張東利 王召巴 陳振茂 李 勇
1.中北大學(xué),太原,030051
2.西安交通大學(xué)機(jī)械結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與振動(dòng)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,西安,710049
石油輸送管道在使用過(guò)程中為了防止因腐蝕損壞而發(fā)生漏油事故,經(jīng)常在其內(nèi)表面涂覆非金屬防腐涂層。由于涂層的厚度直接影響管道防腐壽命的長(zhǎng)短,因此在涂覆完成后,要求對(duì)其厚度進(jìn)行在線檢測(cè)。目前已有多種無(wú)損檢測(cè)方法可以測(cè)量涂層厚度[1-3],但由于測(cè)量精度及檢測(cè)環(huán)境限制而無(wú)法用于本文的研究對(duì)象。鑒于渦流檢測(cè)方法具有快速、準(zhǔn)確和無(wú)接觸等特點(diǎn)[4-6],并且在涂層厚度測(cè)量方面已有廣泛的應(yīng)用[7-11],本文采用餅狀線圈的渦流測(cè)距傳感器來(lái)檢測(cè)輸油管內(nèi)壁防腐層厚度。在檢測(cè)時(shí),將傳感器置于管道中垂線上并使其下端和涂層表面接觸,通過(guò)測(cè)量涂層上表面到鋼管內(nèi)表面的距離間接獲得涂層厚度。由于存在提離效應(yīng),所以當(dāng)傳感器本身發(fā)生傾斜或偏離管道中垂線時(shí)均可能會(huì)對(duì)渦流檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生較大影響,從而影響涂層厚度的檢測(cè)精度,因此需要采取適當(dāng)措施來(lái)矯正渦流傳感器的傾斜和偏移。本文針對(duì)涂層檢測(cè)時(shí)的實(shí)際情況,采用數(shù)值模擬方法研究了渦流傳感器的傾斜和水平偏移對(duì)提離檢測(cè)精度的影響,以及渦流檢測(cè)信號(hào)隨提離距離及管道曲率的變化規(guī)律,提出了傳感器偏斜的調(diào)整措施并對(duì)調(diào)整效果進(jìn)行了數(shù)值仿真。
渦流檢測(cè)的數(shù)值模擬方法基于渦流傳感器和導(dǎo)體試件之間的電磁感應(yīng),在理論上用基于麥克斯韋方程的A-Φ控制方程來(lái)表示,通過(guò)有限元及邊界元離散求解得到場(chǎng)量,進(jìn)而獲得線圈的阻抗信號(hào)。本文采用基于FEM-BEM混合方法的電磁場(chǎng)信號(hào)模擬程序求解A-Φ方程來(lái)獲得傳感器的阻抗信號(hào)[4]。為了保證仿真結(jié)果的可靠性,采用JSAEM第3標(biāo)準(zhǔn)問(wèn)題[12]對(duì)該程序的仿真結(jié)果進(jìn)行了驗(yàn)證(圖1)。與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的比較結(jié)果表明,用該程序計(jì)算的渦流信號(hào)具有較高精度,可滿足本文實(shí)際檢測(cè)要求。
圖1 FEM-BEM程序計(jì)算結(jié)果驗(yàn)證
本文所研究的管道涂層信號(hào)的數(shù)值計(jì)算模型如圖2所示。管道材料為SUS304不銹鋼,防腐涂層為非導(dǎo)電材料,渦流信號(hào)不受其影響,計(jì)算渦流信號(hào)時(shí)可將其作為提離處理。為了減少計(jì)算資源的占用,只取管道部分截面用于渦流信號(hào)計(jì)算,管道長(zhǎng)度方向(y軸)取100mm,管道截面寬度尺寸取渦流傳感器外直徑Dp的三倍。管道及涂層的幾何參數(shù)及物理參數(shù)見(jiàn)表1。
圖2 輸油管道的數(shù)值建模
表1 管道模型參數(shù)
由于所要求檢測(cè)的涂層厚度較大,為了保證檢測(cè)信號(hào)有足夠的強(qiáng)度,本文設(shè)計(jì)使用了一種較大尺寸的pancake渦流傳感器用于管道內(nèi)壁涂層的厚度檢測(cè)(表2),可保證在10~20mm的較大提離距離處均可獲得較強(qiáng)的檢測(cè)信號(hào)。
表2 大量程渦流傳感器參數(shù)
