張?zhí)鹛穑w亮亮,萬傳云, *,何云慶,徐彬
(1.上海應(yīng)用技術(shù)學(xué)院化學(xué)與環(huán)境工程學(xué)院,上海 201418;2.江蘇澳光電子有限公司,江蘇 東臺(tái) 224222;3.上海馨曄電子科技有限公司,上海 201199)
貴金屬鈀位于元素周期表的第五周期,原子量為106.4,呈銀白色,熔點(diǎn)1 550 °C,密度12.0 g/cm3,在高溫高壓及硫化氫氣體中性能穩(wěn)定,并且具有良好的延展性[1-2]。鈀鍍層的硬度比金高,其接觸電阻很小,可焊性、抗腐蝕性和耐磨性可與硬金鍍層相媲美,鈀及其合金可廣泛地應(yīng)用于裝飾行業(yè)和電子工業(yè)領(lǐng)域[2-3]。
制備鈀膜的方法有很多,主要有化學(xué)鍍、電鍍、濺射、化學(xué)氣相沉積等[4-8]?;瘜W(xué)鍍法能夠在形狀復(fù)雜的基體表面沉積厚度均勻的鈀膜,并且成本低、設(shè)備簡(jiǎn)單、操作容易,膜的均勻性、致密性好,是制備鈀膜最有效、應(yīng)用最多的方法。
傳統(tǒng)的聯(lián)胺型化學(xué)鍍鈀液在高沉積速率下得到的鍍層硬度低、應(yīng)力大,而且鍍液很不穩(wěn)定,使用數(shù)小時(shí)后自動(dòng)失效,成本高[9];傳統(tǒng)的鈀–氨配位體系在較高的溫度下,氨揮發(fā)導(dǎo)致鍍槽中pH 急劇變化,不利于工業(yè)生產(chǎn)。而且由于氫在鈀鍍層內(nèi)藏量高而引起很高的內(nèi)應(yīng)力,厚時(shí)易產(chǎn)生裂紋,將樣品移出鍍液時(shí)會(huì)造成瞬時(shí)裂紋和脫層[3,10]。本文提供一種化學(xué)鍍鈀液,解決了鍍層由于應(yīng)力大而出現(xiàn)的裂縫問題,并且鍍液穩(wěn)定性較好,重點(diǎn)研究了鍍液溫度和時(shí)間對(duì)鍍層質(zhì)量的影響。
氯化鈀、濃氨水、次磷酸鈉、氯化銨、硝酸鉍、磷酸三鈉、碳酸鈉、硫酸、鹽酸、草酸、雙氧水,AR;乙二胺、OP-10,CP。所有藥品均來自國藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司。
基體為1 cm × 2 cm 的紫銅片,先用打磨機(jī)對(duì)銅基體進(jìn)行拋光處理,隨后進(jìn)行如下處理:除油(NaOH 30 g/L,Na3PO450 g/L,Na2CO330 g/L,OP-10 10 mL/L,80 °C,20 min)→酸洗(H2SO4400 mL/L,HNO328 mL/L,35 °C,30 s)→拋光(草酸40 g/L,氫氧化鈉18 g/L,雙氧水120 mL/L,35 °C,50 s)→活化(HCl 質(zhì)量分?jǐn)?shù)3%,6 min),每道工序完成后都要用蒸餾水清洗2 ~ 3 次。
PdCl22 g/L,NaH2PO2·H2O 12 g/L,38%(質(zhì)量分?jǐn)?shù))鹽酸4 mL/L,28%(質(zhì)量分?jǐn)?shù))NH3·H2O 160 mL/L,硝酸鉍55 mg/L,乙二胺25 mL/L,pH 9.8 ± 0.2,溫度48 ~ 56 °C,時(shí)間25 ~ 50 min。
采用稱重法測(cè)定鍍層的沉積速率。計(jì)算公式[10]為:
式中,v 為鈀鍍層的沉積速率[mg/(cm2·h)];m1、m2分別為施鍍前、后試樣的質(zhì)量(mg),采用AL204 電子分析天平(北京賽多利斯儀器系統(tǒng)有限公司)稱量;A 為試樣的鍍覆面積(cm2)。
