。但同時應(yīng)該注意到,LDP算法和LLDA算法在大部分?jǐn)?shù)據(jù)集上的識別率并沒有很明顯的差別。特別對于Gene數(shù)據(jù)集,圖1(c)和表2中并沒有列出LDA、LFDA及LDP算法的試驗結(jié)果數(shù)據(jù),這是因為上述3種算法都存在小樣本的奇異值問題,導(dǎo)致其投影矩陣無法求解。因此表和圖中相應(yīng)無值,但文中算法不存在這個問題,并取得了100%的識別率。可見文中算法從整體上要優(yōu)于對比的其他幾種算法。
圖1 平均識別率隨子空間維數(shù)的變化曲線圖Fig.1 Diagram of average recognition rate vs. subspace dimension
表2 各種降維算法在數(shù)據(jù)集上的識別率Tab.2 Recognition rate of dimension reduction algorithm on different datasets
將文中算法用于模擬電路故障診斷的特征提取數(shù)據(jù)降維中,進(jìn)一步驗證算法的實際使用效果。
4.1模擬電路及其故障模式
文中以兩級四運放低通濾波器電路[3,20]為例進(jìn)行試驗分析。兩級四運放低通濾波器的電路結(jié)構(gòu)及元件標(biāo)稱值詳見參考文獻(xiàn)[20]。其中設(shè)定電路中電容容差為±10%,電阻容差為±5%。輸入節(jié)點為Vin,設(shè)定輸入激勵信號是幅值為5 V、寬度為10μs的窄脈沖。故障模式設(shè)置與文獻(xiàn)[3,20]完全一致,15種軟故障如表3所示。
表3 電路中軟故障模式Tab.3 Soft fault mode in circuit
4.2特征提取
給兩級四運放低通濾波器電路施加幅值為5 V、寬度為10μs的窄脈沖,用Pspice仿真采樣電路Vout節(jié)點電壓值,采樣率為5×105samples/s,采樣時間為1 ms,每種故障模式及正常模式各進(jìn)行50次Monte-Carlo分析,共采樣800組數(shù)據(jù)。然后根據(jù)文獻(xiàn)[3]的計算方法,對所有采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行最優(yōu)分?jǐn)?shù)階傅里葉變換(fractional Fourier transform,簡稱FRFT)得到相應(yīng)16種故障模式(包括正常狀態(tài))的800組501維特征向量。文中只是利用文獻(xiàn)[3]取得的故障特征數(shù)據(jù)用于降維對比,并不討論模擬電路最優(yōu)故障特征的提取問題,所以詳細(xì)的故障特征提取步驟和故障特征樣本集獲取請參見文[3]。
4.3數(shù)據(jù)降維及結(jié)果分析
文中以Normal(正常)狀態(tài)和R19故障狀態(tài)為例,說明文中算法相對于文獻(xiàn)[3]中采用PCA進(jìn)行數(shù)據(jù)降維的優(yōu)勢。利用文獻(xiàn)[3]中的方法采用遺傳算法獲得電路原始響應(yīng)數(shù)據(jù)集的最優(yōu)分?jǐn)?shù)階p是0.093 57,對兩種電路狀態(tài)的響應(yīng)數(shù)據(jù)集進(jìn)行FRFT以獲得最佳分離狀態(tài)的原始特征數(shù)據(jù)集,然后采用不同的降維方法對數(shù)據(jù)進(jìn)行降維。圖2是兩原始特征數(shù)據(jù)集經(jīng)過PCA降維和歸一化處理后投影到低維特征空間的分布圖;圖3是兩原始特征數(shù)據(jù)集經(jīng)過LLDA降維和歸一化處理后投影到低維特征空間的分布圖。對比二圖可知,特征數(shù)據(jù)經(jīng)過PCA降維在子空間中的分散度大、交叉嚴(yán)重、不利于故障分類,而采用LLDA降維投影到低維子空間后,特征數(shù)據(jù)集明顯聚集,可分性得到較大的增強。同時,采用基于類內(nèi)類間距離的可分離性準(zhǔn)則判定降維后數(shù)據(jù)集的可分離性,可得到經(jīng)過PCA降維的數(shù)據(jù)集的Jd(x)為0.339,而經(jīng)過LLDA降維方法處理的數(shù)據(jù)集的Jd(x)為0.528,明顯高于PCA降維方法??梢娢闹兴惴塬@得更有利于故障區(qū)分的低維信號特征,降維后的數(shù)據(jù)質(zhì)量更高。
圖2 最優(yōu)FRFT-PCA降維Fig.2 Dimension of optimized FRFT-PCA
圖3 最優(yōu)FRFT-LLDA降維Fig.3 Dimension of optimized FRFT-LLDA
為進(jìn)一步驗證采用文中降維方法獲得的故障特征更有利于故障分類,對兩級四運放低通濾波器電路實施基于BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的故障診斷試驗,其過程設(shè)計為:
(1)原始最優(yōu)FRFT特征分別經(jīng)過PCA降維和LLDA降維處理后作為故障診斷用數(shù)據(jù)集,試驗過程中分別設(shè)定訓(xùn)練集個數(shù)為16×20=360,測試集個數(shù)為16×30=480。
