電子元器件質(zhì)量一致性檢驗(yàn)

電子元器件質(zhì)量一致性檢驗(yàn)是指我國(guó)按國(guó)際電工委員會(huì)電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系（簡(jiǎn)稱IECQ）適用標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，開展對(duì)電子元器件產(chǎn)品質(zhì)量認(rèn)證所進(jìn)行的鑒定批準(zhǔn)程序中的一種檢驗(yàn)方式。電子元器件質(zhì)量一致性檢驗(yàn)包括：對(duì)每個(gè)檢驗(yàn)批進(jìn)行A組（包括元器件的目檢和尺寸檢驗(yàn)以及元器件的主要特性試驗(yàn)）和B組（包括其他重要特性試驗(yàn)）以及在固定的時(shí)間間隔內(nèi)從已通過逐批檢驗(yàn)的諸批中抽取樣品進(jìn)行周期檢驗(yàn)。周期檢驗(yàn)通常為C組檢驗(yàn)，有時(shí)也分出一個(gè)D組進(jìn)行檢驗(yàn)。

本文根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，結(jié)合檢驗(yàn)工作的實(shí)際情況，對(duì)元器件一致性檢驗(yàn)技術(shù)及有關(guān)事項(xiàng)綜述如下：

一、電子元器件逐批檢驗(yàn)技術(shù)

逐批檢驗(yàn)是對(duì)每個(gè)提交的檢驗(yàn)批的產(chǎn)品批質(zhì)量，通過全檢或抽檢，判斷其生產(chǎn)批是否符合規(guī)定要求而進(jìn)行的一種檢驗(yàn)。其主要內(nèi)容包括：檢驗(yàn)批的構(gòu)成與抽樣要求；逐批檢驗(yàn)項(xiàng)目和方法方式；抽樣檢驗(yàn)方案的選擇和確定；逐批檢驗(yàn)結(jié)果判定及處置。

1.檢驗(yàn)批的構(gòu)成與抽樣要求

（1）批的構(gòu)成：在逐批檢驗(yàn)中，檢驗(yàn)批是一組依據(jù)一個(gè)或多個(gè)樣本而確定是否接收的單位產(chǎn)品的集合。它不一定等于生產(chǎn)批、購(gòu)置批或者為其它目的而組成的批。通常每個(gè)檢驗(yàn)批應(yīng)由同型號(hào)、同等級(jí)、同種類、同尺寸、同結(jié)構(gòu)且生產(chǎn)時(shí)間和生產(chǎn)條件大體相同的產(chǎn)品組成。

（2）抽樣的隨機(jī)性和代表性：從提交檢驗(yàn)批的產(chǎn)品中，抽樣應(yīng)是隨機(jī)的，應(yīng)使提交檢驗(yàn)批中每單位產(chǎn)品被抽到的可能性都相等。且應(yīng)注意樣本的代表性，當(dāng)提交檢驗(yàn)批分若干層（或分裝于若干箱等）時(shí)，就應(yīng)分層（或分箱、分袋）抽取樣本。

2.逐批檢驗(yàn)項(xiàng)目和方法方式

（1）逐批檢驗(yàn)主要項(xiàng)目：（A）外觀檢驗(yàn)；（B）尺寸檢驗(yàn)；（C）電特性檢驗(yàn)；（D）可焊性；（E）其他檢驗(yàn)。

（2）檢驗(yàn)方法方式：對(duì)具體元器件產(chǎn)品，按照其詳細(xì)規(guī)范，分規(guī)范，總規(guī)范，基礎(chǔ)規(guī)范及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的檢查方法進(jìn)行檢驗(yàn)。逐批檢驗(yàn)按檢驗(yàn)方式可分為全數(shù)檢驗(yàn)和抽樣檢驗(yàn)，全數(shù)檢驗(yàn)即對(duì)一批待檢產(chǎn)品進(jìn)行100%的檢驗(yàn)，抽樣檢驗(yàn)是根據(jù)預(yù)先確定的抽樣方案，從一批產(chǎn)品中隨機(jī)抽取一部分樣品進(jìn)行檢驗(yàn)。在電子元器件產(chǎn)品逐批檢驗(yàn)過程中，廣泛使用的常為抽樣檢驗(yàn)。

