NIST新式顯微鏡可測(cè)量納米級(jí)磁鐵屬性

美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院(NIST)的研究人員開(kāi)發(fā)出一種新式顯微鏡——外差磁光微波顯微鏡(或稱H-MOMM)，可以測(cè)量電子自旋的群集動(dòng)力。納米級(jí)磁鐵是高速低功耗的“自旋電子”計(jì)算機(jī)內(nèi)存的重要組成部分，而這種內(nèi)存可能很快就會(huì)取代傳統(tǒng)的隨機(jī)存取存儲(chǔ)器。

NIST 的研究人員使用H-MOMM 首次實(shí)現(xiàn)了對(duì)單個(gè)納米級(jí)磁鐵中的自旋弛豫(或阻尼)過(guò)程的量化。

利用這種顯微鏡，NIST 研究人員可以詳細(xì)研究單個(gè)磁鐵中自旋激化的上下波動(dòng)。兩束綠色激光合并產(chǎn)生微波，從而激發(fā)“自旋波”，即磁振蕩。利用一束激光中的偏振光來(lái)分析這種激發(fā)模式。通過(guò)測(cè)量這種激發(fā)過(guò)程，找到電磁場(chǎng)與微波頻率之間的函數(shù)關(guān)系，從而可以推斷出每個(gè)納米級(jí)磁鐵中不同自旋波的阻尼。