梁 飛
(渭南師范學(xué)院化學(xué)與生命科學(xué)學(xué)院,陜西渭南714000)
吸波材料廣泛應(yīng)用于電磁兼容、電子儀器設(shè)備、高頻設(shè)備、屏蔽箱等領(lǐng)域.隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,研究和開發(fā)電磁吸波材料已經(jīng)成為人們關(guān)注的焦點(diǎn)[1].納米吸波材料不僅具有良好的吸波性能,同時(shí)具備質(zhì)量輕、寬頻帶、兼容性好及厚度薄等特點(diǎn),因此其正成為研究的熱點(diǎn)[2].納米材料的吸波性能與材料特性、形貌、結(jié)構(gòu)等許多因素有關(guān).為此人們制備了不同結(jié)構(gòu)的納米吸波材料,如Ni/Ag核殼納米顆粒[3]、Ni-Co-P 包裹的 SiC 粉末[4]、碳納米彈簧[5]、Fe納米線[6]和不同的 ZnO 納米結(jié)構(gòu)[7].
SiC納米材料具有熱穩(wěn)定性高、高硬度、耐腐蝕、抗氧化、熱傳導(dǎo)率高等特點(diǎn),能夠?qū)崿F(xiàn)輕質(zhì)、薄層、寬頻帶和多頻段吸收的目的,所以很適宜用作高溫電磁吸波材料[8].盡管人們已經(jīng)合成了一系列不同結(jié)構(gòu)的SiC納米材料,如SiC納米顆粒[9]、SiC納米線[10]、SiC納米管等[11],但對(duì)納米碳化硅的吸波性能研究還比較少.本文主要采用廢棄塑料為碳源,正硅酸乙酯為硅源,硝酸鐵為催化劑,通過(guò)溶膠—凝膠和碳熱還原法制備碳化硅納米顆粒,并研究其吸波性能.
正硅酸乙酯、乙醇、硝酸鐵、草酸、六次甲基四胺、鹽酸和氫氟酸均為分析純;廢棄塑料瓶(礦泉水瓶).
相結(jié)構(gòu)測(cè)試:采用Rigaku Dmax-rA型X射線衍射儀.(CuKα輻射,入射波長(zhǎng)λ=0.154 nm,金屬Ni濾波,管電壓40 kV,管電流100 mA,掃描速率2°/min,掃描步長(zhǎng)為0.02°).微觀結(jié)構(gòu)表征:采用日本JEOL-1011型透射電子顯微鏡上觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu).具體方法為:將少量樣品放入稱量瓶中,用乙醇作為分散劑,超聲波振蕩10 min后,用潔凈的滴管取1~2滴于銅網(wǎng)上,干燥后進(jìn)行觀察.吸波性能分析:采用Agilent-N5230A網(wǎng)絡(luò)分析儀.測(cè)量樣品在2~18 GHz的復(fù)合介電常數(shù)和復(fù)合磁導(dǎo)率以計(jì)算樣品吸波性能.將樣品與熔融石蠟進(jìn)行混合放在銅質(zhì)環(huán)形模具進(jìn)行測(cè)量,模具外徑為7 mm,內(nèi)徑為3 mm,高2 mm.
采用文獻(xiàn)[12]的方法制備.將塑料瓶清洗、干燥,將切碎后的塑料瓶在800℃,氬氣氣氛下碳化3 h.在100 mL乙醇中溶解1 g硝酸鐵,待完全溶解后再加入12 g碳化產(chǎn)物和50 mL正硅酸乙酯,在強(qiáng)力攪拌下,逐滴加入3.4 wt%草酸溶液8 mL,促進(jìn)正硅酸乙酯水解形成溶膠.強(qiáng)力攪拌24 h后,加入35.8 wt%六次甲基四胺溶液8 mL,促進(jìn)溶膠的凝固.待凝膠凝固后,在110℃下干燥12 h得到干凝膠.干凝膠放入高溫管式爐中,在氬氣氣氛保護(hù)下1350℃反應(yīng)6 h.待爐溫冷卻到室溫時(shí),將收集到的樣品先在空氣中700℃反應(yīng)3 h,除去未反應(yīng)的碳,然后用鹽酸和氫氟酸的混合酸洗去可溶性雜質(zhì),所得樣品記為SiC.