采用HWCL-3 集熱式恒溫磁力攪拌器(鄭州長(zhǎng)城科工貿(mào)有限公司)監(jiān)控溫度,采用pHs-25c 型pH 計(jì)(杭州奧力龍儀器有限公司)測(cè)定鍍液pH。依據(jù)GB/T 18179–2000《金屬覆蓋層 孔隙率試驗(yàn) 潮濕硫(硫華)試驗(yàn)》,采用貼濾紙法測(cè)量鍍層孔隙率。采用Autolab PGST/FRA302 電化學(xué)工作站測(cè)量試樣的線性極化曲線(以鍍鈀銅片為工作電極,鉑電極為輔助電極,飽和甘汞電極為參比電極,3%NaCl 溶液為電解質(zhì),掃描速率為1 mV/s),并以此評(píng)價(jià)鍍層的質(zhì)量。采用S-3400N 型掃描電子顯微鏡(日本日立株式會(huì)社)觀察鈀膜形貌,并用其集成的EDS 能譜儀分析鈀鍍層成分與含量。采用X’Pert Pro X 射線衍射儀(荷蘭帕納科公司)對(duì)鍍層中Pd 的晶相結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。
2.1.1 不同施鍍溫度所得鈀膜的形貌
圖1a、1b、1c、1d 和1e 是在溫度分別為48、50、52、54 和56 °C 下,施鍍35 min 后得到的鍍鈀層放大10 000 倍的外觀形貌。
圖1 不同施鍍溫度所得鈀鍍層的表面形貌Figure 1 Surface morphologies of palladium deposits obtained at different plating temperatures
從圖1 可以看出,當(dāng)施鍍溫度為48 °C 時(shí),由于溫度較低,沉積顆粒比較分散,相互之間空隙太大,形成的膜不致密;當(dāng)施鍍溫度為50 ~ 54 °C 時(shí),所得的膜均勻性和致密性得到了很大改善,鈀顆粒得到充分生長(zhǎng),形成了一層致密的鈀膜,鈀顆粒的尺寸隨著溫度的升高有增大趨勢(shì);當(dāng)施鍍溫度為56 °C 時(shí),鈀鍍層上面出現(xiàn)了尺寸較大的鈀顆粒,鈀顆粒出現(xiàn)團(tuán)聚現(xiàn)象,導(dǎo)致鈀層表面粗糙,平整度降低。造成上述現(xiàn)象的原因是:低溫時(shí),鈀晶粒生長(zhǎng)速度較慢,在有限的時(shí)間內(nèi),不能完全形成均勻致密的膜層;升高溫度可加快晶體的生長(zhǎng),晶粒會(huì)快速長(zhǎng)大,繼續(xù)升高溫度時(shí),鈀微晶的聚集速率大于生長(zhǎng)速率,形成無定形聚集體,無定形聚集體的充填會(huì)提高鍍層的致密性,這與郭楊龍等[11]對(duì)Pd 的沉積研究結(jié)果相一致;但溫度過高時(shí),熱的作用加劇了晶核的快速生成、擴(kuò)散,使局部的晶粒生長(zhǎng)過快而產(chǎn)生多層次堆積,破壞了鍍層的均勻性。因此,合適的施鍍溫度非常重要。
2.1.2 施鍍溫度對(duì)沉積速率及鍍液穩(wěn)定性的影響
表1 是不同溫度下施鍍35 min 所得沉積速率及鍍液pH(施鍍前鍍液pH 為9.8)的變化。從表1 中可以看出沉積速率都隨著溫度的升高而增大,這是由于在化學(xué)鍍過程中,沉積速率與溫度近似成指函數(shù)關(guān)系,符合Arrhenius 公式[12],因此鍍速會(huì)隨著溫度升高而增大。當(dāng)溫度低于52 °C 時(shí),鍍液的pH 無變化,說明此時(shí)鍍液穩(wěn)定性較好,但溫度升高至52 °C 以上時(shí),pH 出現(xiàn)變化,并且隨著溫度的升高,pH 變化越大,說明鍍液穩(wěn)定性變差。造成pH 發(fā)生變化的主要原因是過高的溫度會(huì)加快氨水溶液的揮發(fā),造成鍍液穩(wěn)定性變差。因此,合適的施鍍溫度對(duì)維持鍍液的穩(wěn)定性而言非常重要。