3.抽樣檢驗(yàn)方案的選擇和確定

逐批檢驗(yàn)分A組和B組。電子器件的抽樣檢驗(yàn)方案，A組選擇AQL方案或LTPD方案，B組選擇LTPD方案。電子元件（電阻器、電容器、電感器）的抽樣檢驗(yàn)方案，A組、B組均選擇AQL方案。其中AQL為接收質(zhì)量限，LTPD為批允許不合格品率。

（1）AQL抽樣方案的確定方法：根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢查水平IL和接收質(zhì)量限AQL值，由GB/T2828.1-2012《計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第一部分：按接收質(zhì)量限（AQL）檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃》中規(guī)定的檢索方法，對(duì)逐批檢驗(yàn)的批量數(shù)N，查出A組和B組逐批檢驗(yàn)項(xiàng)目的合格判定數(shù)Ac、不合格判定數(shù)Re和檢驗(yàn)樣品量n。簡(jiǎn)言之，根據(jù)給出檢查水平IL和AQL值，和批量數(shù)N，就可確定一個(gè)抽樣方案，以正常檢查一次抽樣為例，可得出抽樣方案（n，Ac，Re）。

（2）LTPD抽樣方案的確定方法：根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的LTPD值，每個(gè)分組的樣品量，由GB/T4589.1-2006《半導(dǎo)體器件第10部分分立器件和集成電路總規(guī)范》附錄A的表中查得，可以根據(jù)規(guī)定或?qū)嶋H需要選取多個(gè)規(guī)定數(shù)量的樣品量，但允許的不合格品數(shù)，不得超過表A.1或表A.2所規(guī)定的樣品量相應(yīng)的合格判定數(shù)。表A.2中確定樣品量的LTPD列，應(yīng)是最接近實(shí)際提交批量欄中的那一列，如果實(shí)際批量是介于表中兩欄之間，可根據(jù)需要在兩欄中選一欄。如果在表A.2相應(yīng)的批量欄中，找不到等于或小于規(guī)定的LTPD值時(shí)，應(yīng)用表A.2中相應(yīng)批量欄中最接近的LTPD值確定樣品量。

4.逐批檢驗(yàn)結(jié)果判定及處理

（1）對(duì)AQL抽樣方案，以一次抽樣正常檢查水平Ⅱ級(jí)為例，根據(jù)對(duì)樣本實(shí)施的檢驗(yàn)結(jié)果，若樣本n中的不合格品數(shù)d小于或等于合格判定數(shù)Ac，即：d≤Ac時(shí)，判該檢驗(yàn)批合格，若d≥Re時(shí)，則判該檢驗(yàn)批不合格。

在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢驗(yàn)周期內(nèi)，周期檢驗(yàn)合格的情況下，經(jīng)逐批檢驗(yàn)合格的產(chǎn)品，可作為合格產(chǎn)品交付給訂貨方；對(duì)初次檢驗(yàn)不合格的批，一般退回制造部門進(jìn)行全數(shù)檢查，剔除不合格品后，再重新提交逐批檢驗(yàn)，對(duì)再次提交檢驗(yàn)的批，使用的抽樣方案的嚴(yán)酷度和檢驗(yàn)項(xiàng)目，應(yīng)在產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中或合同中明確規(guī)定，對(duì)再次提交檢驗(yàn)仍不合格的批，除非有特別規(guī)定，一般不允許再次提交檢驗(yàn)。

