新生兒低血糖腦病的MRI特點(diǎn)

段秀英 王曉明

（沈陽(yáng)市兒童醫(yī)院放射科，遼寧 沈陽(yáng) 110032）

低血糖是新生兒時(shí)期常見的代謝紊亂之一，嚴(yán)重的低血糖可導(dǎo)致腦損傷[1]，并可導(dǎo)致認(rèn)知、視覺(jué)障礙、癲癇、腦癱等后遺癥。因癥狀缺乏特異性，對(duì)新生兒低血糖腦損傷又缺乏充分認(rèn)識(shí)，早期診斷較困難。頭部MRI各序列檢查中，擴(kuò)散加權(quán)成像（DWI），是監(jiān)測(cè)新生兒低血糖腦損傷較敏感的方法[2]。是診斷新生兒腦損傷的有效方法。

1 材料與方法

1.1 病例資料：收集2013年于沈陽(yáng)市兒童醫(yī)院放射科進(jìn)行MRI檢查且臨床診斷為新生兒低血糖腦病的25例患者為研究對(duì)象，入院齡1 h～6 d，出生體質(zhì)量1500～4800 g，低出生體質(zhì)量?jī)?例，（胎齡33～40周），早產(chǎn)兒2例，足月兒母親患重度妊娠高血壓1例，血糖持續(xù)低下10 d后死亡1例。所有患者均已排除窒息、產(chǎn)傷史、敗血癥、顱內(nèi)感染及遺傳代謝性疾病。

新生兒低血糖腦病的診斷依據(jù)為：①符合新生兒低血糖診斷；②排除因其他疾病引起的腦損傷；③影像檢查支持腦損傷；④有癥狀性低血糖的臨床表現(xiàn)，且除外敗血癥、顱內(nèi)感染及遺傳代謝性疾病。所有患兒血糖均在0.5～1.5 mmol/L，中位值1.0 mmol/L。

所有患兒均采用GE1.5TMR掃描，序列包括T1、T2、DWI。均行頭部橫軸面、冠狀面、 矢狀面掃描，患兒掃描前使用水合氯醛鎮(zhèn)靜。由兩位有經(jīng)驗(yàn)的副高及以上職稱的MRI診斷醫(yī)師共同對(duì)圖像進(jìn)行分析。

2 結(jié) 果

T1表現(xiàn)異常12例，表現(xiàn)為受累皮質(zhì)稍高信號(hào)，層皮下低信號(hào)。T2表現(xiàn)異常17例，表現(xiàn)為受累部位高信號(hào)，皮髓界限不清。受累部位包括雙側(cè)頂枕葉皮質(zhì)及皮質(zhì)下白質(zhì)22例，右側(cè)枕葉皮層6例，左側(cè)顳葉后部皮層下白質(zhì)2例，胼胝體10例，內(nèi)囊后肢3例。25例腦損傷患者中24例DWI可見異常。3個(gè)月后3例復(fù)查MRI，2例為雙側(cè)頂枕葉萎縮表現(xiàn)。

3 討 論

葡萄糖是新生兒時(shí)期大腦發(fā)育的唯一能量來(lái)源，血糖不足導(dǎo)致腦組織功能紊亂，腦細(xì)胞代謝率降低，引起ATP和磷酸肌酸的缺乏，最終引起神經(jīng)細(xì)胞的壞死[3]。在低血糖反復(fù)發(fā)作或持續(xù)時(shí)間較長(zhǎng)時(shí)，腦部則發(fā)生一系列病理改變，如充血、散在出血點(diǎn)、腦細(xì)胞水腫和缺血性點(diǎn)狀壞死等，引起腦損傷。

目前常規(guī)MRI是診斷新生兒低血糖腦損傷最敏感的手段，DWI能準(zhǔn)確反映病灶范圍及周圍異常。DWI能準(zhǔn)確反映水分子無(wú)序擴(kuò)散能力，當(dāng)細(xì)胞毒水腫時(shí)，水分子擴(kuò)散受限，DWI上表現(xiàn)高信號(hào)，而此時(shí)，常規(guī)T1、T2序列上只能部分表現(xiàn)或不明顯。

本組25例病變中，常規(guī)T1WI 12例出現(xiàn)異常信號(hào)，表現(xiàn)為受累皮質(zhì)稍高信號(hào)，皮層下低信號(hào)；T2WI 17例出現(xiàn)異常信號(hào)，表現(xiàn)為受累部位低或高信號(hào)，皮髓界限不清；而DWI序列24例顯示異常高信號(hào)，ADC圖呈低信號(hào)，且其顯示病變程度明顯較T1WI及T2WI序列大，病變顯示更為清晰，體現(xiàn)了DWI序列較常規(guī)T1WI及T2WI更具優(yōu)越性。從而筆者認(rèn)為，對(duì)臨床低血糖癥患兒行頭顱MRI檢查時(shí)，DWI應(yīng)作為常規(guī)掃描序列，以免遺漏病變。

新生兒低血糖腦病以頂枕葉皮層及皮層下白質(zhì)受累為主，胼胝體、內(nèi)囊后肢也可受累，其原因有學(xué)者認(rèn)為是枕葉軸突生長(zhǎng)和軸突發(fā)生較其他腦區(qū)旺盛，對(duì)葡萄糖需求增加所致。本組病例中除頂枕葉受累外，胼胝體、雙側(cè)顳葉后部、內(nèi)囊后肢也見受累。復(fù)查2例，表現(xiàn)局限皮質(zhì)萎縮，胼胝體變薄。低血糖腦損傷應(yīng)與缺血缺氧性腦病及腦炎相鑒別，缺血缺氧性腦病容易發(fā)生在側(cè)腦室旁白質(zhì)、分水嶺區(qū)，有窒息史。嚴(yán)重者還會(huì)發(fā)生室管膜下出血。腦炎發(fā)生在腦干、基底節(jié)、丘腦，嚴(yán)重可廣泛發(fā)生在皮髓區(qū)。而低血糖腦病有低血糖表現(xiàn)，一般為對(duì)稱性枕頂葉受累。

總之，新生兒低血糖腦損傷常易導(dǎo)致雙側(cè)頂枕葉受累，其他部位也可受累，DWI較常規(guī)T1、T2序列更易發(fā)現(xiàn)病灶，可作為常規(guī)序列檢查新生兒低血糖腦病[4-6]。

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