表1 施鍍溫度對(duì)沉積速率及鍍液pH 變化的影響Table 1 Influence of plating temperature on deposition rate and variation of bath’s pH
2.1.3 不同施鍍溫度對(duì)鍍層孔隙率的影響
圖2 是不同施鍍溫度所得鍍鈀層的線性極化曲線。由圖中數(shù)據(jù)計(jì)算所得的腐蝕電流密度jcorr、腐蝕阻抗Rp、腐蝕速率vcorr與用貼紙法得到的孔隙率列于表2。從表2 可以看出:隨著溫度的升高,孔隙率呈先減小后增大的趨勢(shì),在52 °C 時(shí)出現(xiàn)極小值,為1 個(gè)/cm2。這是因?yàn)闇囟容^低時(shí),鈀顆粒未能充分長(zhǎng)大,形成的膜不致密,孔較多;隨著溫度的升高,膜的致密性提高,孔減少;但溫度過高時(shí),會(huì)引起氨氣的揮發(fā),造成鍍層出現(xiàn)氣孔。極化曲線所得的數(shù)據(jù)也證明在52 °C 時(shí),鍍層具有最小的腐蝕電流密度、最高的腐蝕阻抗和最低的腐蝕速率,說明此時(shí)鍍層對(duì)基體的覆蓋能力最高,具有最低的孔隙率。結(jié)合以上結(jié)論,最佳溫度為52 °C。
圖2 不同施鍍溫度所得鈀鍍層在3% NaCl 溶液中的極化曲線Figure 2 Polarization curves for the palladium deposits obtained at different plating temperatures in 3% NaCl solution
表2 施鍍溫度對(duì)鍍層性能的影響Table 2 Influence of plating temperature on properties of the deposit
2.2.1 施鍍時(shí)間對(duì)鈀膜形貌的影響
圖3a、3b、3c、3d、3e、3f 是在時(shí)間分別為25、30、35、40、45 和50 min,施鍍溫度為52 °C 下得到的鍍鈀層放大10 000 倍的表面形貌。從圖3 可以看出,該鍍液得到的鈀鍍層將基體完全覆蓋,鈀膜均勻致密,鈀顆粒細(xì)致均勻,鈀顆粒尺寸在100 ~ 200 nm 之間,并且無明顯缺陷和針孔。但隨著施鍍時(shí)間的延長(zhǎng),鈀顆粒的尺寸有增加趨勢(shì),這是因?yàn)槟け砻娴拟Z微晶聚集體隨時(shí)間延長(zhǎng)而逐漸生長(zhǎng),當(dāng)粒徑增大到一定程度,鈀晶體開始發(fā)生融合,形成更大的晶體[13]。
圖3 不同施鍍時(shí)間得到的鈀鍍層的表面形貌Figure 3 Surface morphologies of the palladium deposits obtained by plating for different time
2.2.2 施鍍時(shí)間對(duì)鈀膜孔隙率的影響