對(duì)于渦流傳感器在檢測(cè)管道涂層厚度時(shí)的傾斜和偏移情況,本文主要研究了圖3所示的三種典型情況,即在xoz面內(nèi)沿x軸向的偏移、繞y軸的傾斜以及在yoz面內(nèi)繞x軸的傾斜??紤]到傳感器尺寸和管道尺寸的限制,取渦流傳感器的提離距離loff=7mm。其余基本計(jì)算參數(shù)取值如下:管道內(nèi)半徑為40mm,管壁厚度為8mm,傳感器偏移距離為1mm,傾角為5°。為了研究各個(gè)參數(shù)變化對(duì)信號(hào)的影響,取管內(nèi)半徑、傳感器傾角及偏移的參數(shù)值如下:管內(nèi)半徑rin為40,100,150,200,300,400,500,600,700mm;傳感器傾角θ為0°,3°,5°,8°,10°;傳感器偏移δ為0,0.5,1,2mm;提離距離loff為7,10,12,15,17.5,20mm。
圖3 渦流傳感器偏斜的三種典型情況
對(duì)于不同規(guī)格的管道,傳感器在其不同提離距離處的傾斜和偏移所引起的信號(hào)變化程度都不同。為了確定傳感器斜偏影響最嚴(yán)重時(shí)提離距離和管道的尺寸參數(shù),本文研究了傳感器信號(hào)隨提離距離和管道尺寸的變化規(guī)律。
在提離距離loff為7,10,12,15,17.5,20mm處,分別計(jì)算傳感器傾斜5°及偏移1mm時(shí)信號(hào)的變化情況,并與相應(yīng)的傳感器無(wú)斜偏時(shí)信號(hào)的變化情況進(jìn)行比較。因不同提離距離處的信號(hào)大小不同,為便于比較,分別定義傳感器傾斜信號(hào)變化率Rθ、偏移信號(hào)變化率Rδ及提離信號(hào)變化率Rl如下:
其中,Sl是在提離距離loff處,傳感器的傾角θ及偏移δ均為0時(shí)的信號(hào);Slθ和Slδ是在提離距離loff處,傳感器分別產(chǎn)生傾角θ及偏移δ時(shí)的信號(hào);S(l+Δ)是在提離距離loff+Δ 處,傳感器的傾角及偏移均為0時(shí)的信號(hào)。根據(jù)傳感器的幾何尺寸、管道的幾何尺寸及提離距離的關(guān)系,此處取提離距離loff=7mm。本文所要求的提離檢測(cè)精度為0.02mm,故用提離距離擾動(dòng)Δ=0.02mm時(shí)信號(hào)的變化率作為標(biāo)準(zhǔn)來(lái)衡量傳感器傾斜和偏移對(duì)提離精度的影響大小。傳感器繞x、y軸傾斜、偏移時(shí)的信號(hào)變化率分別記為Rθx、Rθy、Rδx、Rδy。
圖4所示為傳感器分別繞x、y軸傾斜5°及沿x軸偏移1mm時(shí)信號(hào)的變化率及提離距離擾動(dòng)Δ=0.02mm時(shí)信號(hào)的變化率隨提離距離的變化規(guī)律??梢?jiàn),不同提離距離處傳感器的斜偏對(duì)提離信號(hào)精度均有較大影響,傳感器斜偏引起的信號(hào)變化率均大于提離擾動(dòng)信號(hào)的變化率;提離距離越小,傳感器斜偏對(duì)提離信號(hào)精度的影響越大;傳感器繞x、y軸傾斜及沿x軸偏移對(duì)提離精度的影響程度不同,其中傳感器繞y軸傾斜的影響最大。
圖4 不同提離距離處傳感器的傾斜和偏移信號(hào)的變化率
取不同管道內(nèi)半徑(rin為40,100,150,200,300,400,500,600,700mm),計(jì)算在提離距離loff=7mm處,傳感器繞x、y軸傾斜5°及沿x軸偏移1mm時(shí)的信號(hào)。由圖5所示結(jié)果可見(jiàn),對(duì)于不同管徑,在loff=7mm處,傳感器斜偏引起的信號(hào)變化率均大于提離信號(hào)的變化率(對(duì)任意rin值,均有Rθx>Rl,Rθy>Rl,Rδx>Rl),不能忽略;傳感器傾斜及偏移的影響程度與曲率半徑大小基本上關(guān)系不大,而對(duì)小半徑管道信號(hào)的影響相對(duì)稍大。
圖5 不同管材內(nèi)半徑的傳感器傾斜偏移信號(hào)的變化率
由上述結(jié)果可見(jiàn),管道內(nèi)半徑和提離距離最小時(shí),傳感器斜偏對(duì)提離檢測(cè)精度的影響最嚴(yán)重,故取管道內(nèi)半徑和提離距離的最小值(rin=40mm,loff=7mm)進(jìn)行仿真研究。