圖1為樣品的粉末X射線衍射(XRD)圖.從圖1中可以看出,5個(gè)衍射峰分別對(duì)應(yīng)于立方結(jié)構(gòu)β-SiC的(111)、(200)、(220)、(311)和(222)晶面.在2θ為33.6°處有一個(gè)較小的衍射峰,一般認(rèn)為是由于堆積缺陷所形成的超結(jié)構(gòu)引起的衍射而形成的[13].沒(méi)有其他物質(zhì)衍射峰的出現(xiàn).XRD結(jié)果表明樣品是純?chǔ)?SiC且具有較好的晶形.
圖1 碳化硅樣品的XRD圖
圖2 碳化硅樣品的TEM圖
采用透射電鏡進(jìn)一步表征樣品的形貌和結(jié)構(gòu),如圖2所示.從圖2中可以看出,所得β-SiC樣品主要由一種近似球形的納米顆粒組成,顆粒之間相互銜接,并且具有較窄的粒徑分布,顆粒尺寸在10~60 nm之間.
碳化硅屬于介電損耗性吸波材料,介電常數(shù)的虛部一定程度上代表了物質(zhì)對(duì)電磁波損耗能力的大小.圖3為碳化硅納米顆粒的介電常數(shù)譜圖,其中ε'表示介電常數(shù)實(shí)部,即靜電場(chǎng)下介質(zhì)的相對(duì)介電常數(shù).ε″表示介電常數(shù)的虛部,一定程度上代表了物質(zhì)對(duì)電磁波損耗能力的大小.從圖中可以看出,所制備的碳化硅納米顆粒,其ε'處于7.1~8.9之間呈降低趨勢(shì),其原因是:材料在低頻下極化響應(yīng)快而高頻下極化響應(yīng)慢,從而使介電常數(shù)實(shí)部降低;ε″處于1.2~1.6之間,整體呈增大趨勢(shì),其原因?yàn)轭l率增大交變電場(chǎng)的變化更快,但是極化的速度始終不能與之同步形成馳豫,所以頻率越大造成的滯后越大、介電損耗也越大,故頻率增大ε″增大.圖4為碳化硅納米顆粒不同厚度時(shí)的微波吸收譜圖.從圖中可以看出,當(dāng)樣品厚度為0.5 mm和1 mm時(shí),譜線沒(méi)有太大變化,表明SiC納米顆粒的微波吸收能力很弱.當(dāng)樣品厚度增加到1.5 mm時(shí),碳化硅納米顆粒的反射衰減在16~18 GHz可達(dá)到-5 dB.當(dāng)樣品厚度增加至3 mm,碳化硅納米顆粒在8~13GHz的反射衰減在-5 dB以上,帶寬為5 GHz,其反射衰減的最大值為-8.91 dB.結(jié)果表明材料厚度對(duì)材料的吸波性能有著明顯的影響,厚度增加,材料的吸收率提高,但是每種材料都有一個(gè)最佳匹配厚度,因此過(guò)度增加厚度也不會(huì)無(wú)限提高材料的吸波性能.
圖3 碳化硅樣品的介電常數(shù)譜圖
圖4 SiC樣品的微波吸收性能
(1)采用廢棄塑料作為碳源,通過(guò)溶膠—凝膠和碳熱還原法可以制備碳化硅納米顆粒,其直徑約為10~60 nm.
(2)碳化硅納米顆粒的吸波性能隨著樣品厚度的增加而增強(qiáng),當(dāng)樣品厚度為3 mm時(shí),在8~13 GHz的反射衰減在-5 dB以上,其最大值為-8.91 dB.
(指導(dǎo)教師:王冬華)
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