圖4 是不同施鍍時(shí)間所得鍍鈀層的線性極化曲線。由圖中數(shù)據(jù)計(jì)算所得的腐蝕電流密度、腐蝕阻抗、腐蝕速率與用貼紙法得到的孔隙率列于表3。從表中可以看出:隨著時(shí)間的延長(zhǎng),孔隙率呈先減小后增大的趨勢(shì),在35 min 時(shí)出現(xiàn)極小值,為1 個(gè)/cm2。這是因?yàn)闀r(shí)間較短時(shí),鈀顆粒未能形成足夠致密的膜,基體覆蓋的程度需要有足夠厚度的鈀層來實(shí)現(xiàn);隨著時(shí)間的延長(zhǎng),膜的厚度增加使孔隙率得到進(jìn)一步降低。但過長(zhǎng)的時(shí)間會(huì)使膜層長(zhǎng)得太厚,太厚的膜層會(huì)導(dǎo)致鍍層出現(xiàn)內(nèi)應(yīng)力而破壞鍍層的致密性。極化曲線所得的數(shù)據(jù)也證明,在35 min左右時(shí),鍍層具有最小的腐蝕電流密度、最高的腐蝕阻抗和最低的腐蝕速率,說明此時(shí)的鍍層對(duì)基體的覆蓋能力最高,具有最低的孔隙率。這是因?yàn)槲⒖椎臏p少降低了基體與鍍層之間形成腐蝕電池的機(jī)會(huì),從而降低了腐蝕電流密度,減輕了對(duì)基體的腐蝕[14]。
圖4 不同施鍍時(shí)間得到的鍍鈀層在3% NaCl 溶液中的極化曲線Figure 4 Polarization curves for the palladium deposits obtained by plating for different time in 3% NaCl solution
表3 施鍍時(shí)間對(duì)鍍層性能的影響Table 3 Influence of plating time on properties of the deposit
圖5 是銅基體及鍍鈀后樣品的XRD 譜圖。從圖5 可以看出,鍍鈀后的銅片在2θ = 40.0°出現(xiàn)了Pd(111)的特征峰,并且鈀峰出現(xiàn)寬化現(xiàn)象,這說明形成的鈀顆粒主要是以微晶態(tài)存在。
圖6 是鍍鈀層的EDS 圖譜。從圖6 可以看出,鍍層中除了Pd 外還有5%左右的磷,說明化學(xué)鍍鈀得到的是合金鍍層。化學(xué)鍍鈀層中出現(xiàn)的磷是因?yàn)殄冣Z時(shí)采用了次磷酸鈉作為還原劑,在氧化還原反應(yīng)中,的中間產(chǎn)物)會(huì)與氫負(fù)離子(H-)反應(yīng)生成
圖5 銅基體化學(xué)鍍鍍鈀前后的XRD 譜圖Figure 5 XRD patterns for copper substrate before and after electroless palladium plating
圖6 鍍鈀層的EDS 譜圖Figure 6 EDS spectrum for palladium deposit
(1) 在銅基體上實(shí)施化學(xué)鍍鈀,在組成為PdCl22 g/L、NaH2PO2·H2O 12 g/L、38%(質(zhì)量分?jǐn)?shù))鹽酸4 mL/L、28%(質(zhì)量分?jǐn)?shù))NH3·H2O 160 mL/L、硝酸鉍55 mg/L、乙二胺25 mL/L 和pH 9.8 ± 0.2 的鍍液中,鍍液的溫度和施鍍時(shí)間影響鍍層的生長(zhǎng)和外觀。最佳施鍍條件是52 °C 和35 min。此時(shí)沉積速率達(dá)到最大,為1.16 mg/(cm2·h),而且鍍層具有最小的腐蝕電流密度(3.24 × 10-9A/cm2)、最高的腐蝕阻抗(4.41 × 106Ω/cm2)和最低的腐蝕速率(4.60 × 10-5mm/a),鍍后pH 無變化,鍍液穩(wěn)定性好。
(2) 得到的鍍層均勻、致密、無明顯缺陷和針孔,鈀顆粒的尺寸為100 ~ 200 nm;鍍層中的鈀以微晶態(tài)存在;表面鍍層中磷含量為5%。
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