(2)采用3層BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行分類診斷,參考文獻(xiàn)[3],兩次診斷的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)采用相同的結(jié)構(gòu),網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)經(jīng)反復(fù)調(diào)整,采用2×5×16的層次結(jié)構(gòu),傳遞函數(shù)和訓(xùn)練函數(shù)都采用“l(fā)ogsig”,得到兩種特征提取降維方法的故障診斷結(jié)果如表4所示。
表4 故障診斷結(jié)果Tab.4 Diagnosis results
從表4可知,文中采用基于LLDA的故障特征降維方法取得了比基于PCA降維方法更高的故障診斷率,在模擬電路故障診斷特征提取的非線性數(shù)據(jù)降維中確實有效并且取得了比PCA線性降維方法更好的效果。
針對模擬電路故障診斷特征提取的非線性數(shù)據(jù)降維問題,文中提出一種局部化LDA算法,得到的降維后特征數(shù)據(jù)能更有利于模擬電路的故障分類,取得更高的故障診斷率。在分析了現(xiàn)有數(shù)據(jù)降維方法不足的基礎(chǔ)上,通過在LDA中融入局部化思想提出一種LLDA非線性降維方法,算法通過在局部領(lǐng)域內(nèi)構(gòu)建局部數(shù)據(jù)塊的類內(nèi)散度矩陣和類間散度矩陣之差,然后在整個數(shù)據(jù)空間中采用對齊算法重構(gòu)目標(biāo)函數(shù),使用標(biāo)準(zhǔn)特征值分解方法求得投影矩陣完成數(shù)據(jù)降維,避免了現(xiàn)有大部分算法中存在的小樣本問題。通過使用幾個標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集進(jìn)行試驗驗證,與現(xiàn)有算法相比,LLDA算法能更好地提取數(shù)據(jù)集中所蘊含的非線性特性,且對多模數(shù)據(jù)同樣有效。最后將LLDA算法用于模擬電路故障特征提取的數(shù)據(jù)降維過程中,驗證了經(jīng)過LLDA算法處理后的故障特征能有效提高故障診斷率,證明了文中方法在數(shù)據(jù)降維方面的優(yōu)勢。
[1] Tan Yanghong,He Yigang,Cui Chun,et al.A novel method for analog fault diagnosis based on neural networks and genetic algorithms[J].IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,2008,57(11):2631-2639.
[2] Mohammadik K,Seyyed Mahdayi S J.On improving training time of neural networks in mixed signal circuit fault diagnosis applications[J].Microelectronics Reliability,2008,48:781-793.
[3] 羅慧,王友仁,崔江.基于最優(yōu)分?jǐn)?shù)階傅立葉變換的模擬電路故障特征提取新方法[J].儀器儀表學(xué)報,2009,30(5):997-1001. Luo Hui,Wang Youren,Cui Jiang.New approach to extract analog circuit fault features based on optimal fractional Fourier transform[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2009,30(5):997-1001.(in Chinese)
[4] Guo Huihe,Zheng Meixie,Rong Chen.Automatic classification of form features based on neural networks and Fourier transform[C]//Proceeding of Inter-national Conference on Machine Learning and Cybernetics.Kunming:Kunming University Press,2008:1162-1166.
[5] Chen Taowei,Jin Weidong,Chen Zhenxing,F(xiàn)eature extraction using wavelet transform for radar emitter Signal[C]//Proceeding of International Conference on Communications and Mobile Computing.Kunming:Yunnan University Press,2009:414-418.