（2）對(duì)LTPD抽樣方案，第一次抽樣時(shí)選定一個(gè)合格判定數(shù)，并根據(jù)規(guī)定的LTPD值確定相應(yīng)的樣品量n進(jìn)行檢驗(yàn)，如果樣品中出現(xiàn)的不合格品數(shù)d不超過預(yù)先選定的合格判定數(shù)C，即：d≤C 則判該批產(chǎn)品檢驗(yàn)合格；如果出現(xiàn)的不合格品數(shù)超過預(yù)選的合格判定數(shù)，即：d>C時(shí)可確定一個(gè)追加樣品量，即在原有的樣品的基礎(chǔ)上追加一定的樣品量，但每一檢驗(yàn)分組只能追加一次，且追加的樣品應(yīng)經(jīng)受該分組所包括的全部試驗(yàn)。總的樣品量（最初的加上追加的樣品量）應(yīng)根據(jù)GB4589.1-2006標(biāo)準(zhǔn)表A.1和A.2中新選定的合格判定數(shù)確定，如果總的不合格數(shù)（最初樣品加上追加樣品中的不合格數(shù)）不超過新確定的合格判定數(shù)，則判該檢驗(yàn)批合格，否則判該檢驗(yàn)批不合格。

不符合A組和B組檢驗(yàn)要求的檢驗(yàn)批，不得作為合格批。如果對(duì)此不合格批未被重新提交檢驗(yàn)，則該批判為拒收批。

二、電子元器件周期檢驗(yàn)技術(shù)

周期檢驗(yàn)是在規(guī)定的周期內(nèi)，從逐批檢驗(yàn)合格的某個(gè)批或若干批中抽取樣本，并施加各種應(yīng)力的各項(xiàng)試驗(yàn)，然后檢測(cè)產(chǎn)品判斷其是否符合規(guī)定要求的一種檢驗(yàn)。其主要內(nèi)容包括：周期規(guī)定、檢驗(yàn)分組和樣品；檢驗(yàn)項(xiàng)目和程序；周期檢驗(yàn)缺陷分類和失效判據(jù)；周期檢驗(yàn)結(jié)果判定和處置。

1.周期規(guī)定、檢驗(yàn)分組和樣品

（1）檢驗(yàn)周期規(guī)定：根據(jù)產(chǎn)品的特性及生產(chǎn)過程質(zhì)量穩(wěn)定的情況，再綜合考慮其他的因素，適當(dāng)?shù)匾?guī)定檢驗(yàn)周期。產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中一般都給出了該產(chǎn)品在正常穩(wěn)定生產(chǎn)情況下進(jìn)行周期檢驗(yàn)的時(shí)間間隔（如三個(gè)月，六個(gè)月，一年等），但對(duì)不同的檢驗(yàn)組，規(guī)定不同的檢驗(yàn)周期。

（2）檢驗(yàn)分組與樣品：電子元器件周期檢驗(yàn)分為C組和D組，C組為環(huán)境試驗(yàn)，D組為耐久性壽命試驗(yàn)。周期檢驗(yàn)的樣品，應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的抽樣方案和檢查水平及規(guī)定的樣品數(shù)，從本周期內(nèi)經(jīng)逐批檢驗(yàn)合格的一個(gè)批或幾個(gè)批中隨機(jī)抽取，加倍或二次試驗(yàn)的樣品在抽樣時(shí)一次取足。

2.檢驗(yàn)項(xiàng)目

（1）常溫性能檢查：試驗(yàn)前在正常工作的條件下，對(duì)被試樣品進(jìn)行定性和定量檢查，判斷產(chǎn)品質(zhì)量是否全面符合產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求，或符合訂貨合同的規(guī)定。由于電子產(chǎn)品種類多，用途廣，表征產(chǎn)品特性的技術(shù)參數(shù)很多，常溫性能檢測(cè)時(shí)，應(yīng)嚴(yán)格按照技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，進(jìn)行全部指標(biāo)或部分指標(biāo)檢測(cè)，檢測(cè)合格的產(chǎn)品方可進(jìn)行周期檢驗(yàn)項(xiàng)目中的其他項(xiàng)目的試驗(yàn)。

（2）環(huán)境試驗(yàn)：為了評(píng)價(jià)在規(guī)定周期生產(chǎn)批的產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)能力，將經(jīng)過性能檢測(cè)合格的產(chǎn)品，在人工模擬的環(huán)境條件下試驗(yàn)，以此評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和貯存環(huán)境條件下的性能是否滿足產(chǎn)品定型鑒定檢驗(yàn)時(shí)達(dá)到的環(huán)境適應(yīng)能力。