為了研究渦流傳感器傾斜及偏移對(duì)檢測(cè)信號(hào)大小及檢測(cè)精度的影響,計(jì)算了傳感器在xoz面內(nèi)、yoz面內(nèi)傾斜及沿x軸偏移時(shí)對(duì)提離檢測(cè)精度的影響,計(jì)算時(shí)分別取傳感器傾角θ為0°,0.01°,0.03°,0.05°,0.1°,0.2°,0.3°,0.4°,0.5°,1°,1.5°,2°,2.5°,3°,5°,8°,10°及 偏 移 值 δ 為 0,0.01,0.03,0.05,0.1,0.3,0.5,1.0,2.0mm。
圖6 傳感器斜偏對(duì)提離檢測(cè)精度的影響
圖6a、圖6b所示分別為傳感器繞x、y軸傾斜0°~10°及偏移0~2mm時(shí)阻抗信號(hào)變化率和傳感器無(wú)偏斜時(shí)信號(hào)變化率的比較。由圖6可見(jiàn),傳感器繞x、y軸傾斜及沿x軸偏移對(duì)提離精度的影響程度不同。傳感器繞x軸傾斜及沿x軸偏移的影響較小:當(dāng)探頭繞x軸傾斜的角度小于3°及探頭沿x軸偏移的距離小于1.2mm時(shí),信號(hào)變化率Rθx及Rδx均小于提離擾動(dòng)信號(hào)的變化率Rl,此時(shí)探頭傾斜及偏移對(duì)提離精度的影響可忽略;傳感器繞y軸傾斜的影響則較大,只有當(dāng)探頭繞y軸的傾角小于0.1°時(shí),它對(duì)提離精度的影響才可忽略。
為消除傳感器斜偏對(duì)提離精度的影響,須對(duì)探頭傾角及偏移進(jìn)行矯正,將其影響降低到可接受范圍內(nèi)。因探頭繞y軸傾斜的影響不易通過(guò)矯正消除,故需在矯正后對(duì)傾斜信號(hào)做進(jìn)一步處理。
渦流傳感器斜偏會(huì)引起檢測(cè)信號(hào)大小發(fā)生變化,從而影響提離檢測(cè)精度。若信號(hào)大小的變化存在規(guī)律性,則可根據(jù)其變化規(guī)律對(duì)傳感器的斜偏進(jìn)行矯正。由上述仿真結(jié)果可見(jiàn),傳感器斜偏程度越大,阻抗信號(hào)變化越大。對(duì)于傳感器同時(shí)存在斜偏的情況,改變傳感器的傾角或其水平位置,也應(yīng)有類(lèi)似規(guī)律。為驗(yàn)證此觀點(diǎn),對(duì)提離距離loff=7mm處已處于傾斜和偏移狀態(tài)下的傳感器進(jìn)行了傾斜和偏移矯正的仿真。
圖7a所示為傳感器已偏移1mm的情況下調(diào)整其傾角時(shí)檢測(cè)信號(hào)的變化情況,圖中三條曲線分別是傳感器沿x軸偏移±1mm時(shí)繞x、y軸調(diào)整傳感器傾角時(shí)檢測(cè)信號(hào)的變化情況;圖7b所示為傳感器已傾斜5°的情況下沿x軸調(diào)整其水平偏移時(shí)檢測(cè)信號(hào)的變化情況??梢?jiàn),傳感器傾斜及偏移的程度隨信號(hào)的大小作相應(yīng)變化,利用檢測(cè)信號(hào)大小的變化規(guī)律對(duì)傳感器斜偏進(jìn)行矯正具有可行性。當(dāng)繞y軸調(diào)整傳感器傾角時(shí),檢測(cè)信號(hào)的變化幅度較大,因此在實(shí)際調(diào)整時(shí)可先繞y軸調(diào)整傳感器傾角,然后再進(jìn)一步繞x軸調(diào)整其傾角及沿x軸的偏移。
為了減小傳感器偏斜對(duì)提離檢測(cè)精度的影響,在對(duì)傳感器進(jìn)行上述調(diào)整后,再對(duì)傳感器的檢測(cè)信號(hào)做進(jìn)一步校正處理。傳感器檢測(cè)信號(hào)采用“傳感器無(wú)偏斜信號(hào)——探頭微小傾斜信號(hào)”的關(guān)系曲線來(lái)對(duì)提離檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行校正,由于傳感器實(shí)際傾斜角度未知,因此用傳感器在一定范圍內(nèi)傾斜時(shí)信號(hào)的均值或中值近似代替。假設(shè)傳感器經(jīng)調(diào)整后尚存在繞y軸0°~2°范圍的傾斜,取傳感器繞y軸各種不同傾斜角度的信號(hào)(計(jì)算時(shí)θy分別取0°,0.5°,1°,1.5°,2°)的均值建立傾斜信號(hào)的校正曲線。圖8a為不同提離距離處,傳感器繞y軸傾斜0°~2°的各種傾斜信號(hào)及其均值曲線。將各個(gè)提離距離處傳感器傾斜時(shí)的阻抗信號(hào)均值作為橫坐標(biāo),傳感器無(wú)偏斜時(shí)的阻抗信號(hào)作為縱坐標(biāo),通過(guò)4階多項(xiàng)式擬合可得到傾斜信號(hào)的校正曲線(圖8b)。圖8b中各個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)對(duì)應(yīng)不同提離距離。