[6] 劉永斌,何清波,孔凡讓,等.基于PCA和SVM的內(nèi)燃機故障診斷[J].振動、測試與診斷,2012,32(2):250-256. Liu Yongbin,He Qingbo,Kong Fanrang,et al.Fault diagnosis of internal combustion engine using PCA and SVM[J].Journal of Vibration,Measurement&Diagnosis,2012,32(2):250-256.(in Chinese)
[7] 肖迎群,馮良貴,何怡剛.基于小波分析和核判別分析的模擬電路故障診斷[J].電工技術(shù)學(xué)報,2012,27(8):230-238. Xiao Yingqun,F(xiàn)eng Lianggui,He Yigang.A fault diagnosis approach of analog circuit using wavelet-based fractal analysis and kernel LDA[J].Transactions of China Electrotechnical Society,2012,27(8):230-238.(in Chinese)
[8] Zhang Tianhao,Tao Dacheng,Li Xuelong,et al. Patch alignment for dimensionality reduction[J]. IEEE Transactions on Knowledge and Data Engineering,2009,21(9):1299-1313.
[9] 韓海濤,馬紅光,曹建福,等.基于非線性頻譜特征及核主元分析的模擬電路故障診斷方法[J].電工技術(shù)學(xué)報,2012,27(8):249-254. Han Haitao,Ma Hongguang,Cao Jianfu,et al.Fault diagnosis method of analog circuits based on characteristics of the nonlinear frequency spectrum and KPCA[J].Transactions of China Electrotechnical Society,2012,27(8):249-254.(in Chinese)
[10]Roweis S T,Saul L K.Nonlinear dimensionality reduction by locally linear embedding[J].Science,2000,290:2323-2326.
[11]Tenenbaum J,Silva V,Langford J.A global geometric framework for nonlinear dimensionality reduction[J].Science,2000,290:2319-2323.
[12]Belkin M,Niyogi P.Laplacian eigenmaps and spectral techniques for embedding and clustering[J].Advances in Neural Information Processing System,2002,14:585-591.
[13]Zhang Zhenyue,Zha Hongyuan.Principal manifolds and nonlinear dimension reduction via local tangent space alignment[J].SIAM Journal Scientific Computing,2005,26(1):313-338.
[14]謝鈞,劉劍.一種新的局部判別投影方法[J].計算機學(xué)報,2011,34(11):2243-2250. Xie Jun,Liu Jian.A new local discriminant projection method[J].Chinese Journal of Computers,2011,34(11):2243-2250.(in Chinese)
[15]程起才,王洪元,吳小俊,等.一種基于ISOMAP的分類算法[J].控制與決策,2011,26(6):826-831. Cheng Qicai,Wang Hongyuan,Wu Xiaojun,et al. An algorithm for classification based on ISOMAP[J]. Control and Decision,2011,26(6):826-831.(in Chinese)
[16]He X,Niyogi P.Locality preserving projections[C]// Proc of the 16th Advances in Neural Information Processing System.Vancouver,Canada,2004,16:153-160.
[17]Sugiyama M.Dimensionality reduction of multimodal labeled data by local fisher discriminant analysis[J]. Journal of Machine Learning Research,2007,8:1027-1061.
[18]Yan Shuicheng,Xu Dong,Zhang Benyu,et al.Graph embedding and extensions:a general framework for dimensionality reduction[J].IEEE Transaction on Pattern Analysis and Machine Intelligence,2007,29(1):40-51.
[19]Bhattacharjee A.Classification of human lung carcinomas by mRNA expression profiling reveals distinct adenocarcinoma subclasses[C]//Proceeding on National Academic Science.USA:Humana Press,2001:13790-13795.
[20]Aminian M,Aminian F.Neural-network based analog-circuit fault diagnosis using wavelet transform as preprocessor[J].IEEE Trans Circuits Syst.II,2000,47(2):151-156.
TP391.4;TP206.1
10.16450/j.cnki.issn.1004-6801.2015.02.012
廖 劍,男,1985年6月生,博士生。研究方向為電子系統(tǒng)設(shè)計、測試與故障診斷。曾發(fā)表《基于FRFTFD和KPCA的模擬電路故障特征提取新方法》(《振動、測試與診斷》2014年第34卷第2期)等論文。
E-mail:251250544@qq.com
*國家青年科學(xué)基金資助項目(61203168)
2013-10-08;
2013-12-02