環(huán)境試驗(yàn)包括高溫負(fù)荷貯存試驗(yàn)、低溫負(fù)荷貯存試驗(yàn)、高低溫變化試驗(yàn)、交變濕熱和恒定濕熱試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊碰撞、跌落、加速度試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)等。由于電子產(chǎn)品使用環(huán)境不一樣，在周期環(huán)境試驗(yàn)中，規(guī)定的環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目可能是單項(xiàng)試驗(yàn)，也可能是組合或綜合試驗(yàn)。

3.周期檢驗(yàn)結(jié)果判定和處置

（1）在一個(gè)周期試驗(yàn)組中發(fā)現(xiàn)一個(gè)致命缺陷，則判該試驗(yàn)組不合格。（2）若在試驗(yàn)樣品中發(fā)現(xiàn)的不合格品數(shù)小于或等于合格判定數(shù)，則判該試驗(yàn)組合格。若試驗(yàn)中的不合格判定數(shù)大于或等于不合格判定數(shù)，則判該試驗(yàn)組不合格。（3）本周期內(nèi)，所有試驗(yàn)分組都合格，則本周期檢驗(yàn)合格。否則就判該周期檢驗(yàn)不合格。（4）周期檢驗(yàn)不合格，該產(chǎn)品暫停逐批檢驗(yàn)。已生產(chǎn)的產(chǎn)品和已交付的產(chǎn)品由供需雙方協(xié)商解決，并將處理經(jīng)過記錄在案。（5）周期檢驗(yàn)不合格，供方應(yīng)立即查明原因，采取措施。需方在供方采取改進(jìn)措施后，在重新提交的產(chǎn)品中抽樣，對(duì)不合格試驗(yàn)項(xiàng)目或試驗(yàn)分組重新試驗(yàn)，直至試驗(yàn)合格后，供方才能恢復(fù)正常生產(chǎn)和逐批試驗(yàn)。

電子元器件質(zhì)量一致性檢驗(yàn)結(jié)果是通過逐批檢驗(yàn)結(jié)果和周期檢驗(yàn)結(jié)果是否合格來判定的。逐批與周期檢驗(yàn)結(jié)果合格，可認(rèn)為該元器件的鑒定批準(zhǔn)得以維持。但如果檢驗(yàn)不合格，即沒有通過質(zhì)量一致性檢驗(yàn)，或沒有正確地執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求和IECQ的程序規(guī)則時(shí)，則鑒定批準(zhǔn)應(yīng)予暫停或撤消。

總而言之，逐批檢驗(yàn)的抽樣檢驗(yàn)方式在電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)檢驗(yàn)中廣泛采用，正確掌握和使用抽樣檢驗(yàn)技術(shù)，對(duì)生產(chǎn)實(shí)際過程的產(chǎn)品質(zhì)量控制有很直接明顯的作用。周期檢驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量在模擬的環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)檢查。產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各種試驗(yàn)項(xiàng)目和所采用的試驗(yàn)方法及檢測(cè)技術(shù)，從而為產(chǎn)品質(zhì)量一致性和穩(wěn)定性提供保證。通過由逐批檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)所構(gòu)成的質(zhì)量一致性檢驗(yàn)，能客觀全面地反映產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中和各種不同使用環(huán)境條件下的質(zhì)量狀況，從而達(dá)到在生產(chǎn)過程中控制產(chǎn)品質(zhì)量并在規(guī)定的周期內(nèi)，保證產(chǎn)品質(zhì)量保持在鑒定批準(zhǔn)時(shí)達(dá)到的質(zhì)量水平。

參考文獻(xiàn)

[1]GB/T 2828.1-2012《計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第一部分：按接收質(zhì)量限（AQL）檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃》.

[2]GB/T4589.1-2006《半導(dǎo)體器件第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范》.

作者簡(jiǎn)介：黃斌（1956—），男，高級(jí)工程師，研究方向：電子技術(shù)。