圖7 分別調(diào)整傳感器傾斜度及偏移時(shí)檢測(cè)信號(hào)的變化情況
圖8 傳感器傾斜信號(hào)的校正
為了檢驗(yàn)提離檢測(cè)信號(hào)的校正效果,再進(jìn)一步通過(guò)“提離距離——阻抗信號(hào)”關(guān)系曲線推斷提離距離大小,考察利用校正后的偏斜信號(hào)所能得到的提離精度。圖9中的“提離距離——阻抗信號(hào)”關(guān)系曲線使用傳感器無(wú)偏斜時(shí)的模擬信號(hào)通過(guò)5階多項(xiàng)式進(jìn)行擬合獲得,曲線樣本信號(hào)對(duì)應(yīng)的提離距離為7,10,12,15,17.5,20mm。
圖9 提離距離的推斷曲線
設(shè)調(diào)整后傳感器尚繞y軸傾斜1.5°,計(jì)算其相應(yīng)的提離信號(hào)并使用上述校正曲線對(duì)信號(hào)進(jìn)行校正,然后用校正后的信號(hào)通過(guò)已建立的“提離距離——阻抗信號(hào)”關(guān)系曲線推斷提離距離大小。信號(hào)校正及提離距離推斷所用的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)均為傳感器信號(hào)的模擬值,被校正信號(hào)為實(shí)際檢測(cè)數(shù)據(jù),此處用模擬結(jié)果代替。表3所示為利用信號(hào)的校正結(jié)果及利用校正后的信號(hào)對(duì)提離距離的定量結(jié)果(傳感器繞y軸的傾角θy=1.5°,沿x向的偏移為0,管道內(nèi)半徑rin=40mm,管壁厚t=8mm),由表3中的提離距離定量結(jié)果可見(jiàn),信號(hào)經(jīng)校正后所獲得的提離距離定量結(jié)果基本可滿足工程上提離距離為0.02mm的精度要求。本文中傾斜信號(hào)的校正及提離距離的推斷針對(duì)的都是傾斜影響最嚴(yán)重的情況,由2.1節(jié)的結(jié)果可知,隨著傳感器提離距離的增大,傳感器繞y軸傾斜的影響迅速減小,而提離擾動(dòng)信號(hào)的減小則相對(duì)非常緩慢,因此實(shí)際檢測(cè)中可通過(guò)在較大提離距離處檢測(cè)涂層厚度來(lái)進(jìn)一步減小傳感器傾斜對(duì)涂層檢測(cè)精度的影響。
表3 信號(hào)校正及提離定量結(jié)果
本文采用電磁場(chǎng)數(shù)值模擬方法對(duì)渦流傳感器斜偏的影響和矯正措施進(jìn)行了仿真研究。通過(guò)考察傳感器斜偏和提離距離及管道半徑的關(guān)系,研究了傳感器傾斜及偏移對(duì)檢測(cè)精度的影響,并根據(jù)傳感器斜偏所引起的檢測(cè)信號(hào)的變化規(guī)律提出了斜偏的矯正措施,通過(guò)對(duì)實(shí)際情況的數(shù)值仿真,驗(yàn)證了所提措施的有效性和可行性。仿真結(jié)果表明,對(duì)于因傳感器斜偏所造成的提離測(cè)量精度的下降,通過(guò)對(duì)傳感器傾角和位置偏移的矯正以及信號(hào)處理,可消除傳感器偏斜的影響,提高涂層厚度的測(cè)量精度。為進(jìn)一步驗(yàn)證本文結(jié)論,下一步將進(jìn)行相關(guān)實(shí)驗(yàn)研究。
[1]Dixon S,Lanyon B.Coating Thickness and Elastic Modulus Measurement Using Ultrasonic Bulk Wave Resonance[J].Applied Physics Letters,2006,88(14):141907-141910.
[2]Burnett C,Quick A,Harand B.In-process Measurement of Organic Coating Thickness Using a Full-spectrum Infrared Sensor[J].Iron and Steel Technology,2011,8(1):77-81.
[3]Kopylova D S,Pelivanov I M,Podymova N B.Thickness Measurement for Submicron Metallic Coatings on a Transparent Substrate by Laser Optoacoustic Technique[J].Acoustical Physics,2008,54(6):783-790.
[4]Zhang D,Chen Z,Xu M,et al.Feasibility of MFA in Eddy Testing of Ultra-light Lattice Material of Sandwich Structure[J].Journal of Nanchang Hangkong University,2007,21(S):267-271.
[5]Yusa N,Ladislav J,Rebican M,et al.Detection of Embedded Fatigue Cracks in Inconel Weld Overlay and the Evaluation of the Minimum Thickness of the Weld Overlay Using Eddy Current Testing[J].Nuclear Engineering and Design,2006,236(18):1852-1859.
[6]Zhang D,Chen Z,Xie S,et al.Quantitative NDE of Cellular Metallic Material and Structures Using Eddy Current Testing[J].Int.J.Appl.Electromagn.Mech.,2009,30:29-38.
[7]Syasko V A.Measuring the Thicknesses of Nonferromagnetic Metal Coatings on Nonferrous Metal Products Using the Eddy-current Frequency Method[J].Russian Journal of Nondestructive Testing,2010,46(12):898-905.
[8]Yaron D,Lee Changqing,Chris M,et al.Characterizing Tantalum Sputtered Coating on Steel by Using Eddy Current[J].IEEE Transaction on Magnetics,2004,40(4):1826-1832.
[9]Yin W,Peyton A J.Thickness Measurement of Non-magnetic Plates Using Multi-frequency Eddy Current Sensors[J].NDT&E International,2007,40(1):43-48.
[10]吳鑫,李方奇,石坤,等.脈沖渦流測(cè)厚技術(shù)[J].無(wú)損檢測(cè),2009,31(7):528-530,533.Wu Xin,Li Fangqi,Shi Kun,et al.Thickness Measurement Technique by Pulsed Eddy Current[J].Nondestructive Testing,2009,31(7):528-530,533.
[11]周杰,張德均,陳庭勛.基于電渦流的銅膜測(cè)厚研究[J].現(xiàn)代電子技術(shù),2010(7):179-182.Zhou Jie,Zhang Dejun,Chen Tingxun.Research on Thickness Measurement of Copper Film Based on Eddy Current[J].Modern Electronics Technique,2010(7):179-182.
[12]ECT研究開(kāi)発分科會(huì).ECT検査技術(shù)の高度化研究調(diào)査報(bào)告書(shū)[M].東京:日本AEM學(xué)會(huì)研究委員會(huì),1998.